基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法及系统与流程

1.本发明属于体光栅衍射效率自动测试技术领域，尤其涉及一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法及系统。


背景技术：

2.本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。
3.宽范围自由空间光外腔扫频激光源(又称littman-metcalf型可调谐激光器，简称lm-tl)由于具有单纵模、窄线宽、输出波长连续可调、相位噪声低等突出的优点已广泛应用于基于高阶光调制格式的高速相干光通信网络、光纤三维形状频域传感、线性扫频的痕量气体探测和自动驾驶等领域，但是在传统lm-tl的运转输出过程中，对宽范围、窄线宽线性连续可调谐激光输出的实现严重依赖于体光栅相对衍射效率的准确标定。
4.目前，国内外的体光栅相对衍射效率测试系统普遍采用单色仪的结构形式，由于大部分单色仪需要通过调整入射狭缝和镜头组件来保证入射到待测体光栅表面的光束单色性，从而使得因光学元件的固定位置受限而导致测试系统的扫描范围有限，同时由于需要一路参考光用于入射光能量的测量进而导致谱段适用宽度较窄。此外，用单色仪生成的单色光作为测试光源，其光学特性与lm-tl谐振辐射光特性存在差异，且产生的测试光在体光栅表面处的投影光斑往往较小，测试光光学参数与体光栅实际工作状态存在较大差异。显然，传统的体光栅相对衍射效率测试系统不能快速、高效以及精确地表征不同批次、不同波长以及相同波长不同衍射级次的体光栅相对衍射效率等特征参数对lm-tl的适用性，难以满足lm-tl在高速相干光通信领域的应用的需求；同时非针对性的体光栅相对衍射效率测试方法与系统也导致测试过程低效、成本增加。


技术实现要素：

5.为克服上述现有技术的不足，本发明提供了一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法及系统，通过采用宽范围自由空间光外腔扫频激光源(littman-metcalf型可调谐激光器，简称lm-tl)作为测试设备，对不同批次、不同波长以及相同波长不同衍射级次的体光栅相对衍射效率进行自动测试，并对测试得到的输出光功率测试结果进行自动分析，从而得到待测体光栅相对衍射效率光谱和最佳工作波长区间测试数据，实现对体光栅特征参数的准确、快速测试。
6.为实现上述目的，本发明的一个或多个实施例提供了如下技术方案：
7.本发明第一方面提供了一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，包括：
8.设置可调谐激光器、恒温箱、光功率计和光波长计的初始测试参数；
9.将待测体光栅接入可调谐激光器，改变致动器的空间位置，获取致动器在不同空间位置下的光功率计和光波长计的测量数据；
10.对获取的光功率计和光波长计的测量数据进行分析，得到待测体光栅多个衍射级次光的输出光功率与谐振输出波长之间的变化关系曲线；
11.结合可调谐激光器的本征参数、多个衍射级次光的本征受激光强，对所述变化关系曲线进行分析，得到不同级次待测体光栅的相对衍射效率分布数据。
12.本发明第二方面提供了一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试系统，包括：可调谐激光器、耦合器、恒温箱、光功率计和光波长计；所述可调谐激光器、恒温箱、光功率计和光波长计分别与控制计算机连接；
13.所述恒温箱设置在所述可调谐激光器的外侧；所述可调谐激光器的两路输出端连接耦合器，所述耦合器的三路输出端分别连接第一光功率计、第二光功率计以及光波长计；
14.所述控制计算机用于提供可调谐激光器和恒温箱的指令初始化和驱动信号，提供光功率计和光波长计的同步触发采集信号，同时接收并处理光功率计和光波长计实时记录的谐振功率和激射波长分布数据信息，得到不同级次待测体光栅的相对衍射效率分布数据。
15.以上一个或多个技术方案存在以下有益效果：
16.(1)本发明提出的体光栅衍射效率自动测试方法及系统，基于lm-tl的谐振输出光功率对体光栅相对衍射效率敏感的特点，通过对单模光纤耦合输出光功率与不同波长、相同波长不同衍射级次测试迹线的深入分析，实现对样品体光栅相对衍射效率的自动解析，并以此为基础实现对适用于lm-tl装配的合格体光栅的精确筛选，解决传统依赖于单色仪结构形式对体光栅相对衍射效率特征参数测试过程复杂、谱段适用宽度较窄、测试仪器机械稳定性较差、测试效率低，且产生的测试光在体光栅表面处的投影光斑往往较小，测试光光学参数与体光栅实际工作状态存在较大差异，不能有效表征体光栅总体性能对lm-tl的兼容性、准确度易受测试光源因素影响而导致lm-tl输出指标性能差异大的问题；
17.(2)本发明实现了体光栅相对衍射效率参数高效、高准确度自动测试，为智能化高速相干网络可重构传输、互相关频域解耦的光纤三维形状传感、高精度气体光谱测量和自动驾驶等领域提供先进的测试仪器，同时也进一步扩大littman-metcalf型可调谐激光器的应用范围，为lm-tl增加应用场景，促进宽范围自由空间光外腔可调谐激光器产业的快速发展。
18.本发明附加方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
19.构成本发明的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。
20.图1为第一个实施例的基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法流程图。
21.图2为第一个实施例的标定体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化关系曲线。
22.图3为第一个实施例的高衍射级次光的本征受激光强bl1的计算方法流程图。
23.图4为第一个实施例的待测体光栅不同衍射级次相对衍射效率计算方法流程图。
24.图5为第二个实施例的基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试系统结构图。
25.图6为第二个实施例的littman-metcalf型可调谐激光器的结构示意图。
具体实施方式
26.实施例一
27.本实施例公开了一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，采用littman-metcalf型可调谐激光器作为测试设备，对不同批次、不同波长以及相同波长不同衍射级次的体光栅相对衍射效率进行自动测试，并对测试得到的输出光功率测试结果进行自动分析，从而得到待测体光栅相对衍射效率光谱和最佳工作波长区间测试数据，实现对体光栅特征参数的准确、快速测试，具体步骤如图1所示，包括：
28.步骤101：控制计算机7远程控制littman-metcalf型可调谐激光器1和高精度恒温箱2的启动，转至步骤102；
29.步骤102：控制计算机7读取littman-metcalf型可调谐激光器1中控制电路107驱动的半蝶型封装种子源101的驱动电流和温度场参数、致动器105的空间位置参数、支撑板106的温度参数以及高精度恒温箱2的温度值等初始状态参数，转至步骤103；
30.步骤103：提示用户检查已计量标定过相对衍射效率的体光栅的接入情况，转至步骤104；
31.步骤104：用户输入高精度恒温箱2的保持温度t0，光功率计4的采样率ps0，光波长计5的波长分辨率wr，光功率计6的采样率ps1，半蝶型封装种子源101的驱动电流iq、支撑板106的保持温度t1以及致动器105的驱动步幅信号qs等，转至步骤105；
32.步骤105：控制计算机7通信控制电路107加载驱动电流iq于半蝶型封装种子源101、保持温度设置为t0和t1、驱动步幅信号设置为qs条件下致动器105在m个空间位置参数sl[1～m]下的光功率和光波长测量并记录数据，致动器m个位置对应可调谐激光器m个出射波长和功率，转至步骤106；
[0033]
步骤106：待lm-tl标定体光栅相对衍射效率参数自动测试系统完成光功率和光波长测试后，控制计算机7读取qs驱动步幅信号下高衍射级次光功率数据点数a1、光波长点数a11、0级衍射级次下光功率数据点数a0、光波长点数a01、高衍射级次光功率分布数据p_a1[1～m][1～a1]、高衍射级次光波长分布数据w_a11[1～m][1～a11]、0级衍射级次光功率分布数据p_a0[1～m][1～a0]、0级衍射级次光波长分布数据w_a01[1～m][1～a01]，转至步骤107；
[0034]
步骤107：对高衍射级次光波长分布数据w_a11[1～m][1～a11]和高衍射级次光功率分布数据p_a1[1～m][1～a1]进行分析，得到标定体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化关系曲线pw1，转至步骤108；
[0035]
步骤108：对0级衍射级次光波长分布数据w_a01[1～m][1～a01]和0级衍射级次光功率分布数据p_a0[1～m][1～a0]进行分析，得到标定体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化关系曲线pw0(如图2所示)，转至步骤109；
[0036]
步骤109：对分布迹线pw1进行分析，得到lm-tl对高衍射级次光的本征受激光强bl1，具体步骤见步骤201，转至步骤110；
[0037]
步骤110：重复步骤201，对分布迹线pw0进行分析，得到lm-tl对0级衍射级次光的本征受激光强bl0，转至步骤111；
[0038]
步骤111：提示用户更换待测样品体光栅，转至步骤112；
[0039]
步骤112：重复步骤104至步骤108，测试得到待测体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化关系曲线pw1_1、待测体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化关系曲线pw0_1，转至步骤113；
[0040]
步骤113：分别对步骤112中获取的pw1_1和pw0_1进行分析，得到不同级次待测样品体光栅的相对衍射效率分布数据，具体步骤见步骤301，转至步骤114；
[0041]
步骤114：输出待测样品体光栅的衍射效率测试结果，包括：0级衍射级次相对衍射效率mg[0]、高级衍射级次相对衍射效率mg[1]，结束。
[0042]
具体的，对高衍射级次光的本征受激光强bl1(即增益管芯腔内初始受激辐射场的光强。)的计算方法流程如图3所示，通过对标定体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化分布数据pw1进行快速分析，从而得到本征受激光强bl1，具体步骤如下：
[0043]
步骤201：读取标定体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据pw1，转至步骤202；
[0044]
步骤202：输入lm-tl的本征参数：半蝶型封装种子源101端面反射率r1、r2、单通增益g、物理长度lic，标定体光栅衍射效率r3，致动镜反射率r4，外腔原点物理长度lec，转至步骤203；
[0045]
步骤203：计算半蝶型封装种子源101的输出光功率pic＝(g*(1-r2)*bl1)/(1+a-b*c)，其中，a＝g2*r1*r2，b＝2*g*sqrt(r1*r2)*c，c＝cos(4*pi*lic/(pw1[1～a11])+2*pi)，其中pi表示圆周率，即π；sqrt(...)表示对括号内的参数开根号；pw1[1～a11]表示体光栅高衍射级次谐振输出波长；转至步骤204；
[0046]
步骤204：计算lm-tl的外腔输出光功率pec＝(g*(1-r2)*pic)/(1+a1-2*b1*cos(c1))，其中，a1＝g2*(1-r2)2*r1*r3，b1＝2*g*(1-r2)*sqrt(r1*r3)，c1＝4*pi*lec/(pw1[1～a11])+2*pi，转至步骤205；
[0047]
步骤205：计算得到高衍射级次光的本征受激光强bl1＝sqrt(pw1[1～a1]/e)*(1/d)，其中，标定体光栅高衍射级次光输出光功率pw1[1～a1]等于半蝶型封装种子源101的输出光功率pic与外腔输出光功率pec的乘积，即pw1[1～a1]＝pec*pic；d＝(g*(1-r2))/(1+a-b*c),e＝(g*(1-r2))/(1+a1-2*b1*cos(c1)),转至步骤206；
[0048]
步骤206：输出标定体光栅高衍射级次光的本征受激光强bl1。
[0049]
具体的，待测样品体光栅不同衍射级次相对衍射效率的计算方法流程如图4所示，通过对原始待测体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据pw1_1、待测体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据pw0_1进行快速分析，从而得到待测样品体光栅测试结果mg[0]、mg[1]，具体步骤如下：
[0050]
步骤301：读取待测体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据pw1_1、高衍射级次光的本征受激光强bl1、待测体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据pw0_1、0级衍射级次光的本征受激光强bl0、lm-tl本征参数，转至步骤302；
[0051]
步骤302：计算半蝶型封装种子源101的输出光功率pic[0～1]，转至步骤303；
[0052]
步骤303：根据pw1_1[1～a1]＝pic[1]*pec[1]，d1＝g*(1-r2)*pic,d2＝g2*(1-r2)2*r1，d3＝2*g*(1-r2)*sqrt(r1),d4＝d1*pic[1]/pw1_1[1～a1],可求得待测样品体光栅测试结果mg[1]＝sqrt((d3+sqrt(d3
2-4*d2*(1-d4)))/2*d2)，转至步骤304；
[0053]
步骤304：同理，根据pw0_1[1～a0]＝pic[0]*pec[0]，可求得待测样品体光栅测试结果mg[0]，转至步骤305；
[0054]
步骤305：输出待测体光栅不同衍射级次的相对衍射效率测试结果mg[0～1]，转至步骤306；
[0055]
步骤306：寻找驱动电流iq条件下自动测试得到的原始分布数据分布数据pw1_1中记录的输出光功率pw1_1[1～a1]＞thr_1(10dbm)所对应的波长范围sw_1＝pw1_1[st1～en1]，转至步骤307；
[0056]
步骤307：寻找驱动电流iq条件下自动测试得到的原始分布数据分布数据pw0_1中记录的输出光功率pw0_1[1～a0]＞thr_0(13dbm)所对应的波长范围sw_0＝pw0_1[st0～en0]，转至步骤308；
[0057]
步骤308：计算sw_1和sw_0的交集sw，转至步骤309；
[0058]
步骤309：判断sw＞thr_2(thr_2＝110nm)是否成立，成立则转至步骤310，不成立则转至步骤311；
[0059]
步骤310：输出体光栅最佳工作波长区间sw，提示用户待测体光栅适用于lm-tl系统，结束；
[0060]
步骤311：提示用户待测体光栅不适用于lm-tl系统，结束。
[0061]
实施例二
[0062]
如图5所示，本实施例公开了一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试系统，包括：littman-metcalf型可调谐激光器、耦合器、恒温箱、光功率计和光波长计；littman-metcalf型可调谐激光器、恒温箱、光功率计和光波长计分别与控制计算机连接；
[0063]
恒温箱设置在littman-metcalf型可调谐激光器的外侧；littman-metcalf型可调谐激光器的两路输出端连接耦合器，耦合器的三路输出端分别连接第一光功率计、第二光功率计以及光波长计；
[0064]
其中，控制计算机用于提供littman-metcalf型可调谐激光器和恒温箱的指令初始化和驱动信号，提供光功率计和光波长计的同步触发采集信号，同时接收并处理光功率计和光波长计实时记录的谐振功率和激射波长分布数据信息，得到不同级次待测体光栅的相对衍射效率分布数据；
[0065]
高精度恒温箱用于降低外界环境温度变化引起的lm-tl输出偏差，典型温度调节精度
±
0.5℃。
[0066]
耦合器为2
×
3光纤耦合器，用于传输标定体光栅和待测体光栅谐振输出的等效光功率，相对等效光功率对应的谐振波长。
[0067]
第一光功率计用于不同批次、不同波长高衍射级次谐振光功率的采集，典型级次为-1级。
[0068]
第二光功率计，用于不同批次、不同波长0级次谐振光功率的采集。
[0069]
光波长计，用于记录致动器不同位置处lm-tl的谐振输出波长。
[0070]
如图6所示，littman-metcalf型可调谐激光器，主要由半蝶型封装种子源101、光
束整形透镜102、体光栅103、可调谐镜104、致动器105、支撑板106以及控制电路107等部分组成；
[0071]
具体的，半蝶型封装种子源101，典型为半蝶型封装的inp基单角面度半导体增益芯片，单角面度反射率典型值为0.005％，3db带宽典型值优于80nm，内部集成有热敏电阻和热电制冷器用于自由空间光外腔强反馈种子源的稳定生成。
[0072]
光束整形透镜102，用于半蝶型封装种子源101输出激光束的扩束与准直，典型为大数值孔径的模压非球面透镜。
[0073]
体光栅103，典型为高刻线密度的闪耀光栅，刻线密度典型值大于900lines/mm，用于谐振模式的选择。
[0074]
可调谐镜104，用于实现体光栅103选择出的特定频率的光子在外腔实现振荡，典型为镀金反射镜。
[0075]
致动器105的输出端连接可调谐镜104，用于精密调整可调谐镜104的空间位置，致动器105受控制电路107驱动，典型为步进电机；
[0076]
支撑板107，集成有半导体制冷器、温度传感器，用于实现littman-metcalf型可调谐激光器1工作温度的稳定，受控制电路107控制。
[0077]
控制电路107，受控制计算机7控制，实现半蝶型封装种子源101驱动电流的加载，致动器105致动电压的加载，支撑板106温度场的精确调节。
[0078]
上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。

技术特征：
1.一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，包括：设置可调谐激光器、恒温箱、光功率计和光波长计的初始测试参数；将待测体光栅接入可调谐激光器，改变致动器的空间位置，获取致动器在不同空间位置下的光功率计和光波长计的测量数据；对获取的光功率计和光波长计的测量数据进行分析，得到待测体光栅多个衍射级次光的输出光功率与谐振输出波长之间的变化关系曲线；结合可调谐激光器的本征参数、多个衍射级次光的本征受激光强，对所述变化关系曲线进行分析，得到不同级次待测体光栅的相对衍射效率分布数据。2.如权利要求1所述的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，所述的设置可调谐激光器的初始测试参数，包括：设置半蝶型封装种子源的驱动电流、支撑板的保持温度以及致动器的驱动步幅信号；所述的设置恒温箱的初始测试参数，包括：设置恒温箱的保持温度；所述的设置光功率计和光波长计的初始测试参数，包括：设置光功率计的采样率和光波长计的波长分辨率。3.如权利要求1所述的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，所述获取致动器在不同空间位置下的光功率计和光波长计的测量数据，包括：获取高衍射级次光功率数据点数、光波长点数、高衍射级次光功率分布数据、高衍射级次光波长分布数据；获取0级衍射级次下光功率数据点数、光波长点数、0级衍射级次光功率分布数据、0级衍射级次光波长分布数据。4.如权利要求3所述的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，所述对获取的光功率计和光波长计的测量数据进行分析，分别得到待测体光栅多个衍射级次光的输出光功率与谐振输出波长之间的变化关系曲线，包括：对高衍射级次光波长分布数据和高衍射级次光功率分布数据进行分析，得到标定体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长之间的变化关系曲线；对0级衍射级次光波长分布数据和0级衍射级次光功率分布数据进行分析，得到标定体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长之间的变化关系曲线。5.如权利要求4所述的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，所述的结合可调谐激光器的本征参数、多个衍射级次光的本征受激光强，对所述变化关系曲线进行分析，得到不同级次待测体光栅的相对衍射效率分布数据，具体包括：根据待测体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据、高衍射级次光的本征受激光强、待测体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据、0级衍射级次光的本征受激光强以及littman-metcalf型可调谐激光器的本征参数，计算半蝶型封装种子源的输出光功率以及可调谐激光器的外腔输出光功率；根据所述半蝶型封装种子源的输出光功率和可调谐激光器的外腔输出光功率与待测体光栅的高衍射级次光输出光功率以及0级衍射级次光输出光功率的关系，分别计算所述待测体光栅的高级衍射级次相对衍射效率和0级衍射级次相对衍射效率。6.如权利要求5所述的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，所述的0级衍射级次光的本征受激光强以及高衍射级次光的本征受激光强的计算
方法包括：将标定体光栅接入可调谐激光器，获取标定体光栅0级衍射级次光和高衍射级次光的输出光功率与谐振输出波长之间的变化关系曲线；结合可调谐激光器的本征参数，分别对变化关系曲线进行分析，得到可调谐激光器对0级衍射级次光以及高衍射级次光的本征受激光强。7.如权利要求6所述的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，所述结合可调谐激光器的本征参数，分别对变化关系曲线进行分析，具体包括：根据可调谐激光器的本征参数以及标定体光栅高衍射级次和0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的分布数据，计算半蝶型封装种子源的输出光功率以及可调谐激光器的外腔输出光功率；所述可调谐激光器的本征参数包括：半蝶型封装种子源端面反射率、单通增益和物理长度，标定体光栅衍射效率，致动镜反射率以及外腔原点物理长度；根据半蝶型封装种子源的输出光功率以及外腔输出光功率，分别计算得到高衍射级次光和0级衍射级次光的本征受激光强。8.如权利要求4的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法，其特征在于，所述的测试方法还包括：计算待测体光栅最佳工作波长区间，判断待测体光栅是否适用于可调谐激光器，包括：利用得到的待测体光栅高衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化关系曲线，寻找高衍射级次光输出光功率大于设定值时所对应的波长范围一；利用得到的待测体光栅0级衍射级次光输出光功率与谐振输出波长间的变化关系曲线，寻找0级衍射级次光输出光功率大于另一设定值时所对应的波长范围二；计算波长范围一和波长范围二的交集；判断波长交集中的波长值大于设定的波长值是否成立；若成立，则输出待测体光栅最佳工作波长区间，提示用户待测体光栅适用于可调谐激光器；否则，提示用户待测体光栅不适用于可调谐激光器。9.一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试系统，其特征在于：包括：可调谐激光器、耦合器、恒温箱、光功率计和光波长计；所述可调谐激光器、恒温箱、光功率计和光波长计分别与控制计算机连接；所述恒温箱设置在所述可调谐激光器的外侧；所述可调谐激光器的两路输出端连接耦合器，所述耦合器的三路输出端分别连接第一光功率计、第二光功率计以及光波长计；所述控制计算机用于提供可调谐激光器和恒温箱的指令初始化和驱动信号，提供光功率计和光波长计的同步触发采集信号，同时接收并处理光功率计和光波长计实时记录的谐振功率和激射波长分布数据信息，得到不同级次待测体光栅的相对衍射效率分布数据。10.根据权利要求9所述的一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试系统，其特征在于，所述可调谐激光器包括半蝶型封装种子源，光束整形透镜，体光栅，可调谐镜，致动器，支撑板以及控制电路；所述半蝶型封装种子源用于自由空间光外腔强反馈种子源的稳定生成；所述光束整形透镜用于半蝶型封装种子源输出激光束的扩束与准直；所述体光栅用于谐振模式的选择；所述可调谐镜用于实现体光栅选择出的特定频率的光子在外腔实现振荡；所述致动器受控
制电路驱动，用于精密调整可调谐镜的空间位置；所述支撑板上集成有半导体制冷器和温度传感器，用于实现可调谐激光器工作温度的稳定；所述控制电路受控制计算机控制，用于实现半蝶型封装种子源驱动电流的加载，致动器致动电压的加载，支撑板温度场的精确调节。

技术总结
本发明提出了一种基于可调谐激光器的体光栅衍射效率自动测试方法及系统，该方法包括：设置可调谐激光器、恒温箱、光功率计和光波长计的初始测试参数；将待测体光栅接入可调谐激光器，获取致动器在不同空间位置下的光功率计和光波长计的测量数据；对获取的测量数据进行分析，得到待测体光栅多个衍射级次光的输出光功率与谐振输出波长之间的变化关系曲线；对变化关系曲线进行分析，得到不同级次待测体光栅的相对衍射效率分布数据。本发明能够对不同批次、不同波长以及相同波长不同衍射级次的体光栅相对衍射效率进行自动测试，并对测试得到的输出光功率测试结果进行自动分析，实现对体光栅特征参数的准确、快速测试。快速测试。快速测试。


技术研发人员：盛立文 黄琳 乔山 张爱国 韦育 鞠军委 刘志明 尹炳琪 张志辉 闫继送 金辉 韩纪磊 肖凌峰
受保护的技术使用者：中电科思仪科技股份有限公司
技术研发日：2023.01.28
技术公布日：2023/7/31