一种滤波器引脚检验设备的制作方法

1.本发明涉及滤波器引脚检测技术领域，具体是一种滤波器引脚检验设备。


背景技术：

2.滤波器是可以对电源线中特定频率的频点或该频点以外的频率进行有效滤除，得到一个特定频率的电源信号，或消除一个特定频率后的电源信号。滤波器用接线引脚是用来接线的一种接头，方便滤波器与电线进行连接，滤波器引脚一般都是固定在滤波器壳体两侧，然后通过焊接与缠绕在内部线圈外侧的导线对接。
3.现有的滤波器引脚检验设备在对引脚进行校验时，大部分设备都仅能对引脚的长度、引脚的宽度、引脚的间距中的一种数值进行校验，这大大延长对滤波器引脚检验的时长，使得滤波器需要被多次安装和拆卸才能完成检验，十分不便。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于提供一种滤波器引脚检验设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种滤波器引脚检验设备，包括底座，底座上安装有磁铁，底座上安装有控制面板，还包括：与底座相连接的滤波器输送结构；与底座相连接的测位结构，所述测位结构包括与底座相连接的高度调节机构，所述高度调节机构固定连接有间距调节机构，高度调节机构用于调节间距调节机构的位置，所述间距调节机构连接有多组测位机构，所述测位机构包括与间距调节机构固定连接的支撑架，所述支撑架固定连接有对称设置的机架，机架上安装有与控制面板通信连接的激光发射器，所述机架上固定安装有与激光发射器相适配的光电开关，光电开关用于接收激光发射器发射的激光，所述光电开关与控制面板通信连接，所述机架上固定连接有与控制面板通信连接的第一直线位移传感器，所述第一直线位移传感器的移动端固定安装有梯形挤压架，第一直线位移传感器用于测量梯形挤压架的位移长度，所述梯形挤压架上开设有与激光发射器相适配的通槽，通槽用于为激光发射器发射的激光提供通过空间，所述梯形挤压架与机架间安装有第一弹簧，所述支撑架固定连接有测位部，所述测位部的移动端固定连接有连接台，所述连接台通过螺纹杆活动连接有斜台。
6.作为本发明进一步的改进方案：所述滤波器输送结构包括与底座固定连接的轨道，所述轨道上滑动安装有滑座，所述滑座固定连接有支撑台，支撑台具有铁磁性，所述支撑台连接有夹持部。
7.作为本发明进一步的改进方案：所述夹持部包括与支撑台固定连接的双出轴电机，双出轴电机与控制面板通信连接，所述双出轴电机的输出端固定安装有第二丝杆，所述第二丝杆螺纹连接有与支撑台滑动连接的联动块，所述联动块活动连接有适配架。
8.作为本发明进一步的改进方案：所述高度调节机构包括与底座固定连接的导向架，所述导向架固定连接有与控制面板通信连接的第一电机，所述第一电机的输出端固定安装有第一丝杆，所述第一丝杆螺纹连接有与导向架滑动连接的吊架，所述吊架与间距调节机构相连接。
9.作为本发明进一步的改进方案：所述间距调节机构包括与吊架固定连接的第二电机，第二电机与控制面板通信连接，所述第二电机的输出轴固定连接有摆架，所述摆架两端均铰接有铰接架，所述铰接架铰接有分距槽架，分距槽架与吊架滑动连接，所述分距槽架上开设有多组分距槽，所述分距槽滑动连接滑块，所述滑块滑动连接有燕尾槽架，所述燕尾槽架固定连接有与吊架滑动连接的吊块，所述吊块与吊架间安装有第一主动伸缩杆。
10.作为本发明进一步的改进方案：所述测位部包括与支撑架固定连接的矩形套，所述矩形套滑动连接有与连接台固定连接的矩形条，所述矩形条与矩形套间安装有第二直线位移传感器，所述矩形条与矩形套间安装有第二弹簧，第二直线位移传感器与控制面板通信连接。
11.作为本发明进一步的改进方案：所述支撑台上固定安装有把手。
12.与现有技术相比，本发明的有益效果是：高度调节机构调节间距调节机构的高度，间距调节机构调节支撑架间的间距，将滤波器放置在滤波器输送结构上，而后通过滤波器输送结构将滤波器推送向测位机构，滤波器的引脚挤压梯形挤压架的斜边，从而使得梯形挤压架相互远离，此时第一直线位移传感器检测梯形挤压架的位移量，在滤波器的引脚长度长于生产标准时，激光发射器发射的激光被滤波器的引脚遮挡，光电开关未接收到光信号，滤波器的引脚从斜台表面滑过并对斜台施压，使得斜台通过螺纹杆挤压连接台，进而使得连接台移动，测位部测量连接台的位移量，在滤波器的引脚长度短于生产标准时，引脚不遮挡穿过通槽的激光，此时激光照射到光电开关上，光电开关收到光信号并对控制面板发出电信号，本发明通过控制面板对第一直线位移传感器发出的数据进行收集和比对，从而确定滤波器引脚的位置和厚度，且通过光电开关和测位部的信号反馈，从而对滤波器的引脚长度与生产标准进行比对，进而一次性对滤波器引脚的三种不同数值进行测量和校对。
附图说明
13.图1为本发明的结构示意图；图2为本发明的滤波器输送结构的立体结构示意图；图3为本发明的滤波器输送结构的结构示意图；图4为本发明的底座与控制面板相互配合的结构示意图；图5为本发明的测位结构的立体结构示意图；图6为本发明的测位机构的立体结构示意图；图7为本发明的测位机构的结构示意图；图8为本发明图1中a处的局部放大示意图。
14.图中：1、底座；2、控制面板；3、滤波器输送结构；4、测位结构；5、高度调节机构；6、间距调节机构；7、测位机构；8、支撑架；9、机架；10、激光发射器；11、光电开关；12、第一直线位移传感器；13、梯形挤压架；14、通槽；15、测位部；16、连接台；17、螺纹杆；18、斜台；19、轨
道；20、滑座；21、支撑台；22、夹持部；23、双出轴电机；24、第二丝杆；25、联动块；26、适配架；27、导向架；28、第一电机；29、第一丝杆；30、吊架；31、第二电机；32、摆架；33、铰接架；34、分距槽架；35、分距槽；36、滑块；37、燕尾槽架；38、吊块；39、第一主动伸缩杆；40、矩形套；41、矩形条；43、第二直线位移传感器；44、把手。
具体实施方式
15.下面结合具体实施方式对本发明的技术方案作进一步详细地说明。
16.实施例一，参阅图1～图8，一种滤波器引脚检验设备，包括底座1，底座1上安装有控制面板2，还包括：与底座1相连接的滤波器输送结构3；与底座1相连接的测位结构4，所述测位结构4包括与底座1相连接的高度调节机构5，所述高度调节机构5固定连接有间距调节机构6，高度调节机构5用于调节间距调节机构6的位置，所述间距调节机构6连接有多组测位机构7，所述测位机构7包括与间距调节机构6固定连接的支撑架8，所述支撑架8固定连接有对称设置的机架9，机架9上安装有与控制面板2通信连接的激光发射器10，所述机架9上固定安装有与激光发射器10相适配的光电开关11，光电开关11用于接收激光发射器10发射的激光，所述光电开关11与控制面板2通信连接，所述机架9上固定连接有与控制面板2通信连接的第一直线位移传感器12，所述第一直线位移传感器12的移动端固定安装有梯形挤压架13，第一直线位移传感器12用于测量梯形挤压架13的位移长度，所述梯形挤压架13上开设有与激光发射器10相适配的通槽14，通槽14用于为激光发射器10发射的激光提供通过空间，所述梯形挤压架13与机架9间安装有第一弹簧，所述支撑架8固定连接有测位部15，所述测位部15的移动端固定连接有连接台16，所述连接台16通过螺纹杆17活动连接有斜台18，斜台18与连接台16活动连接，斜台18与螺纹杆17的连接方式可选为卡接，也可选为通过螺栓锁紧螺纹杆17的方式限制斜台18移动。
17.高度调节机构5调节间距调节机构6的高度，间距调节机构6调节支撑架8间的间距，将滤波器放置在滤波器输送结构3上，而后通过滤波器输送结构3将滤波器推送向测位机构7，滤波器的引脚挤压梯形挤压架13的斜边，从而使得梯形挤压架13相互远离，此时第一直线位移传感器12检测梯形挤压架13的位移量，在滤波器的引脚长度长于生产标准时，激光发射器10发射的激光被滤波器的引脚遮挡，光电开关11未接收到光信号，滤波器的引脚从斜台18表面滑过并对斜台18施压，使得斜台18通过螺纹杆17挤压连接台16，进而使得连接台16移动，测位部15测量连接台16的位移量，在滤波器的引脚长度短于生产标准时，引脚不遮挡穿过通槽14的激光，此时激光照射到光电开关11上，光电开关11收到光信号并对控制面板2发出电信号，本发明通过控制面板2对第一直线位移传感器12发出的数据进行收集和比对，从而确定滤波器引脚的位置和厚度，且通过光电开关11和测位部15的信号反馈，从而对滤波器的引脚长度与生产标准进行比对，进而一次性对滤波器引脚的三种不同数值进行测量和校对，高效便捷。
18.在本实施例的一种情况中，所述滤波器输送结构3包括与底座1固定连接的轨道19，所述轨道19上滑动安装有滑座20，所述滑座20固定连接有支撑台21，所述支撑台21连接有夹持部22。夹持部22夹持放置在支撑台21上的滤波器，人员通过推送支撑台21的方式，使得滑座20沿轨道19滑动，且使得支撑台21带动滤波器移动向测位机构7。
19.在本实施例的一种情况中，所述夹持部22包括与支撑台21固定连接的双出轴电机23，双出轴电机23与控制面板2通信连接，所述双出轴电机23的输出端固定安装有第二丝杆24，所述第二丝杆24螺纹连接有与支撑台21滑动连接的联动块25，所述联动块25活动连接有适配架26。双出轴电机23通过驱动第二丝杆24转动的方式，使得第二丝杆24驱动联动块25移动，联动块25带动适配架26移动，从而调节适配架26间的间距，从而使得适配架26夹持滤波器。
20.在本实施例的一种情况中，所述高度调节机构5包括与底座1固定连接的导向架27，所述导向架27固定连接有与控制面板2通信连接的第一电机28，第一电机28可选为伺服电机，也可选为步进电机，所述第一电机28的输出端固定安装有第一丝杆29，所述第一丝杆29螺纹连接有与导向架27滑动连接的吊架30，所述吊架30与间距调节机构6相连接。第一电机28通过驱动第一丝杆29转动的方式，使得第一丝杆29驱动吊架30与导向架27发生相对滑动，从而调节吊架30的位置。
21.在本实施例的一种情况中，所述间距调节机构6包括与吊架30固定连接的第二电机31，第二电机31与控制面板2通信连接，所述第二电机31的输出轴固定连接有摆架32，所述摆架32两端均铰接有铰接架33，所述铰接架33铰接有分距槽架34，分距槽架34与吊架30滑动连接，所述分距槽架34上开设有多组分距槽35，所述分距槽35滑动连接滑块36，所述滑块36滑动连接有燕尾槽架37，所述燕尾槽架37固定连接有与吊架30滑动连接的吊块38，所述吊块38与吊架30间安装有第一主动伸缩杆39。第二电机31通过驱动摆架32摆动的方式，使得摆架32驱动铰接架33移动，铰接架33带动分距槽架34移动，分距槽35挤压滑块36且在燕尾槽架37对滑块36的限位下，从而调节滑块36间的间距，且在第一主动伸缩杆39通过吊块38带动燕尾槽架37移动时，第二电机31驱动摆架32转动，从而调节燕尾槽架37间的间距。
22.在本实施例的一种情况中，所述测位部15包括与支撑架8固定连接的矩形套40，所述矩形套40滑动连接有与连接台16固定连接的矩形条41，所述矩形条41与矩形套40间安装有第二直线位移传感器43，所述矩形条41与矩形套40间安装有第二弹簧，第二直线位移传感器43与控制面板2通信连接。在连接台16挤压矩形条41滑移入矩形套40内时，第二直线位移传感器43进行位移数据收集。
23.实施例二，在实施例一的基础上，参阅图2和图3，所述支撑台21上固定安装有把手44。通过设置把手44，便于人员拉动支撑台21。
24.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

技术特征：
1.一种滤波器引脚检验设备，包括底座，底座上安装有控制面板，其特征在于，还包括：与底座相连接的滤波器输送结构；与底座相连接的测位结构，所述测位结构包括与底座相连接的高度调节机构，所述高度调节机构固定连接有间距调节机构，高度调节机构用于调节间距调节机构的位置，所述间距调节机构连接有多组测位机构，所述测位机构包括与间距调节机构固定连接的支撑架，所述支撑架固定连接有对称设置的机架，机架上安装有与控制面板通信连接的激光发射器，所述机架上固定安装有与激光发射器相适配的光电开关，光电开关用于接收激光发射器发射的激光，所述光电开关与控制面板通信连接，所述机架上固定连接有与控制面板通信连接的第一直线位移传感器，所述第一直线位移传感器的移动端固定安装有梯形挤压架，第一直线位移传感器用于测量梯形挤压架的位移长度，所述梯形挤压架上开设有与激光发射器相适配的通槽，通槽用于为激光发射器发射的激光提供通过空间，所述梯形挤压架与机架间安装有第一弹簧，所述支撑架固定连接有测位部，所述测位部的移动端固定连接有连接台，所述连接台通过螺纹杆活动连接有斜台。2.根据权利要求1所述的一种滤波器引脚检验设备，其特征在于，所述滤波器输送结构包括与底座固定连接的轨道，所述轨道上滑动安装有滑座，所述滑座固定连接有支撑台，所述支撑台连接有夹持部。3.根据权利要求2所述的一种滤波器引脚检验设备，其特征在于，所述夹持部包括与支撑台固定连接的双出轴电机，双出轴电机与控制面板通信连接，所述双出轴电机的输出端固定安装有第二丝杆，所述第二丝杆螺纹连接有与支撑台滑动连接的联动块，所述联动块活动连接有适配架。4.根据权利要求1所述的一种滤波器引脚检验设备，其特征在于，所述高度调节机构包括与底座固定连接的导向架，所述导向架固定连接有与控制面板通信连接的第一电机，所述第一电机的输出端固定安装有第一丝杆，所述第一丝杆螺纹连接有与导向架滑动连接的吊架，所述吊架与间距调节机构相连接。5.根据权利要求4所述的一种滤波器引脚检验设备，其特征在于，所述间距调节机构包括与吊架固定连接的第二电机，第二电机与控制面板通信连接，所述第二电机的输出轴固定连接有摆架，所述摆架两端均铰接有铰接架，所述铰接架铰接有分距槽架，分距槽架与吊架滑动连接，所述分距槽架上开设有多组分距槽，所述分距槽滑动连接滑块，所述滑块滑动连接有燕尾槽架，所述燕尾槽架固定连接有与吊架滑动连接的吊块，所述吊块与吊架间安装有第一主动伸缩杆。6.根据权利要求1所述的一种滤波器引脚检验设备，其特征在于，所述测位部包括与支撑架固定连接的矩形套，所述矩形套滑动连接有与连接台固定连接的矩形条，所述矩形条与矩形套间安装有第二直线位移传感器，所述矩形条与矩形套间安装有第二弹簧，第二直线位移传感器与控制面板通信连接。7.根据权利要求2所述的一种滤波器引脚检验设备，其特征在于，所述支撑台上固定安装有把手。

技术总结
本发明涉及滤波器引脚检测技术领域，具体是一种滤波器引脚检验设备，包括底座，底座上安装有控制面板，还包括：与底座相连接的滤波器输送结构；与底座相连接的测位结构，所述测位结构包括与底座相连接的高度调节机构，所述高度调节机构固定连接有间距调节机构，所述间距调节机构连接有多组测位机构，测位机构包括与间距调节机构固定连接的支撑架，所述支撑架固定连接有对称设置的机架，机架上安装有激光发射器，机架上固定安装有光电开关，机架固定连接第一直线位移传感器，支撑架固定连接有测位部，测位部的移动端固定连接有连接台，连接台通过螺纹杆活动连接有斜台。本发明便于一次性对滤波器引脚的三种不同数值进行测量和校对。对。对。


技术研发人员：全志刚 尹娟 全应甜 郑洲
受保护的技术使用者：深圳市鸿富胜科技有限公司
技术研发日：2023.09.12
技术公布日：2023/10/20