一种磁粉检测标记台的制作方法

1.本实用新型涉及无痕探伤领域，具体是一种磁粉检测标记台。


背景技术：

2.磁粉检测的一般步骤包括对工件的预处理、磁化、施加磁粉或磁悬液、磁痕观察与记录、分析及处理。其原理主要依赖当铁磁性材料工件被磁化，由于不连续性的存在，使工件表面和近表面的磁感应线发生局部畸变产生漏磁场，吸附工件表面的磁粉，在合适的光照下形成目视可见的磁痕，从而显示出不连续性的位置、大小、形状和严重程度。
3.其具体操作的过程中，很大比例所需要检测的工件为板型工件，或者矩形或者规则形状的工件。在检测中需要对工件的磁痕位置进行记录，以便后续分析和处理。现有的方法是使用尺子对工件进行测量，并对人工测量度数进行记录，这种对缺陷的标记方法误差很大，不利于后续问题的分析及处理的准确性。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种磁粉检测标记台，它对磁痕的位置稳定的标定，有利于操作者获得更加准确的测量数据。
5.本实用新型为实现上述目的，通过以下技术方案实现：
6.一种磁粉检测标记台，包括台面板，所述台面板的上方左右对称的设有导向杆，所述导向杆的顶面为平面的长条形尺面，所述尺面上设有第一刻度，两个所述导向杆之间设有横杆，所述横杆的两端分别与导向杆滑动配合，所述横杆上设有第二刻度，所述横杆上设有操作块，所述操作块上居中的设有激光头，所述激光头发射的光束与横杆的轴线共面垂直。
7.所述操作块上还安装有放大镜，所述放大镜的边缘设有镜框，所述镜框上设有门型架，所述门型架之间固定有摆动轴，操作块上设有轴孔，所述摆动轴贯穿轴孔且二者带阻力的转动连接。
8.所述横杆的两端分别设有滑动套，所述滑动套套接在导向杆上且二者滑动连接，所述滑动套的顶面前后居中的设有读数窗口，所述读数窗口能够暴露第一刻度，所述读数窗口里侧居中的位置设有第一指示线，所述第一指示线与横杆的轴线对应。
9.所述台面板的一侧设有与其铰接的立架，当立架为直立状态时所述立架的底端设有水平的底面，所述立架的下方设有固定在台面板上的限位块，所述限位块的顶面为与台面板平行的限位面，所述立架竖直状态下，所述立架的底面与限位面平行接触，所述立架的顶端与导向杆垂直固定。
10.在立架的底端设置挡块，所述挡块的底面与立架的底面共面。
11.所述台面板为矩形平板，所述台面板包括长边侧和短边侧，所述短边侧为左右两侧，所述立架铰接在台面板的长边侧。
12.所述操作块上贯穿有与横杆相适应的圆形孔，所述圆形孔的内壁上环形阵列的设
有2-4个凹槽，所述凹槽内自里而外的设有弹簧和销件，所述销件靠近圆孔的一端为球冠面，所述球冠面暴露在凹槽外部，所述弹簧的一端安装在凹槽槽底，且所述弹簧的另一端安装在销件上，所述横杆上环形阵列有2-4条限位槽，所述限位槽的截面为弧形且与球冠面的截面曲面相适应，所述销件与限位槽活动销接。
13.所述操作块的截面为正方形，所述激光头安装在其一侧端面的中央位置。
14.所述操作块上设有补充光源。
15.对比现有技术，本实用新型的有益效果在于：
16.使用本装置对工件基于磁粉进行无痕探伤检测的时候，将工件放置在台面板上，通过在其上方能够水平前后移动的横杆，以及在横杆上水平左右移动的操作块，获得两个维度平移效果，能够在不接触工件的情况下，相对工件稳定的移动和定位，从而对磁痕的位置稳定的标定，有利于操作者获得更加准确的测量数据。且测量过程不会对工件被检面进行影响或破坏，有利于检测的顺利进行。
附图说明
17.图1是本实用新型的示意图。
18.图2是本实用新型图1的i部放大图。
19.图3是本实用新型的示意图。
20.图4是本实用新型的俯视图。
21.图5是本实用新型图4的aa剖面下的操作块内部结构示意图。
22.图6是本实用新型的示意图。
23.图7是本实用新型图3的ⅱ部放大图。
24.附图中所示标号：
25.1、台面板；2、转动座；3、立架；4、限位块；5、挡块；6、导向杆；7、尺面；8、滑动套；9、读数窗口；10、第一指示线；11、横杆；12、操作块；13、圆形孔；14、凹槽；15、弹簧；16、销件；17、限位槽；18、激光头；19、开关键；20、放大镜；21、门型架；22、第一凸条；23、第二凸条；24、直线凸条。
具体实施方式
26.下面结合具体实施例，进一步阐述本实用新型。应理解，这些实施例仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。此外应理解，在阅读了本实用新型讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本实用新型作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本技术所限定的范围。
27.下述实施例中所涉及的仪器、试剂、材料等，若无特别说明，均为现有技术中已有的常规仪器、试剂、材料等，可通过正规商业途径获得。下述实施例中所涉及的实验方法，检测方法等，若无特别说明，均为现有技术中已有的常规实验方法，检测方法等。
28.实施例1：
29.许多待测工件为焊板、钢板、切割板件等工件，或者金属管材、焊接管材等管件等的时候，先要检查被检表面，不能有影响磁粉检测的铁锈、氧化皮、焊接飞溅、铁屑、毛刺以及各种保护层，然后将待测工件平方在检测台上，并使被检表面在上，稳定放置后再进行后
续的各项操作。
30.当磁头正式完成磁化后，工作人员需要立刻认真仔细的辨认磁痕显示。由于磁粉为黑色，观察起来难度较高，特别是有的磁痕不明显，故要求对磁痕的显示采用近距离观察，并对被检表面多次观察和确认，当发现磁痕后，要对位置使用直尺进行测长、测点并记录。现有使用尺子测量时，虽然要求尺子尽量不要在工件表面拖拉和摁压，但手套或者尺子难免碰到或划过被检表面，对磁化面造成干扰，导致需要反复的喷涂、磁化、观察。同时局促的测量方法给测量的准确性带来不利影响，使得测量结果准确度较差。
31.本实施例是一种磁粉检测标记台，对测量过程进行了改进。主体结构包括：
32.台面板1，所述台面板1为矩形平板，所述台面板1底面的四角位置设有支撑脚。有利于对台面板1进行稳定的支撑。
33.所述台面板1包括长边侧和短边侧，根据使用习惯，使其短边侧为左右两侧。
34.所述台面板1的一侧长边侧上固定有转动座2，所述转动座2为两个且相对台面板1的长边侧左右对称设置，所述转动座2上可转动的安装有转轴，所述转轴的外端固定在立架3上，所述立架3的底端设有与立架3的长度方向垂直的底面，所述立架3的下方设有固定在台面板1上的限位块4，所述限位块4的顶面为与台面板1平行的限位面，所述立架3竖直状态下，所述立架3的底面与限位面平行接触。从而使得立架3向台面板1一侧翻转的最大角度被局限为直立的90度，使得立架3只能自直立状态向外(反向台面板1)的一侧翻转。为了增加面与面限位的稳定性，使得立架3的直立状态更加稳定，在立架3的底端设置挡块5，所述挡块5的底面与立架3的底面共面，从而增加底面与限位面的接触面积。
35.所述立架3的顶端设有与其垂直固定的导向杆6，当所述立架3为竖直状态时，所述导向杆6与台面板1的短边侧平行，所述导向杆6的顶面为平面的长条形尺面7，便于对刻度进行观察，所述尺面7上设有第一刻度。
36.所述导向杆6与立架3构成l型的翻转结构，能够向外翻转而充分避让台面板1上方的空间，也能够向内翻转至导向杆6对称水平的位于台面板1左右两侧，基于导向杆6的重力作用，能够增加该水平状态的稳定性。
37.所述导向杆6上套接有与其滑动配合的滑动套8，所述滑动套8为外形截面是方形的滑动件，所述滑动套8的顶面前后居中的设有读数窗口9，所述读数窗口9为了便于观察设计为内端较小外端较大的“凸”形结构，所述读数窗口9里侧居中的位置设有第一指示线10，方便高精度的对应第一刻度。通过第一指示线10，可以与第一刻度在俯视条件下实现对接，从而更加轻松精准的读出刻度数据。
38.两个滑动套8之间设有横杆11，所述横杆11的两端分别固定在滑动套8(沿其长度方向上)的中央位置，所述横杆11的长度方向与导向杆6垂直且水平延伸，所述横杆11上套接有与其滑动配合的操作块12，所述操作块12上贯穿有与横杆11相适应的圆形孔13，所述圆形孔13的内壁上环形阵列的设有4个凹槽14，所述凹槽14内自里而外的设有弹簧15和销件16，所述销件16靠近圆孔的一端为球冠面，所述球冠面暴露在凹槽14外部，所述弹簧15的一端安装在凹槽14槽底，且所述弹簧15的另一端安装在销件16上，从而使销件16具有向凹槽14外顶出的弹性力。所述横杆11上环形阵列有4条限位槽17，所述限位槽17的截面为弧形且与球冠面的截面曲面相适应，所述销件16与限位槽17活动销接，实现对操作块12相对横杆11周向位置的限位，当用力扭动操作块12，能够使其在横杆11上旋转，当销件16遇到限位
槽17的时候，会自动落入限位槽17而终止其周向转动并使其保持在该位置。基于销件16的球冠面与限位槽17实现滑动配合。
39.所述横杆11上也设有第二刻度。增加多维度数。
40.所述操作块12的截面为正方形，所述操作块12的一侧端面上居中的设有激光头18，用于竖直方向的发射光束，当其转动为竖直向下并开启的时候，能够定位其下方的位置，基于激光头18居中安装，光束向下投影所获得的光点与横杆11的轴线共线，同时第一指示线10与横杆11的轴线共线，从而激光头18向下照射的时候其光点位置与第一指示线10共线，能够通过第一刻度对该位置进行度数。在操作块12上设有用于控制激光头18的开关键19，方便在不用的时候将其关闭。
41.所述操作块12上还安装有放大镜20，所述放大镜20的边缘设有镜框，所述镜框上设有门型架21，所述门型架21之间固定有摆动轴，操作块12上设有轴孔，所述摆动轴贯穿轴孔且二者转动连接，所述摆动轴外设有橡胶套，与轴孔的转动具有较大的摩擦力，当操作者松开放大镜20后，放大镜20能够停留保持在该位置。
42.为了增加光源，也可以在操作块12上设置补充光源，例如采用lde灯珠，便于更加清楚的辨认磁痕。
43.使用的时候，前后拖拽横杆11，并左右拖拽操作块12，能够便捷的调整操作块12相对台面板1上方的平面二维位置，使其位于需要观察的位置上方，并根据需要，可使用放大镜20进行细致的观察，当发现磁痕的时候，可以进一步翻转操作块12，让激光头18向下照射，当需要测定点的时候，使光点落在磁痕的位置，并利用对应的第一刻度或第二刻度进行度数，当需要测定长度的时候，根据磁痕横向或竖向摆放工件，并单向移动横杆11或者操作块12，对距离差进行度数。
44.实施例2：
45.本实施例是一种磁粉检测标记台，本实施例与实施例1的区别在于以下两个方面：
46.第一，所述销件16为滚珠，所述滚珠不超过1/2的球冠面暴露在凹槽14的外部，所述凹槽14的槽口宽度小于滚珠的直径，同时基于滚珠的圆滑表面及可以滚动的效果，提高操作块12在横杆11上左右滑动的流畅性。
47.第二，所述台面板1靠近右上角位置设有
┐
形凸块，所述
┐
形凸块包括呈直角的第一凸条22和第二凸条23，所述第一凸条22与长边侧平行，所述第一凸条22的位置与尺面7在水平状态下的第一刻度的零刻度位置相对应，所述第二凸条23与短边侧平行，当激光头18对应第二刻度的零刻度位置时，所述第二凸条23与操作块12的一侧端面相对应。便于度数。在对矩形工件进行检测的时候，可以直接将工件的一角对顶在
┐
形凸块的直角阴角位置，当发现磁痕后，使用激光头18的光点对应在磁痕上，即可方便的通过第一刻度和第二刻度快速的获得磁痕的二维数据，对于长度也可以对两个端点通过上述快速测量获得。
48.在台面板1靠近短边侧设有直线凸条24，所述直线凸条24与第二凸条23冲齐，从而当检测管件或其他细长工件的时候，将工件一端与直线凸条24对其，即可方便的利用横杆11度数。
49.本示例主要进一步的增加的方便冲齐的凸条，从而便于快速的度数。增加了测量环节的便利性。

技术特征：
1.一种磁粉检测标记台，其特征在于，包括台面板，所述台面板的上方左右对称的设有导向杆，所述导向杆的顶面为平面的长条形尺面，所述尺面上设有第一刻度，两个所述导向杆之间设有横杆，所述横杆的两端分别与导向杆滑动配合，所述横杆上设有第二刻度，所述横杆上设有操作块，所述操作块上居中的设有激光头，所述激光头发射的光束与横杆的轴线共面垂直。2.根据权利要求1所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，所述操作块上还安装有放大镜，所述放大镜的边缘设有镜框，所述镜框上设有门型架，所述门型架之间固定有摆动轴，操作块上设有轴孔，所述摆动轴贯穿轴孔且二者带阻力的转动连接。3.根据权利要求1所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，所述横杆的两端分别设有滑动套，所述滑动套套接在导向杆上且二者滑动连接，所述滑动套的顶面前后居中的设有读数窗口，所述读数窗口能够暴露第一刻度，所述读数窗口里侧居中的位置设有第一指示线，所述第一指示线与横杆的轴线对应。4.根据权利要求1所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，所述台面板的一侧设有与其铰接的立架，当立架为直立状态时所述立架的底端设有水平的底面，所述立架的下方设有固定在台面板上的限位块，所述限位块的顶面为与台面板平行的限位面，所述立架竖直状态下，所述立架的底面与限位面平行接触，所述立架的顶端与导向杆垂直固定。5.根据权利要求4所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，在立架的底端设置挡块，所述挡块的底面与立架的底面共面。6.根据权利要求4所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，所述台面板为矩形平板，所述台面板包括长边侧和短边侧，所述短边侧为左右两侧，所述立架铰接在台面板的长边侧。7.根据权利要求1所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，所述操作块上贯穿有与横杆相适应的圆形孔，所述圆形孔的内壁上环形阵列的设有2-4个凹槽，所述凹槽内自里而外的设有弹簧和销件，所述销件靠近圆孔的一端为球冠面，所述球冠面暴露在凹槽外部，所述弹簧的一端安装在凹槽槽底，且所述弹簧的另一端安装在销件上，所述横杆上环形阵列有2-4条限位槽，所述限位槽的截面为弧形且与球冠面的截面曲面相适应，所述销件与限位槽活动销接。8.根据权利要求1所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，所述操作块的截面为正方形，所述激光头安装在其一侧端面的中央位置。9.根据权利要求1所述一种磁粉检测标记台，其特征在于，所述操作块上设有补充光源。

技术总结
本实用新型公开了一种磁粉检测标记台，主要涉及无痕检测领域。包括台面板，所述台面板的上方左右对称的设有导向杆，所述导向杆的顶面为平面的长条形尺面，所述尺面上设有第一刻度，两个所述导向杆之间设有横杆，所述横杆的两端分别与导向杆滑动配合，所述横杆上设有第二刻度，所述横杆上设有操作块，所述操作块上居中的设有激光头，所述激光头发射的光束与横杆的轴线共面垂直。本实用新型的有益效果在于：它对磁痕的位置稳定的标定，有利于操作者获得更加准确的测量数据。获得更加准确的测量数据。获得更加准确的测量数据。


技术研发人员：尚其铎 惠进财
受保护的技术使用者：尚其铎
技术研发日：2023.05.26
技术公布日：2023/10/20