步进电机驱动器与步进电机测试方法、系统、设备及介质与流程

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1.本技术步进电机
技术领域
:,尤其涉及一种步进电机驱动器与步进电机测试方法、系统、设备及介质。
背景技术
::2.目前市场上,不具有信号反馈功能的开环步进电机驱动器和开环步进电机测试的出货量仍非常大,所以需要对这些开环步进电机驱动器和开环步进电机进行失步测试以判断是否合格。失步的判定即电机开始转动的起始位置与电机转动的中止位置是否在同一位置或者位置偏差是否在可接受范围,每一次测试都需要人工肉眼来判断电机转轴的起始和中止位置是否在同一位置;如果位置的偏差过大,则需要人工手动扭转电机轴到标定位置后再重新开始测试,由此导致开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试工作量大,测试结果受测试人员的自身经验与水平影响较大,所以开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试效率偏低。技术实现要素:3.本技术的主要目的在于提供一种步进电机驱动器与步进电机测试方法、系统、设备及介质,旨在解决开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试效率低的技术问题。4.为实现上述目的,本技术提供一种步进电机驱动器与步进电机测试方法,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法包括:5.通过干扰信号发生器根据预设的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至步进电机驱动器;6.通过可编程逻辑控制器接收计算机发送的控制信号参数,生成对应的控制信号,并发送至所述步进电机驱动器;7.通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态;8.若是,则干扰测试通过,否则,干扰测试不通过。9.可选地,所述转子位置传感器为槽式光电开关。10.可选地,所述槽式光电开关安装在所述步进电机的定子上,所述步进电机的转子轴上的标志物为光挡片,所述通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态的步骤包括::11.判断所述槽式光电开关是否处于关断状态;12.若所述槽式光电开关处于关断状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于对齐状态;13.若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于偏离状态。14.可选地,所述槽式光电开关为u型槽式光电开关,在所述判断所述槽式光电开关处于关断状态还是连通状态的步骤之前,所述方法还包括:15.通过所述u型槽式光电开关的发射位置向所述u型槽式光电开关的接收位置发射光线;16.若光线的发射路径被所述光挡片阻挡,则所述接收位置不能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于关断状态;17.若光线的发射路径未被所述光挡片阻挡,则所述接收位置能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于连通状态。18.可选地,在所述通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转的步骤之前,所述方法还包括:19.通过所述槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关是否处于对齐状态;20.若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关不处于对齐状态,并通过所述步进电机驱动器驱动步进电机旋转,直至所述槽式光电开关处于关断状态。21.可选地,所述通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转的步骤包括:22.通过所述步进电机驱动器根据所述干扰信号和所述控制信号,生成驱动信号;23.当所述步进电机的运行时长达到所述干扰测试参数中的预设时长时,通过所述计算机控制所述可编程逻辑控制器停止向所述步进电机驱动器发送控制信号,以停止所述步进电机的转子旋转。24.可选地,在所述通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态的步骤之后,所述方法还包括:25.若检测到所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关不处于对齐状态,则所述干扰测试参数对应的测试项目不通过;26.通过所述步进电机驱动器驱动步进电机旋转,直至所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关处于对齐状态。27.可选地,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法还包括:28.在获得所述干扰测试参数对应的测试结果后,若存在未完成的测试项目,则通过所述干扰信号发生器根据预设的下一测试项目对应的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至所述步进电机驱动器,其中,所述测试结果包括通过或不通过;29.返回执行步骤:通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转。30.本技术还提供一种步进电机驱动器与步进电机测试系统,所述步进电机驱动器与步进电机测试系统应用于步进电机驱动器与步进电机测试设备,所述步进电机驱动器与步进电机测试系统包括:31.步进电机驱动器,步进电机,干扰信号发生器,可编程逻辑控制器以及计算机;32.其中,所述步进电机驱动器分别与所述步进电机、所述干扰信号发生器以及所述可编程逻辑控制器连接;33.其中,所述步进电机与所述可编程逻辑控制器连接,所述步进电机中设置槽转子位置传感器,所述步进电机的转子轴上设置标志物,所述转子位置传感器用于检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态;34.其中,所述干扰信号发生器与所述可编程逻辑控制器分别与所述计算机连接。35.本技术还提供一种电子设备,所述电子设备为实体设备,所述电子设备包括:存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的所述步进电机驱动器与步进电机测试方法的程序,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法的程序被处理器执行时可实现如上述的步进电机驱动器与步进电机测试方法的步骤。36.本技术还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有实现步进电机驱动器与步进电机测试方法的程序,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法的程序被处理器执行时实现如上述的步进电机驱动器与步进电机测试方法的步骤。37.本技术还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的步进电机驱动器与步进电机测试方法的步骤。38.本技术提供了一种步进电机驱动器与步进电机测试方法、系统、设备及介质,首先通过干扰信号发生器根据预设的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至步进电机驱动器,再通过可编程逻辑控制器接收计算机发送的控制信号参数,生成对应的控制信号,并发送至所述步进电机驱动器,进而通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态,若是,则干扰测试通过,否则,干扰测试不通过,本技术的技术方案可以通过计算机自动发送步进电机驱动及与步进电机测试时的各项干扰测试参数以控制步进电机旋转,无需在每项测试完成后手动输入,提高了测试效率,另外通过转子位置传感器来检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态以确定所述步进电机驱动器与步进电机是否出现失步,实现了步进电机驱动器与步进电机的自动化测试,克服了人工判断是否发生位置偏移的技术缺陷,提高了步进电机驱动器与步进电机的测试效率。附图说明39.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本技术的实施例,并与说明书一起用于解释本技术的原理。40.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。41.图1为本技术步进电机驱动器与步进电机测试方法第一实施例的流程示意图;42.图2为本技术步进电机驱动器与步进电机测试方法中u型槽式光电开关与光挡片的位置示意图;43.图3为本技术步进电机驱动器与步进电机测试方法中u型槽式光电开关的工作原理示意图;44.图4为本技术实施例中步进电机驱动器与步进电机测试系统的组成结构示意图;45.图5为本技术实施例中步进电机驱动器与步进电机测试方法涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。46.本技术目的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。具体实施方式47.为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例,均属于本技术保护的范围。48.实施例一49.目前,开环步进电机驱动器和开环步进电机缺少如闭环步进电机驱动器和步进电机类的反馈信号功能,仅仅是只能单向接收命令和执行命令,而在开环步进电机驱动器和开环步进电机的成品测试中,失步测试是一项重要的项目。而在开环步进电机驱动器和开环步进电机的失步测试过程中,需要大量的人工干预与操作,尤其在一些抗干扰测试当中,有干扰相线选择,干扰频率选择,还有传输线传导和容夹耦合选择,每一项测试项目都需要人工输入参数,而且每一项测试项目有时间要求,测试结果既要单项测试的结果又要有所有项目的全套测试结果,都需要人工通过判断是否存在位置偏差以判断是否失步,测试驱动器和电机频繁的上电断电都由人工操作,时间极长,过程复杂。从而导致步进电机驱动器与步进电机测试效率偏低,因此亟需一种对步进电机驱动器与步进电机进行失步测试的自动化测试方法。50.本技术实施例提供一种步进电机驱动器与步进电机测试方法,在本技术步进电机驱动器与步进电机测试方法的第一实施例中,参照图1,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法包括:51.步骤s10,通过干扰信号发生器根据预设的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至步进电机驱动器;52.步骤s20,通过可编程逻辑控制器接收计算机发送的控制信号参数,生成对应的控制信号,并发送至所述步进电机驱动器;53.步骤s30,通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态;54.步骤s40,若是,则干扰测试通过,否则,干扰测试不通过。55.在本技术实施例中,需要说明的是,所述步进电机驱动器与步进电机分别为开环步进电机驱动器和开环步进电机,不能反馈位置信号以确定是否发生失步,所以本技术实施例通过在开环步进电机的定子上设置一转子位置传感器,以检测所述开环步进电机的转子轴上的标志物与转子位置传感器是否对齐,其中,所述标志物随着转子轴旋转而旋转,在每次干扰测试前,所述转子位置传感器与所述步进电机的转子轴上的标志物均处于对齐状态。从而实现自动检测,其中,对齐状态的检测精度可以通过调整所述转子轴上的标志物的宽度来调整,所述标志物越宽,检测精度越低,所述标志物越窄,检测精度越高,工作人员可以根据具体需要设置合适的标志物宽度。其中,所述计算机(pc,personalcomputer)上安装有自动测试软件,用于配置控制信号参数,并通过计算机来对可编程逻辑控制器(plc,programmablelogiccontroller)进行控制,实现开环步进电机驱动器和开环步进电机的自动化测试,对失步的精准测试,准确判断,节省人力和时间,从而在产品生产测试上降低成本,提高效益。所述预设的干扰信号参数可以包括多个测试项目分别对应的干扰信号参数,所述干扰信号发生器可以供测试人员根据需求配置各项单项测试对应的测试项目的干扰信号参数,从而生成不同类型的干扰信号,并依次发送到步进电机驱动器对其进行干扰测试,以逐次完成多项单项测试项目。例如,在实际的测试过程中,通常需要对步进电机驱动器和步进电机进行多项干扰测试,例如有干扰相线选择,干扰频率选择,还有传输线传导和容夹耦合选择,不同项的干扰测试对应的干扰测试参数不同,所述干扰测试通过则表示步进电机驱动器和步进电机通过了当前测试项目,并继续根据下一测试项目对应的干扰测试参数,生成对应的干扰信号以进行其他测试项目的测试,直至全部测试项目测试完成。56.需要说明的是,在所述步进电机驱动器与步进电机测试方法中涉及到的步进电机驱动器,步进电机,干扰信号发生器,可编程逻辑控制器以及计算机之间的通讯方式包括但不限于uart(universalasynchronousreceiver/transmitter,通用异步收发传输器),rs485协议,can(controllerareanetwork,串行通讯协议总线),lan(localareanetwork,局域网)等各种工业通讯方式均可。57.作为一种示例,步骤s10至步骤s40包括:通过所述干扰信号发生器根据预设的第一组干扰测试参数,生成对应的干扰信号,其中,所述干扰测试参数至少包括干扰时长;将所述干扰信号发送至步进电机驱动器;通过所述自动测试软件向可编程逻辑控制器发送控制信号参数,其中,所述控制信号参数至少包括运行时长以及预设转速,所述运行时长等于所述干扰时长;通过所述可编程逻辑控制器根据所述控制信号参数生成对应的控制信号;将所述控制信号发送至所述电机驱动器;通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号生成对应的驱动信号,并通过所述驱动信号发送到步进电机,以驱动所述步进电机的转子轴旋转;当所述步进电机的选择达到所述运行时长,通过所述计算机向所述可编程逻辑控制器发送停止指令,控制所述可编程逻辑控制器特征停止向所述步进电机发送控制信号以控制所述步进电机停止运行;通过安装在所述步进电机上的转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态,需要说明的是,在测试前,所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器处于对齐状态;通过所述步进电机将所述转子位置传感器将位置判断信号回传至所述可编程逻辑控制器,其中,所述位置判断信号包括对齐或未对齐;根据所述位置判断信号判断该测试项目是否通过,具体地,若所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关处于对齐状态,则未发生失步且所述干扰测试参数对应的测试项目通过;若所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器不处于对齐状态,则发生失步且所述干扰测试参数对应的测试项目为通过。58.作为一种可行的实施例,所述转子位置传感器可以为槽式光电开关。59.进一步地,所述槽式光电开关安装在所述步进电机的定子上,所述步进电机的转子轴上的标志物为光挡片,所述通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态的步骤包括:60.步骤s31,判断所述槽式光电开关是否处于关断状态;61.步骤s32,若所述槽式光电开关处于关断状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于对齐状态;62.步骤s33,若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于偏离状态。63.在本技术实施例中,需要说明的是,参照图2,所述槽式光电开关安装在所述步进电机的定子上,所述步进电机的转子轴上安装有光挡片,当所述光挡片与所述槽式光电开关对齐时,所述光挡片遮挡了所述槽式光电开关中的光线传播,则所述槽式光电开关处于关断状态;当所述光挡片与所述槽式光电开关未对齐时,所述光挡片不能遮挡了所述槽式光电开关中的光线传播,则所述槽式光电开关处于连通状态。本技术实施例实现了通过所述u型槽式光电开关的关断状态和连通状态分别表征所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关之间的对齐状态和偏离状态,克服了需要人眼判断是否发生偏移导致测试精准度低的技术缺陷,提高了测试效率。64.作为一种示例,步骤s31至步骤s33包括:判断在所述步进电机停止运行后,所述槽式光电开关是否处于关断状态;若所述槽式光电开关处于关断状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关的位置重合,即所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于对齐状态,所述步进电机未发生失步;若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关的位置未重合,即所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于偏离状态,所述步进电机发生失步。65.进一步地,在所述判断所述槽式光电开关处于关断状态还是连通状态的步骤之前,所述方法还包括:66.步骤s311,通过所述u型槽式光电开关的发射位置向所述u型槽式光电开关的接收位置发射光线;67.步骤s312,若光线的发射路径被所述光挡片阻挡,则所述接收位置不能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于关断状态;68.步骤s313,若光线的发射路径未被所述光挡片阻挡,则所述接收位置能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于连通状态。69.在本技术实施例中,需要说明的是,所述槽式光电开关为u型槽式光电开关,参照图3,在所述步进电机的转子轴107上的光挡片与所述槽式光电开关106处于对齐状态时,所述转子轴上的光挡片108处于所述u型槽式光电开关的中间,恰好遮挡了从所述u型槽式光电开关上的发射位置109到接收位置110之间的光线传播路线,这时所述u型槽式光电开关处于关断状态。70.作为一种示例,步骤s311至步骤s313包括:通过所述u型槽式光电开关的发射位置向所述u型槽式光电开关的接收位置的方向发射光线;在光线的传播过程中,若光线的发射路径被所述光挡片阻挡,则所述接收位置不能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于关断状态,即所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于对齐状态,所述步进电机未发生失步;若光线的发射路径未被所述光挡片阻挡,则所述接收位置能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于连通状态,即所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于偏离状态,所述步进电机发生失步。71.另外,在所述通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转的步骤之前,所述方法还包括:72.步骤a10,通过所述槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关是否处于对齐状态;73.步骤a20,若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关不处于对齐状态,并通过所述步进电机驱动器驱动步进电机旋转,直至所述槽式光电开关处于关断状态。74.在本技术实施例中,需要说明的是,本技术实施例提供了一种在进行步进电机驱动器与步进电机测试前,先对所述步进电机的转子轴位置进行对位的方法,通过槽式光电开关检测是否处于对齐状态,并在未处于对齐状态时通过步进电机驱动器驱动步进电机旋转,以使得所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关对齐,不需要人工在每次测试前手工对位,实现了步进电机转子轴的自动对位,提高了步进电机驱动器与步进电机的测试效率。75.作为一种示例,步骤a10至步骤a20包括:在进行步进电机驱动器与步进电机测试之前,先通过所述槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关是否处于对齐状态;若所述槽式光电开关处于关断状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于对齐状态,可直接执行步骤s10至步骤s40;若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关不处于对齐状态;通过计算机向所述可编程逻辑控制器发送指令,控制所述可编程逻辑控制器向所述步进电机发送控制信号以控制所述步进电机的转子旋转,并实时检测所述槽式光电开关的状态;当检测到所述槽式光电开关处于关断状态时,则所述槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关是否处于对齐状态,并将所述对齐状态对应的位置判断信号回传至所述可编程逻辑控制器;当所述可编程逻辑控制器接收到的所述位置判断信号为对齐状态时,停止向所述步进电机发送控制信号,以停止所述步进电机的转子旋转,完成步进电机测试前的自动对位。76.具体地,其中,所述通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转的步骤包括:77.步骤s34,通过所述步进电机驱动器根据所述干扰信号和所述控制信号,生成驱动信号;78.步骤s35,将所述驱动信号发送至所述步进电机,以驱动所述步进电机的转子旋转;79.步骤s36,当所述步进电机的运行时长达到所述干扰测试参数中的预设时长时,通过所述计算机控制所述可编程逻辑控制器停止向所述步进电机驱动器发送控制信号,以停止所述步进电机的转子旋转。80.在本技术实施例中,需要说明是,本技术实施例提供了一种通过控制信号和干扰信号驱动步进电机运行以进行本次干扰测试的测试项目的方法,具体包括所述干扰测试参数中的预设时长,并在运行时长达到所述预设时长时,自动停止步进电机的转子旋转,实现步进电机驱动器与步进电机测试的自动控制,以提高步进电机驱动器与步进电机的测试效率。81.作为一种示例,步骤s34至步骤s36包括:通过所述步进电机驱动器接收所述控制信号和所述干扰信号,并排除所述干扰信号的干扰,生成用于控制所述步进电机的转子旋转的驱动信号;将所述驱动信号发送至所述步进电机,驱动所述步进电机的运行;当所述步进电机的运行时长达到所述干扰测试参数中的预设时长时,通过所述计算机向所述可编程逻辑控制器发送停止指令,以控制所述可编程逻辑控制器停止向所述步进电机驱动器发送控制信号,以停止所述步进电机的转子旋转,以完成所述步进电机驱动器与步进电机的测试。82.进一步地,在所述通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态的步骤之后,所述方法还包括:83.步骤b10,若检测到所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关不处于对齐状态,则所述干扰测试参数对应的测试项目不通过;84.步骤b20,通过所述步进电机驱动器驱动步进电机旋转,直至所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关处于对齐状态。85.在本技术实施例中,需要说明的是,本技术实施例提供了一种当测试项目不通过,即测试完成后所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关不处于对齐状态时的步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关自动对位方法,具体执行步骤可以参照步骤a10至步骤a20的自动对位步骤,在此不做赘述。86.作为一种示例,步骤b10至步骤b20包括:若检测到所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关不处于对齐状态,即所述干扰测试参数对应的测试项目不通过;通过计算机向所述可编程逻辑控制器发送指令,控制所述可编程逻辑控制器向所述步进电机发送控制信号以控制所述步进电机的转子旋转,并实时检测所述槽式光电开关的状态;当检测到所述槽式光电开关处于关断状态时,则所述槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关是否处于对齐状态,并将所述对齐状态对应的位置判断信号回传至所述可编程逻辑控制器;当所述可编程逻辑控制器接收到的所述位置判断信号为对齐状态时,停止向所述步进电机发送控制信号,以停止所述步进电机的转子旋转,完成步进电机测试前的自动对位。87.另外,在获得每个干扰测试的测试项目的测试结果后,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法还包括:88.步骤s50,在获得所述干扰测试参数对应的测试结果后,若存在未完成的测试项目,则通过所述干扰信号发生器根据预设的下一测试项目对应的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至所述步进电机驱动器,其中,所述测试结果包括通过或不通过;89.步骤s60,返回执行步骤:通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转。90.在本技术实施例中,需要说明的是,本技术实施例提供了一种进行包含多个单项测试项目的测试方法,即在获得每个单项测试项目的测试结果后,判断是否存在未完成的测试项目,若存在,则根据新的单项测试项目的干扰测试参数生成新的干扰信号并循环执行步骤s30至步骤s40,其中,在每次测试中,需要测试的各单项测试项目的干扰测试参数预设在干扰信号发生器中,测试人员可以根据需求选择需要测试的单项测试项目。91.作为一种示例,步骤s50至步骤s60包括:在步骤s30至步骤s40执行完毕后,即获得单项测试项目的测试结果后,判断是否存在未完成的单项测试项目;若不存在未完成的测试项目,则结束测试;若存在未完成的测试项目,则通过所述干扰信号发生器根据预设的下一测试项目对应的干扰测试参数,生成下一测试项目对应的干扰测试信号;将生成的下一测试项目对应的干扰测试信号发送至步进电机驱动器;返回执行步骤s30:通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关是否处于对齐状态,并执行步骤s40:通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关是否处于对齐状态;返回执行步骤s50至步骤s60,直至全部单项测试项目测试完成。92.本技术实施例提出的步进电机驱动器和步进电机的测试方法的关键在增加一个成本低而且信号简单的槽式光电开关以反馈位置判断信号,通过运行计算机上安装的自动测试软件,控制和读取干扰信号发生器的各项测试项目以逐项自动测试,自动记录;并通过计算机发送控制信号给开环步进电机驱动器的plc,以实现实时发送和停止发送给开环步进电机驱动器的控制信号,同时获取所述槽式光电开关输出给到plc的位置判断信号以确定是否失步。当测试结束后,自动记录各种单项干扰测试项下的测试结果。如果全部单项测试结果都通过,则整个测试通过。如果存在部分单项测试项目测试失败,则可以从测试结果中快速获取失败的测试项目。93.本技术提供了一种步进电机驱动器与步进电机测试方法,首先通过干扰信号发生器根据预设的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至步进电机驱动器,再通过可编程逻辑控制器接收计算机发送的控制信号参数,生成对应的控制信号,并发送至所述步进电机驱动器,进而通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态,若是,则干扰测试通过,否则,干扰测试不通过,本技术实施例的技术方案可以通过计算机自动发送步进电机驱动及与步进电机测试时的各项干扰测试参数以控制步进电机旋转,无需在每项测试完成后手动输入,提高了测试效率,另外通过转子位置传感器来检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态以确定所述步进电机驱动器与步进电机是否出现失步,实现了步进电机驱动器与步进电机的自动化测试,克服了人工判断是否发生位置偏移的技术缺陷,提高了步进电机驱动器与步进电机的测试效率。94.实施例二95.本技术实施例还提供一种步进电机驱动器与步进电机测试系统,参照图4,所述步进电机驱动器与步进电机测试系统包括:96.步进电机驱动器101,步进电机102,干扰信号发生器103,可编程逻辑控制器104以及计算机105;97.其中,所述步进电机驱动器101分别与所述步进电机102、所述干扰信号发生器103以及所述可编程逻辑控制器104连接,所述步进电机驱动器101用于根据所述干扰信号发生器103发送的干扰信号和所述可编程逻辑控制器104发送的控制信号生成驱动信号以控制所述步进电机102的运行,所述干扰信号发生器103用于根据预设的干扰信号参数生成对应的干扰信号;98.其中,所述步进电机102与所述可编程逻辑控制器104连接,所述步进电机102中设置转子位置传感器,所述转子传感器可以为槽式光电开关106(参照图3)、转子轴107(参照图3)以及转子轴107上的标志物,所述标志物可以为光挡片108(参照图3),所述槽式光电开关106用于检测所述步进电机102的转子轴107上的光挡片108与所述槽式光电开关106是否处于对齐状态,具体地,所述槽式光电开关106为u型槽式光电开关,当所述u型槽式光电开关处于关断状态时,所述步进电机102上的转子轴107上的光挡片108与所述槽式光电开关106处于对齐状态;当所述u型槽式光电开关处于连通状态时,所述步进电机102上的转子轴107上的光挡片108与所述槽式光电开关106处于偏离状态;99.其中,所述步进电机102还用于向所述可编程逻辑控制器104反馈位置判断信号,以确定所述步进电机102上的转子轴107与所述槽式光电开关106是否处于对齐状态,便于所述可编程逻辑控制器104确定是否需要继续向所述步进电机驱动器101继续发送控制信号以完成所述步进电机102的自动对位。100.其中,所述干扰信号发生器103与所述可编程逻辑控制器104分别与所述计算机连接。101.其中,所述u型槽式光电开关还用于通过发射位置109(参照图3)向所述u型槽式光电开关的接收位置110(参照图3)发射光线,以判断光纤的发射路径是否被所述光挡片108阻挡,即所述步进电机102上的转子轴107与所述槽式光电开关106是否处于对齐状态。102.在一种可行的实施例中,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法中涉及到的步进电机驱动器101,步进电机102,干扰信号发生器103,可编程逻辑控制器104以及计算机105之间的通讯信号(包括干扰信号、驱动信号、控制信号以及位置判断信号)可以包括但不限于uart,rs485协议,can,lan等各种工业通讯方式对应的通讯信号。103.本技术提供的步进电机驱动器与步进电机测试系统,采用上述实施例中的步进电机驱动器与步进电机测试方法,解决了开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试效率低的技术问题。与现有技术相比,本技术实施例提供的步进电机驱动器与步进电机测试系统的有益效果与上述实施例提供的步进电机驱动器与步进电机测试方法的有益效果相同,且该步进电机驱动器与步进电机测试系统中的其他技术特征与上一实施例方法公开的特征相同,在此不做赘述。104.实施例三105.本技术实施例提供一种电子设备,电子设备包括:至少一个处理器;以及,与至少一个处理器通信链接的存储器;其中,存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令,指令被至少一个处理器执行,以使至少一个处理器能够执行上述实施例一中的步进电机驱动器与步进电机测试方法。106.下面参考图5,其示出了适于用来实现本公开实施例的电子设备的结构示意图。本公开实施例中的电子设备可以包括但不限于诸如移动电话、笔记本电脑、数字广播接收器、pda(personaldigitalassistant,个人数字助理)、pad(平板电脑)、pmp(portablemediaplayer,便携式多媒体播放器)、车载终端(例如车载导航终端)等等的移动终端以及诸如数字tv、台式计算机等等的固定终端。图5示出的电子设备仅仅是一个示例,不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。107.如图5所示,电子设备可以包括处理系统(例如中央处理器、图形处理器等),其可以根据存储在只读存储器(rom,readonlymemory)中的程序或者从存储系统加载到随机访问存储器(ram,randomaccessmemory)中的程序而执行各种适当的动作和处理。在ram中,还存储有电子设备操作所需的各种程序和数据。处理系统、rom以及ram通过总线彼此相连。输入/输出(i/o)接口也链接至总线。108.通常,以下系统可以链接至i/o接口:包括例如触摸屏、触摸板、键盘、鼠标、图像传感器、麦克风、加速度计、陀螺仪等的输入系统;包括例如液晶显示器(lcd,liquidcrystaldisplay)、扬声器、振动器等的输出系统;包括例如磁带、硬盘等的存储系统;以及通信系统。通信系统可以允许电子设备与其他设备进行无线或有线通信以交换数据。虽然图中示出了具有各种系统的电子设备,但是应理解的是,并不要求实施或具备所有示出的系统。可以替代地实施或具备更多或更少的系统。109.特别地,根据本公开的实施例,上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本公开的实施例包括一种计算机程序产品,其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序,该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信系统从网络上被下载和安装,或者从存储系统被安装,或者从rom被安装。在该计算机程序被处理系统执行时,执行本公开实施例的方法中限定的上述功能。110.本技术提供的电子设备,采用上述实施例中的步进电机驱动器与步进电机测试方法,解决了开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试效率低的技术问题。与现有技术相比,本技术实施例提供的电子设备的有益效果与上述实施例一提供的步进电机驱动器与步进电机测试方法的有益效果相同,且该电子设备中的其他技术特征与上一实施例方法公开的特征相同,在此不做赘述。111.应当理解,本公开的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式的描述中,具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。112.以上所述,仅为本技术的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
技术领域
:的技术人员在本技术揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此,本技术的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。113.实施例四114.本实施例提供一种计算机可读存储介质,具有存储在其上的计算机可读程序指令,计算机可读程序指令用于执行上述实施例一中的步进电机驱动器与步进电机测试的方法。115.本技术实施例提供的计算机可读存储介质例如可以是u盘,但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、系统或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电链接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom,erasableprogrammableread-onlymemory或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本实施例中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、系统或者器件使用或者与其结合使用。计算机可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:电线、光缆、rf(射频)等等,或者上述的任意合适的组合。116.上述计算机可读存储介质可以是电子设备中所包含的;也可以是单独存在,而未装配入电子设备中。117.上述计算机可读存储介质承载有一个或者多个程序,当上述一个或者多个程序被电子设备执行时,使得电子设备:通过干扰信号发生器根据预设的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至步进电机驱动器;通过可编程逻辑控制器接收计算机发送的控制信号参数,生成对应的控制信号,并发送至所述步进电机驱动器;通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态;若是,则干扰测试通过,否则,干扰测试不通过。118.可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本公开的操作的计算机程序代码,上述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如java、smalltalk、c++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“c”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(lan,localareanetwork)或广域网(wan,wideareanetwork)—链接到用户计算机,或者,可以链接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网链接)。119.附图中的流程图和框图,图示了按照本技术各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分,该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。120.描述于本公开实施例中所涉及到的模块可以通过软件的方式实现,也可以通过硬件的方式来实现。其中,模块的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。121.本技术提供的计算机可读存储介质,存储有用于执行上述步进电机驱动器与步进电机测试方法的计算机可读程序指令,解决了开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试效率低的技术问题。与现有技术相比,本技术实施例提供的计算机可读存储介质的有益效果与上述实施例提供的步进电机驱动器与步进电机测试方法的有益效果相同,在此不做赘述。122.实施例五123.本技术还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的步进电机驱动器与步进电机测试方法的步骤。124.本技术提供的计算机程序产品解决了开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试效率低的技术问题。与现有技术相比,本技术实施例提供的计算机程序产品的有益效果与上述实施例提供的步进电机驱动器与步进电机测试方法的有益效果相同,在此不做赘述。125.以上仅为本技术的优选实施例,并非因此限制本技术的专利范围,凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的
技术领域
:,均同理包括在本技术的专利处理范围内。当前第1页12当前第1页12
技术特征:
1.一种步进电机驱动器与步进电机测试方法,其特征在于,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法包括:通过干扰信号发生器根据预设的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至步进电机驱动器;通过可编程逻辑控制器接收计算机发送的控制信号参数,生成对应的控制信号,并发送至所述步进电机驱动器;通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态;若是,则干扰测试通过,否则,干扰测试不通过。2.如权利要求1所述步进电机驱动器与步进电机测试方法,其特征在于,所述转子位置传感器为槽式光电开关。3.如权利要求2所述步进电机驱动器与步进电机测试方法,其特征在于,所述槽式光电开关安装在所述步进电机的定子上,所述步进电机的转子轴上的标志物为光挡片,所述通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态的步骤包括:判断所述槽式光电开关是否处于关断状态;若所述槽式光电开关处于关断状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于对齐状态;若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的光挡片与所述槽式光电开关处于偏离状态。4.如权利要求3所述步进电机驱动器与步进电机测试方法,所述槽式光电开关为u型槽式光电开关,在所述判断所述槽式光电开关是否处于关断状态的步骤之前,所述方法还包括:通过所述u型槽式光电开关的发射位置向所述u型槽式光电开关的接收位置发射光线;若光线的发射路径被所述光挡片阻挡,则所述接收位置不能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于关断状态;若光线的发射路径未被所述光挡片阻挡,则所述接收位置能接收到光线且所述u型槽式光电开关处于连通状态。5.如权利要求2所述步进电机驱动器与步进电机测试方法,其特征在于,在所述通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转的步骤之前,所述方法还包括:通过所述槽式光电开关检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关是否处于对齐状态;若所述槽式光电开关处于连通状态,则所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关不处于对齐状态,并通过所述步进电机驱动器驱动步进电机旋转,直至所述槽式光电开关处于关断状态。6.如权利要求1所述步进电机驱动器与步进电机测试方法,其特征在于,所述通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转的步骤包括:
通过所述步进电机驱动器根据所述干扰信号和所述控制信号,生成驱动信号;将所述驱动信号发送至所述步进电机,以驱动所述步进电机的转子旋转;当所述步进电机的运行时长达到所述干扰测试参数中的预设时长时,通过所述计算机控制所述可编程逻辑控制器停止向所述步进电机驱动器发送控制信号,以停止所述步进电机的转子旋转。7.如权利要求2所述步进电机驱动器与步进电机测试方法,其特征在于,在所述通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态的步骤之后,所述方法还包括:若检测到所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关不处于对齐状态,则所述干扰测试参数对应的测试项目不通过;通过所述步进电机驱动器驱动步进电机旋转,直至所述步进电机的转子轴上的标志物与所述槽式光电开关处于对齐状态。8.如权利要求1-6任一项所述的步进电机驱动器与步进电机测试方法,其特征在于,所述步进电机驱动器与步进电机测试还方法包括:在获得所述干扰测试参数对应的测试结果后,若存在未完成的测试项目,则通过所述干扰信号发生器根据预设的下一测试项目对应的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至所述步进电机驱动器,其中,所述测试结果包括通过或不通过;返回执行步骤:通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转。9.一种步进电机驱动器与步进电机测试系统,其特征在于,所述步进电机驱动器与步进电机测试系统包括:步进电机驱动器,步进电机,干扰信号发生器,可编程逻辑控制器以及计算机;其中,所述步进电机驱动器分别与所述步进电机、所述干扰信号发生器以及所述可编程逻辑控制器连接;其中,所述步进电机与所述可编程逻辑控制器连接,所述步进电机中设置转子位置传感器,所述步进电机的转子轴上设置标志物,所述转子位置传感器用于检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态;其中,所述干扰信号发生器与所述可编程逻辑控制器分别与所述计算机连接。10.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:至少一个处理器;以及,与所述至少一个处理器通信链接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1至7中任一项所述的步进电机驱动器与步进电机测试方法的步骤。11.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有实现步进电机驱动器与步进电机测试方法的程序,所述实现步进电机驱动器与步进电机测试方法的程序被处理器执行以实现如权利要求1至7中任一项所述步进电机驱动器与步进电机测试方法的步骤。

技术总结
本申请公开了一种步进电机驱动器与步进电机测试方法、系统、设备及介质,涉及步进电机技术领域,所述步进电机驱动器与步进电机测试方法包括:通过干扰信号发生器根据预设的干扰测试参数,生成对应的干扰信号,并发送至步进电机驱动器;通过可编程逻辑控制器接收计算机发送的控制信号参数,生成对应的控制信号,并发送至所述步进电机驱动器;通过所述步进电机驱动器根据接收到的控制信号和干扰信号驱动步进电机旋转,并在旋转停止后通过转子位置传感器检测所述步进电机的转子轴上的标志物与所述转子位置传感器是否处于对齐状态;若是,则干扰测试通过,否则,干扰测试不通过。本申请提高了开环步进电机驱动器与开环步进电机的测试效率。测试效率。测试效率。


技术研发人员:李亨 张震 周京安
受保护的技术使用者:深圳研控自动化科技股份有限公司
技术研发日:2023.07.07
技术公布日:2023/10/19
版权声明

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