一种存储器芯片功能测试夹具的制作方法

1.本发明涉及存储器芯片夹具领域，尤其是涉及一种存储器芯片功能测试夹具。


背景技术：

2.存储器芯片是半导体的一大重要分支，通常用于存储信息。存储器芯片在批量生产制造的过程中，会出现存储器芯片性能不合格的产品，由于将存储器芯片性能不合格的产品封装后，再对存储器进行检测，不容易找到存储器的故障问题。因此，在存储器芯片制造完成后，通常会先对存储器芯片进行检测，并筛选出性能不合格的存储器芯片，将性能不合格的存储器芯片置于与检测电路板连接的芯片夹具上，再进行单独检测。
3.现有的芯片检测夹具，包括与转接电路板连接的芯片夹座和固定于芯片夹座上用于盖住芯片的翻盖，芯片夹座中凹陷有固定待测芯片的凹槽，翻盖的外侧壁还固定有卡扣，夹座的外侧壁还固定的有卡环，卡扣与卡环可拆卸连接，将筛选出的性能不合格的存储器芯片置于芯片夹持座的凹槽中，使得芯片的引脚与凹槽中的引脚抵接，再将翻盖盖住存储器芯片，随后将卡扣与卡环固定，再进行存储器芯片的检测。
4.针对上述中的相关技术，发明人认为，当检测完一块存储器芯片后，需要进行下一块存储器芯片的检测工作的时候，需要先打开锁扣，后打开翻盖，再换上待检测芯片，操作繁琐，增加了工作人员的工作量，降低了存储器芯片检测的效率，因此，仍有改进空间。


技术实现要素：

5.为了简化存储器检测工作中对芯片夹具的操作，本技术提供一种存储器芯片功能测试夹具。
6.本技术提供的一种存储器芯片功能测试夹具采用如下的技术方案：一种存储器芯片功能测试夹具，包括底座以及固定于底座的转接电路板，所述底座活动连接有用于夹持置于转接电路板上的存储器芯片的夹持件，所述夹持件设有两块，所述底座上活动连接有驱动杆，所述底座还凹陷有供驱动杆活动的活动槽，所述驱动杆沿竖直方向运动，所述底座上还设有联动两块夹持件随驱动杆朝向活动槽内运动而同步相互远离运动以及联动两块夹持件随驱动杆朝向活动槽外运动而同步相向运动的联动件。
7.通过采用上述技术方案，当需要对存储芯片进行检测时，驱动驱动杆朝向活动槽内运动，驱动杆通过联动件同时驱动两块夹持件相互远离运动，将待测芯片置于转接电路板上，驱动驱动杆朝向活动槽外运动，驱动杆通过联动件同时驱动两块夹持件相向运动，减少了需要分开驱动两块夹持件的情况，从而使得两块夹持件夹持存储芯片，操作简单，减少了检测人员的安装步骤，提高了工作效率。当检测完成后，需要进行下一块待测芯片的检测时，将检测完成的芯片从转接电路板取下后，直接放置下一块待测芯片，再利用联动件驱动两块夹持件相向运动，使得夹持件夹持待测芯片即可，使得置换下一块待测芯片的操作简单，减少了需要手动多次打开夹具并手动封闭盖板的情况，从而提高了芯片检测工作的效率。
8.优选的，联动件包括一端与驱动杆铰接的连接杆、一端与连接杆远离驱动杆一端转动连接的联动杆以及与联动杆沿长度方向的中间位置活动连接的换向杆，所述换向杆呈圆柱杆状，所述联动杆远离连接杆的一端与夹持件转动连接，所述联动杆的中间位置还开有供联动杆绕换向杆转动以及供换向杆活动的活动孔，所述活动孔呈长方孔状，所述活动孔宽度方向两侧的内侧壁与换向杆的外侧壁抵接，所述活动孔的长度大于换向杆的直径，当所述换向杆外侧壁与活动孔靠近夹持件的一侧抵接时，所述夹持件相向运动至极限状态，当所述换向杆外侧壁与活动孔远离夹持件的一侧抵接时，所述夹持件相离运动至极限状态。
9.通过采用上述技术方案，驱动杆带动连接杆向靠近驱动杆的一端向活动槽底部滑动，连接杆带动联动杆向活动槽底部运动，联动杆与连接杆转动连接的一端向活动槽底部滑动时，联动杆绕换向杆转动，联动杆与第一连接柱转动连接的一端与联动杆与连接杆转动连接的一端转向相反，使得驱动杆向活动槽底部运动时，联动件驱动夹持件相向或相离运动。联动件呈刚性，使得驱动杆通过联动杆同时驱动两块夹持件运动时，减少了联动件存在弹性而容易发生驱动两块夹持件的弹力大小不一致，导致两块夹持件不容易同步相向运动或同步相离运动的情况，从而有利于两块夹持件同时夹持待测芯片或放开待测芯片，待测芯片同时受到两块夹持件相反的摩擦力而不容易偏离，使得待测芯片不容易分别两块夹持件抵接而受单一夹持件与待测芯片的摩擦力带动，导致待测芯片的引脚偏移而与转接电路板的引脚断开连接的，从而提高了芯片检测的效率。
10.优选的，所述活动槽内设有始终驱动驱动杆朝向活动槽外运动的驱动件以及限制驱动杆与活动槽完全脱离的限制件。
11.通过采用上述技术方案，将待测芯片安装于转接电路板完成后，驱动件自动驱动驱动杆伸出活动槽驱动杆通过联动杆联动两块夹持件相向运动，两块夹持板夹持待测芯片，减少了将待测芯片安装于转接电路板后需要再次手动驱动两块夹持件相向运动而夹接待测芯片的情况，从而提高了芯片测量工作的效率。
12.优选的，所述驱动件为弹性件，当所述驱动件伸出活动槽至极限位置时，弹性件处于压缩状态。
13.通过采用上述技术方案，通过弹性件自动驱动驱动杆伸出活动槽，使得驱动件的结构简单，不容易损坏，减少了驱动件因使用机械结构配合而容易损坏，导致驱动件损坏的情况，从而提高了芯片夹具的使用寿命。
14.优选的，所述限制件为贯穿活动槽外侧壁的驱动孔以及固定于驱动杆上的铰接板，所述铰接板远离驱动杆的一端伸出至活动槽外，当所述驱动杆伸出活动槽至极限位置时，所述铰接板靠近活动槽槽口的一侧与驱动孔靠近活动槽槽口的一侧抵接，且两块所述夹持件相向运动至与转接电路板上的存储器芯片抵接。
15.通过采用上述技术方案，铰接板一端与驱动杆固定连接，另一端板通过驱动孔伸出凹槽空间，使得铰接板靠近活动槽槽口的一侧与驱动孔靠近活动槽槽口的一侧抵接时限制驱动杆继续伸出活动槽，同时铰接板伸出活动槽空间的一端还可作为驱动杆与联动件的连接结构，从而减少了芯片夹具的结构，有利于降低造价成本。
16.优选的，所述底座设有限定两块夹持件沿直线运动的限位件。
17.通过采用上述技术方案，使得夹持件有确定的滑动路线，从而使得夹持件不容易
在驱动杆的联动下产生多个方向的移动，导致两块夹持件夹持位置有偏差而容易偏离待测芯片的位置，减少夹持件偏离待测芯片位置而未能夹持待测芯片的情况，从而减少需要检测人员调整夹持件位置的情况，提高检测芯片的效率。
18.优选的，所述限位件为凹陷于底座设有转接电路板一侧的供夹持件卡入的限位槽，所述限位槽呈长方槽状且限位槽的长度方向与底座的长度方向一致，所述夹持件沿限位槽滑动且与限位槽的侧壁抵接。
19.通过采用上述技术方案，使得夹持件受限位槽的限制而沿固定轨道滑动，减少了向底座安装用于限制夹持件沿固定轨道滑动的滑轨的工作，同时减少了安装于底座且用于限制夹持件沿固定轨道滑动的滑轨脱落的情况，从而使得夹持件更容易受到限位件的限制而沿直线运动。
20.优选的，所述夹持件与芯片抵接的一侧还固定有弹性片，所述底座还固定有支撑杆，当所述夹持件活动至与芯片抵接时，支撑杆抵接弹性片且弹性片具有驱动夹持件朝向底座运动的趋势。
21.通过采用上述技术方案，当夹持件朝向转接电路板滑动至极限位置时，夹持件受弹性片的弯曲形变而联动向待测芯片弯曲，使得夹持件向待测芯片施加压力，从而有利于待测芯片的引脚与转接电路板的引脚受到压力后充分抵接，减小芯片检测试验过程中，待测芯片的引脚与转接电路板的引脚没有压力，而容易受到震动而发生接触不良的情况，提高了检测效率。
22.优选的，所述底座上还设有用于限定转接电路板放置待测芯片的放置位置的定位框，当待测芯片置于所述转接电路板上时，所述定位框的内侧壁与待测芯片的外侧壁抵接。
23.通过采用上述技术方案，使得待测芯片置于定位框时，待测芯片不容易因底座受到震动和夹持件抵接芯片滑动而发生偏移，从而有利于待测芯片的引脚与转接电路板的引脚保持抵接，提高了芯片检测效率。
24.综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：1.通过设置驱动杆联动两块夹持件相向运动或相互远离运动的联动件，使得两块夹持件夹持存储芯片的操作简单，减少了检测人员的安装步骤，提高了工作效率，同时使得置换下一块待测芯片的操作简单，减少了需要手动多次打开夹具并手动封闭盖板的情况，从而提高了芯片检测工作的效率。
25.2.通过限位槽限制夹持件直线运动、连接杆与驱动杆转动连接。连接杆与联动杆转动连接以及换向杆位于活动孔中并限制联动杆绕换向杆转动，使得驱动件向活动槽伸入或伸出时，能够带动夹持件沿底座的长度方向直线滑动，减少了夹持件离开和进入定位框远离底座的一侧的空间时，不容易因运动方向弯曲多变而偏离定位框远离底座的一侧的空间，从而提高了夹持件夹持待测芯片的效率。
附图说明
26.图1是一种存储器芯片功能测试夹具的整体结构示意图。
27.图2是一种存储器芯片功能测试夹具的内部结构示意图。
28.图3是图2中a部的放大图。
29.附图标记说明：
1、底座；11、限位槽；111、卡槽；2、凸块；21、驱动杆；211、铰接板；22、弹性件；23、驱动孔；3、转接电路板；31、定位框；4、夹持件；41、滑动块；411、第一连接柱；42、第一夹持板；43、第二夹持板；51、支撑杆；52、弹性片；61、连接杆；62、联动杆；621、活动孔；622、换向杆；6221、帽盖。
具体实施方式
30.以下结合附图1-3对本技术作进一步详细说明。
31.本技术实施例公开一种存储器芯片功能测试夹具。参照图1以及图2，存储器芯片功能测试夹具包括底座1以及固定于底座1一侧的转接电路板3，底座1呈长方块状，转接电路板3呈长方板状，转接电路板3的长度与底座1的宽度一致，转接电路板3的长度方向与底座1的宽度方向一致，转接电路板3位于底座1沿长度方向的中间位置，底座1固定有转接电路板3的一侧还凹陷有限位槽11，限位槽11均呈长方槽状，限位槽11的长度方向与底座1的长度方向一致，在本实施例中，限位槽11设有两个，且两个限位槽11在同一直线上，两个限位槽11分别位于转接电路板3沿宽度方向的两侧。底座1固定有转接电路板3的一侧还活动连接有用于夹持待测芯片的夹持件4，在本实施例中，夹持件4设为两个，且两个夹持件4分别固定于两个限位槽11中。底座1沿宽度方向一侧的侧壁上还固定连接有凸块2，凸块2的高度方向与底座1的高度方向一致，凸块2的高度与底座1的高度一致，凸块2靠近底座1的一侧与转接电路板3沿长度方向的一端抵接，凸块2内活动连接有驱动杆21，凸块2沿高度方向的一端还凹陷有供驱动杆21活动的活动槽。
32.参照图1，底座1固定有转接电路板3的一侧还凹陷有用于固定转接电路板3的固定槽，固定槽呈长方槽状，固定槽的长度方向与底座1的宽度方向一致，固定槽的长度与底座1的宽度一致，固定槽的宽度与转接电路板3的宽度一致，固定槽位于底座1沿长度方向的中间位置，转接电路板3固定于固定槽中。
33.参照图2，活动槽呈长方槽状，驱动杆21呈长方杆状，驱动杆21的高度大于活动槽的深度，驱动杆21长度方向的两侧壁分别与活动槽长度方向的两侧壁抵接，驱动杆21宽度方向的两侧壁分别与活动槽宽度方向的两侧壁抵接。
34.参照图2，驱动杆21靠近活动槽底壁的一端固定有驱动驱动杆21始终朝向活动槽外运动的弹性件22，活动槽内还设有限制驱动杆21与活动槽完全脱离的限制件，本实施例中，弹性件22为弹簧，弹簧远离驱动杆21的一端与活动槽底壁固定连接，限制件为固定于驱动杆21靠近驱动孔23的两侧壁的铰接板211，两块铰接板211分别与驱动孔23正对，铰接板211沿厚度方向的两侧分别与驱动孔23沿宽度方向的两内侧壁抵接，铰接板211沿长度方向的一端与驱动杆21固定连接，铰接板211远离驱动杆21的一端通过驱动孔23伸出至活动槽外。铰接板211远离驱动杆21的一端呈半圆板状，且圆心位置开有铰接孔。当驱动杆21向活动槽伸出至极限位置时，铰接板211靠近转接电路板3的一侧与驱动孔23靠近转接电路板3一端的内侧壁抵接，铰接板211限制驱动杆21继续伸出活动槽，且弹簧处于压缩状态。
35.参照图1，滑动块41与底座1靠近凸块2的一侧齐平的侧壁还固定有第一连接柱411，第一连接柱411呈圆柱状，第一连接柱411垂直于滑动块41与底座1靠近凸块2的一侧齐平的侧壁，第一连接柱411远离滑动块41的一端还转动连接有联动杆62，联动杆62呈长方杆状，联动杆62靠近滑动块41的一端开有第一连接孔，第一连接孔呈圆形，第一连接孔的直径
与第一连接柱411的直径一致，第一连接柱411穿入第一连接孔中。
36.参照图1，联动杆62沿长度方向的中间位置还开有活动孔621，活动孔621呈长方孔状，活动孔621的长度方向与联动杆62的长度方向一致。
37.参照图1以及图3，底座1靠近凸块2一侧的侧壁还固定有换向杆622，换向杆622呈圆柱杆状，换向杆622垂直于底座1靠近凸块2的侧壁，换向杆622的直径与活动孔621的宽度一致，换向杆622的长度与第一连接柱411的长度一致，换向杆622远离底座1的一端贯穿活动孔621。换向杆622远离底座1的一端还固定有帽盖6221，帽盖6221呈圆饼状，帽盖6221的直径大于换向杆622的直径，帽盖6221靠近联动杆62的一侧与联动杆62靠近帽盖6221的一侧抵接。
38.参照图1，联动杆62远离第一连接柱411的一端还开有第二连接孔，第二连接孔呈圆形。联动杆62远离第一连接柱411的一端还转动连接有连接杆61，连接杆61靠近联动杆62的一端开有第三连接孔，第三连接孔呈圆形，第三连接孔是直径与第二连接孔的直径一致，且第三连接孔与第二连接孔正对，第三连接孔与第二连接孔的内侧壁还固定有第二连接柱，第二连接柱呈圆柱状，第二连接柱的直径与第二连接孔的直径一致，联动杆62和连接杆61绕第二连接柱转动。
39.参照图1，连接杆61远离联动杆62的一端开有第四连接孔，第四连接孔呈圆形，第四连接孔的直径与铰接孔的直径一致，第四连接孔与铰接孔正对，第四连接孔和铰接孔中固定有铰接杆，铰接杆呈圆柱杆状，铰接杆的直径与铰接孔的直径一致，连接杆61绕铰接杆转动。
40.参照图1，夹持件4包括活动连接于底座1设有转接电路板3一侧的滑动块41、凸出滑动块41靠近转接电路板3一侧的第一夹持板42和与第一夹持板42固定连接的第二夹持板43，滑动块41呈长方块状，第一夹持板42和第二夹持板43均呈长方板状。滑动块41的长度方向与底座1的长度方向一致，滑动块41的宽度大于限位槽11的宽度，滑动块41靠近凸块2的一侧与底座1靠近凸块2的一侧齐平。
41.参照图1，滑动块41靠近底座1的一侧固定有滑块，滑块呈长方块状，滑块的长度方向与滑动块41的长度方向一致，滑块的长度与滑动块41的长度一致，滑块的宽度与限位槽11的宽度一致，滑块位于滑动块41沿宽度方向的中间位置。滑块沿长度方向的两端还固定有卡块，卡块呈长方杆状，卡块位于滑块远离滑动块41的一侧，卡块的长度方向与滑块的长度方向一致，卡块的长度与滑动块41的长度一致。
42.参照图1，限位槽11位于底座1靠近凸块2的一侧，限位槽11与固定槽连通，且限位槽11远离固定槽的一端贯穿底座1沿长度方向的侧壁，两个限位槽11沿宽度方向的侧壁均凹陷有供卡块卡入的卡槽111，卡槽111呈长方槽状，卡槽111的长度与限位槽11的长度一致，卡槽111远离底座1固定有转接电路板3的一侧的侧壁与限位槽11的底壁齐平。当滑块安装于限位槽11时，滑动块41靠近底座1的一侧与底座1靠近滑动块41的一侧抵接，滑块远离滑动块41的一侧与限位槽11的底壁抵接，滑动块41沿宽度方向的两侧分别与限位槽11沿宽度方向两侧的侧壁抵接，卡块沿宽度方向的两侧壁分别与卡槽111沿宽度方向的两侧壁抵接，卡块远离滑块的一侧与卡槽111的底壁抵接，滑块可在限位槽11中滑动。
43.参照图1，第一夹持板42和第二夹持板43均具有弹性，第一夹持板42的长度方向与滑动块41的长度方向一致，且第一夹持板42远离底座1的一侧与滑动块41远离底座1的一侧
齐平，第一夹持板42远离凸块2的一侧与滑动块41远离凸块2的一侧齐平，第一夹持板42的宽度小于滑动块41的宽度。第二夹持板43远离底座1的一侧与第一夹持板42远离滑动块41的一侧固定连接，且第二夹持板43与第一夹持板42垂直。第二夹持板43的长度与第一夹持板42的宽度一致，第二夹持板43的宽度与滑动块41的高度一致，且第二夹持板43远离凸块2的一侧与第一夹持板42远离凸块2的一侧齐平。
44.参照图1，滑动块41靠近第二夹持板43的一侧还固定有弹性片52，弹性片52的长度与滑动块41的宽度一致，且弹性片52远离凸块2的一侧与滑动块41远离凸块2的一侧齐平。弹性片52远离滑动块41的一侧与第一夹持板42固定连接，且弹性片52与第一夹持板42的夹角为45
°
。
45.参照图1，底座1固定有转接电路板3的一侧还固定有支撑杆51，支撑杆51设为两根，两根支撑杆51分别位于固定槽沿宽度方向的两侧，且两根支撑杆51与底座1固定有转接电路板3的一侧的夹角均呈45
°
，两根支撑杆51均与底座1靠近凸块2的一侧齐平。当滑块朝向转接电路板3滑动至极限位置时，支撑杆51远离底座1的一端与弹性片52抵紧，弹性片52形变并朝向底座1弯曲，弹性片52联动第一夹持板42和第二夹持板43朝向底座1的方向弯曲，使得第一夹持板42以及第二夹持板43均具有朝向底座1运动的趋势，且支撑杆51与第一夹持板42和第二夹持板43靠近凸块2的一侧留有间距。
46.参照图2，转接电路板3远离底座1的一侧还固定有固定框，固定框呈长方框状，固定框远离转接电路板3的一侧低于底座1固定有转接电路板3的一侧，固定框位于转接电路板3靠近凸块2的一侧。固定框的内框设置有转接电路板3的引脚，当芯片置于转接电路板3上时，芯片的四边分别与固定框内框的四侧壁抵接，芯片的引脚与转接电路板3的引脚抵接。当夹持件4向转接电路板3滑动至极限位置时，第二夹持板43远离第一夹持板42的一端抵接芯片远离转接电路板3的一侧。
47.参照图1，凸块2的长度与固定槽的宽度一致，凸块2沿高度方向两端的侧壁与底座1沿高度方向两端的侧壁齐平。凸块2沿长度方向的两侧壁还均开有驱动孔23，驱动孔23呈长方孔状，驱动孔23的长度方向与凸块2的高度方向一致，驱动孔23位于凸块2高度方向的中间，且驱动块位于凸块2宽度的中间位置。
48.本技术实施例一种存储器芯片功能测试夹具的实施原理为：当需要将待测芯片置于转接电路板3上时，先按压驱动杆21向活动槽伸入，驱动杆21压缩活动槽中的弹簧，驱动杆21通过铰接杆连接铰接板211与连接杆61，带动连接杆61靠近驱动杆21的一端向活动槽底部滑动，连接杆61带动联动杆62向活动槽底部运动，联动杆62与连接杆61转动连接的一端向活动槽底部滑动时，联动杆62绕换向杆622转动，联动杆62与第一连接柱411转动连接的一端与联动杆62与连接杆61转动连接的一端转向相反。换向杆622在活动孔621中运动，且限位槽11和卡槽111限制滑动块41沿限位槽11的长度方向直线滑动，联动杆62与连接杆61转动连接的一端向活动槽底部滑动时，换向杆622在活动孔621中滑动，联动杆62与第一连接柱411转动连接的一端沿限位槽11的长度方向且朝远离转接电路板3的方向运动，第一连接柱411联动滑动块41沿限位槽11的长度方向且朝远离转接电路板3的方向运动，第一夹持板42与第二夹持板43靠近支撑杆51的一侧与支撑杆51留有间距，夹持件4离开定位框31远离转接电路板3的一侧，随后将待测芯片置于定位框31中。
49.待测芯片置于定位框31后，待测芯片的引脚与转接电路板3的引脚抵接，随后松开
驱动杆21，弹簧驱动驱动杆21伸出活动槽，同时驱动杆21通过铰接板211与连接杆61的铰接带动连接杆61靠近驱动杆21的一端向活动槽槽口滑动，连接杆61通过与联动杆62的转动连接，带动联动杆62绕换向杆622转动，联动杆62通过第一连接柱411联动滑动块41向转接电路板3直线滑动，第一夹持板42与第二夹持板43靠近支撑杆51的一侧与支撑杆51留有间距。当铰接板211与驱动孔23靠近活动槽槽口的侧壁抵接时，铰接板211限制驱动杆21继续向活动槽伸出，支撑杆51远离底座1的一端抵接弹性片52且压缩弹性片52，弹性片52联动夹持件4向定位框31中的待测芯片弯曲，第二夹持板43挤压待测芯片，使得待测芯片的引脚与转接电路板3的引脚之间有压力。当待测芯片检测完成后并需要进行下一块待测芯片的检测时，按压驱动杆21，将检测完成的芯片取出，将下一块待测芯片放入定位框31中即可，使得待测芯片放于芯片检测夹具中、从芯片检测夹具中取出芯片以及置换芯片检测夹具的芯片的操作简单便捷，从而提高了芯片检查的效率。
50.通过限位槽11限制夹持件4直线运动、连接杆61与驱动杆21转动连接。连接杆61与联动杆62转动连接以及换向杆622位于活动孔621中并限制联动杆62绕换向杆622转动，使得驱动件向活动槽伸入或伸出时，能够带动夹持件4沿底座1的长度方向直线滑动，减少了夹持件4离开和进入定位框31远离底座1的一侧的空间时，不容易因运动方向弯曲多变而偏离定位框31远离底座1的一侧的空间，从而提高了夹持件4夹持待测芯片的效率。
51.通过定位框31、夹持件4有弹性以及支撑杆51和弹性片52的设置，使得待测芯片置于定位框31后，能够固定待测芯片的引脚与转接电路板3的引脚抵接，夹持件4夹持定位框31中的待测芯片时能够向待测芯片施加压力，使得待测芯片的引脚不容易因底座1受到震动而与转接电路板3的引脚断开连接，从而提高了芯片检测的效率。
52.以上均为本技术的较佳实施例，并非依此限制本技术的保护范围，故：凡依本技术的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围之内。

技术特征：
1.一种存储器芯片功能测试夹具，包括底座(1)以及固定于底座(1)的转接电路板(3)，其特征在于，所述底座(1)活动连接有用于夹持置于转接电路板(3)上的存储器芯片的夹持件(4)，所述夹持件(4)设有两块，所述底座(1)上活动连接有驱动杆(21)，所述底座(1)还凹陷有供驱动杆(21)活动的活动槽，所述驱动杆(21)沿竖直方向运动，所述底座(1)上还设有联动两块夹持件(4)随驱动杆(21)朝向活动槽内运动而同步相互远离运动以及联动两块夹持件(4)随驱动杆(21)朝向活动槽外运动而同步相向运动的联动件。2.根据权利要求1所述的一种存储器芯片功能测试夹具，其特征在于，联动件包括一端与驱动杆(21)铰接的连接杆(61)、一端与连接杆(61)远离驱动杆(21)一端转动连接的联动杆(62)以及与联动杆(62)沿长度方向的中间位置活动连接的换向杆(622)，所述换向杆(622)呈圆柱杆状，所述联动杆(62)远离连接杆(61)的一端与夹持件(4)转动连接，所述联动杆(62)的中间位置还开有供联动杆(62)绕换向杆(622)转动以及供换向杆(622)活动的活动孔(621)，所述活动孔(621)呈长方孔状，所述活动孔(621)宽度方向两侧的内侧壁与换向杆(622)的外侧壁抵接，所述活动孔(621)的长度大于换向杆(622)的直径，当所述换向杆(622)外侧壁与活动孔(621)靠近夹持件(4)的一侧抵接时，所述夹持件(4)相向运动至极限状态，当所述换向杆(622)外侧壁与活动孔(621)远离夹持件(4)的一侧抵接时，所述夹持件(4)相离运动至极限状态。3.根据权利要求2所述的一种存储器芯片功能测试夹具，其特征在于，所述活动槽内设有始终驱动驱动杆(21)朝向活动槽外运动的驱动件以及限制驱动杆(21)与活动槽完全脱离的限制件。4.根据权利要求3所述的一种存储器芯片功能测试夹具，其特征在于，所述驱动件为弹性件(22)，当所述驱动件伸出活动槽至极限位置时，弹性件(22)处于压缩状态。5.根据权利要求3所述的一种存储器芯片功能测试夹具，其特征在于，所述限制件为贯穿活动槽外侧壁的驱动孔(23)以及固定于驱动杆(21)上的铰接板(211)，所述铰接板(211)远离驱动杆(21)的一端伸出至活动槽外，当所述驱动杆(21)伸出活动槽至极限位置时，所述铰接板(211)靠近活动槽槽口的一侧与驱动孔(23)靠近活动槽槽口的一侧抵接，且两块所述夹持件(4)相向运动至与转接电路板(3)上的待测芯片抵接。6.根据权利要求1所述的一种存储器芯片功能测试夹具，其特征在于，所述底座(1)设有限定两块夹持件(4)沿直线运动的限位件。7.根据权利要求6所述的一种存储器芯片功能测试夹具，其特征在于，所述限位件为凹陷于底座(1)设有转接电路板(3)一侧的供夹持件(4)卡入的限位槽(11)，所述限位槽(11)呈长方槽状且限位槽(11)的长度方向与底座(1)的长度方向一致，所述夹持件(4)沿限位槽(11)滑动且与限位槽(11)的侧壁抵接。8.根据权利要求1所述的一种存储器芯片功能测试夹具，其特征在于，所述夹持件(4)与芯片抵接的一侧还固定有弹性片(52)，所述底座(1)还固定有支撑杆(51)，当所述夹持件(4)活动至与芯片抵接时，支撑杆(51)抵接弹性片(52)且弹性片(52)具有驱动夹持件(4)朝向底座(1)运动的趋势。

技术总结
本发明公开了一种存储器芯片功能测试夹具,其包括底座以及固定于底座的转接电路板，底座活动连接有用于夹持置于转接电路板上的存储器芯片的夹持件，夹持件设有两块，底座上活动连接有驱动杆，底座还凹陷有供驱动杆活动的活动槽，驱动杆沿竖直方向运动，底座上还设有联动两块夹持件随驱动杆朝向活动槽内运动而同步相互远离运动以及联动两块夹持件随驱动杆朝向活动槽外运动而同步相向运动的联动件。本申请具有简化存储器检测工作中对芯片夹具的操作的效果。具的操作的效果。具的操作的效果。


技术研发人员：方东
受保护的技术使用者：深圳市天创伟业科技有限公司
技术研发日：2023.07.11
技术公布日：2023/10/19