一种高性能计算集群应用性能测试装置及其测试方法与流程
未命名
10-19
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1.本发明涉及计算集群技术领域,尤其涉及一种高性能计算集群应用性能测试装置及其测试方法。
背景技术:
2.计算机集群是一种计算机系统,其主要由多个计算机主板组合构成的集群型超级计算机,而高性能计算集群是将不同的计算任务分配到不同的计算机主板内,从而提高计算能力,而在计算机组成的集群初期需要对系统进行性能测试。
3.现有的计算机集群是通过将多个计算机主板安装到柜体内部,并通过外接测试仪器或者是软件对计算机集群后的算力进行压力测试,而在集群压力性能测试中,集群计算机会产生大量的热量,普通的风扇和水冷散热不能满足集群计算机主板的全面散热,现有的超级计算机散热中,会通过冷却油对计算机主板进行全面浸泡散热,而冷却油浸泡散热测试中,若多个计算机主板组成的系统中的某个主板出现意外时,浸泡进冷却油内部的计算机主板会被取出,易将冷却油带出落到柜体的周围,从而影响柜体和计算集群系统的清洁度。另外,多块计算机进行集群连接测试时,多个计算机主板之间连接线需要人工操作扎丝进行约束,从而使多个计算机主板集群安装测试的效率低下。
技术实现要素:
4.为了解决上述技术问题,本发明提供一种高性能计算集群应用性能测试装置及其测试方法。
5.本发明采用的技术方案是,一种高性能计算集群应用性能测试装置,包括:柜体,柜体的后侧、前侧和内侧分别设有测试面、连接面和安装面,所述测试面和连接面的表面均设置有束线引导槽和转动引导槽,连接面的表面还设置有测试主板,测试主板的侧部设置有多向并管;集群单元,所述集群单元设置在柜体的内侧,包括转移腔和安装腔,安装腔通过其侧部的中空转轴和柜体的内侧转动连接,所述安装腔的内部设置有待测主板,安装腔的侧部导通连接有转移腔,转移腔的内部活动设置有闭合板。
6.优选地,所述柜体还包括两组卡线槽,两组所述卡线槽以测试主板的中线对称设置在测试面的表面;所述测试面和连接面的内侧均设置有安装面,所述束线引导槽和转动引导槽贯穿设置在测试面和安装面以及连接面和安装面之间。
7.优选地,所述测试面的表面竖向固定设置有多向并管,所述连接面的表面横向固定设置有若干组单向并管,所述安装腔的前后两侧均固定设置有中空转轴。
8.优选地,所述柜体的左右两侧对称设置有集群单元,左右对称的所述集群单元通过其内部安装腔连接的中空转轴和单向并管活动连接;
所述柜体的高度方向均匀分布有若干组左右对称的集群单元,高度方向分布且左右对称的集群单元通过中空转轴和多向并管活动连接。
9.优选地,所述多向并管的数目为两个,两个所述多向并管以测试主板的中线左右对称,左右对称的所述多向并管通过其内侧的连接管和循环件导通连接。
10.优选地,所述安装面和安装腔之间的中空转轴表面安装有触发齿轮;所述安装面通过其表面的安装座和旋转驱动源固定连接,所述旋转驱动源通过其输出轴和齿牙板活动连接,所述安装座的侧部设置有直槽板,所述直槽板通过其表面的直槽和齿牙板滑动连接,所述齿牙板和触发齿轮啮合连接。
11.优选地,所述安装面的表面固定安装有约束件,所述约束件包括中柱、复位件以及约束绳,所述中柱固定设置在约束件内部的中心,所述复位件的一侧固定连接在中柱的表面,所述复位件的另外一侧和约束绳活动连接,所述约束绳穿过约束件和连接座连接,所述连接座的底部设置有限制块,所述限制块的中部连接有活动件,所述活动件的表面均匀分布有若干个闭合板。
12.优选地,所述转移腔的内部设置有若干个存储腔,所述存储腔的外侧包覆有分隔框板,上下相邻的所述分隔框板之间设置有开放口,所述开放口设置在存储腔和安装腔之间;所述开放口的高度小于闭合板的高度,所述安装腔的顶部设置有阻挡板。
13.优选地,所述转移腔通过其侧部的辅助辊和转动引导槽活动连接;所述转移腔的顶部设置有卡连块,所述转动引导槽的底部设置有中槽,所述中槽和卡连块底部的凸起块滑动卡接;所述卡连块的侧部固定安装有一级半卡框,所述束线引导槽的内部设置有二级半卡框,所述二级半卡框和转动引导槽的侧壁之间设置有弹性件。
14.一种高性能计算集群应用性能测试方法,包括如下步骤:步骤一、旋转存放腔:当需要检测时,安装腔在旋转驱动源的推动下转动,在安装腔的转动过程中,会使闭合板被约束绳拉动,使存储腔的密封被打开,当安装腔翻转90度后,向安装腔的内部填充冷却油,而冷却油会转移到存储腔的内部;步骤二、放置主板:当安装腔被转动90度后,安装人员将需要待测的待测主板安装到安装腔的内部;步骤三、连接检测主机:待测主板的数据连接线会穿过一级半卡框和测试主板连接;步骤四、复位待测:使旋转驱动源带动安装腔复位,使存储腔内部冷却油重新填充到安装腔的内部和待测主板进行接触,随后启动测试主板,使测试主板内部设置的程序对待测主板进行测试;步骤五、自动束线测试:而在安装腔复位的同时,一级半卡框会带动待测主板的数据线和电源线在转动引导槽的内部移动,并最终和二级半卡框进行闭合,从而使待测主板的数据线和电源线被限制在一级半卡框和二级半卡框的内部。
15.相较现有技术,本发明的有益效果是:1、通过测试主板控制旋转驱动源启动,使旋转驱动源的输出轴伸出带动齿牙板移动,从而带动触发齿轮转动,进而使安装腔沿着转动引导槽进行转动,并最终使安装腔转动
度,从而使安装腔的顶部开口朝向安装人员,此时转移腔在安装腔的底部,随后安装人员向安装腔的内部定量填充冷却油,而填充的冷却油会通过安装腔流入到存储腔的内部,从而便于操作人员将需要测试的待测主板安装到安装腔的内部。
16.2、通过使旋转驱动源复位带动触发齿轮旋转,使安装腔翻转度复位到竖直状态,进而在安装腔旋转复位中,会使约束绳对活动件的约束解除,从而使闭合板在其自身重力的作用下向存储腔的底部移动,从而使存储腔底部的冷却油被重新挤回安装腔的内部,从而减少冷却油过多的残留存储腔的内部,而闭合板的回落会使存储腔和安装腔之间的开放口被密封,从而减少冷却油会意外流入存储腔的内部,进而减少影响冷却油在安装腔内部对待测主板的浸泡测试散热;而为了提高闭合板下落对存储腔内部冷却油的挤压排出效果,可以在闭合板的外侧附着密封条,从而提高闭合板挤压排油的效果。
17.3、通过与之连接的转移腔顶部的卡连块带动一级半卡框在转动引导槽和中槽的内部运动,从而使一级半卡框内部穿过的数据线和电源线,在一级半卡框的运动中被带动一起沿束线引导槽进行移动,并最终在一级半卡框和二级半卡框的闭合下,被约束在一级半卡框和二级半卡框之间的闭合腔的内部,从而完成对待测主板数据线和电源线的整理,从而辅助提高了整理数据线和电源线的效果。
18.4、通过旋转驱动源带动安装腔翻转度进行维修调整,而在安装腔旋转度的过程中,会在转移腔顶部约束绳固定长度的拉动下,使活动件逐渐抬升,从而带动闭合板移动,进而使闭合板侧部的开放口被逐渐露出,使存储腔内部的空间被逐渐打开,从而使安装腔内部的冷却油逐渐转移到存储腔的内部,当安装腔最终转动度时,安装腔、多向并管以及单向并管内部的冷却油会逐渐转移到存储腔的内部进行存储转移,从而便于对安装腔内部待测主板进行检修,而上述的转移设计便于后期测试过程中或者是使用过程中,维修人员对待测主板进行取出维修时,意外带出安装腔内部的冷却油,从而造成对环境的污染。
19.5、通过启动测试主板,使测试主板通过其内部的预设的测试软件对待测主板进行性能测试,而测试主板测试主要通过播放高画质的影像或者是运行多个程序等,对待测主板组合的集群计算机进行测试。
附图说明
20.图1为本发明集群计算整体结构示意图;图2为本发明柜体后侧面结构连接示意图;图3为本发明柜体前侧面结构连接示意图;图4为本发明中空转轴和多向并管以及单向并管连接示意图;图5为本发明集群单元结构连接示意图;图6为本发明柜体内侧面结构连接示意图;图7为本发明集群单元内部结构连接示意图;图8为本发明齿牙板和触发齿轮结构连接示意图;图9为本发明约束件内部结构连接示意图;图10为本发明存储腔内部结构连接示意图;图11为本发明方法流程示意图。
21.图中标记:
1、柜体;101、测试面;1011、多向并管;1012、卡线槽;1013、测试主板;1014、循环件;1015、连接管;102、底座;103、束线引导槽;104、转动引导槽;1041、中槽;105、连接面;1051、单向并管;106、中空转轴;1061、触发齿轮;107、安装面;108、约束件;1081、中柱;1082、复位件;1083、约束绳;109、连接座;1091、限制块;1092、活动件;2、集群单元;201、转移腔;2011、存储腔;2012、分隔框板;2013、开放口;2014、闭合板;2015、辅助辊;202、安装腔;203、待测主板;204、旋转驱动源;2041、安装座;2042、齿牙板;2043、直槽板;205、卡连块;2051、一级半卡框;2052、凸起块;2052、凸起块;206、二级半卡框;2061、弹性件;2062、闭合腔;207、阻挡板。
具体实施方式
22.以下将结合说明书附图对本发明进一步解释说明,以便于本领域专业技术人员更好地理解。
23.实施例1如图1-8所示,一种高性能计算集群应用性能测试装置,包括:柜体1,所述柜体1的底部固定安装有底座102,柜体1的后侧设置有测试面101,柜体1的前侧设置有连接面105,柜体1的内侧面设置有安装面107,连接面105的表面设置有测试主板1013,所述测试主板1013的侧部设置有多向并管1011,所述测试面101和连接面105的表面均设置有束线引导槽103和转动引导槽104;需要说明的是,测试主板1013优选为外侧设置有拓展坞和插排的触屏电脑。
24.集群单元2,所述集群单元2设置在柜体1的内侧,集群单元2包括转移腔201和安装腔202,安装腔202通过其侧部的中空转轴106和柜体1的内侧转动连接,安装腔202的侧部导通连接有转移腔201,安装腔202的内部设置有待测主板203,待测主板203和测试面101通过导线连接,所述转移腔201的内部活动设置有闭合板2014。
25.所述导线为电源线和数据线,待测主板203的表面安装有cpu、内存条、显卡以及硬盘,闭合板2014为不锈钢实心材料构成。
26.具体地,所述柜体1还包括两组卡线槽1012,两组所述卡线槽1012以测试主板1013的中线对称设置在测试面101的表面;测试面101和连接面105的内侧均设置有安装面107,束线引导槽103和转动引导槽104贯穿设置在测试面101和安装面107以及连接面105和安装面107之间,束线引导槽103和转动引导槽104的形状为圆弧形。
27.具体地,测试面101的表面竖向固定设置有多向并管1011,连接面105的表面横向固定设置有若干组单向并管1051,安装腔202的前后两侧均固定设置有中空转轴106。
28.具体地,柜体1的左右两侧对称设置有集群单元2,左右对称的集群单元2通过其内部安装腔202连接的中空转轴106和单向并管1051活动连接;柜体1的高度方向均匀分布有若干组左右对称的集群单元2,集群单元2通过中空转轴106和多向并管1011活动连接。
29.具体地,多向并管1011的数目为两个,两个多向并管1011以测试主板1013的中线左右对称,左右对称的多向并管1011通过其内侧的连接管1015和循环件1014导通连接,循环件1014安装在底座102的顶面,循环件1014优选为120v的循环水泵,冷却油可以选用具有
耐热性和绝缘性的机硅油。
30.具体地,安装面107和安装腔202之间的中空转轴106表面安装有触发齿轮1061;安装面107通过其表面的安装座2041和旋转驱动源204固定连接,旋转驱动源204通过其输出轴和齿牙板2042活动连接,安装座2041的侧部设置有直槽板2043,直槽板2043固定连接在安装面107的表面,直槽板2043通过其表面的直槽和齿牙板2042滑动连接,齿牙板2042和触发齿轮1061啮合连接。
31.需要说明的是,旋转驱动源204优选为气缸,而设置在安装腔202两侧的旋转驱动源204由同一个电磁阀控制进出气。
32.操作过程:需要说明的是:当安装腔202处于竖直状态时,闭合板2014会在其自身重力的作用下移,对存储腔2011和安装腔202之间进行密封,此时安装腔202内部的冷却油不会进入到存储腔2011的内部;当需要对待测主板203进行测试时,通过测试主板1013控制旋转驱动源204启动,使旋转驱动源204的输出轴伸出带动齿牙板2042移动,从而带动触发齿轮1061转动,进而使安装腔202沿着转动引导槽104进行转动,并最终使安装腔202转动90度,从而使安装腔202的顶部开口朝向安装人员,此时转移腔201在安装腔202的底部,随后安装人员向安装腔202的内部定量填充冷却油,而填充的冷却油会通过安装腔202流入到存储腔2011的内部,从而便于操作人员将需要测试的待测主板203安装到安装腔202的内部;再通过螺丝将待测主板203的顶面和安装腔202的顶部进行固定,再将待测主板203的数据线穿过一级半卡框2051沿着卡线槽1012和测试主板1013进行信号和电连接,从而完成待测主板203的测试准备,而为了提高待测主板203和安装腔202之间的密封性,可在安装腔202的顶部和待测主板203顶部的连接处设置矩形的密封环,减少安装腔202后期翻转维修时,安装腔202内部冷却油的意外泄漏。
33.当待测主板203完成安装后,通过使旋转驱动源204复位带动触发齿轮1061旋转,使安装腔202翻转90度复位到竖直状态,进而在安装腔202旋转复位中,会使约束绳1083对活动件1092的约束解除,从而使闭合板2014在其自身重力的作用下向存储腔2011的底部移动,从而使存储腔2011底部的冷却油被重新挤回安装腔202的内部,从而减少冷却油过多的残留存储腔2011的内部,而闭合板2014的回落会使存储腔2011和安装腔202之间的开放口2013被密封,从而减少冷却油会意外流入存储腔2011的内部,进而减少影响冷却油在安装腔202内部对待测主板203的浸泡测试散热;而为了提高闭合板2014下落对存储腔2011内部冷却油的挤压排出效果,可以在闭合板2014的外侧附着密封条,从而提高闭合板2014挤压排油的效果;在安装腔202的翻转90度复位的过程中,安装腔202会通过与之连接的转移腔201顶部的卡连块205带动一级半卡框2051在转动引导槽104和中槽1041的内部运动,从而使一级半卡框2051内部穿过的数据线和电源线,在一级半卡框2051的运动中被带动一起沿束线引导槽103进行移动,并最终在一级半卡框2051和二级半卡框206的闭合下,被约束在一级半卡框2051和二级半卡框206之间的闭合腔2062的内部,从而完成对待测主板203数据线和电源线的整理,从而辅助提高了整理数据线和电源线的效果;当柜体1内部的多个待测主板203完成安装后,随后启动测试主板1013,使测试主
板1013通过其内部的预设的测试软件对待测主板203进行性能测试,而测试主板1013测试主要通过播放高画质的影像或者是运行多个程序等,对待测主板203组合的集群计算机进行测试。
34.实施例2参照图1-10所示,该实施例不同于第一个实施例的是:所述安装面107的表面固定安装有约束件108,约束件108包括中柱1081、复位件1082以及约束绳1083,中柱1081固定设置在约束件108内部的中心,复位件1082的一侧固定连接在中柱1081的表面,复位件1082的另外一侧和约束绳1083活动连接,复位件1082安装约束件108的内部,约束绳1083穿过约束件108和连接座109连接,连接座109的底部设置有限制块1091,限制块1091的中部连接有活动件1092,活动件1092的表面均匀分布有若干个闭合板2014。
35.需要说明的是,复位件1082为涡卷弹簧,约束绳1083为钢丝绳,限制块1091的直径大于转移腔201顶部供活动件1092穿过圆孔的直径,从而防止闭合板2014下沉时带动过多的约束绳1083下移,为了提高活动件1092拉动闭合板2014移动的有效性,活动件1092采用弹力橡胶柱。
36.具体地,转移腔201的内部设置有若干个存储腔2011,存储腔2011的外侧包覆有分隔框板2012,上下相邻的分隔框板2012之间设置有开放口2013,开放口2013设置在存储腔2011和安装腔202之间;开放口2013的高度小于闭合板2014的高度,安装腔202的顶部设置有阻挡板207,阻挡板207通过其自身的高度阻挡,使安装腔202内部的冷却油在翻转时被阻挡,从而减少意外泄漏。
37.具体地,转移腔201通过其侧部的辅助辊2015和转动引导槽104活动连接;所述转移腔201的顶部设置有卡连块205,转动引导槽104的底部设置有中槽1041,中槽1041和卡连块205底部的凸起块2052滑动卡接;卡连块205的侧部固定安装有一级半卡框2051,束线引导槽103的内部设置有二级半卡框206,二级半卡框206和转动引导槽104的侧壁之间设置有弹性件2061,弹性件2061为弹簧;所述一级半卡框2051和二级半卡框206均通过各自底部的凸起块2052和中槽1041滑动连接,一级半卡框2051和二级半卡框206均横向分布在转动引导槽104的内部且一级半卡框2051和二级半卡框206的宽度大于转动引导槽104的宽度,弹性件2061和闭合腔2062闭合围成闭合腔2062。
38.其余结构均与实施例1相同。
39.操作过程:当柜体1通过测试在日常使用时,可以人工将闭合腔2062整理出的线,进一步的卡压到卡线槽1012表面的槽口内完成对测试面101表面各类线的整理,而在测试检修或者是日常检修过程中,只需通过翻转安装腔202就可以解除对穿过闭合腔2062的各式连接线的约束,从而减少了扎丝的消耗也避免了扎丝进行固定不便于维修的情况。
40.而在日常使用时遭遇需要维修的情况或者是测试过程需要对待测主板203进行调整时,会通过旋转驱动源204带动安装腔202翻转90度进行维修调整,而在安装腔202旋转90
度的过程中,会在转移腔201顶部约束绳1083固定长度的拉动下,使活动件1092逐渐抬升,从而带动闭合板2014移动,进而使闭合板2014侧部的开放口2013被逐渐露出,使存储腔2011内部的空间被逐渐打开,从而使安装腔202内部的冷却油逐渐转移到存储腔2011的内部,当安装腔202最终转动90度时,安装腔202、多向并管1011以及单向并管1051内部的冷却油会逐渐转移到存储腔2011的内部进行存储转移,从而便于对安装腔202内部待测主板203进行检修,而上述的转移设计便于后期测试过程中或者是使用过程中,维修人员对待测主板203进行取出维修时,意外带出安装腔202内部的冷却油,从而造成对环境的污染。
41.当然,为了进一步减少冷却油被带出,可以当安装腔202转动90度后停留一段时间,使待测主板203表面的附着的冷却油被沥干,从而通过上述的自动转移设计,从而便于后续的待测主板203的安装测试以及正常维修,从而减少了待测主板203使用冷却油散热,带来的后续维修的不便性,而通过对多个存储腔2011的容积进行设计,使多个存储腔2011的总容积大于安装腔202、多向并管1011以及单向并管1051的总容积,进而便于存储腔2011可以对冷却油进行充分转移存储。
42.而设置在多向并管1011之间的循环件1014会在测试主板1013的控制下启动,使安装腔202内部的冷却油实现循环,从而使安装腔202内部冷却油可以及时循环,从而使安装腔202内部待测主板203散发的热量被转移,再配合对多向并管1011和单向并管1051的构成材料设置,使多向并管1011和单向并管1051的材料优选为相变材料或者铜质材料,从而加快安装腔202内部转移出的冷却油的热量散发效率,当然也可以在多向并管1011外侧加装制冷设备例如半导体制冷器,进一步提高转移冷却油的散热效率。
43.实施例3请参阅图11,本实施例提供一种高性能计算集群应用性能测试方法,其中包括如下步骤:步骤一、旋转存放腔:当需要检测时,安装腔202在旋转驱动源204的推动下转动,在安装腔202的转动过程中,会使闭合板2014被约束绳1083拉动,使存储腔2011的密封被打开,当安装腔202翻转90度后,向安装腔202的内部填充冷却油,而冷却油会转移到存储腔2011的内部;步骤二、放置主板:当安装腔202被转动90度后,安装人员将需要待测的待测主板203安装到安装腔202的内部;步骤三、连接检测主机:待测主板203的数据连接线会穿过一级半卡框2051和测试主板1013连接;步骤四、复位待测:使旋转驱动源204带动安装腔202复位,使存储腔2011内部冷却油重新填充到安装腔202的内部和待测主板203进行接触,随后启动测试主板1013,使测试主板1013内部设置的程序对待测主板203进行测试;步骤五、自动束线测试:而在安装腔202复位的同时,一级半卡框2051会带动待测主板203的数据线和电源线在转动引导槽104的内部移动,并最终和二级半卡框206进行闭合,从而使待测主板203的数据线和电源线被限制在一级半卡框2051和二级半卡框206内部。
技术特征:
1.一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,包括柜体(1)和设于柜体(1)内侧的集群单元(2),柜体(1)后侧、前侧和内侧分别设有测试面(101),连接面(105)和安装面(107),所述测试面(101)和连接面(105)表面均设置有束线引导槽(103)和转动引导槽(104),连接面(105)表面还设有测试主板(1013),测试主板(1013)侧部设有多向并管(1011);所述集群单元(2)包括转移腔(201)和安装腔(202),安装腔(202)通过其侧部的中空转轴(106)和柜体(1)内侧转动连接,安装腔(202)内部设有待测主板(203),安装腔(202)侧部导通连接转移腔(201),转移腔(201)内部活动设置闭合板(2014)。2.根据权利要求1所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述柜体(1)还包括两组卡线槽(1012),两组卡线槽(1012)以测试主板(1013)的中线对称设置在测试面(101)表面;所述测试面(101)和连接面(105)内侧均设置有安装面(107),束线引导槽(103)和转动引导槽(104)贯穿设置在测试面(101)和安装面(107)以及连接面(105)和安装面(107)之间。3.根据权利要求2所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述多向并管(1011)竖向固定在测试面(101)表面,所述连接面(105)表面横向固定设置有若干组单向并管(1051),安装腔(202)的前后两侧均固定设有中空转轴(106)。4.根据权利要求3所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述集群单元(2)沿柜体(1)高度方向均匀分布且左右两侧对称设于柜体(1)内,集群单元(2)通过与其内部安装腔(202)连接的中空转轴(106)分别与单向并管(1051)和多向并管(1011)活动连接。5.根据权利要求3所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述多向并管(1011)的数目为两个,两个多向并管(1011)以测试主板(1013)的中线左右对称,多向并管(1011)通过其内侧的连接管(1015)和循环件(1014)导通连接。6.根据权利要求3所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述安装面(107)和安装腔(202)之间的中空转轴(106)表面安装有触发齿轮(1061);安装面(107)通过其表面的安装座(2041)和旋转驱动源(204)固定连接,所述旋转驱动源(204)通过其输出轴和齿牙板(2042)活动连接,安装座(2041)侧部设置有直槽板(2043),直槽板(2043)通过其表面的直槽和齿牙板(2042)滑动连接,齿牙板(2042)和触发齿轮(1061)啮合连接。7.根据权利要求6所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述安装面(107)表面固定安装有约束件(108),约束件(108)包括中柱(1081)、复位件(1082)和约束绳(1083),所述中柱(1081)固定设置在约束件(108)内部的中心,复位件(1082)的一侧固定连接在中柱(1081)表面,复位件(1082)的另外一侧和约束绳(1083)活动连接,所述约束绳(1083)穿过约束件(108)和连接座(109)连接,连接座(109)底部设置有限制块(1091),所述限制块(1091)中部连接有活动件(1092),活动件(1092)表面均匀分布有若干个闭合板(2014)。8.根据权利要求7所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述转移腔(201)内部设置有若干个存储腔(2011),存储腔(2011)外侧包覆有分隔框板(2012),上下相邻的分隔框板(2012)之间设有开放口(2013),开放口(2013)设置在存储腔(2011)和安装腔(202)之间;所述开放口(2013)的高度小于闭合板(2014)高度,安装腔(202)顶部设置有阻挡板(207)。
9.根据权利要求8所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,所述转移腔(201)顶部设置有卡连块(205),卡连块(205)侧部固定安装有一级半卡框(2051),束线引导槽(103)的内部设置有二级半卡框(206),二级半卡框(206)和转动引导槽(104)侧壁之间设有弹性件(2061),所述转移腔(201)通过其侧部的辅助辊(2015)和转动引导槽(104)活动连接,转动引导槽(104)底部设置有中槽(1041),中槽(1041)和卡连块(205)底部的凸起块(2052)滑动卡接。10.一种高性能计算集群应用性能测试方法,应用于权利要求1-9任意所述的一种高性能计算集群应用性能测试装置,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、旋转存放腔:当需要检测时,安装腔(202)在旋转驱动源(204)的推动下转动,在安装腔(202)的转动过程中,会使闭合板(2014)被约束绳(1083)拉动,使存储腔(2011)的密封被打开,当安装腔(202)翻转90度后,向安装腔(202)的内部填充冷却油,而冷却油会转移到存储腔(2011)的内部;步骤二、放置主板:当安装腔(202)被转动90度后,安装人员将需要待测的待测主板(203)安装到安装腔(202)的内部;步骤三、连接检测主机:待测主板(203)的数据连接线会穿过一级半卡框(2051)和测试主板(1013)连接;步骤四、复位待测:使旋转驱动源(204)带动安装腔(202)复位,使存储腔(2011)内部冷却油重新填充到安装腔(202)的内部和待测主板(203)进行接触,随后启动测试主板(1013),使测试主板(1013)内部设置的程序对待测主板(203)进行测试;步骤五、自动束线测试:在安装腔(202)复位的同时,一级半卡框(2051)会带动待测主板(203)的数据线和电源线在转动引导槽(104)的内部移动,并最终和二级半卡框(206)进行闭合,从而使待测主板(203)的数据线和电源线被限制在一级半卡框(2051)和二级半卡框(206)的内部。
技术总结
本发明公开了一种高性能计算集群应用性能测试装置及其测试方法,该装置包括柜体和设于柜体内侧的集群单元,柜体后侧、前侧和内侧分别设有测试面,连接面和安装面,测试面和连接面表面均设置有束线引导槽和转动引导槽,连接面表面还设有测试主板,测试主板侧部设有多向并管;所述集群单元包括转移腔和安装腔,安装腔通过中空转轴和柜体内侧转动连接,安装腔内部设置有待测主板,安装腔侧部导通连接转移腔,转移腔内部活动设有闭合板。本发明辅助提高了整理数据线和电源线的效果,便于对安装腔内部待测主板进行检修,避免维修人员对待测主板进行取出维修时,意外带出安装腔内部的冷却油,从而造成对环境的污染。从而造成对环境的污染。从而造成对环境的污染。
技术研发人员:甘润东 龙玉江 王策 李洵 卫薇 卢仁猛 钟掖 龙娜 陈卿
受保护的技术使用者:贵州电网有限责任公司
技术研发日:2023.07.28
技术公布日:2023/10/15
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