一种用于成品元件的自动检测系统的制作方法

1.本发明属于自动检测系统技术领域，特别涉及一种用于成品元件的自动检测系统。


背景技术：

2.自动检测系统是指利用各种检测仪表对生产过程主要工艺参数进行测量、指示或记录，它代替了操作人员对工艺参数的不断观察与记录，因此起到人的眼睛的作用。
3.随着时代的发展，各种高科技产品的不断更新换代，为了防止不合格的生产产品发行到市场，检测设备的使用就很有必要了，它能有效减少不符合国家标准的产品流入市场，金属制造、造纸、非织物和膜等多种行业依靠这些检测系统进行产品检定和在线过程监控。
4.但本技术发明人在实现本技术实施例中发明技术方案的过程中，发现上述技术至少存在如下技术问题：基于设备的密封性及整体牢固性考虑，大多数电子设备或者电器元件将传感器封装在其内部结构中，以防止传感器在使用过程中出现不必要的伤损，但因传感器在安装过程中往往容易因安装的不规范或者其他情况存在，因此需要对电器元件或者电子设备进行参数检测，看是否能达到预期效果。对电器元件进行参数检测时，需要人工将信号转接装置上的测试探针与电器元件连接端子排进行插接，移送到待测口进行检测，检测结束后需要人工将信号转接装置的测试探针与电器元件连接端子排再进行分离，费事费力且工作效率低，与此同时也增加工作人员的劳动强度。


技术实现要素：

5.本技术实施例通过提供一种用于成品元件的自动检测系统 ，解决了现有技术中需要人工组装和拆卸信号转接装置上测试探针与电器元件进行相关参数检测的技术问题，该系统有比较好的实用性，提高工作效率的同时，降低了工作人员的劳动强度。
6.本技术实施例提供了一种用于成品元件的自动检测系统 ，包括待测工件、输送装置、信号转接装置、控制处理单元以及平面移动装置，所述待测工件包括定位凹槽和连接端子排，所述定位凹槽设在所述待测工件任一横截面内部，所述连接端子排插接或压接在所述定位凹槽内；所述信号转接装置包括基板和针床，所述待测工件前端模块被附接于所述基板上，且所述待测工件至少一部分与所述信号转接装置是共面的，并且被配置为生成的集成电路信号，所述信号转接装置位于所述输送装置的一侧，且可拆卸的固定设置在信号转接装置固定座上；所述控制处理单元包括校准控制处理单元、高压测试控制处理单元以及保护控制处理单元，所述待测工件依次通过所述校准控制处理单元、所述高压测试控制处理单元、所述保护控制处理单元，所述控制器处理单元包括一个存储设备以及至少一个处理器，所述存储设备存储一组指令，所述控制处理单元被附接于所述针床上，执行一组指令时，所述至少一个处理器检测所述待测工件的参数特征，确定与所述待测工件相关联的
检测结果；所述平面移动装置与所述控制处理单元可通信地连接，用于响应于相应指令，移动该待测工件，以调节该待测工件所在平面与所述信号转接装置的位置，使得所述控制处理单元能够获得所述集成电路信号，所述平面移动装置设置在所述输送装置的下方。
7.优选的，本技术实施例还公开了所述基板为多层配线基板，所述多层配线基板上设有至少一个弹性测试探针，至少一个所述测试探针用于与待测工件的连接端子位置接触，且至少一个所述弹性测试探针延伸穿过所述基板与所述针床电连接。
8.优选的，本技术实施例还公开了所述弹性测试探针形成为朝向顶端变细为锥形且内部设有弹性元件的探针头部、探针中部和用于固定所述探针的尾部，所述探针头部、所述探针中部以及所述探针尾部依次相连，所述探针头部可同轴向的与所述探针中部相对移动，且所述探针中部具有限位部以限定所述探针头部在预设范围内相对移动，所述探针中部与所述探针尾部与所述基板固定连接。
9.优选的，本技术实施例还公开了所述平面移动装置包括平移模块，所述平移模块用于沿平行于所述待测工件平面的第一方向平移，以一维地改变所述信号转接装置在所述待测工件所在平面上所处的区域，所述平移模块用于沿平行于所述待测工件的第二方向平移，所述第二方向垂直于所述第一方向，以二维地改变所述信号转接装置在所述待测工件所在平面上所处的区域。
10.优选的，本技术实施例还公开了所述平面移动装置包括平面校正模块，所述平面校正模块与所述控制处理单元可通信地连接，用于校正所述信号转接装置与所述待测工件所在平面之间的平行度，使所述信号转接装置平行于所述待测工件平面。
11.优选的，本技术实施例还公开了所述平面移动装置包括按压部，该按压部在测试时将所述待测工件向至少一个所述弹性测试探针侧按压，并在至少一个所述弹性测试探针与待测工件之间施加按压力，使至少一个所述弹性测试探针沿受到接触压力的方向上做收缩运动。
12.优选的，本技术实施例还公开了所述信号转接装置内设有至少一个定向天线，所述定向天线作为所述信号转接装置的一部分，并且耦合到所述控制处理单元的至少一个馈电机构进行馈电。
13.优选的，本技术实施例还公开了响应于对所述待测工件检测，生成候选反馈，所述候选反馈与所述待测工件的检测有关，基于所述第一检测结果，从所述候选反馈中确定目标反馈，以及将所述目标反馈发送到所述控制处理单元。
14.优选的，本技术实施例还公开了所述信号转接装置固定座设置在所述输送装置的上方，且垂直于所述输送装置的移动方向。
15.优选的，本技术实施例还公开了所述输送装置包括设置在所述输送装置两侧，且用于移动待测工件的输送滚轮以及驱动装置，所述驱动装置包括电动机、减速器和制动器，且所述驱动装置与控制处理单元电连接。
16.本技术实施例提供的技术方案，至少具有如下显著技术效果：（1）待测元件通过输送装置将其置于平面移动装置所处的区域，沿待测工件所在平面进行移动（即先上升在平移）与信号转接装置附接，将其产生的集成电路信号反馈到控制处理单元，进行相关参数检测，检测完成后，控制平面移动装置将待测工件移动到初始位置（即先平移后下降），在输送装置上继续移动，进行下一工序或者人工直接抱走处理，提高
工作效率的同时，降低了工作人员的劳动强度。
17.（2）由于信号转接装置内设有至少一个定向天线，定向天线作为信号转接装置的一部分，并且耦合到控制处理单元的至少一个馈电机构进行馈电，增加信号强度和增加抗干扰能力。
18.（3）由于信号转接装置与信号转接装置固定座采用可拆卸的固定连接方式，可以根据产品的不同更换不同的信号转接装置，以达到测试相关参数的目的。
附图说明
19.图1为本技术实施例中一种用于成品元件的自动检测系统 主视图。
20.图2为本技术实施例中一种用于成品元件的自动检测系统 俯视图。
21.其中附图标记为：1、待测工件，2、输送装置，3、信号转接装置，4、控制处理单元，41、校准控制处理单元，42、高压测试控制处理单元，43、保护控制处理单元，5、平面移动装置。
具体实施方式
22.本技术实施例通过提供一种用于成品元件的自动检测系统 ，解决了现有技术中需要人工组装和拆卸信号转接装置上测试探针与电器元件进行相关参数检测的技术问题本技术实施例中的技术方案为解决上述问题总体思路如下：待测元件1通过输送装置2将其置于平面移动装置5所处的区域，沿待测工件1所在平面进行移动（即先上升在平移）与信号转接装置3附接，将其产生的集成电路信号反馈到控制处理单元4，进行相关参数检测，检测完成后，控制平面移动装置5将待测工件1移动到初始位置（即先平移后下降），在输送装置2上继续移动，进行下一工序或者人工直接抱走处理。
23.如图1-图2所示，本技术实施例提供一种用于成品元件的自动检测系统 ，包括待测工件1、输送装置2、信号转接装置3、控制处理单元4以及平面移动装置5。待测工件包括定位凹槽和连接端子排，定位凹槽设在待测工件任一横截面内部，连接端子排插接或压接在定位凹槽内。
24.输送装置2包括设置在输送装置两侧，且用于移动待测工件1的输送滚轮以及驱动装置，驱动装置包括电动机、减速器和制动器，且驱动装置与控制处理单元4电连接；信号转接装置固定座设置在输送装置2的上方，且垂直于输送装置2的移动方向。
25.信号转接装置包括基板和针床，待测工件1前端模块被附接于基板上，且待测工件1至少一部分与信号转接装置3是共面的，并且被配置为生成的集成电路信号，信号转接装置3位于输送装置2的一侧，且可拆卸的固定设置在信号转接装置固定座上；基板为多层配线基板，多层配线基板上设有至少一个弹性测试探针，至少一个测试探针用于与待测工件的连接端子位置接触，且至少一个弹性测试探针延伸穿过基板与针床电连接；弹性测试探针形成为朝向顶端变细为锥形且内部设有弹性元件的探针头部、探针中部和用于固定探针的尾部，探针头部、探针中部以及探针尾部依次相连，探针头部可同轴向的与探针中部相对移动，且探针中部具有限位部以限定探针头部在预设范围内相对移动，探针中部与探针尾部与基板固定连接；信号转接装置3内设有至少一个定向天线，定向天线作为信号转接装置
3的一部分，并且耦合到控制处理单元4的至少一个馈电机构进行馈电。
26.控制处理单元4包括校准控制处理单元41、高压测试控制处理单元42以及保护控制处理单元43，待测工件1依次通过校准控制处理单元41、高压测试控制处理单元42、保护控制处理单元43，控制器处理单元4包括一个存储设备以及至少一个处理器，存储设备存储一组指令，控制处理单元4被附接于针床上，执行一组指令时，至少一个处理器检测待测工件1的参数特征，确定与待测工件1相关联的检测结果；响应于对待测工件1检测，生成候选反馈，候选反馈与待测工件1的检测有关，基于第一检测结果，从候选反馈中确定目标反馈，以及将目标反馈发送到控制处理单元4；校准控制处理单元41行为参数特征包括前进、后退、待测位、等待位、原点复位、伺服报警复位；高压控制处理单元42参数特征包括电容、电感、电阻、电压、电流；保护控制处理单元43行为参数特征包括开入、开出、短路、断路。
27.平面移动装置5与控制处理单元4可通信地连接，用于响应于相应指令，移动该待测工件1，以调节该待测工件1所在平面与信号转接装置3的位置，使得控制处理单元4能够获得集成电路信号，平面移动装置5设置在输送装置的下方；平面移动装置5包括平移模块，平移模块用于沿平行于待测工件1平面的第一方向平移，以一维地改变信号转接装置3在待测工件1所在平面上所处的区域，平移模块用于沿平行于待测工件1的第二方向平移，第二方向垂直于第一方向，以二维地改变信号转接装置3在待测工件1所在平面上所处的区域；平面移动装置5包括平面校正模块，平面校正模块与控制处理单元4可通信地连接，用于校正信号转接装置3与待测工件1所在平面之间的平行度，使信号转接装置3平行于待测工件1平面；平面移动装置5包括按压部，该按压部在测试时将待测工件向至少一个弹性测试探针侧按压，并在至少一个弹性测试探针与待测工件之间施加按压力，使至少一个弹性测试探针沿受到接触压力的方向上做收缩运动。
28.工作过程：待测元件1通过输送装置2将其置于平面移动装置5所处的区域，沿待测工件1所在平面进行移动（即先上升在平移）与信号转接装置3附接，将其产生的集成电路信号反馈到控制处理单元4，进行相关参数检测，检测完成后，控制平面移动装置5将待测工件1移动到初始位置（即先平移后下降），检测结果合格，待测工件1在输送装置2上继续移动，进行下一工序，检测结果不合格，提示报警信息人工直接抱走处理。
29.尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域技术人员一旦得知了基本创造性的概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改，所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
30.显然，本领域技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围，这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

技术特征：
1.一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，包括：待测工件（1），所述待测工件包括定位凹槽和连接端子排，所述定位凹槽设在所述待测工件任一横截面内部，所述连接端子排插接或压接在所述定位凹槽内；输送装置（2）；信号转接装置（3），所述信号转接装置（3）包括基板和针床，所述待测工件（1）前端模块被附接于所述基板上，且所述待测工件（1）至少一部分与所述信号转接装置（3）是共面的，并且被配置为生成的集成电路信号，所述信号转接装置（3）位于所述输送装置（2）的一侧，且可拆卸的固定设置在信号转接装置固定座上；控制处理单元（4），所述控制处理单元（4）包括校准控制处理单元（41）、高压测试控制处理单元（42）以及保护控制处理单元（43），所述待测工件（1）依次通过所述校准控制处理单元（41）、所述高压测试控制处理单元（42）、所述保护控制处理单元（43），所述控制器处理单元（4）包括一个存储设备以及至少一个处理器，所述存储设备存储一组指令，所述控制处理单元（4）被附接于所述针床上，执行一组指令时，所述至少一个处理器检测所述待测工件（1）的参数特征，确定与所述待测工件（1）相关联的检测结果；以及平面移动装置（5），所述平面移动装置（5）与所述控制处理单元（4）可通信地连接，用于响应于相应指令，移动该待测工件（1），以调节该待测工件（1）所在平面与所述信号转接装置（3）的位置，使得所述控制处理单元（4）能够获得所述集成电路信号，所述平面移动装置（5）设置在所述输送装置（2）的下方。2.根据权利要求1所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述基板为多层配线基板，所述多层配线基板上设有至少一个弹性测试探针，至少一个所述测试探针用于与待测工件的连接端子位置接触，且至少一个所述弹性测试探针延伸穿过所述基板与所述针床电连接。3.根据权利要求2所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述弹性测试探针形成为朝向顶端变细为锥形且内部设有弹性元件的探针头部、探针中部和用于固定所述探针的尾部，所述探针头部、所述探针中部以及所述探针尾部依次相连，所述探针头部可同轴向的与所述探针中部相对移动，且所述探针中部具有限位部以限定所述探针头部在预设范围内相对移动，所述探针中部与所述探针尾部与所述基板固定连接。4.根据权利要求1所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述平面移动装置（5）包括平移模块，所述平移模块用于沿平行于所述待测工件（1）平面的第一方向平移，以一维地改变所述信号转接装置（3）在所述待测工件（1）所在平面上所处的区域，所述平移模块用于沿平行于所述待测工件（1）的第二方向平移，所述第二方向垂直于所述第一方向，以二维地改变所述信号转接装置（3）在所述待测工件（1）所在平面上所处的区域。5.根据权利要求4所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述平面移动装置（5）包括平面校正模块，所述平面校正模块与所述控制处理单元（4）可通信地连接，用于校正所述信号转接装置（3）与所述待测工件（1）所在平面之间的平行度，使所述信号转接装置（3）平行于所述待测工件（1）平面。6.根据权利要求4所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述平面移动装置（5）包括按压部，该按压部在测试时将所述待测工件向至少一个所述弹性测试探针侧按压，并在至少一个所述弹性测试探针与待测工件之间施加按压力，使至少一个所述弹性测
试探针沿受到接触压力的方向上做收缩运动。7.根据权利要求1所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述信号转接装置（3）内设有至少一个定向天线，所述定向天线作为所述信号转接装置（3）的一部分，并且耦合到所述控制处理单元（4）的至少一个馈电机构进行馈电。8.根据权利要求7所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，响应于对所述待测工件（1）检测，生成候选反馈，所述候选反馈与所述待测工件（1）的检测有关，基于所述第一检测结果，从所述候选反馈中确定目标反馈，以及将所述目标反馈发送到所述控制处理单元（4）。9.根据权利要求1所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述信号转接装置固定座设置在所述输送装置（2）的上方，且垂直于所述输送装置（2）的移动方向。10.根据权利要求1所述的一种用于成品元件的自动检测系统 ，其中，所述输送装置（2）包括设置在所述输送装置两侧，且用于移动待测工件（1）的输送滚轮以及驱动装置，所述驱动装置包括电动机、减速器和制动器，且所述驱动装置与控制处理单元（4）电连接。

技术总结
本发明公开了一种用于成品元件的自动检测系统，包括待测工件、输送装置、信号转接装置、控制处理单元以及平面移动装置，平面移动装置与所述控制处理单元可通信地连接，用于响应于相应指令，以调节该待测工件所在平面与信号转接装置的位置，待测工件前端模块附接到探针板上，使待测工件至少一部分与信号转接装置是共面的，并且被配置为生成的集成电路信号，使得控制处理单元能够获得集成电路信号，该系统有比较好的实用性，提高工作效率的同时，降低了工作人员的劳动强度。低了工作人员的劳动强度。低了工作人员的劳动强度。


技术研发人员：苏煜
受保护的技术使用者：济南铭锐科技设备有限公司
技术研发日：2023.07.10
技术公布日：2023/10/5