可自动出料的集成IC测试装置的制作方法

可自动出料的集成ic测试装置
技术领域
1.本实用新型涉及集成电路测试装置的技术领域，特别涉及一种可自动出料的集成ic测试装置。


背景技术：

2.集成电路在测试时，通常将待测集成ic放置在底座上的测试槽内，再通过压紧部压紧。我司此前申请的申请号为cn201922324811.8的一种高效率的集成电路测试装置，在测试完毕后，由于待测集成ic凸出测试槽的厚度有限，还存在集成ic从测试槽内取出困难的问题。若将测试槽深度设计较浅，来增加集成ic凸出测试槽的厚度，在压紧过程中，待测集成ic又容易从测试槽内跑位出来。


技术实现要素：

3.针对现有技术存在的问题，本实用新型的主要目的是提供一种可自动出料的集成ic测试装置，旨在解决现有的测集成ic测试装置将测试完毕的集成ic从测试槽内取出困难的问题。
4.为实现上述目的，本实用新型提出的可自动出料的集成ic测试装置，包括：底座，底座的顶部设有测试槽，待测集成ic放置在测试槽内，且测试槽的槽底设有与待测集成ic的管脚一一对应的接触脚垫。底座内设有测试板，接触脚垫与测试板电连接。底座上设有气缸和压紧部，气缸驱动压紧部将待测集成ic的管脚压紧在各自对应的接触脚垫上。压紧部上设有压板，压板的底面上设有若干气槽，气槽的两端设有单向阀，单向阀与压板的侧壁表面连通。压板的顶部设有真空阀和吹气阀，真空阀和吹气阀的第一端均与若干气槽连通，真空阀和吹气阀的第二端分别连接外部的真空泵和高压冷气源。
5.优选地，气槽的两端设有封堵块，单向阀嵌设在封堵块内。
6.优选地，压板通过螺栓连接在压紧部上，且压板与压紧部之间设有垫块。
7.优选地，真空阀和吹气阀均为电磁控制阀。
8.优选地，底座的正面设有控制面板，控制面板上设有分别与测试板、气缸、真空阀及吹气阀信号控制连接的按钮。
9.与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：测试时，可通过关闭真空阀，打开吹气阀，将高压冷气源的冷气吹向待测集成ic表面，实现散热。测试完毕后，可通过关闭吹气阀，打开真空阀，对待测集成ic表面抽真空，实现通过压板将集成ic从测试槽内自动取出。该装置既能实现测试时的散热，又能实现测试完毕的集成ic自动出料，使用非常方便。
附图说明
10.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提
下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
11.图1为本实用新型一实施例的正视图；
12.图2为本实用新型一实施例的正截面结构图；
13.本实用新型目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
14.本实用新型提出一种可自动出料的集成ic测试装置。
15.参照图1-2，图1为本实用新型一实施例的正视图，图2为本实用新型一实施例的正截面结构图。
16.如图1-2所示，在本实用新型实施例中，该可自动出料的集成ic测试装置，包括：底座1，底座1的顶部设有测试槽，待测集成ic2放置在测试槽内，且测试槽的槽底设有与待测集成ic2的管脚一一对应的接触脚垫。底座1内设有测试板3，接触脚垫与测试板3电连接。底座1上设有气缸4和压紧部5，气缸4驱动压紧部5将待测集成ic2的管脚压紧在各自对应的接触脚垫上，压紧部5为方通框架。压紧部5上设有压板6，压板6位于待测集成ic2的正上方，压板6的底面上设有若干气槽7，气槽7的两端设有封堵块8，封堵块8内嵌设有单向阀9，单向阀9与压板6的侧壁表面连通，使得气槽7内的气体只能从气槽7内经单向阀9排出，而不能从外界经单向阀9进入气槽7。压板6通过螺栓连接在压紧部5上，且压板6与压紧部5之间设有垫块10，从而可通过更换不同厚度的垫块10来调节压板6与待测集成ic2之间的压紧力，保证待测集成ic2表面不会被压板6压伤。压板6的顶部设有真空阀11和吹气阀12，真空阀11和吹气阀12均为电磁控制阀，使得真空阀11和吹气阀12能被电气控制动作。真空阀11和吹气阀12的第一端均与若干气槽7连通，真空阀11和吹气阀12的第二端分别连接外部的真空泵和高压冷气源。底座1的正面设有控制面板13，控制面板13上设有分别与测试板3、气缸4、真空阀11及吹气阀12信号控制连接的按钮，以便通过按钮控制工作。
17.测试时，气缸4驱动压紧部5下降，使得压紧部5将待测集成ic2的管脚压紧在各自对应的接触脚垫上，同时，压板6与集成ic2的表面接触。通过关闭真空阀11，打开吹气阀12，将高压冷气源的冷气吹向待测集成ic2表面，实现散热。冷气在气槽7的内压力作用下打开单向阀9而流出气槽7，使得气槽7内的压力不会太大而损坏集成ic2。测试完毕后，通过关闭吹气阀12，打开真空阀11，对待测集成ic2表面抽真空，集成ic2在负压下被吸附在压板6上，气缸4再驱动压紧部5和压板6上升，从而实现通过压板6将集成ic2从测试槽内自动取出，在关闭真空阀11，去掉负压，即可将集成ic2取下。该装置既能实现测试时的散热，又能实现测试完毕的集成ic2自动出料，使用非常方便。真空阀11和外部的真空泵之间连接的管路上还可以设置流量阀，以控制吸附力大小。
18.以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。


技术特征：
1.一种可自动出料的集成ic测试装置，包括：底座，所述底座的顶部设有测试槽，待测集成ic放置在所述测试槽内，且所述测试槽的槽底设有与待测集成ic的管脚一一对应的接触脚垫；所述底座内设有测试板，所述接触脚垫与所述测试板电连接；所述底座上设有气缸和压紧部，所述气缸驱动所述压紧部将待测集成ic的管脚压紧在各自对应的接触脚垫上；其特征在于，所述压紧部上设有压板，所述压板的底面上设有若干气槽，所述气槽的两端设有单向阀，所述单向阀与所述压板的侧壁表面连通；所述压板的顶部设有真空阀和吹气阀，所述真空阀和吹气阀的第一端均与若干所述气槽连通，所述真空阀和吹气阀的第二端分别连接外部的真空泵和高压冷气源。2.如权利要求1所述的可自动出料的集成ic测试装置，其特征在于，所述气槽的两端设有封堵块，所述单向阀嵌设在所述封堵块内。3.如权利要求1所述的可自动出料的集成ic测试装置，其特征在于，所述压板通过螺栓连接在所述压紧部上，且所述压板与所述压紧部之间设有垫块。4.如权利要求1所述的可自动出料的集成ic测试装置，其特征在于，所述真空阀和所述吹气阀均为电磁控制阀。5.如权利要求1-所述的可自动出料的集成ic测试装置，其特征在于，所述底座的正面设有控制面板，所述控制面板上设有分别与所述测试板、气缸、真空阀及吹气阀信号控制连接的按钮。

技术总结
本实用新型公开了一种可自动出料的集成IC测试装置，其底座上设有气缸和压紧部，压紧部上设有压板，压板的底面上设有若干气槽，气槽的两端设有单向阀，单向阀与压板的侧壁表面连通。压板的顶部设有真空阀和吹气阀，真空阀和吹气阀的第一端均与若干气槽连通，真空阀和吹气阀的第二端分别连接外部的真空泵和高压冷气源。本实用新型有益效果：测试时，可通过关闭真空阀，打开吹气阀，将高压冷气源的冷气吹向待测集成IC表面，实现散热。测试完毕后，可通过关闭吹气阀，打开真空阀，对待测集成IC表面抽真空，实现通过压板将集成IC从测试槽内自动取出。该装置既能实现测试时的散热，又能实现测试完毕的集成IC自动出料，使用非常方便。使用非常方便。使用非常方便。


技术研发人员：吴志强 孙大秀
受保护的技术使用者：深圳市创芯在线检测服务有限公司
技术研发日：2023.04.27
技术公布日：2023/9/26