一种线性电路辐射缺陷提取方法

1.本发明属于电路缺陷提取技术领域，具体是一种线性电路辐射缺陷提取方法。


背景技术：

2.双极器件普遍存在的低剂量率辐照损伤增强(enhancedlow-dose-ratesensitivity,eldrs)效应给电子元器件的抗辐照能力测试评估方法带来巨大挑战。在研究电路级线性电路的辐射损伤和缺陷时，缺少可以对线性电路中的分立器件进行独立的缺陷提取的方法。
3.为解决上述为问题，中国专利文献cn109557442b记载了一种线性电路辐射缺陷提取方法，其包括：步骤100，对线性电路进行分析，确定待分离的分立器件；步骤200，对待分离的所述分立器件进行切割分离；步骤300，测试分离后的所述分立器件电性能，进行筛选；步骤400，从筛选后的所述分立器件中引出电极；步骤500，通过引出的所述电极对所述分立器件进行缺陷测试。该发明所述的线性电路辐射缺陷提取方法，通过切割筛选的方式，对线性电路中的分立器件进行分离，并引出电极，从而可以对线性电路中的分立器件独立地进行缺陷测试，从而丰富现有的低剂量率增强效应的研究，达到更好的研究效果。
4.但是应用上述技术方案时，在对分立器件进行分析过程中，不能够快速的进行精确定位；在后续的测试过程中，独立的进行缺陷测试，虽然为测试提供了便利，但是这样脱离了分立器件实际的工作场景，对其进行的缺陷测试结果较片面，无法反应分立器件的真实缺陷情况。


技术实现要素：

5.本发明的目的是提供一种能够快速对异常分立器件进行定位，提高提取效率，准确对分立器件缺陷进行测试，提升缺陷提取精度的线性电路辐射缺陷提取方法。
6.为了实现上述目的，本发明的技术方案如下：一种线性电路辐射缺陷提取方法，包括如下步骤：
7.步骤1、获取线性电路的版图，对线性电路进行区域划分，并根据分立器件位置分析分立器件是否与多个区域重合；
8.步骤2、若分立器件与一个区域重合则仅对分立器件所属区域电性能的电性能进行测试，若分立器件与多个区域重合则依次对分立器件所覆盖区域的电性能进行测试，将电性能异常的区域标记为待测试区域；
9.步骤3、若与一个区域重合的分立器件所属区域为待测试区域，则将该分离元器件标记为待测试分立器件，若与多个区域重合的分立器件所属的任意重合区域为待测试区域，则将该分离元器件标记为待测试分立器件；
10.步骤4、将待测试分立器件与线性电路分离，并在原待测试分立器件位置安装参照器件，并将参照器件与线性电路连接，再重新测试待测试区域的电性能，若前后两次电性能的差距超过阈值，则结合前后两次电性能差距对待测试分立器件进行缺陷测试。
11.进一步，步骤1包括：
12.步骤101、获取线性电路的版图；
13.步骤102、对线性电路中所有分立器件的功能进行获取；
14.步骤103、对功能相同或者相近且相互之间没有其他分立器件的多个分立器件划分为同一区域。
15.进一步，步骤2包括：
16.步骤201、根据步骤103划分的区域，结合分立器件位置，分析分立器件的引脚所占据的区域；
17.步骤202、对分立器件引脚所占据区域的电性能均依次进行测试，
18.步骤203、若所有区域的电性能均正常，则将该区域排除，若分立器件的引脚仅占据该区域，则将该分立器件排除；若任意区域的电性能异常，则将该区域标记为待测试区域。
19.进一步，电性能包括额定电压、电流、有功功率、无功功率、电阻、电容、电感和电导，电性能中任意参数异常时均判定为电性能异常。
20.进一步，步骤4包括：
21.步骤401、在分离待测试分立器件前，对其所属区域的电性能进行测试并记录；
22.步骤402、利用分离装置将待测试分立器与线性电路分离，保持线性电路其他元器件不变，在线性电路中接入参照器件，再次对待测试分立器件所属区域的电性能进行测试并与步骤401中的电性能测试结果进行比对；
23.步骤403、若前后两次电性能的差距超过阈值，结合前后两次电性能差距分析辐射对待测试分立器件的电性能的影响；再对待测试分立器件的缺陷进行测试。
24.进一步，参照器件为与待测试分立器件功能和电性能相同的全新分立器件。
25.进一步，在分离待测试分立器件前，基于待测试分立器件的尺寸和位置分析是否便于分离，在不便于分离的情况下在待测试分立器件的引脚处连接引线，并将参照器件通过引线与待测试分立器件串联形成测试电路，测试测试电路的电性能导出，根据测试电路的电性能分析是否需要将待测试分立器件与线性电路分离。
26.进一步，在线性电路上的每个区域内均连通一个提示器件，在提示器件所属区域电性能异常时，提示器件就发出提示。
27.进一步，单个区域内的分立元器件数量不大于线性电路上分立元器件总数量的50％，向上取整。
28.采用上述方案有以下有益效果：
29.1、本方案，通过整体测试到区域测试再到分立器件点位测试的多层测试方式，能够避免现有技术中逐一对分立器件进行测试导致效率低下的问题；在区域测试前对分立器件进行了功能分类划分，将功能相似或者相近的分立器件划分到同一区域，由于功能相似或者相近的分立器件辐射后容易造成的缺陷及其程度相似，因此容易出现同类或者相同分立器件均需要进行缺陷测试的情况，将他们划分至一个区域后，能够减少由于相似或者相近分立器件分散导致多个区域均出现电性能异常的情况，从而减少测试量，提升了对线性电路的辐射缺陷提取效率。
30.2、本方案，采用替代法将需要分离测试的分立器件替换为与其相同的全新分立器
件，并对前后的线性电路上区域的电性能进行测试，从而获取被辐射后分立器件对线性电路造成的影响量，并结合分立器件的实际工作场景分析其被辐射后的缺陷程度是否严重；并采用对照法测试分立器件及其对照的参照器件的电性能以及缺陷进行对比，能够更加准确的反应分立器件被辐射后的缺陷情况。
31.3、本方案，在各个区域映入提示器件，在某个区域的电性能异常时，则通过提示器件及时的进行提示，但是用户可以在收到提示后持续的让线性电路进行工作，在工作完成后，直接对提示器件运行的区域进行电性能测试，减少了线性电路整体测试步骤，并优化了区域测试步骤，能够快速的进行到对单个分立器件的电性能测试以及辐射缺陷提取，进一步提升了对线性电路的辐射缺陷提取效率，此外，便于研究分立器件在线性电路中受到辐射后的性能变化。
32.4、本方案，对单个区域内的分立器件数量进行限制，避免单个区域内的分立器件过多，造成对单个区域内的分立器件进行定位时造成时间浪费，导致对线性电路的辐射缺陷提取效率减缓。
33.本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
34.图1为本发明线性电路辐射缺陷提取方法实施例的总流程图；
35.图2为本发明线性电路辐射缺陷提取方法实施例的步骤1具体流程图；
36.图3为本发明线性电路辐射缺陷提取方法实施例的步骤2具体流程图；
37.图4为本发明线性电路辐射缺陷提取方法实施例的步骤4具体流程图。
具体实施方式
38.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
39.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“竖向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
40.在本发明的描述中，除非另有规定和限定，需要说明的是，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
41.下面通过具体实施方式进一步详细说明：
42.实施例一：如附图1-4所示：一种线性电路辐射缺陷提取方法，包括如下步骤：
43.步骤1、获取线性电路的版图，对线性电路进行区域划分，并根据分立器件位置分析分立器件是否与多个区域重合。
44.其中线性电路的版图可利用设计线性电路时的版图，若无设计线性电路时的版图可通过扫描或者手绘等方式获取，线性电路的版图中至少应该包括有线性电路的轮廓(以示线性电路的外形和大小)、元器件布局(以示分立器件和其他元器件在线性电路上的具体位置)、焊盘和引脚位置(以示分立器件的引脚的具体位置)、走线布局(以示分立元器件之间的连线关系)。
45.步骤1具体如下：
46.步骤101、获取线性电路的版图，该版图包括上述版图至少应该包括的内容；
47.步骤102、对线性电路中所有分立器件的功能进行获取，功能获取可以根据分立元器件清单信息或者分立元器件在线性电路中的实际功能，优选确认线性电路的实际功能；
48.步骤103、对功能相同或者相近且相互之间没有其他分立器件的多个分立器件划分为同一区域；例如，二极管其主要的特性是单向导电性，但是二极管的种类众多包括稳压二极管、tvs二极管、光电二极管等，这些二极管结构、性能和应用方面都有相似之处，因此可以将其划入同一区域中，基于元器件布局和走线布局，相同或者相似的元器件之间可能隔有其他的分立器件，对于相距较远中间有其他分立器件隔开的则不将他们划入同一区域。
49.此外，单个区域内的分立元器件数量不大于线性电路上分立元器件总数量的50％，向上取整。例如分立器件总共有9个，单个区域内的分立器件数量应该不大于5个。
50.步骤2、若分立器件与一个区域重合则仅对分立器件所属区域电性能的电性能进行测试，若分立器件与多个区域重合则依次对分立器件所覆盖区域的电性能进行测试，将电性能异常的区域标记为待测试区域。
51.例如，由于分立器件通常具有多个引脚，当分立器件的引脚占据多个区域时，在受到辐射后其单个分立器件可能造成多个区域或者造成其中一个区域的电性能异常，因此在分立器件所占据的任意一个区域出现电性能异常时，均需要对这个分立器件进行缺陷提取。
52.步骤2具体如下：
53.步骤201、根据步骤103划分的区域，结合分立器件位置，分析分立器件的引脚所占据的区域；
54.步骤202、对分立器件引脚所占据区域的电性能均依次进行测试，即分立器件的引脚占据多少个区域分立器件就占据了多少个区域，对其对线性电路各个局域造成的电性能测试时需要对所占据的每个区域均进行测试。
55.步骤203、若所有区域的电性能均正常，则将该区域排除，若分立器件的引脚仅占据该区域，则将该分立器件排除；若任意区域的电性能异常，则将该区域标记为待测试区域。
56.电性能包括额定电压、电流、有功功率、无功功率、电阻、电容、电感和电导等，电性能中任意参数异常时均判定为电性能异常。采用示波器、频谱分析仪、信号发生器、逻辑分析仪、万用表、噪声分析仪等多种设备进行电性能的测试。
57.步骤3、若与一个区域重合的分立器件所属区域为待测试区域，则将该分离元器件标记为待测试分立器件，若与多个区域重合的分立器件所属的任意重合区域为待测试区域，则将该分离元器件标记为待测试分立器件；
58.通过步骤3对区域进行检测，由于每个区域中均含有数量不等的分立器件，当需要确定异常的分立器件位置时，若整个区域的电性能没有异常则确认该区域内的分立器件均为正常的，避免了对分立器件逐一进行电性能测试。
59.步骤4、将待测试分立器件与线性电路分离，并在原待测试分立器件位置安装参照器件，并将参照器件与线性电路连接，再重新测试待测试区域的电性能，若前后两次电性能的差距超过阈值，则结合前后两次电性能差距对待测试分立器件进行缺陷测试。
60.其中参照器件，为与待测试分立器件功能和电性能相同的全新分立器件(未受过辐射)。
61.步骤4具体如下：
62.步骤401、在分离待测试分立器件前，对其所属区域的电性能进行测试并记录；
63.步骤402、利用分离装置将待测试分立器与线性电路分离，保持线性电路其他元器件不变，在线性电路中接入参照器件，再次对待测试分立器件所属区域的电性能进行测试并与步骤401中的电性能测试结果进行比对；该步骤中的分立器件分离方法采用现有技术中适宜的分离方法即可，如：烙铁法、割线法、超声波法等，本实施例不再赘述。
64.步骤403、若前后两次电性能的差距超过阈值，结合前后两次电性能差距分析辐射对待测试分立器件的电性能的影响；再对待测试分立器件的缺陷进行测试。该步骤中进行缺陷测试时候，同样需要用到示波器、频谱分析仪、信号发生器、逻辑分析仪、万用表、噪声分析仪等多种设备，通过精确获取分立器件辐射后的缺陷，能够有效的促进分立器件在抗辐射等方面的研究。
65.实施例二：本实施例主要是用于增加实施例一操作时的便捷性，与实施例一相比，不同之处在于，在分离待测试分立器件前，基于待测试分立器件的尺寸和位置分析是否便于分离，主要是基于相邻的分立器件之间的间距，以及分立器件之间的相互关系。
66.在不便于分离的情况下在待测试分立器件的引脚处连接引线，通过引线可以单独的先对待测试分立器件的电性能进行测试，并将参照器件通过引线与待测试分立器件串联形成测试电路，测试测试电路的电性能导出，根据测试电路的电性能分析是否需要将待测试分立器件与线性电路分离，分立器件在串联后通常会形成新的功能，通过对串联后的分立器件组成的电路是否能够达到组串联后的功能以及效果，判断待测试分立器件是否有异常。避免了拆卸不便于拆卸的分立器件且能够不进行拆卸的分立器件。
67.其次，在线性电路上的每个区域内均连通一个提示器件，提示器件可以采用蜂鸣器、指示灯、震动马达等，在提示器件所属区域电性能异常时，提示器件就发出提示。一方面，便于用户直观获取电性能异常的区域，另一方面，根据指示器件的指示时间点，便于研究分立器件在线性电路中受到辐射后的性能变化。
68.以上所述的仅是本发明的实施例，方案中公知的具体结构和/或特性等常识在此未作过多描述。应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本发明的保护范围，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。本技术要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准，说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。

技术特征：
1.一种线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1、获取线性电路的版图，对线性电路进行区域划分，并根据分立器件位置分析分立器件是否与多个区域重合；步骤2、若分立器件与一个区域重合则仅对分立器件所属区域电性能的电性能进行测试，若分立器件与多个区域重合则依次对分立器件所覆盖区域的电性能进行测试，将电性能异常的区域标记为待测试区域；步骤3、若与一个区域重合的分立器件所属区域为待测试区域，则将该分离元器件标记为待测试分立器件，若与多个区域重合的分立器件所属的任意重合区域为待测试区域，则将该分离元器件标记为待测试分立器件；步骤4、将待测试分立器件与线性电路分离，并在原待测试分立器件位置安装参照器件，并将参照器件与线性电路连接，再重新测试待测试区域的电性能，若前后两次电性能的差距超过阈值，则结合前后两次电性能差距对待测试分立器件进行缺陷测试。2.根据权利要求1所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：步骤1包括：步骤101、获取线性电路的版图；步骤102、对线性电路中所有分立器件的功能进行获取；步骤103、对功能相同或者相近且相互之间没有其他分立器件的多个分立器件划分为同一区域。3.根据权利要求2所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：步骤2包括：步骤201、根据步骤103划分的区域，结合分立器件位置，分析分立器件的引脚所占据的区域；步骤202、对分立器件引脚所占据区域的电性能均依次进行测试，步骤203、若所有区域的电性能均正常，则将该区域排除，若分立器件的引脚仅占据该区域，则将该分立器件排除；若任意区域的电性能异常，则将该区域标记为待测试区域。4.根据权利要求3所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：电性能包括额定电压、电流、有功功率、无功功率、电阻、电容、电感和电导，电性能中任意参数异常时均判定为电性能异常。5.根据权利要求1所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：步骤4包括：步骤401、在分离待测试分立器件前，对其所属区域的电性能进行测试并记录；步骤402、利用分离装置将待测试分立器与线性电路分离，保持线性电路其他元器件不变，在线性电路中接入参照器件，再次对待测试分立器件所属区域的电性能进行测试并与步骤401中的电性能测试结果进行比对；步骤403、若前后两次电性能的差距超过阈值，结合前后两次电性能差距分析辐射对待测试分立器件的电性能的影响；再对待测试分立器件的缺陷进行测试。6.根据权利要求5所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：参照器件为与待测试分立器件功能和电性能相同的全新分立器件。7.根据权利要求5所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：在分离待测试分立器件前，基于待测试分立器件的尺寸和位置分析是否便于分离，在不便于分离的情况下在待测试分立器件的引脚处连接引线，并将参照器件通过引线与待测试分立器件串联形成测试电路，测试测试电路的电性能导出，根据测试电路的电性能分析是否需要将待测试分立
器件与线性电路分离。8.根据权利要求1所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：在线性电路上的每个区域内均连通一个提示器件，在提示器件所属区域电性能异常时，提示器件就发出提示。9.根据权利要求1所述的线性电路辐射缺陷提取方法，其特征在于：单个区域内的分立元器件数量不大于线性电路上分立元器件总数量的50％，向上取整。

技术总结
本发明公开了电路缺陷提取技术领域的一种线性电路辐射缺陷提取方法包括如下步骤：步骤1、获取线性电路的版图，对线性电路进行区域划分；步骤2、将电性能异常的区域标记为待测试区域；步骤3、将与待测试区域重合的位于将该分离元器件标记为待测试分立器件；步骤4、将待测试分立器件与线性电路分离，并在原待测试分立器件位置安装参照器件，并将参照器件与线性电路连接，再重新测试待测试区域的电性能，则结合前后两次电性能差距对待测试分立器件进行缺陷测试。本发明，能够快速对异常分立器件进行定位，提高提取效率，准确对分立器件缺陷进行测试，提升缺陷提取精度，使线性电路的辐射缺陷能够快速准确的得到提取。缺陷能够快速准确的得到提取。缺陷能够快速准确的得到提取。


技术研发人员：阳卫 吴汉 李光明 张续文 吕志伟 张叶贵 吉畅 张启龙
受保护的技术使用者：六盘水师范学院
技术研发日：2023.06.07
技术公布日：2023/9/23