被配置为解决不受控制的测试头旋转的测试头操纵器的制作方法

1.本说明书总体上涉及测试头操纵器，该测试头操纵器被配置为解决不受控制的测试头旋转。


背景技术：

2.自动测试设备(ate)包括测试头，该测试头容纳测试电子器件以在被测试装置(dut)上执行测试。在一些ate中，多个dut被连接至装置接口板(dib)。测试头配合dib以便在dut中形成电连接，并且通过这些电连接执行各种测试。操纵器是一种在测试设施内传送测试头的装置。


技术实现要素：

3.示例测试头操纵器包括具有基部和轨道的塔部以及能够支撑测试头的臂，其中轨道相对于基部是垂直的。臂被连接到轨道以相对于塔部垂直地移动测试头，并且臂被配置为控制测试头的旋转。臂中的每个包括可旋转的凸轮和至少一个柱塞，该至少一个柱塞与凸轮接触并被配置为接触测试头。凸轮的旋转是可控制的，以移动该至少一个柱塞以抵消测试头的不受控制的旋转。示例测试头操纵器可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。
4.所述至少一个柱塞可包括两个柱塞。该两个柱塞可以相对于测试头沿相反方向取向，使得两个柱塞中的每个都被配置为接触测试头的不同部分。凸轮的旋转可以引起两个柱塞的纵向运动，该纵向运动被传递到测试头以抵消不受控制的旋转。凸轮的横截面可以具有沿着每个横截面的至少一部分连续变化的半径。
5.两个柱塞可以包括在凸轮的第一侧上的第一柱塞。第一柱塞可以包括接触凸轮的第一辊。两个柱塞可以包括在凸轮的第二侧上的第二柱塞。第二柱塞可以包括接触凸轮的第二辊。第一柱塞和第二柱塞可以分开约180
°
，使得第一柱塞朝向测试头操纵器的臂的顶部取向，并且第二柱塞朝向臂的底部取向。凸轮可以在第一柱塞和第二柱塞之间。凸轮可以是可控制的，以相对于第一柱塞和第二柱塞旋转，使得在不同的旋转角度下，凸轮的不同部分接触第一柱塞和第二柱塞。
6.凸轮可以包括可围绕同一轴线旋转的第一角结构和第二角结构。第一角结构可以具有沿着第一角结构的一部分变化的第一半径，并且第二角结构可以具有沿着第二角结构的至少一部分变化的第二半径。第一半径可以在第一角方向上增加，并且第二半径可以在第二角方向上增加。第一角方向可以与第二角方向相反。在第一角结构的最大半径处，第一角结构可以具有将第一角结构的最大半径连接到最小半径的直边间断。在第二角结构的最大半径处，第二角结构可以具有将第二角结构的最大半径连接到最小半径的直边间断。第一角结构和第二角结构可各自被约束为小于360
°
的旋转。第一角结构和第二角结构可各自被约束为在0
°
与145
°
之间的旋转。
7.该至少一个柱塞可以包括球，该球被配置为接触测试头的一部分。该球可以可至
少在相对于测试头操纵器的臂的翻滚和θ方向上旋转。该球可由多个球支撑，其中多个球中的每个可相对于该球旋转，并且其中该球可相对于多个球中的每个旋转。
8.该至少一个柱塞可以包括容纳球的壳体、壳体连接到其的轴、以及至少一个弹簧，该至少一个弹簧至少部分可压缩以改变该至少一个柱塞的纵向尺寸。该至少一个柱塞可以包括与凸轮接触的辊。辊可以被配置为将由凸轮的旋转产生的位移传递到柱塞。
9.测试头操纵器可以包括手柄，该手柄的至少一部分在测试头操纵器的臂的外部。手柄可以机械地连接到凸轮。手柄可以是可控制的，以手动地旋转凸轮。凸轮可以是可控制的，以移动至少一个柱塞以抵消测试头的
±
1.5
°
旋转或更少。可以有两个臂和两个柱塞，臂中的每个有一个柱塞。测试头操纵器可包括一个或多个电机用于驱动臂沿着轨道运动。
10.用于传送测试头的示例测试头操纵器包括具有基部和轨道的塔部以及能够支撑测试头的臂，其中轨道相对于基部是垂直的。臂连接到轨道以相对于塔部垂直地移动测试头。臂被配置为控制测试头的旋转。臂中的每个包括用于抵消测试头不受控制的旋转的装置。示例测试头操纵器可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。
11.用于抵消不受控制的旋转的装置可以包括沿相反方向取向的两个柱塞和可旋转的凸轮，其中柱塞中的每个被配置为接触测试头的不同部分。柱塞中的每个可被配置为接触凸轮。凸轮的旋转可以引起柱塞的纵向运动，该纵向运动被传递到测试头以抵消不受控制的旋转。测试头操纵器还可以包括手柄，该手柄的至少一部分在测试头操纵器的臂的外部。手柄可以机械地连接到凸轮。手柄可以是可控制的，以手动地旋转凸轮。
12.本说明书(包括本发明内容部分)中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本说明书中未具体描述的具体实施。
13.本说明书中所描述的系统和技术的至少一部分可通过在一个或多个处理设备上执行存储在一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令来配置或控制。非暂态机器可读存储介质的示例包括只读存储器、光盘驱动器、存储器磁盘驱动器和随机存取存储器。本说明书中所描述的系统和技术的至少一部分可使用由一个或多个处理设备和存储指令的存储器组成的计算系统来配置或控制，这些指令可由该一个或多个处理设备执行以进行各种控制操作。本文所描述的系统和技术，以及其部件和变型可例如通过设计、构造、布置、放置、编程、操作、激活、去激活和/或控制来配置。
14.附图和以下具体实施方式中陈述了一个或多个具体实施的详细信息。通过具体实施和附图以及通过权利要求书，其他特征和优点将显而易见。
附图说明
15.图1是示出示例测试头操纵器和测试头的部分透明透视图的图示。
16.图2a是示出包括在测试头操纵器中的示例臂的一部分的剖切前视图的图示。
17.图2b是示出图2a的臂的一部分的剖切侧视图的图示。
18.图3a是示出测试头操纵器的臂的一部分的透视图的照片。
19.图3b、图3c和图3d是示出了图2a的臂上的手柄在各种旋转位置处的前视图的图示。
20.图4是示出包括在柱塞中的球组件的透视图的图示，该柱塞是图2a的臂的一部分。
21.图5a和图5b是示出包括在示例凸轮组件中的部件的透视图的图示，该示例凸轮组
件是图2a的臂的一部分。
22.图5c是示出包括在图5a和图5b的示例凸轮组件中的部件的分解图的图示。
23.图6a是示出示例柱塞的透视图的图示，该示例柱塞是图2a的臂的一部分。
24.图6b是示出图6a的示例柱塞的剖切侧视图的图示。
25.图6c是示出图6a的示例柱塞的分解图的图示。
26.图7a是示出图2a的示例臂的一部分的剖切前视图的图示。
27.图7b包括示出柱塞和凸轮在各种旋转角度下的剖切前视图的图示。
28.图8是示出示例操纵器的透视图以及由此可以实现的受控运动的图示。
29.不同图中的类似附图标记指示类似元件。
具体实施方式
30.本文描述的是用于传送测试头的测试头操纵器的示例具体实施。测试头被配置为保持印刷电路板(pcb)并且相对于测试系统传送或操纵该pcb。例如，操纵器可以保持、传送和操纵装置接口板(dib)。就这一点而言，dib包括到一个或多个被测试装置(dut)的机械和电接口，所述被测试装置(dut)正在被诸如自动测试设备(ate)之类的测试系统测试或者将要被测试。示例操纵器包括具有基部和轨道的塔部以及能够支撑测试头的臂，其中轨道相对于基部是垂直的。臂连接到轨道以相对于塔部垂直地移动测试头。臂还被配置为控制测试头的运动，诸如旋转。臂中的每个包括可旋转的凸轮和至少一个柱塞，该至少一个柱塞与凸轮接触并被配置为接触测试头。凸轮的旋转是可控制的，以移动该至少一个柱塞以抵消测试头的不受控制的旋转。
31.如上所述，可由操纵器执行的运动或操纵包括旋转测试头。例如，参照图8，测试头操纵器5被配置为上下、进出、以及左右移动测试头6。操纵器5还被配置为对测试头6执行翻滚旋转、θ旋转、扭转旋转和摆动旋转。这些运动可以被控制，例如，响应于指令或手动运动来实现，以将测试头定位在期望的位置和取向。例如，测试头可以旋转90
°
、180
°
、270
°
或360
°
。
32.然而，在一些情况下，可能发生测试头的不受控制的角旋转。例如，dib或其他结构在测试头上的重量分布可能是不均匀的，例如，dib可能在其前边缘7上相对于其后边缘8具有额外的重量。这种额外的重量可能产生测试头的不受控制的旋转。例如，在图8所示的取向中，此类不均匀的重量分布可能产生测试头的小的且不受控制的翻滚旋转角位移。在测试头90
°
旋转的示例中，不均匀的重量分布可能产生测试头的小的且不受控制的θ旋转角位移。为了解决这些不受控制的旋转，凸轮和柱塞被配置和可控制以调节测试头的旋转。在一个实施例中，凸轮和柱塞被配置为实现大约
±
1.5
°
的受控旋转，以抵制或抵消不受控制的旋转。然而，本文所述的操纵器不限于由凸轮和柱塞实现的角旋转校正的任何特定值。凸轮和柱塞的操作可以手动地控制；然而，在一些具体实施中，它们的操作可以是计算机控制的。
33.图1示出了测试头操纵器10的示例具体实施，操纵器10可以但不必具有与图8的操纵器5相同的结构和能力。操纵器10包括塔部15、轨道13a和13b以及臂14a和14b。塔部15包括基部11和轨道12。在此实施例中，基部11连接到轨道12并且被配置为沿着轨道12移动。
34.如所指出的，塔部15包括两个垂直轨道13a、13b，操纵器10的每一侧上一个。如图1
所示，轨道13a、13b沿塔部15的垂直长度布置。在一些具体实施中，轨道13a、13b沿着塔部的整个垂直长度布置，并且在一些具体实施中，轨道13a、13b仅沿着塔的垂直长度的一部分(例如，小于塔部的整个垂直高度)布置。臂14a、14b通过支撑结构18被安装在轨道13a、13b上。在此构造中，例如，支撑结构18被连接至轨道13a、13b，并且臂14被连接至支撑结构。支撑结构18被配置为沿着轨道13a、13b垂直地移动，因此还使得臂14a、14b沿着塔部15垂直地移动。支撑结构18还被配置为实现图8中所示的运动。就这一点而言，一个或多个电机(未示出)被配置和布置成驱动支撑结构18以及因此臂14沿着轨道13a和13b的运动。在一些具体实施中，臂14a、14b被配置为并且可控制为在箭头17的方向上在0
°
与180
°
之间旋转。在一些具体实施中，臂14a、14b被配置为并且可控制为在箭头17的方向上在0
°
与360
°
之间旋转。一个或多个电机(未示出)被配置和布置成控制这些旋转和关于图8描述的其他旋转。
35.臂14被配置和控制为保持测试头20。如上所述，测试头20是ate的一部分，并且可以包括用于测试dut的测试电子器件，诸如管脚电子器件、测试仪器等。就这一点而言，如上所述，在一些具体实施中，dut被连接至dib，该dib在dut与测试头之间提供电连接和机械连接。如图8所示，dib 9可以由测试头保持。在一些具体实施中，由电机驱动的垂直运动使测试头20与dib接触。
36.例如，在一些情况下，dib的不均匀分布的重量或在dib上的不均匀分布的重量可使测试头相对于臂14a、14b并围绕轴线21产生小的不受控制的旋转。这种不受控制的旋转是不期望的，并且会不利地影响dib在测试系统中的运动和随后的放置。这种不受控制的旋转被称为“旋转误差”。在本文所述的实施例中，操纵器10的臂14a、14b内的部件被配置和布置成至少部分地校正该旋转误差。在一些具体实施中，部件位于每个臂14a、14b的前部区段22中。在一些具体实施中，部件可以位于臂的中部或后部。
37.图2a示出了从图1的箭头4的方向截取的臂14a的前部区段22的剖切前视图。图2b示出了从图1的箭头3的方向截取的臂14a的前部区段22的一部分的侧视图。臂14b可具有与图2a和图2b中所示相似或相同的构造。因此，本文仅描述了臂14a的构造。臂14a包括凸轮23。在该实施例中，凸轮23是包括可旋转物体的凸轮组件的一部分，该可旋转物体被配置成将其旋转运动传递到柱塞24和25。这使得柱塞中的一者或两者的至少一部分沿箭头2的方向线性移动。在一些具体实施中，每个臂14a、14b包括图2a和图2b中示出的构造中的凸轮和两个柱塞。在一些具体实施中，每个臂可包括凸轮和单个柱塞(图中未示出)。
38.在该实施例中，凸轮23在每个柱塞24、25位于凸轮23的不同侧处的构造中与柱塞24和25接触。例如，柱塞24相对于柱塞25以180
°
的角度布置。这样，柱塞24和25面向相反的方向并且；因此，每个柱塞接触测试头20的不同部分，例如，图1所示的测试头20中的凹槽或凹部103的顶部100和底部101。例如，如图2a和2b所示，柱塞24朝向臂14a的顶部取向，并且柱塞25朝向臂14a的底部取向。此处的“顶部”和“底部”指的是处于图1所示构造时臂14a的部分，并且不旨在进行限制。相反布置的柱塞用于校正测试头不同取向处的旋转误差，例如当测试头倒置时。
39.如图所示，在该实施例中，凸轮23位于柱塞24、25之间并与柱塞24、25直接物理接触。就这一点而言，柱塞24包括与凸轮23接触的辊26，并且柱塞25包括与凸轮23接触的辊27。柱塞24还包括与测试头20的部分100接触的辊71，并且柱塞25包括与测试头20的部分101接触的辊72。每个辊26、27可以包括具有图4所示构造的球组件。如图4所示，示例辊26包
括球71，该球71例如通过与壳体68内的多个(在该实施例中为六个)球69直接接触而被支撑。多个球69中的每个可相对于球71旋转，并且球71可相对于多个球68中的每个旋转。同样地，球71与测试头20直接接触，但该接触不是固定的。即，球71可以在测试头移动时旋转，从而允许柱塞如本文所述校正测试头14a的角位置。例如，柱塞可以经由球71向测试头施力。该力可以引起测试头的角运动，在此期间球71旋转以允许测试头的连续角运动。
40.返回参考图2a和图2b，凸轮23也机械地连接到手柄30，这也在图3a、图3b、图3c和图3d中示出。通过这种机械连接，手柄30手动地可旋转以控制凸轮23的旋转，从而控制柱塞中的张力和测试头20的旋转。因此，如图3b至图3d所示，通过将手柄30旋转至各种角度，凸轮23也相对于柱塞旋转，使得在不同的旋转角度下，凸轮23的不同部分接触柱塞，从而导致柱塞24、25的不同纵向运动。当柱塞24、25与测试头20接触时，该纵向运动传递到测试头20从而引起测试头20的角运动。在图3a至图3d所示的具体实施中，手柄30在臂14a的外部。
41.图5a示出了凸轮组件的示例性构造。图5b和图5c分别示出了连接到手柄30的处于组装位置和分解位置的凸轮23。如图所示，凸轮23包括具有半径31的角结构28和具有半径32的角结构29，其中半径31沿着角结构28的一部分变化以达到最大半径31'，半径32沿着角结构29的一部分变化以达到最大半径32'。如图5a至图5c所示，半径31在角方向33上增加，而半径32在角方向34上增加。在该实施例中，角方向33与角方向34相反。因此，凸轮23的横截面具有沿着每个横截面的一部分连续变化的半径。
42.角结构28包括将最大半径31'连接到最小半径31的直边间断38。角结构28的直边间断38位于最大半径31'处。类似地，角结构29包括将最大半径32'连接到最小半径32'的直边间断39。角结构29的直边间断39位于最大半径32'处。角结构28和角结构29可围绕同一轴线36旋转。在一些具体实施中，角结构28和角结构29可各自在0
°
与360
°
之间旋转。在一些具体实施中，角结构28和角结构29各自被约束为在0
°
与145
°
之间旋转。在一些具体实施中，旋转被约束以便不移动经过每个直边间断；即，使得相应的柱塞不会从间断处掉落。
43.凸轮23通过杆35和板40连接到手柄30。杆35包括柱状体结构37，其具有连接到其端部42的环43。环43在端部42处固定地附接到杆35。在一些具体实施中，环43被配置为在圆筒37的外表面上沿轴线36移动。杆35穿过中心管状孔41通过凸轮23，使得杆35的端部44穿过中心管状孔41、板40的孔46，并且进入手柄30的通孔45中。凸轮23的中心管状孔41沿着纵向轴线36并且可以从角结构28延伸穿过角结构29。在该实施例中，板40位于凸轮23和手柄30之间，以将凸轮23和手柄30连接到操纵器的臂，诸如臂14a。板40包括孔48以使用销钉53将手柄30附接到臂14a。如上所述，为了将手柄30固定到臂以及凸轮23，杆35穿过凸轮23的通孔41、板40的孔46并进入手柄30的通孔45中。销钉49穿过手柄30的孔50以及杆35的孔51以将杆35固定到手柄30。
44.图6a至图6c示出了柱塞24、25的示例实施方式。每个柱塞24、25可以具有相同的结构和功能。因此，本文仅描述一个柱塞24。柱塞24包括壳体70以容纳关于图4所描述的球组件。还参照图1，球组件的球71被配置为以多个自由度旋转，包括但不限于箭头17和19的方向。柱塞24包括轴72。轴72包括顶端77和底端78。顶端77包括通过杆79连接到壳体70的肩部76。杆79具有顶端81和底端82。顶端81包括台阶83，台阶83包括孔85。当组装柱塞24时，台阶83定位在壳体70内。o形环80和销钉84穿过壳体70的孔90和孔85以将壳体70固定到杆79和柱塞24。壳体70'通过结构86连接到轴72的底端78。结构86包括固定地附接到该结构的杆和
环87。该杆包括顶部部分88和底部部分89。顶部部分88具有大于底部部分89的半径。环87位于杆的顶部，并位于顶部部分88和底部部分89之间。底部部分89可通过o形环80'和插入通孔85'和90'中的销钉84'固定到壳体70'。当组装柱塞24时，环87位于轴72的靠近凸轮23的端部78处，并且顶部部分88沿着弹簧74的纵向方向位于弹簧74内。
45.如图6a至图6c所示，轴72容纳多个弹簧74
‑‑
在该实施例中为两个弹簧。弹簧74至少部分可压缩以改变柱塞24的纵向尺寸。弹簧74沿着轴72的纵向轴线放置。板75位于两个弹簧74之间。在图6a至图6c的实施例中，两个弹簧74在结构和长度上是相同的。在一些具体实施中，弹簧74不相同。在一些具体实施中，柱塞24包括仅一个弹簧74或多于两个弹簧。
46.如上所述，手柄30上的张力传递到凸轮23。凸轮23通过其辊26将由凸轮23的旋转产生的位移传递到柱塞24。当柱塞24通过球71与测试头20接触时，柱塞24通过弹簧74传递的位移可移动测试头。球71和测试头之间的浮动连接使得测试头能够旋转以抵消前述的不受控制的/不期望的旋转。
47.图7a是包括类似于图2a的部件的测试头操纵器臂的前视图。图7b示出了图7a的示例臂的侧视图，示出了分别在凸轮部件23a和23b的各种旋转角度下、在施加到手柄的不同水平的扭矩下柱塞24和25的不同线性位置。如上所述，手柄30上的张力/力使凸轮23旋转。如图7b所示，柱塞24和25上的负载在凸轮23的不同旋转角度下变化。因此，当凸轮23已经旋转到特定角度时，柱塞24上的负载不同于柱塞25上的负载。
48.虽然本说明书描述了与“测试”和“测试系统”相关的示例性实施方式，但本文所述的装置可用在任何适当的系统中，并且不限于测试系统，或不限于本文所述的示例性测试系统。
49.可使用硬件或硬件与软件的组合来实现和/或控制如本文所述执行的测试，包括对测试头操纵器的至少一些控制。例如，类似本文所述测试系统的测试系统可包括位于各种点处的各种控制器和/或处理装置。中央计算机可协调在各种控制器或处理设备中的操作。中央计算机、控制器和处理装置可执行各种软件例程来实现对测试和校准的控制和协调。
50.测试，包括对操纵器的控制，可至少部分地通过使用一种或多种计算机程序产品来控制，所述计算机程序产品例如为一种或多种信息载体(如一种或多种非暂态机器可读介质)中有形地体现的一种或多种计算机程序，以由一种或多种数据处理装置执行或控制一种或多种数据处理设备的运行，所述数据处理设备例如可编程处理器、计算机、多台计算机和/或可编程逻辑部件。
51.本文所述的不同具体实施的元件可组合在一起以形成未在上面具体阐明的其他实施方案。多个元件可被排除在本文所述的结构之外而不对其操作产生不利影响。此外，各单独元件可组合为一个或多个单个元件来进行本文所述的功能。

技术特征：
1.一种测试头操纵器，所述测试头操纵器包括：塔部，所述塔部具有基部和轨道，所述轨道相对于所述基部垂直；和臂，所述臂能够支撑测试头，所述臂被连接到所述轨道以相对于所述塔部垂直地移动所述测试头，所述臂被配置为控制所述测试头的旋转，所述臂中的每个包括可旋转的凸轮和与所述凸轮接触并且被配置为接触所述测试头的至少一个柱塞，其中所述凸轮的旋转是可控制的，以移动所述至少一个柱塞以抵消所述测试头的不受控制的旋转。2.根据权利要求1所述的测试头操纵器，其中所述至少一个柱塞包括两个柱塞；其中所述两个柱塞相对于所述测试头沿相反方向取向，使得所述两个柱塞中的每个均被配置为接触所述测试头的不同部分；并且其中所述凸轮的旋转引起所述两个柱塞的纵向运动，所述纵向运动被传递到所述测试头以抵消所述不受控制的旋转。3.根据权利要求2所述的测试头操纵器，其中所述凸轮的横截面具有沿着每个横截面的至少一部分连续变化的半径。4.根据权利要求2所述的测试头操纵器，其中所述两个柱塞包括：位于所述凸轮的第一侧上的第一柱塞，所述第一柱塞包括接触所述凸轮的第一辊；和位于所述凸轮的第二侧上的第二柱塞，所述第二柱塞包括接触所述凸轮的第二辊；其中所述凸轮在所述第一柱塞和所述第二柱塞之间，并且其中所述凸轮是可控制的，以相对于所述第一柱塞和所述第二柱塞旋转，使得在不同的旋转角度下，所述凸轮的不同部分接触所述第一柱塞和所述第二柱塞。5.根据权利要求4所述的测试头操纵器，其中所述凸轮包括可围绕同一轴线旋转的第一角结构和第二角结构，所述第一角结构具有沿着所述第一角结构的一部分变化的第一半径，并且所述第二角结构具有沿着所述第二角结构的至少一部分变化的第二半径。6.根据权利要求5所述的测试头操纵器，其中所述第一半径在第一角方向上增加，并且所述第二半径在第二角方向上增加，所述第一角方向与所述第二角方向相反。7.根据权利要求6所述的测试头操纵器，其中在所述第一角结构的最大半径处，所述第一角结构包括将所述第一角结构的所述最大半径连接到最小半径的直边间断；并且其中在所述第二角结构的最大半径处，所述第二角结构包括将所述第二角结构的所述最大半径连接到最小半径的直边间断。8.根据权利要求7所述的测试头操纵器，其中所述第一角结构和所述第二角结构各自被约束为小于360
°
的旋转。9.根据权利要求7所述的测试头操纵器，其中所述第一角结构和所述第二角结构各自被约束为在0
°
与145
°
之间的旋转。10.根据权利要求4所述的测试头操纵器，其中所述第一柱塞和所述第二柱塞分开约180
°
，使得所述第一柱塞朝向所述测试头操纵器的臂的顶部取向，并且所述第二柱塞朝向所述臂的底部取向。11.根据权利要求1所述的测试头操纵器，其中所述至少一个柱塞包括：球，所述球被配置为接触所述测试头的一部分，所述球可至少在相对于所述测试头操纵器的臂的翻滚和θ方向上旋转。12.根据权利要求11所述的测试头操纵器，其中所述球由多个球支撑，其中所述多个球
中的每个可相对于所述球旋转，并且其中所述球可相对于所述多个球中的每个旋转。13.根据权利要求11所述的测试头操纵器，其中所述至少一个柱塞包括：壳体，所述壳体容纳所述球；轴，所述壳体连接到所述轴；和至少一个弹簧，所述至少一个弹簧至少部分可压缩以改变所述至少一个柱塞的纵向尺寸。14.根据权利要求13所述的测试头操纵器，其中所述至少一个柱塞包括：接触所述凸轮的辊，所述辊被配置为将由所述凸轮的旋转产生的位移传递至所述柱塞。15.根据权利要求1所述的测试头操纵器，所述测试头操纵器还包括：手柄，所述手柄的至少一部分在所述测试头操纵器的臂的外部，所述手柄机械地连接到所述凸轮，所述手柄可被控制，以手动地旋转所述凸轮。16.根据权利要求1所述的测试头操纵器，其中所述凸轮是可控制的，以移动所述至少一个柱塞以抵消所述测试头的
±
1.5
°
旋转或更少。17.根据权利要求1所述的测试头操纵器，其中有两个臂和两个柱塞，所述臂中的每个有一个柱塞。18.根据权利要求1所述的测试头操纵器，所述测试头操纵器还包括：一个或多个电机，所述一个或多个电机用于驱动所述臂沿着所述轨道运动。19.一种用于传送测试头的测试头操纵器，所述测试头操纵器包括：塔部，所述塔部具有基部和轨道，所述轨道相对于所述基部垂直；和臂，所述臂能够支撑测试头，所述臂被连接到所述轨道以相对于所述塔部垂直地移动所述测试头，所述臂被配置为控制所述测试头的旋转，所述臂中的每个包括用于抵消所述测试头的不受控制的旋转的装置。20.根据权利要求19所述的测试头操纵器，其中用于抵消所述不受控制的旋转的所述装置包括：沿相反方向取向的两个柱塞，所述柱塞中的每个被配置为接触所述测试头的不同部分；和凸轮，所述凸轮可旋转，所述柱塞中的每个被配置为接触所述凸轮；其中所述凸轮的旋转引起所述柱塞的纵向运动，所述纵向运动被传递到所述测试头以抵消所述不受控制的旋转。21.根据权利要求19所述的测试头操纵器，所述测试头操纵器还包括：手柄，所述手柄的至少一部分在所述测试头操纵器的臂的外部，所述手柄机械地连接到所述凸轮，所述手柄可被控制，以手动地旋转所述凸轮。

技术总结
示例测试头操纵器，该示例测试头操纵器包括具有基部和轨道的塔部以及能够支撑测试头的臂，其中轨道相对于基部是垂直的。臂被连接到轨道以相对于塔部垂直地移动测试头，并且臂被配置为控制测试头的旋转。臂中的每个包括可旋转的凸轮和至少一个柱塞，该至少一个柱塞与凸轮接触并被配置为接触测试头。凸轮的旋转是可控制的，以移动至少一个柱塞以抵消测试头的不受控制的旋转。不受控制的旋转。不受控制的旋转。


技术研发人员：伊萨克
受保护的技术使用者：泰瑞达公司
技术研发日：2022.01.04
技术公布日：2023/9/23