显示面板、显示装置及母板的制作方法

1.本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示装置及母板。


背景技术：

2.液晶显示(liquid crystal display，简称lcd)面板因其寿命长、成本低、色彩鲜艳等优点得到了广泛的应用。在制备液晶显示面板过程中，通常在液晶显示面板的外围设置teg，teg与液晶显示面板内部的晶体管结构类似，从而可以通过teg的特性推断出液晶显示面板内晶体管的特性。
3.然而，通过teg推断也液晶显示面板内晶体管的特性并不准确。


技术实现要素：

4.本公开的实施例提供一种显示面板、显示装置及母板，可以更准确地推断液晶显示面板内晶体管的特性。
5.为达到上述目的，本公开的实施例采用如下技术方案：
6.一方面，提供了一种显示面板，包括衬底以及设置在所述衬底上的冗余像素和子像素，所述冗余像素包括测试晶体管和电容，所述测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极，所述电容包括第一极板和第二极板，所述测试晶体管的第二极与所述第一极板电连接；所述显示面板还包括第一触点和第二触点，所述第一触点与所述测试晶体管的第一极电连接，所述第二触点与所述测试晶体管的控制极电连接，所述第一触点、所述第二触点以及所述第二极板用于与测试设备电连接，以测试所述测试晶体管的特性。
7.在一些实施方式中，所述衬底包括显示区和非显示区，所述子像素和所述冗余像素均位于所述显示区。
8.在一些实施方式中，所述显示区包括多个子像素区，多个所述子像素区呈阵列排布，一个所述子像素区内设有一个所述子像素或一个所述冗余像素。
9.在一些实施方式中，所述冗余像素设置在所述显示区边缘。
10.在一些实施方式中，所述子像素包括像素电极和公共电极，所述公共电极和所述像素电极用于形成驱动液晶分子偏转的电场；多个所述子像素的公共电极电连接，所述第二极板与所述公共电极同层设置且电连接，所述公共电极用于与所述测试设备电连接。
11.在一些实施方式中，所述显示面板还包括数据线、栅极线、第一测试线以及第二测试线，所述第一测试线沿所述数据线的方向延伸，所述第二测试线沿所述栅极线的方向延伸，所述第一测试线电连接所述第一触点和所述测试晶体管的第一极，所述第二测试线电连接所述第二触点和所述测试晶体管的控制极。
12.在一些实施方式中，所述第一触点和所述第二触点位于所述非显示区。
13.在一些实施方式中，所述显示面板还包括第一导电环，所述第一导电环部分环绕所述第一触点且与所述第一触点间隔设置；和/或，所述显示面板还包括第二导电环，所述第二导电环部分环绕所述第二触点且与所述第二触点间隔设置。
14.另一方面，提供了一种母板，包括多个面板区以及位于相邻两个所述面板区之间的外围区，所述面板区被配置为与所述外围区切割分离后形成阵列基板，所述外围区包括衬底以及设置在所述衬底上的冗余像素，所述冗余像素包括测试晶体管和电容，所述测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极，所述电容包括第一极板和第二极板，所述测试晶体管的第二极与所述第一极板电连接；所述显示面板还包括第一触点和第二触点，所述第一触点与所述测试晶体管的第一极电连接，所述第二触点与所述测试晶体管的控制极电连接，所述第一触点、所述第二触点以及所述第二极板用于与测试设备电连接，以测试所述测试晶体管的特性。
15.又一方面，提供了一种显示装置，包括所述的显示面板。
16.本公开实施例提供的显示面板、显示装置及母板，由于冗余像素设置在显示面板内，使得测试晶体管与驱动晶体管的距离更近，测试晶体管的有源层厚度与驱动晶体管的有源层的厚度更一致，即测试晶体管的特性与驱动晶体管的特性更加接近，通过测试晶体管的特性判断驱动晶体管的特性更准确。
附图说明
17.为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1示意性地示出了一种显示装置的正视结构；
19.图2示意性地示出了一种显示面板的简图；
20.图3示出了相关技术中一种母板的简图；
21.图4示出了一种teg的简图；
22.图5和图6为相关技术中对显示面板进行特性测试时的结构；
23.图7示意性地示出了另一种显示面板的简图；
24.图8示意性地示出了另一种显示面板的简图；
25.图9示意性地示出了另一种显示面板的简图；
26.图10示意性地示出了一种母板的简图。
具体实施方式
27.下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
28.在本公开的实施例中，采用“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分，仅为了清楚描述本公开实施例的技术方案，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。
29.在本公开的实施例中，“多个”的含义是两个或两个以上，“至少一个”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。
30.在本公开的实施例中，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。
31.图1示意性地示出了一种显示装置的正视结构。如图1所示，本公开的一些实施例提供一种显示装置100，该显示装置100可以是显示不论运动(例如，视频)还是固定(例如，静止图像)的且不论文字还是图像的任何装置。更明确地说，预期所述实施例可实施在多种电子装置中或与多种电子装置关联，所述多种电子装置例如(但不限于)移动电话、无线装置、个人数据助理(pda)、手持式或便携式计算机、gps接收器/导航器、相机、mp4视频播放器、摄像机、游戏控制台、手表、时钟、计算器、电视监视器、平板显示器、计算机监视器、汽车显示器(例如，里程表显示器等)、导航仪、座舱控制器和/或显示器、相机视图的显示器(例如，车辆中后视相机的显示器)、电子相片、电子广告牌或指示牌、投影仪、建筑结构、包装和美学结构(例如，对于一件珠宝的图像的显示器)等。图1中以该显示装置100是手机为例进行示意。
32.显示装置100包括显示面板110，显示面板110可以为液晶显示面板(liquid crystal display，简称lcd)。示例性地，显示装置100还包括控制板和柔性电路板，柔性电路板电连接控制板和显示面板110，以使控制板通过柔性电路板向显示面板110提供驱动信号。实际应用过程中，显示装置100还可以包括壳体，显示面板110、柔性电路板以及控制板可以设置在壳体内。
33.图2示意性地示出了一种显示面板的简图。如图2所示，显示面板110包括衬底101，衬底101可以具有显示区aa以及与显示区aa电连接的非显示区na。其中，非显示区na可以位于显示区aa的一侧、两侧或三侧，或者非显示区na可以围绕显示区aa设置。图2中示出了非显示区aa围绕显示区aa设置的情况。
34.显示区aa内设有多个子像素p1。示例性地，多个子像素p1可以呈阵列排布。例如，多个子像素p1阵列排布后形成多个子像素p1行和多个子像素p1列，一个子像素行内的多个子像素p1沿第一方向x排布，一个子像素列中的多个子像素p1沿第二方向y排布。其中，第一方向x和第二方向y相互交叉。第一方向x和第二方向y之间的夹角可以根据实际需要选择设置。示例性的，第一方向x和第二方向y之间的夹角可以为85
°
、88
°
、90
°
、92
°
或95
°
等。
35.子像素p1包括像素电极和公共电极，像素电极和公共电极之间可以形成驱动液晶分子偏转的电场。示例性地，像素电极和公共电极相对且间隔设置，像素电极和公共电极之间设有液晶分子，当像素电极和公共电极接入驱动电压时，像素电极和公共电极之间形成垂直于出光面的电场。示例性地，像素电极和公共电极朝向出光面的一侧设有液晶分子，当像素电极和公共电极接入驱动电压时，像素电极和公共电极之间形成平行于出光面的电场。
36.多个子像素p1中的公共电极可以电连接，以形成一个整体。
37.子像素p1还包括驱动晶体管，驱动晶体管包括第一极、第二极以及控制极，驱动晶体管的第一极与数据信号线电连接，驱动晶体管的第二极与像素电极电连接，驱动晶体管的控制极与扫描信号线电连接。工作时，驱动晶体管的控制极接收来自扫描信号线的扫描信号使驱动晶体管导通，从而使数据信号线内的数据信号经过驱动晶体管写入像素电极，公共电极保持恒定的电位，从而使像素电极和公共电极之间形成与数据信号对应的电场。
38.本公开的实施例中所采用的晶体管可以为薄膜晶体管、场效应晶体管(例如氧化物薄膜晶体管)或其他特性相同的开关器件，本公开的实施例中均以薄膜晶体管为例进行说明。所采用的各晶体管的控制极为晶体管的栅极，第一极为晶体管的源极和漏极中一者，第二极为晶体管的源极和漏极中另一者。由于晶体管的源极、漏极在结构上可以是对称的，所以其源极、漏极在结构上可以是没有区别的，也就是说，本公开的实施例中的晶体管的第一极和第二极在结构上可以是没有区别的。
39.由于数据信号经过驱动晶体管写入像素电极，驱动晶体管的特性(例如驱动晶体管的阈值电压等)直接影响显示面板110的显示效果，因此在制备显示面板110时需要监控驱动晶体管的特性，当驱动晶体管的特性异常时，需要调整工艺参数，以使驱动晶体管的特性在合格范围内。
40.图3示出了相关技术中一种母板的简图。如图3所示，相关技术中通常在显示面板panel外设置多个teg，通过测试teg的特性判断显示面板panel内晶体管的特性。teg包括半导体沟道，且此半导体沟道与显示面板panel内晶体管的有源层在同一个图形化工艺中形成，因此认为teg中半导体沟道的膜层厚度与显示面板panel内有源层的厚度相同，进而推定teg的特性与显示面板panel内晶体管的特性大致相同。
41.图4示出了一种teg的简图。如图4所示，teg还包括三个连接点，其中包括作为teg栅极的第一连接点g，作为teg源极的第二连接点s，以及作为teg漏极的第三连接点d。测试设备epm包括三个探针，测试时三个探针分别与三个连接点接触实现电连接，从而测试得到teg的特性。
42.然而，由于teg设置在显示面板panel外，teg与显示面板panel内晶体管的距离较远，teg中半导体沟道的膜层厚度与显示面板panel内晶体管的有源层厚度相差较大，使得teg的特性与显示面板panel内晶体管的特性有较大差距，使得通过teg的特性判断显示面板panel内晶体管的特性并不准确。
43.另外，当teg的测试特性不在合格范围内时，需要破坏一个显示面板panel，从而对显示面板panel内的晶体管进行特性测试。图5和图6为相关技术中对显示面板进行特性测试时的结构。具体地，图5和图6中白色圆圈内的走线需要断开以完成特性测试，断开后显示面板panel无法正常使用，造成显示面板panel的浪费。
44.鉴于此，继续参考图2，本公开实施例的显示面板110包括设置在衬底101的冗余像素p2，冗余像素p2包括测试晶体管和电容，测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极，电容包括第一极板和第二极板，测试晶体管的第二极与第一极板电连接。显示面板110还包括第一触点t1和第二触点t2，第一触点t1与测试晶体管的第一极电连接，第二触点t2与测试晶体管的控制极电连接。测试时，可以使测试设备与第一触点t1、第二触点t2以及电容的第二极板电连接，从而得到测试晶体管的特性。
45.冗余像素p2的结构可以与显示面板110内子像素p1的结构相同或相似。
46.示例性地，测试晶体管的有源层与驱动晶体管的有源层在同一图形化工艺中制成；测试晶体管的控制极与驱动晶体管的控制极在同一图形化工艺中制成；测试晶体管的第一极、第二极与驱动晶体管的第一极、第二极在同一图形化工艺中制成。这样使得测试晶体管的结构与驱动晶体管的结构一致性更高，测试晶体管的特性与驱动晶体管的特性更接近。
47.示例性地，电容的第一极板与像素电极在同一图形化工艺中制成，且第一极板和像素电极的结构相同；电容的第二极板与公共电极在同一图形化工艺中制成。这样使得冗余像素p2的结构与子像素p1的结构一致性更高，通过测设冗余像素p2判断驱动晶体管的特性更准确。
48.其中，冗余像素p2的尺寸可以与子像素p1的尺寸相同，冗余像素p2的尺寸也可以与子像素p1的尺寸不同。例如，冗余像素p2的尺寸小于子像素p1的尺寸，从而可以降低冗余像素p2的空间占用。
49.第一触点t1和第二触点t2可以是由导电材料制成的搭接盘。本公开实施例对第一触点t1和第二触点t2的形状、尺寸不作限定，只要能实现测试晶体管与测试设备的电连接即可。示例性地，测试过程中，第一触点t1和第二触点t2裸露，从而方便第一触点t1、第二触点t2与测试设备的电连接。
50.由于冗余像素p2设置在显示面板110内，使得测试晶体管与驱动晶体管的距离更近，测试晶体管的有源层厚度与驱动晶体管的有源层的厚度更一致，即测试晶体管的特性与驱动晶体管的特性更加接近，通过测试晶体管的特性判断驱动晶体管的特性更准确。
51.第二极板可以与公共电极同层设置且电连接，这样测试设备可以通过与公共电极电连接实现与第二极板的电连接。由于公共电极的面积较大，当测试设备与公共电极电连接时，可选择的连接区域更多，更加方便测试设备与第二极板的电连接，测试设备容易实现测试过程的自动化。
52.子像素p1和冗余像素p2可以均位于显示区aa，使得测试晶体管与驱动晶体管的距离更近，测试晶体管的有源层厚度与驱动晶体管的有源层的厚度更一致，即测试晶体管的特性与驱动晶体管的特性更加接近，通过测试晶体管的特性判断驱动晶体管的特性更准确。
53.由于子像素p1和冗余像素p2均位于显示区aa，测试晶体管的特性与驱动晶体管的特性更加接近，测试过程中不再需要破坏显示面板110对驱动晶体管的特性进行直接测试，减少了制备过程中显示面板110的浪费。
54.另外，在衬底101上积淀有源层时存在成膜保证区，成膜保证区内的有源层厚度均匀。在制备显示面板110过程中，通常显示区aa位于成膜保证区，因此将冗余像素p2和子像素p1均设置在显示区aa，使得同时位于成膜保证区的测试晶体管和驱动晶体管中有源层的厚度更接近，即测试晶体管的特性与驱动晶体管的特性更接近，通过测试晶体管的特性判断驱动晶体管的特性更准确。
55.当冗余像素p2设置在显示区aa时，冗余像素p2可以设置在原本需要设置子像素p1的位置以替换子像素p1。例如，显示区aa可以包括多个子像素区，多个子像素区呈阵列排布，一个子像素区内设有一个子像素p1或一个冗余像素p2。
56.示例性地，多个子像素区呈阵列排布形成多个子像素区行和多个子像素区列，子像素区行内的多个子像素区沿第一方向x排布，子像素区列内的多个子像素区沿第二方向y排布。冗余像素p2设置在其中任意一个子像素区内。
57.显示区aa内不设有冗余像素p2时，各个子像素区内均设有一个子像素p1；当显示区aa内设有冗余像素p2时，冗余像素p2设置在子像素区。即，用冗余像素p2取代子像素p1设置在子像素区。这样可以尽可能降低对制备显示面板110所需mask的改动。
58.冗余像素p2用于测试测试晶体管的特性，在显示面板110工作时不发光。为了降低冗余像素p2对显示面板110显示的影响，冗余像素p2可以设置在显示区aa边缘。显示区aa的边缘连接有不发光的非显示区na，将冗余像素p2设置在显示区aa的边缘，使得不发光的非显示区aa和冗余像素p2在视觉上连在一起，用户在观看显示面板110时不容易察觉到冗余像素p2。
59.其中，冗余像素p2设置在显示区aa的边缘是指冗余像素p2靠近显示区aa的边缘设置。当然，冗余像素p2与显示区aa的边缘之间也可以设有子像素p1，本公开实施例对此不作限定。
60.当显示面板110设有多个冗余像素p2时，多个冗余像素p2中的部分可以设置在显示区aa的边缘，多个冗余像素p2中的另一部分可以设置在显示区aa的中间区域。当然，也可以是多个冗余像素p2均设置在显示区aa的边缘。
61.示例性地，显示区aa呈四边形，冗余像素p2设置在四边形的角部区域。
62.图7示意性地示出了另一种显示面板的简图。示例性地，如图7所示，显示区aa呈四边形，部分冗余像素p2设置在四边形其中一条边的中间区域，部分冗余像素p2设置在四边形的角部区域。
63.另外，在显示区aa的边缘通常会设置dummy像素，dummy像素与扫描驱动电路电连接，显示面板110工作时dummy像素不发光。本公开实施例中的冗余像素p2可以是对dummy像素进行设计变更得到的。例如，将原本用作dummy像素的结构与扫描驱动电路、数据驱动芯片等外部电路断开，并设置与dummy像素结构电连接的第一触点t1和第二触点t2。
64.显示面板110还包括数据线和栅极线，数据线与驱动晶体管的第一极电连接，栅极线与驱动晶体管的控制极电连接。示例性地，数据线沿第二方向y延伸，数据线同时与一个子像素列中驱动晶体管的第一极电连接，栅极线沿第一方向x延伸，栅极线同时与一个子像素行中驱动晶体管的控制极电连接。
65.继续参考图2，显示面板110还包括第一测试线l1和第二测试线l2，第一测试线l1沿数据线的方向延伸，第二测试线l2沿栅极线的方向延伸，第一测试线l1电连接第一触点t1和测试晶体管的第一极，第二测试线l2电连接第二触点t2和测试晶体管的控制极。
66.本公开实施例对第一测试线l1、第二测试线l2的长度不作限定，第一测试线l1、第二测试线l2的长度越短，电阻越小、测试过程中的干扰信号越弱。
67.图8示意性地示出了另一种显示面板的简图。如图8所示，第一测试线l1和第二测试线l2可以位于显示区aa。继续参考图2，第一测试线l1和第二测试线l2也可以延伸至非显示区na。第一测试线l1和第二测试线l2的位置可以根据第一触点t1、第二触点t2与冗余像素p2的位置确定。
68.示例性地，第一测试线l1和第二测试线l2均位于显示区aa，冗余像素p2设置在显示区aa的角部区域，第一测试线l1和第二测试线l2的一端延伸至角部区域与冗余像素p2电连接，第一测试线l1和第二测试线l2的另一端与第一触点t1或第二触点t2电连接。
69.示例性地，第一触点t1和第二触点t2位于显示面板110外侧，第一测试线l1和第二测试线l2的部分区域位于显示面板110外。
70.为方便第一触点t1和第二触点t2与测试设备的电连接，第一触点t1和第二触点t2通常设置的较大。此时，第一触点t1和第二触点t2可以位于非显示区na，从而降低第一触点
t1和第二触点t2对显示效果的影响。
71.图9示意性地示出了另一种显示面板的简图。如图9所示，显示面板110可以设有两条第一测试线l1和两条第二测试线l2。示例性地，两条第一测试线l1分别设置在显示区aa两个相对的边缘，两条第二测试线l2分别设置在显示区aa另外两个相对的边缘。第一测试线l1和第二测试线l2的交汇处设置冗余像素p2，这样可以增加冗余像素p2的数量，从而从多个位置测试测试晶体管的特性。
72.在制备显示面板110过程中，由于第一触点t1和第二触点t2处于悬空状态(floating)，无法释放电荷，在进行干法刻蚀的过程中容易出现第一触点t1和/或第二触点t2与周围的导电结构发生静电发电，造成第一触点t1和第二触点t2结构破坏。为防止第一触点t1和第二触点t2与周围导电结构发生静电放大，显示面板110还可以包括第一导电环，第一导电环部分环绕第一触点t1且与第一触点t1间隔设置。同理，显示面板110还可以包括第二导电环，第二导电环部分环绕第二触点t2且与第二触点t2间隔设置。
73.示例性地，第一导电环和/或第二导电环为圆环状，且圆环设有开口以使第一测试线l1从第一导电环伸出，或者使第二测试线l2从第二导电环伸出。
74.图10示意性地示出了一种母板的简图。如图10所示，本公开实施例还提供了一种母板，母板包括多个面板区a以及位于相邻两个面板区a之间的外围区b。面板区a被配置为与外围区b切割分离后形成阵列基板，阵列基板与彩膜基板对盒设置后形成液晶显示面板110。外围区b包括衬底101以及设置在衬底101上的冗余像素p2，冗余像素p2包括测试晶体管和电容，测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极，电容包括第一极板和第二极板，测试晶体管的第二极与第一极板电连接。显示面板110还包括第一触点t1和第二触点t2，第一触点t1与测试晶体管的第一极电连接，第二触点t2与测试晶体管的控制极电连接，第一触点t1、第二触点t2以及第二极板用于与测试设备电连接，以测试测试晶体管的特性。
75.本公开实施例提供的母板，在外围区b设有冗余像素p2，通过测试冗余像素p2可以获知测试晶体管的特性，从而推断驱动晶体管的特性。由于冗余像素p2包括测试晶体管和电容，子像素p1中包括驱动晶体管、像素电极以及公共电极，使得冗余像素p2的结构与子像素p1的结构相似，通过测试晶体管的特性判断驱动晶体管的特性更准确。
76.并且，将冗余像素p2设置在外围区b，不需要改变显示面板110内部的结构，也不需要占用显示面板110内部的空间，在切割母板时可以将冗余像素p2切除。
77.以上所述，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

技术特征：
1.一种显示面板，其特征在于，包括衬底以及设置在所述衬底上的冗余像素和子像素，所述冗余像素包括测试晶体管和电容，所述测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极，所述电容包括第一极板和第二极板，所述测试晶体管的第二极与所述第一极板电连接；所述显示面板还包括第一触点和第二触点，所述第一触点与所述测试晶体管的第一极电连接，所述第二触点与所述控制极电连接，所述第一触点、所述第二触点以及所述第二极板用于与测试设备电连接，以测试所述测试晶体管的特性。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述衬底包括显示区和非显示区，所述子像素和所述冗余像素均位于所述显示区。3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示区包括多个子像素区，多个所述子像素区呈阵列排布，一个所述子像素区内设有一个所述子像素或一个所述冗余像素。4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述冗余像素设置在所述显示区边缘。5.根据权利要求1至4中任一项所述的显示面板，其特征在于，所述子像素包括像素电极和公共电极，所述公共电极和所述像素电极用于形成驱动液晶分子偏转的电场；多个所述子像素的公共电极电连接，所述第二极板与所述公共电极同层设置且电连接，所述公共电极用于与所述测试设备电连接。6.根据权利要求1至4中任一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括数据线、栅极线、第一测试线以及第二测试线，所述第一测试线沿所述数据线的方向延伸，所述第二测试线沿所述栅极线的方向延伸，所述第一测试线电连接所述第一触点和所述测试晶体管的第一极，所述第二测试线电连接所述第二触点和所述测试晶体管的控制极。7.根据权利要求1至4中任一项所述的显示面板，其特征在于，所述第一触点和所述第二触点位于所述非显示区。8.根据权利要求2至4中任一项所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第一导电环，所述第一导电环部分环绕所述第一触点且与所述第一触点间隔设置；和/或，所述显示面板还包括第二导电环，所述第二导电环部分环绕所述第二触点且与所述第二触点间隔设置。9.一种母板，其特征在于，包括多个面板区以及位于相邻两个所述面板区之间的外围区，所述面板区被配置为与所述外围区切割分离后形成阵列基板，所述外围区包括衬底以及设置在所述衬底上的冗余像素，所述冗余像素包括测试晶体管和电容，所述测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极，所述电容包括第一极板和第二极板，所述测试晶体管的第二极与所述第一极板电连接；所述显示面板还包括第一触点和第二触点，所述第一触点与所述测试晶体管的第一极电连接，所述第二触点与所述控制极电连接，所述第一触点、所述第二触点以及所述第二极板用于与测试设备电连接，以测试所述测试晶体管的特性。10.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求1至9中任一项所述的显示面板。

技术总结
本公开提供了一种显示面板、显示装置及母板，涉及显示技术领域。显示面板，包括衬底以及设置在所述衬底上的冗余像素和子像素，所述冗余像素包括测试晶体管和电容，所述测试晶体管包括第一极、第二极以及控制极，所述电容包括第一极板和第二极板，所述测试晶体管的第二极与所述第一极板电连接；所述显示面板还包括第一触点和第二触点，所述第一触点与所述测试晶体管的第一极电连接，所述第二触点与测试晶体管的所述控制极电连接，所述第一触点、所述第二触点以及所述第二极板用于与测试设备电连接，以测试所述测试晶体管的特性。可以更准确地推断液晶显示面板内晶体管的特性。地推断液晶显示面板内晶体管的特性。地推断液晶显示面板内晶体管的特性。


技术研发人员：陆立勋 黄瑞文 吴成业 周拔夫 马文浩 梅啸晗 姚林杉 刘志恒 肖强 段嘉豪 刘佳豪 黄美玉
受保护的技术使用者：武汉京东方光电科技有限公司
技术研发日：2023.06.29
技术公布日：2023/9/22