一种晶体管的研发检测装置的制作方法

1.本发明涉及晶体管研发技术领域，特别是涉及一种晶体管的研发检测装置。


背景技术：

2.晶体管是一种固体半导体器件(包括二极管、三极管、场效应管、晶闸管等，有时特指双极型器件)，具有检波、整流、放大、开关、稳压、信号调制等多种功能，晶体管作为一种可变电流开关，能够基于输入电压控制输出电流，而晶体管在生产研发过程中需要通过检测装置对其进行耐高温检测；
3.但是目前晶体管的研发检测装置，通常是将晶体管夹紧在检测箱内，再通过加热器对晶体管进行加热，以此来检测出晶体管的耐高温性能，由于晶体管较脆弱，晶体管在夹紧过程中易被夹坏，从而带来损失，通常晶体管检测数量较多，若一一将晶体管夹紧再进行温度检测，导致操作不够方便，并且加热器难以对晶体管进行移动加热，导致对晶体管的加热不够均匀，从而影响晶体管的检测效果。


技术实现要素：

4.本发明提供了一种晶体管的研发检测装置，以解决上述背景技术提出的晶体管在夹紧过程中易被夹坏，从而带来损失，且晶体管的检测操作不够方便，并且晶体管的加热不够均匀，从而影响晶体管的检测效果的问题。
5.为了解决现有技术问题，本发明公开了一种晶体管的研发检测装置，包括检测箱和支撑板，所述支撑板设于所述检测箱内下端：
6.所述支撑板下端四角均焊接有支脚，所述支脚下端均转动连接有滚轮，所述检测箱内壁左右端的下部均焊接有凹轨，所述支撑板滑动连接于两条所述凹轨内侧之间，所述支撑板上端设有放料组件；
7.所述检测箱右上端通过螺栓固定有正反电机，所述检测箱内上端设有加热组件。
8.进一步地，所述放料组件包括支架和放料板，所述支架焊接于所述支撑板上端，所述放料板共设有若干块并均固定于所述支架上端，所述放料板上端均开有若干个前后均匀排布的凹槽。
9.进一步地，所述放料组件还包括顶板、顶杆、推板及螺纹推杆，所述顶板共设有若干块并一一设于若干个所述凹槽内下端，所述顶杆共设有若干根并一一相接于若干块所述顶板下端。
10.进一步地，所述顶杆下端均滑动贯穿出所述放料板及支架下面，所述推板固定于若干根所述顶杆下端，所述螺纹推杆转动连接于所述推板下端并螺纹贯穿出所述支撑板下面。
11.进一步地，其中一条所述凹轨下端螺纹贯穿有锁紧杆，所述检测箱前端左右两侧均铰接有箱门。
12.进一步地，所述加热组件包括往复丝杠、滑块及加热器，所述往复丝杠相接于所述
正反电机动力输出端，所述往复丝杠左端转动贯穿进所述箱体内。
13.进一步地，所述滑块滑动连接于所述检测箱内上端，所述往复丝杠螺纹贯穿过所述滑块左面并转动连接于所述检测箱内壁左上端，所述加热器通过螺栓固定于所述滑块下方。
14.与现有技术相比，本发明实现的有益效果：
15.通过将晶体管一一放入凹槽内，通过凹槽对晶体管进行分隔，以免多根晶体管混乱在一起，从而便于整齐的将多根晶体管摆放至检测箱内，无需对晶体管进行夹紧，避免了晶体管被夹损的情况发生，减少了损失，而且通过顶板对晶体管进行支撑，且拉动支脚，再通过支脚往前拉动支撑板，便于将支撑板、支架、放料板及顶板上的晶体管移出检测箱，从而便于将多个检测完毕的晶体管移出检测箱，再通过顶板将晶体管从凹槽内顶出，因此便于将晶体管从凹槽内取出，无需工作人员在检测箱内将检测完毕的晶体管取出，防止工作人员在检测箱内被烫伤，保证了晶体管取出时的安全性，当检测箱在对上一批晶体管进行温度检测的同时，利于通过备用的放料组件准备下一批待检测的晶体管放入检测箱内进行温度检测，节省了换料的时间，保证了对晶体管温度检测的效率，并且通过加热器的左右移动便于均匀的对晶体管进行温度检测，以免晶体管加热不均而导致温度检测效果欠佳的情况发生，保证了对晶体管的正常检测效果。
附图说明
16.图1为本发明的整体内部结构示意图；
17.图2为本发明的放料板内部结构示意图；
18.图3为本发明的放料板俯视结构示意图；
19.图4为本发明的整体外部结构示意图。
20.图1-4中：检测箱1、箱门2、支撑板3、凹轨4、锁紧杆5、支架6、放料板7、推板8、螺纹推杆9、滚轮10、顶杆11、顶板12、加热器13、滑块14、正反电机15、往复丝杠16、支脚17、凹槽18。
具体实施方式
21.请参阅图1至图4：
22.一种晶体管的研发检测装置，包括：
23.检测箱1和支撑板3，所述支撑板3设于所述检测箱1内下端，所述支撑板3下端四角均焊接有支脚17，所述支脚17下端均转动连接有滚轮10，所述检测箱1内壁左右端的下部均焊接有凹轨4，所述支撑板3滑动连接于两条所述凹轨4内侧之间，所述支撑板3上端设有放料组件，所述放料组件包括支架6和放料板7，所述支架6焊接于所述支撑板3上端，所述放料板7共设有若干块并均固定于所述支架6上端，所述放料板7上端均开有若干个前后均匀排布的凹槽18，所述放料组件还包括顶板12、顶杆11、推板8及螺纹推杆9，其中一条所述凹轨4下端螺纹贯穿有锁紧杆5，所述检测箱1前端左右两侧均铰接有箱门2；
24.具体地，首先打开箱门2，拉动支脚17，再通过支脚17往前拉动支撑板3，支撑板3会沿着凹轨4往检测箱1外滑动，直到支撑板3与凹轨4分离后，便于将支撑板3、支架6、放料板7及顶板12移出检测箱1，同时支脚17会带动滚轮10与地面接触，无需抬起支撑板3，使支撑板
3移出检测箱1时更加的省力，再将晶体管一一放入凹槽18内，同时顶板12对晶体管进行支撑，通过凹槽18对晶体管进行分隔，以免多根晶体管混乱在一起，接着将支撑板3插入凹轨4内，且使支撑板3沿着凹轨4移入检测箱1，同时支撑板3带动支架6、放料板7及顶板12上的晶体管移入检测箱1，再往上拧紧锁紧杆5，锁紧杆5将支撑板3锁紧在凹轨4内，以免支撑板3沿着凹轨4继续滑动，从而便于整齐的将多根晶体管摆放至检测箱1内，无需对晶体管进行夹紧，避免了晶体管被夹损的情况发生，减少了损失。
25.所述检测箱1右上端通过螺栓固定有正反电机15，所述检测箱1内上端设有加热组件，所述加热组件包括往复丝杠16、滑块14及加热器13，所述往复丝杠16相接于所述正反电机15动力输出端，所述往复丝杠16左端转动贯穿进所述箱体1内，所述滑块14滑动连接于所述检测箱1内上端，所述往复丝杠16螺纹贯穿过所述滑块14左面并转动连接于所述检测箱1内壁左上端，所述加热器13通过螺栓固定于所述滑块14下方；
26.进一步地，当需要对晶体管进行温度检测时，关上箱门2，接着启动正反电机15且带动往复丝杠16转动，往复丝杠16会带动滑块14沿着检测箱1内顶端进行左右移动，同时滑块14会带动加热器13左右移动，启动加热器13后，加热器13会对凹槽18内的晶体管进行左右均匀加热，从而便于对检测箱1内的晶体管进行温度检测，以免晶体管加热不均而导致温度检测效果欠佳的情况发生，保证了对晶体管的正常检测效果。
27.所述放料组件包括支架6和放料板7，所述支架6焊接于所述支撑板3上端，所述放料板7共设有若干块并均固定于所述支架6上端，所述放料板7上端均开有若干个前后均匀排布的凹槽18，所述放料组件还包括顶板12、顶杆11、推板8及螺纹推杆9，所述顶板12共设有若干块并一一设于若干个所述凹槽18内下端，所述顶杆11共设有若干根并一一相接于若干块所述顶板12下端，所述顶杆11下端均滑动贯穿出所述放料板7及支架6下面，所述推板8固定于若干根所述顶杆11下端，所述螺纹推杆9转动连接于所述推板8下端并螺纹贯穿出所述支撑板3下面，其中一条所述凹轨4下端螺纹贯穿有锁紧杆5，所述检测箱1前端左右两侧均铰接有箱门2；
28.进一步地，当晶体管温度检测完毕后，打开箱门2，往下拧动锁紧杆5，锁紧杆5不再将支撑板3锁紧在凹轨4内后，拉动支脚17，再通过支脚17往前拉动支撑板3，便于将支撑板3、支架6、放料板7及顶板12上的晶体管移出检测箱1，同时支脚17会带动滚轮10与地面接触，无需抬起支撑板3，使支撑板3移出检测箱1时更加的省力，从而便于将多个检测完毕的晶体管移出检测箱1，接着往上拧动螺纹推杆9且带动推板8、顶杆11及顶板12上移，再通过顶板12将晶体管从凹槽18内顶出，因此便于将晶体管从凹槽18内取出，综上，无需工作人员在检测箱1内将检测完毕的晶体管取出，防止工作人员在检测箱1内被烫伤，保证了晶体管取出时的安全性，而且检测箱1在对上一批晶体管进行温度检测的同时，利于通过备用的放料组件准备下一批待检测的晶体管放入检测箱1内进行温度检测，以此循环，节省了换料的时间，保证了对晶体管温度检测的效率。

技术特征：
1.一种晶体管的研发检测装置，包括检测箱(1)和支撑板(3)，所述支撑板(3)设于所述检测箱(1)内下端，其特征在于：所述支撑板(3)下端四角均焊接有支脚(17)，所述支脚(17)下端均转动连接有滚轮(10)，所述检测箱(1)内壁左右端的下部均焊接有凹轨(4)，所述支撑板(3)滑动连接于两条所述凹轨(4)内侧之间，所述支撑板(3)上端设有放料组件；所述检测箱(1)右上端通过螺栓固定有正反电机(15)，所述检测箱(1)内上端设有加热组件。2.根据权利要求1所述的一种晶体管的研发检测装置，其特征在于：所述放料组件包括支架(6)和放料板(7)，所述支架(6)焊接于所述支撑板(3)上端，所述放料板(7)共设有若干块并均固定于所述支架(6)上端，所述放料板(7)上端均开有若干个前后均匀排布的凹槽(18)。3.根据权利要求2所述的一种晶体管的研发检测装置，其特征在于：所述放料组件还包括顶板(12)、顶杆(11)、推板(8)及螺纹推杆(9)，所述顶板(12)共设有若干块并一一设于若干个所述凹槽(18)内下端，所述顶杆(11)共设有若干根并一一相接于若干块所述顶板(12)下端。4.根据权利要求3所述的一种晶体管的研发检测装置，其特征在于：所述顶杆(11)下端均滑动贯穿出所述放料板(7)及支架(6)下面，所述推板(8)固定于若干根所述顶杆(11)下端，所述螺纹推杆(9)转动连接于所述推板(8)下端并螺纹贯穿出所述支撑板(3)下面。5.根据权利要求1所述的一种晶体管的研发检测装置，其特征在于：其中一条所述凹轨(4)下端螺纹贯穿有锁紧杆(5)，所述检测箱(1)前端左右两侧均铰接有箱门(2)。6.根据权利要求1所述的一种晶体管的研发检测装置，其特征在于：所述加热组件包括往复丝杠(16)、滑块(14)及加热器(13)，所述往复丝杠(16)相接于所述正反电机(15)动力输出端，所述往复丝杠(16)左端转动贯穿进所述箱体(1)内。7.根据权利要求6所述的一种晶体管的研发检测装置，其特征在于：所述滑块(14)滑动连接于所述检测箱(1)内上端，所述往复丝杠(16)螺纹贯穿过所述滑块(14)左面并转动连接于所述检测箱(1)内壁左上端，所述加热器(13)通过螺栓固定于所述滑块(14)下方。

技术总结
本发明涉及晶体管研发技术领域，特别是涉及一种晶体管的研发检测装置，包括检测箱和支撑板，支撑板设于检测箱内下端，支撑板下端四角均焊接有支脚，支脚下端均转动连接有滚轮，检测箱内壁左右端的下部均焊接有凹轨，支撑板滑动连接于两条凹轨内侧之间，支撑板上端设有放料组件，检测箱右上端通过螺栓固定有正反电机，检测箱内上端设有加热组件；通过将晶体管一一放入凹槽内，通过凹槽对晶体管进行分隔，以免多根晶体管混乱在一起，从而便于整齐的将多根晶体管摆放至检测箱内，无需对晶体管进行夹紧，避免了晶体管被夹损的情况发生，减少了损失。损失。损失。


技术研发人员：姚云华
受保护的技术使用者：无锡市腾鑫电子有限公司
技术研发日：2022.01.26
技术公布日：2023/9/22