以电路板电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法与流程

1.一种测试装置、系统及其方法，特别是指一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法。


背景技术：

2.工业4.0(industry 4.0)，又称为第四次工业革命，其并不是单单创造新的工业技术，而是着重于将现有的工业技术、销售流程与产品体验统合，通过人工智能技术建立具有适应性、资源效率和人因工程学的智能工厂，并在商业流程及价值流程中整合客户以及商业伙伴，以提供完善的售后服务，进而建构出一个有感知意识的新型智能型工业世界。
3.随着工业4.0的浪潮袭卷全球，制造业者无不以智能制造优化生产转型，提升竞争力。智能制造是架构在感测技术、网络技术、自动化技术、与人工智能的基础上，通过感知、人机互动、决策、执行、与反馈的过程，来实现产品设计与制造、企业管理与服务的智能化。
4.而电子组装业薄利多销、产品价格竞争激烈的特性，让业者追求对原物料及生产工具更有效的管控与最佳化，促使工厂生产资源效益最大化。其中，在电子组装业的生产线上，必定包含各种电路板的测试环节，例如，当电路板为主机板时，也包含对于主机板上的存储器连接接口的测试。
5.目前对主机板上的存储器连接接口的测试方式中，其中一种是使用dummydimm作为测试装置以对存储器连接接口进行边界扫描测试。在进行边界扫描测试时，通常需要让所有测试装置的jtag连接端口相互连接，因此，需要在各个测试装置间设置边界扫描的jtag连接线。
6.而在实际的情况中，由于存储器的存储器连接接口间的空间位置较小，同时又连接了较多的jtag连接线，导致在长时间测试后会可能导致连接中断的问题。同时，由于jtag为串列信号，当jtag连接端口越多，jtag连接线会越长，且jtag连接线上的数据通讯频率也会随的降低，因此，随着存储器的存储器连接接口的测试装置的数量的增加，jtag通讯速率将会降低，导致测试时间增加。
7.综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在使用jtag连接线对存储器连接接口进行边界扫描测试时的连线状况与测试时间都不稳定的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决这一问题。


技术实现要素：

8.有鉴于现有技术存在使用jtag连接线对存储器连接接口进行边界扫描测试时的连线状况与测试时间都不稳定的问题，本发明公开一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法，其中：
9.本发明所公开的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，至少包含：至少一接脚，用以连接待测电路板上与装置对应的存储器连接接口，且通过存储器连接接口与待测电路板上的内部集成电路连接，及用以通过内部集成电路传送装置所接收到的控制指
令至与连接于待测电路板上的其他相同装置；处理模块，用以转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试存储器连接接口。
10.本发明所公开的以电路板的电路传送指令测试连接接口的系统，至少包含：待测电路板，包含多个存储器连接接口，多个存储器连接接口通过内部集成电路相互连接，当控制指令被传送到内部集成电路时，内部集成电路传送控制指令至多个存储器连接接口；多个测试装置，每个测试装置与存储器连接接口连接，且每个测试装置包含至少一接脚，每个测试装置的至少一接脚通过内部集成电路相互连接，及用以通过内部集成电路接收控制指令，并转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试相连接的存储器连接接口。
11.本发明所公开的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法，其步骤至少包括：连接待测电路板与多个测试装置，待测电路板包含与多个测试装置对应的多个存储器连接接口，每个测试装置与存储器连接接口连接，且每个测试装置包含至少一接脚，每个测试装置的至少一接脚通过内部集成电路相互连接；当控制指令被传送到内部集成电路时，内部集成电路传送控制指令至各存储器连接接口，使各测试装置通过相连接的各存储器连接接口取得控制指令；每个测试装置转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试所连接的存储器连接接口。
12.本发明所公开的装置、系统及方法如上，与现有技术的间的差异在于本发明通过待测电路板上既有的内部集成电路传递控制指令给通过待测电路板上的存储器连接接口与内部集成电路连接的测试装置，测试装置转换控制指令以测试所连接的存储器连接接口，借以解决现有技术所存在的问题，并可以达成提高测试效率的技术功效。
附图说明
13.图1为本发明所提的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置的元件示意图。
14.图2为本发明所提的待测电路板的元件示意图。
15.图3a为本发明所提的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法流程图。
16.图3b为本发明所提的测试装置转换控制指令以测试存储器连接接口的方法流程图。
17.其中，附图标号：
18.100测试装置
19.110连接件
20.111接脚
21.120处理模块
22.121控制单元
23.125可编程逻辑单元
24.190连接器
25.200待测电路板
26.210处理单元
27.220系统总线
28.230存储器连接接口
29.231～238存储器连接接口
30.410信号控制器
31.420存取控制器
32.步骤310连接待测电路板与测试装置，各测试装置间通过内部集成电路连接
33.步骤320
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通过内部集成电路传送控制指令至与测试装置连接的存储器连接接口，使测试装置取得控制指令
34.步骤330
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测试装置依据控制指令的目标接脚选择转换控制指令为操作指令并执行操作指令以测试相连接的存储器连接接口
35.步骤331
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测试装置转换控制指令为存取指令或测试指令
36.步骤333
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当控制指令为存取指令时，测试装置依据存取指令读取目标接脚的信号
37.步骤335
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当控制指令为测试指令时，测试装置依据测试指令发送测试信号至目标接脚中的输入接脚，并由目标接脚中的输出接脚取得结果信号
具体实施方式
38.以下将配合说明书附图及实施例来详细说明本发明的特征与实施方式，内容足以使任何本领域技术人员能够轻易地充分理解本发明解决技术问题所应用的技术手段并据以实施，藉此实现本发明可达成的功效。
39.本发明可以使用待测电路板上既有的内部集成电路总线(inter-integratedcircuit bus,i2c，在本发明中也以“内部集成电路”表示)传递控制指令给与待测电路板连接的测试装置，使得测试装置依据控制指令对待测电路板进行测试。其中，待测电路板为包含提供双列直插式内存模块(dual in-line memorymodule,dimm，或称为双线内存模块)连接之存储器连接接口的电路板，测试装置通常为对应的内存测试装置。
40.以下先以图1本发明所提的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置的元件示意图结合图2本发明所提的待测电路板的元件示意图来说明本发明的系统运作。如图1与图2所示，本发明的系统含有测试装置100、待测电路板200、信号控制器410，及可附加的存取控制器420。
41.测试装置100与待测电路板200的存储器连接接口230连接，负责测试待测电路板100的存储器连接接口230。一般而言，测试装置100可以进行特定的测试作业及/或模拟相对应之内存模块的运作，藉以测试所连接之存储器连接接口230。
42.在部分的实施例中，测试装置100更可以包含连接件110、处理模块120，及可附加的连接器190。其中，连接件110与处理模块120间、连接器190与处理模块120间，可以通过设置于测试装置100上的一组或多组电路(图中未示)连接。
43.连接件110为测试装置100上连接待测电路板200的存储器连接接口230的部件，包含多个接脚(如接脚111)。连接件110上之各个接脚的位置通常与测试装置100所模拟之内存模块的接脚位置相符。
44.处理模块120可以通过连接件110或连接器190接收控制指令，并可以转换所接收到的控制指令为操作指令及执行操作指令以测试待测电路板100的存储器连接接口230。
45.在部分实施例中，处理模块120可以包含控制单元121与可编程逻辑单元125，但本
发明并不以此为限，凡可以完成控制单元121与可编程逻辑单元125所描述的功能的任何软硬件或任意软硬件与固件的组合都可以作为处理模块120。其中，控制单元121可以是微控制器(microcontroller unit,mcu)，可编程逻辑单元125可以是复杂可编程化逻辑装置(complex programmable logicdevice,cpld)，但本发明也不以上述为限。
46.控制单元121可以透过连接件110或连接器190接收与内部集成电路兼容的控制指令，并可以依据所接收到之控制指令所表示的目标接脚选择将所接收到的控制指令转换为与内部集成电路兼容的操作指令或将所接收到的控制指令转换为与jtag兼容的操作指令。更详细的，控制单元121可以在控制指令所表示的目标接脚为属于内部集成电路的接脚时，将控制指令转换为与可编程逻辑单元125对应且能使可编程逻辑单元125使用内部集成电路存取目标接脚的存取指令，也可以在控制指令所表示的目标接脚为不属于内部集成电路的接脚(如用于边界扫描的接脚)或目标接脚上的信号可能随着时间持续不断变化时，将控制指令由与内部集成电路兼容的格式转换为能使可编程逻辑单元125产生使用jtag测试目标接脚的测试指令，即与jtag兼容的测试指令。
47.控制单元121也可以载入并执行预先建立的测试程序，一般而言，测试程序通常用于边界扫描测试，但本发明并不以此为限。控制单元121可以模拟一个边界扫描元件，使得测试程序在被执行后，对控制单元121所模拟出的边界扫描元件发出对应目标接脚且与jtag兼容的控制指令，如此，控制单元121可以透过所模拟出之边界扫描元件取得测试程序所产生的控制指令，并可以将所取得的控制指令转换为存取指令或直接作为测试指令。
48.可编程逻辑单元125可以执行控制单元121所产生的操作指令。更详细的，当操作指令为存取指令时，可编程逻辑单元125可以依据存取指令产生读写目标接脚之与内部集成电路兼容的存取信息，并可以透过内部集成电路传送存取信息到具有目标接脚之芯片以取得相对应的目標接脚的信号，或可以将存取信号所表示的特定信号提供给相对应的目標接脚；而当操作指令为测试指令时，可编程逻辑单元125可以透过具有目标接脚之芯片上的jtag连接端口将测试指令所表示的测试信号传送到目标接脚中的输入接脚，并可以透过具有目标接脚之芯片上的jtag连接端口由目标接脚中的输出接脚取得结果信号。
49.连接器190与内部集成电路兼容，可以接收信号控制器410所传送的控制指令，也可以与连接于待测电路板200上的其他存储器连接接口230的其他测试装置连接。
50.待测电路板200可以包含处理单元210、系统总线220、存储器连接接口230。一般而言，待测电路板200可以包含一个或一个以上的存储器连接接口，如图2所示，待测电路板200包含八个存储器连接接口(231～238)。在大部分的实施例中，待测电路板200为主机板。
51.处理单元210可以执行计算与判断等运算，也可以通过系统总线220与存储器连接接口230(存储器连接接口231～238)连接，并可以通过系统总线220传送数据或信号给存储器连接接口230(存储器连接接口231～238)以及接收存储器连接接口230(存储器连接接口231～238)所传送的数据或信号，例如，传送控制信号给特定的存储器连接接口231～238。
52.处理单元210也可以接收存取控制器420所传送的控制信号，并可以将所接收到的控制信号转换为对应的控制指令以传送给存储器连接接口230。
53.在部分的实施例中，处理单元210可以是中央处理器(cpu)或微处理器。
54.存储器连接接口230(存储器连接接口231～238)可以通过系统总线220与处理单元210连接，也可以与内部集成电路连接。在部分的实施例中，存储器连接接口231～234可
以通过内部集成电路相互连接，且存储器连接接口235～238可以通过内部集成电路相互连接，而存储器连接接口231～234与存储器连接接口235～238之间并未连接，但本发明并不以此为限，例如，存储器连接接口231～238也可以通过内部集成电路相互连接。一般而言，存储器连接接口230为存储器连接器。
55.信号控制器410与内部集成电路兼容，例如，信号控制器410可以是内部集成电路控制器。信号控制器410可以产生并传送控制指令，并可以通过直接连接到测试装置100的连接器190的内部集成电路将控制指令传送给测试装置100。
56.存取控制器420可以产生并传送控制信号到待测电路板200的处理单元210。在部分的实施例中，存取控制器420可以是测试存取连接端口(tap)控制器。
57.接着以一个实施例来解说本发明的运作装置与方法，并请参照图3a本发明所提的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法流程图。在本实施例中，假设测试装置100为dummydimm，待测电路板200为主机板，但本发明并不以此为限。
58.首先，可以将多个测试装置100分别插入待测电路板200的不同存储器连接接口230，借以连接待测电路板200与多个测试装置100(步骤310)。在本实施例中，假设与待测电路板200的存储器连接接口231～234连接的测试装置100可以通过待测电路板200上的内部集成电路相互连接，且与待测电路板200的存储器连接接口235～238连接的测试装置100可以通过待测电路板200上的内部集成电路相互连接。
59.在待测电路板200与测试装置100连接(步骤310)后，待测电路板200的处理单元210可以通过内部集成电路传送控制指令给所有测试装置100(步骤320)。在本实施例中，处理单元210可以通过内部集成电路向待测电路板20的存储器连接接口231及存储器连接接口235传送控制指令，使得控制指令通过存储器连接接口231或存储器连接接口235被传送到与存储器连接接口231或存储器连接接口235连接的测试装置100，同时，控制指令也可以通过与存储器连接接口231或存储器连接接口235连接的内部集成电路分别传送到存储器连接接口232～234及存储器连接接口236～238，使得与存储器连接接口232～234或存储器连接接口236～238连接的测试装置100可以接收到控制指令。
60.在测试装置100的处理模块120由与待测电路板200上相连接的存储器连接接口230所连接的内部集成电路接收到控制指令后，处理模块120可以依据控制指令的目标接脚选择将控制指令作为操作指令或转换控制指令为操作指令，并可以执行被产生的操作指令以测试与测试装置100连接的存储器连接接口230(步骤330)。在本实施例中，假设处理模块120包含控制单元121与可编程逻辑单元125，并可以如图3b的流程所示，在控制单元121接收到控制指令后，控制单元121可以依据控制指令所表示的目标接脚是否属于内部集成电路选择将控制指令转换为与可编程逻辑单元125对应的存取指令或透过所包含的信号转换逻辑层将与内部集成电路兼容的控制指令转换为与jtag相容的测试指令(步骤331)，并透过与内部集成电路对应的传输信道传送存取指令或透过传送与jtag对应的传输信道传送测试指令给可编程逻辑单元125，当控制指令被转换为存取指令时，可编程逻辑单元125可以依据存取指令产生相对应之与内部集成电路兼容的存取信息以由具有目标接脚之芯片取得相对应的目标接脚的信号(步骤333)，例如取得gnd接脚的信号；而当控制指令被转换为测试指令时，可编程逻辑单元125可以依据测试指令透过jtag连接端口发送测试信号至目标接脚中的输入接脚(步骤335)，并由目标接脚中的输出接脚取得结果信号，也就是通过
具有目标接脚之芯片上的jtag连接端口传送测试信号并接收结果信号。
61.另外，上述实施例中，在待测电路板200与测试装置100连接(步骤310)后，测试装置100的处理模块120也可以执行测试程序。在本实施例中，假设测试程序是使用jtag来对测试测电路板200的存储器连接接口230，则在测试程序被处理模块120的控制单元121执行后，可以产生与jtag兼容的控制指令，控制单元121可以透过所包含的边界扫描模拟层所模拟出的边界扫描元件取得执行测试程序所产生的控制指令，并可以依据控制指令所对应的目标接脚将所取得的控制指令转换为与内部集成电路兼容的存取指令或直接做为测试指令后，透过与内部集成电路或与jtag对应的传输信道将所产生的存取指令或测试指令传送给可编程逻辑单元125。当可编程逻辑单元125接收到存取指令时，可以依据所接收到的存取指令产生相对应之与内部集成电路兼容的存取信息以由具有目标接脚之芯片取得目标接脚的信号；而当控制指令被转换为测试指令时，可编程逻辑单元125可以依据测试指令透过具有目标接脚之芯片上的jtag连接端口发送测试信号至目标接脚中的输入接脚，并由目标接脚中之输出接脚取得结果信号。
62.如此，通过本发明，可以使用待测电路板上既有的内部集成电路传送控制指令给与待测电路板的存储器连接接口连接的测试装置，无须额外通过测试装置外部的连接线传送控制指令。
63.综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于具有通过待测电路板上既有的内部集成电路传递控制指令给通过待测电路板上的存储器连接接口与内部集成电路连接的测试装置，测试装置转换控制指令以测试所连接的存储器连接接口的技术手段，通过这一技术手段可以来解决现有技术所存在使用jtag连接线对存储器的存储器连接接口进行边界扫描测试时的连线状况与测试时间都不稳定的问题，进而达成提高测试效率的技术功效。
64.再者，本发明的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法，可实现于硬件、固件、软件或硬件、固件与软件的任意组合中，也可在电脑装置中以集中方式实现或以不同元件散布于若干互连的电脑装置的分散方式实现。
65.虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域技术人员，在不脱离本发明所公开的精神和范围的前提下，对本发明的实施的形式上及细节上作些许的更改润饰，均属于本发明的专利保护范围。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求所界定者为准。

技术特征：
1.一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的系统，该系统至少包含：一待测电路板，包含多个存储器连接接口及至少一内部集成电路，该多个存储器连接接口通过该内部集成电路相互连接，其中，当一控制指令被传送到该内部集成电路时，该内部集成电路传送该控制指令至该多个存储器连接接口；及多个测试装置，每一该测试装置与一该存储器连接接口连接，且每一该测试装置包含至少一接脚，每一该测试装置的该至少一接脚通过该内部集成电路相互连接，及用以通过该内部集成电路接收一控制指令，并依据与该控制指令对应的一目标接脚选择将该控制指令作为一操作指令或转换该控制指令为该操作指令，并执行该操作指令以测试相连接的一该存储器连接接口。2.如权利要求1所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的系统，其中，每一该测试装置还用以于该目标接脚属于该内部集成电路时转换该操作指令为相对应的一存取指令并依据该存取指令取得该目标接脚的信号，及于该目标接脚不属于该内部集成电路时转换该控制指令为与jtag兼容的该操作指令，并依据该操作指令发送测试信号至该目标接脚中的输入接脚并由该目标接脚中的输出接脚取得结果信号。3.一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，该装置至少包含：至少一接脚，用以连接一待测电路板上的一存储器连接接口，且通过该存储器连接接口与该待测电路板上的一内部集成电路连接，使该装置与连接于该待测电路板上的其他存储器连接接口的其他装置通过该内部集成电路相互连接，及用以接收被传送到该内部集成电路的一控制指令；及一处理模块，与该至少一接脚连接，用以依据与该控制指令对应的一目标接脚选择将该控制指令作为一操作指令或转换该控制指令为该操作指令，并执行该操作指令以测试该存储器连接接口。4.如权利要求3所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，其中，该处理模块还包含一控制单元及一可编程逻辑单元，该控制单元用以于该目标接脚属于该内部集成电路时将该控制指令作为操作指令，并于该目标接脚不属于该内部集成电路时转换该控制指令为与jtag兼容的该操作指令，该可编程逻辑单元用以于该目标接脚属于该内部集成电路时转换该操作指令为相对应的一存取指令并依据该存取指令取得该目标接脚的信号，及于该目标接脚不属于该内部集成电路时，依据该操作指令发送测试信号至该目标接脚中的输入接脚并由该目标接脚中的输出接脚取得结果信号。5.如权利要求3所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，其中，该处理模块更用以模拟一边界扫描元件，及用以在判断该存取指令为测试指令时，依据该边界扫描元件将该存取指令转换为与该内部集成电路对应的该操作指令。6.如权利要求3所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置，其中，该处理模块更用以载入并执行一测试程序以测试该存储器连接接口。7.一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法，该方法至少包含下列步骤：连接一待测电路板与多个测试装置，该待测电路板包含与该多个测试装置对应的多个存储器连接接口及至少一内部集成电路，每一该测试装置与一该存储器连接接口连接，且每一该测试装置包含至少一接脚，每一该测试装置的该至少一接脚通过该至少一内部集成电路相互连接；
当一控制指令被传送到该内部集成电路时，该内部集成电路传送该控制指令至各该存储器连接接口，使各该测试装置通过相连接的各该存储器连接接口取得该控制指令；及每一该测试装置依据与该控制指令对应的一目标接脚选择将该控制指令作为一操作指令或转换该控制指令为一操作指令，并执行该操作指令以测试所连接的一该存储器连接接口。8.如权利要求7所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法，其中，每一该测试装置转换该测试指令为该操作指令并执行该操作指令以测试所连接的一该存储器连接接口的步骤为每一该测试装置于该目标接脚属于该内部集成电路时转换该控制指令为一存取指令并依据该存取指令读取该目标接脚的信号，及于该目标接脚不属于该内部集成电路时转换该控制指令为与jtag兼容的该操作指令，并依据该操作指令发送测试信号至该目标接脚中的输入接脚并由该目标接脚中的输出接脚取得结果信号。9.如权利要求7所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法，其中，每一该测试装置转换该测试指令为该操作指令的步骤为判断该存取指令为测试指令时，模拟一边界扫描元件，并依据该边界扫描元件将该存取指令转换为与该内部集成电路对应的该操作指令。10.如权利要求7所述的以电路板的电路传送指令测试连接接口的方法，其中，该控制指令被传送到该内部集成电路的步骤为该待测电路板的一处理单元通过该待测电路板的总线传送该控制指令至该内部集成电路，或与至少一该测试装置连接的信号控制器传送该控制指令至所连接的至少一该测试装置，借以使该控制指令通过所连接的至少一该测试装置而被传送至该内部集成电路。

技术总结
一种以电路板的电路传送指令测试连接接口的装置、系统及方法，其通过使用待测电路板上既有的内部集成电路传递控制指令给通过待测电路板上的存储器连接接口与内部集成电路连接的测试装置，测试装置转换控制指令以测试所连接的存储器连接接口的技术手段，可以不使用外部连接线测试待测电路板上的存储器连接接口，并达成提高测试效率的技术功效。并达成提高测试效率的技术功效。并达成提高测试效率的技术功效。


技术研发人员：张天超
受保护的技术使用者：英业达股份有限公司 英业达集团（天津）电子技术有限公司
技术研发日：2022.03.18
技术公布日：2023/9/22