一种通用测试治具装置的制作方法

1.本发明涉及测试治具技术领域，尤其涉及一种通用测试治具装置。


背景技术：

2.当前测试主板(dut)包括功能测试、射频等电路功能，测试时测试治具需要将测试主板固定从而测试各项功能，但是传统测试治具存在体积大，不可重复利用，效率低，维护工作量大，治具成本高和噪音大等问题点。同时，更换不同的dut需制作不同的测试治具，通用性差。


技术实现要素：

3.本发明提供了一种通用测试治具装置，具有可重复利用、方便维护、高效、可靠、成本低和体积小的优点。
4.为了实现本发明的目的，所采用的技术方案是：一种通用测试治具装置，包括固定组件和替换组件，固定组件包括屏蔽箱、测试治具上铝框模组、测试治具上固定板模组和气动框架模组，替换组件包括tray上模组、tray载板模组和tray下模组，屏蔽箱内置通用测试治具，气动框架模组带动测试治具上铝框模组上下运动，测试治具上固定板模组安装于测试治具上铝框模组下方，tray上模组用于固定rf probe，rf probe通过rf cable连接屏蔽箱的射频接口，tray载板模组用于放置待测试的dut，tray载板模组位于气动框架模组中，tray下模组安装于气动框架模组上。
5.作为本发明的优化方案，tray下模组内部设置冷却气流槽和风冷吹气接口，冷却气流槽和风冷吹气接口相连通。
6.作为本发明的优化方案，通用测试治具装置还包括转接排线，tray载板模组通过转接排线将需要的电信号接至待测试的dut。
7.作为本发明的优化方案，通用测试治具装置还包括牛角固定件，转接排线通过牛角固定件设置在tray下模组的端部。
8.作为本发明的优化方案，通用测试治具装置还包括pcb公板、tpcb和bpcb，tpcb和bpcb均通过转接排线与pcb公板电连接，pcb公板作为控制板，tpcb和bpcb通过探针与dut接触连接，用于转接控制板的信号。
9.作为本发明的优化方案，通用测试治具装置还包括导向柱，tray上模组和tray载板模组通过导向柱对准安装。
10.作为本发明的优化方案，通用测试治具装置还包括进出气缸，进出气缸用于驱动气动框架模组。
11.本发明具有积极的效果：1)本发明采用模块化的设计，方便单个模块组装、功能调试和优化，有助于提高产品质量和可靠性；
12.2)本发明具有成本低，可靠性高，产线维护容易，体积小，无污染，适用范围广等优点；
13.3)本发明更换tray上模组时，只需要拆卸连接通用治具上固定板的四个m4螺丝，取出tray上模组，用新的模组更换安装；更换tray下模组时，只需要拆卸气缸连接螺丝取出治具上模部分(tray上模组、通用治具上铝框模组、通用治具上固定板模组)和tray载板模组，再拆卸tray下模组，用新的模组更换安装。这种拆卸组装方法更为简易便捷，能够节约时间，有利于提高生产效率；
14.4)本发明各部分模块化的设计变得简易，对于dut的更新变动，设计人员仅需要考虑设计tray上模组、tray载板模组和tray下模组，测试治具上铝框模组、测试治具上固定板模组和气动框架模组不需要重新设计，有利于缩短设计时间，提高效率，降低成本；
15.5)本发明根据dut的不同，只需要重新设计新的tpcb板和bpcb板即可，pcb公板可通用不用重新设计制作，可操作性高，节约成本。
附图说明
16.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图，其中：
17.图1为本发明的整体结构示意图；
18.图2是本发明屏蔽箱的结构示意图；
19.图3是不需替换组件结构示意图；
20.图4是可灵活替换组件结构示意图；
21.图5是pcb公板安装结构示意图；
22.图6是冷却气流槽的结构示意图；
23.图7是本发明工作原理示意图；
24.其中：1、屏蔽箱，2、测试治具上铝框模组，3、测试治具上固定板模组，4、气动框架模组，5、tray上模组，6、tray载板模组，7、tray下模组，8、rf probe，9、转接排线，71、冷却气流槽，72、风冷吹气接口，10、牛角固定件，11、pcb公板，12、tpcb，13、bpcb，14、进出气缸，15、线架，31、导向柱，19、dut。
具体实施方式
25.为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
26.如图1所示，本发明公开了一种通用测试治具装置，包括固定组件和替换组件，固定组件包括屏蔽箱1、测试治具上铝框模组2、测试治具上固定板模组3和气动框架模组4，替换组件包括tray上模组5、tray载板模组6和tray下模组7，屏蔽箱1内置通用测试治具，气动框架模组4带动测试治具上铝框模组2上下运动，测试治具上固定板模组3安装于测试治具上铝框模组2下方，tray上模组5用于固定rf probe，rf probe通过rf cable连接屏蔽箱的射频接口，tray载板模组6用于放置待测试的dut，tray载板模组6位于气动框架模组4中，tray下模组7安装于气动框架模组4上。
27.气动框架模组4利用上下气缸和导柱31带动测试治具上铝框模组2上下运动，上固定板模组安装于上铝框模组下方，测试治具上固定板模组3用于安装pcb公板11，随着测试治具上铝框模组2一起上下运动。气动框架模组4的进出气缸动作用于输送dut，上下气缸动作用于压合检测。tray上模组5用于固定rf probe，rf probe通过rf cable连接屏蔽箱的射频接口。tray载板模组用于放置待测试的dut，tray下模组7上安装了bpcb和测试探针，用于压合检测时传递信号，再通过排线传递至pcb公板11。通用测试治具设置在屏蔽箱或外壳内，通用测试治具的控制板通过转接排线引出到tpcb板，tray载板模组6可以通过转接排线将需要的电信号接至dut。
28.dut如果测试射频信号需要将tray上模组5的射频接口位置开窗进行连接rf probe(视频探头)，rf probe需要固定在tray上模组5上，线架15安装于测试治具上铝框模组2上，用于固定rf probe的另一端接口，再通过rf cable连接至屏蔽箱射频接口，屏蔽箱1的射频输出接口连接至射频仪器，如图2-4所示，以上根据dut的不同只需要更换特定的tray上模组5、tray载板模组6和tray下模组7即可，屏蔽箱1或外壳和其他模组不需要更换，节约了很大成本和架线维护工时，转接排线替代了传统采用转接探针模组方案提高了高速信号完整性、可维护性和降低了成本。测试治具上铝框模组2起到承上启下的作用，并且不用更换可以一直沿用，用于安装测试治具上固定板模组3，并且连接上下气缸压合检测。
29.屏蔽箱1、测试治具上铝框模组2、测试治具上固定板模组3和气动框架模组4为通用设备，根据dut的不同或只需要更换tray上模组5、tray载板模组6和tray下模组7即可，安装方便，便于更换，节约成本。
30.如图6所示，tray下模组7内部设置冷却气流槽71和风冷吹气接口72，冷却气流槽71和风冷吹气接口72相连通。tray下模组7内部采用冷却气流槽设计，dut不会过温，保证dut的测试稳定性。
31.通用测试治具装置还包括转接排线9，tray载板模组6通过转接排线9将需要的电信号接至待测试的dut。转接排线替代了传统采用转接探针模组方案提高了高速信号完整性、可维护性和降低了成本。
32.如图5所示，通用测试治具装置还包括pcb公板11、tpcb12和bpcb13，tpcb12和bpcb13均通过转接排线9与pcb公板11电连接，pcb公板11作为控制板，tpcb12和bpcb13通过探针与dut接触连接，用于转接控制板的信号。pcb公板11是控制板，不一直沿用不变更，作用是与dut进行通讯、供电、触发信号，测试等功能。tpcb和bpcb随着机种变更需要变的，主要作用是转接控制板的信号和焊接探针与dut接触连接。
33.如图7所示，将被测试dut放入tray载板模组6，再将tray载板模组6放入气动框架模组4中，通过进出气缸14控制进入，下压由导向柱31控制tray上模组5和tray载板模组6对位，确保精准连接；固定于tray上模组5上的rf probe与dut接触，信号经过rf cable与屏蔽箱1连接，再连接到测试设备上进行rf信号和性能的测试。
34.以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

技术特征：
1.一种通用测试治具装置，其特征在于：包括固定组件和替换组件，所述的固定组件包括屏蔽箱(1)、测试治具上铝框模组(2)、测试治具上固定板模组(3)和气动框架模组(4)，所述的替换组件包括tray上模组(5)、tray载板模组(6)和tray下模组(7)，所述的屏蔽箱(1)内置通用测试治具，所述的气动框架模组(4)带动测试治具上铝框模组(2)上下运动，所述的测试治具上固定板模组(3)安装于测试治具上铝框模组(2)下方，所述的tray上模组(5)用于固定rf probe(8)，rf probe(8)通过rf cable连接屏蔽箱(1)的射频接口，所述的tray载板模组(6)用于放置待测试的dut，所述的tray载板模组(6)位于气动框架模组(4)中，所述的tray下模组(7)安装于气动框架模组(4)上。2.根据权利要求1所述的一种通用测试治具装置，其特征在于：所述的tray下模组(7)内部设置冷却气流槽(71)和风冷吹气接口(72)，所述的冷却气流槽(71)和风冷吹气接口(72)相连通。3.根据权利要求1所述的一种通用测试治具装置，其特征在于：通用测试治具装置还包括转接排线(9)，tray载板模组(6)通过转接排线(9)将需要的电信号接至待测试的dut。4.根据权利要求3所述的一种通用测试治具装置，其特征在于：通用测试治具装置还包括牛角固定件(10)，所述的转接排线(9)通过牛角固定件(10)设置在tray下模组(7)的端部。5.根据权利要求3所述的一种通用测试治具装置，其特征在于：通用测试治具装置还包括pcb公板(11)、tpcb(12)和bpcb(13)，tpcb(12)和bpcb(13)均通过转接排线(9)与pcb公板(11)电连接，所述的pcb公板(11)作为控制板，tpcb(12)和bpcb(13)通过探针与dut接触连接，用于转接控制板的信号。6.根据权利要求1所述的一种通用测试治具装置，其特征在于：通用测试治具装置还包括导向柱(31)，tray上模组(5)和tray载板模组(6)通过导向柱(31)对准安装。7.根据权利要求1所述的一种通用测试治具装置，其特征在于：通用测试治具装置还包括进出气缸(14)，所述的进出气缸(14)用于驱动气动框架模组(4)。

技术总结
本发明涉及测试治具技术领域，尤其涉及一种通用测试治具装置，包括固定组件和替换组件，固定组件包括屏蔽箱、测试治具上铝框模组、测试治具上固定板模组和气动框架模组，替换组件包括Tray上模组、Tray载板模组和Tray下模组。本发明根据DUT的不同只需要更换特定的Tray上模组、Tray载板模组和Tray下模组即可，屏蔽箱或外壳和其他模组不需要更换，节约了很大成本和架线维护工时，转接排线替代了传统采用转接探针模组方案提高了高速信号完整性、可维护性和降低了成本，整体采用模块化的设计，方便单个模块组装、功能调试和优化，具有成本低，可靠性高，产线维护容易，体积小，无污染，适用范围广等优点。用范围广等优点。用范围广等优点。


技术研发人员：徐伟 郑伟 魏善磊 陈东 高苏强 徐欢夏
受保护的技术使用者：江苏联康测控有限公司
技术研发日：2023.06.20
技术公布日：2023/9/22