触控板的检测治具与触控板的检测方法与流程

1.本发明涉及一种检测治具及方法，尤其涉及一种触控板的检测治具与触控板的检测方法。


背景技术：

2.各类触控技术的提升已大幅的提高电子产品的使用便利性。不过，在书写的应用情境时，徒手的触控操作可能无法达到理想的解析度，因此使用触控笔的触控应用仍是重要的模式。然而，以笔进行书写操作时，笔与手掌会一起接触到书写面。因此，排除手掌的影响则是一个很重要的技术。触控技术就是一种使用笔进行触控又可排除手掌导致的误感测的触控技术。


技术实现要素：

3.本发明提供一种触控板的检测治具，有助于提高检测效率。
4.本发明提供一种触控板的检测方法，其检测步骤简易。
5.本发明实施例的触控板的检测治具包括：基板，适于放置于触控板上；以及多个凸块，对应于多个触控检测点配置于基板上，且沿检测轨迹排列。
6.在本发明的一实施例中，上述的检测轨迹为环状或线状。
7.在本发明的一实施例中，上述的多个凸块各自的高度沿检测轨迹变化。
8.在本发明的一实施例中，上述的高度沿检测轨迹先逐渐增加再逐渐减少。
9.在本发明的一实施例中，上述的高度沿检测轨迹先逐渐增加再维持固定。
10.在本发明的一实施例中，上述的多个凸块各自沿检测轨迹测量的宽度大于或等于2毫米。
11.本发明实施例的触控板的检测方法，包括：将检测治具安装至触控板上，其中检测治具包括：基板；以及多个凸块，其中凸块对应于多个触控检测点配置于基板上，且沿检测轨迹排列；以及使触控笔在检测治具上沿检测轨迹移动而通过凸块。
12.在本发明的一实施例中，上述的触控笔在检测治具上沿检测轨迹移动的步骤使得触控笔的触碰尖端受到凸块抵顶而促使触控笔发出信号。
13.在本发明的一实施例中，上述的触控板适于感测触控笔发出的信号。
14.在本发明的一实施例中，上述的触控笔在检测治具上沿检测轨迹移动的移动速率由10毫米/秒至50毫米/秒。
15.基于上述，本发明实施例的触控板的检测治具与检测方法利用在基板上设置凸块定义出检测点来实现有效率的触控板检测。
附图说明
16.图1为本发明一实施例的触控板的检测治具的示意图；
17.图2示意性的呈现本发明的一实施例的触控板的检测方法；
18.图3与图4示意性的呈现触控板的感测通道与检测治具的检测点的布局关系；
19.图5与图6示例性的呈现不同的实施例中凸块的侧视示意图。
具体实施方式
20.现将详细地参考本发明的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同元件符号在附图和描述中用来表示相同或相似部分。
21.图1为本发明一实施例的触控板的检测治具的示意图。检测治具100包括基板110与多个凸块120，且图1呈现出侧视方向观看的基板110与凸块120。检测治具100可选择的更包括其他的构件，但为了方便说明图1仅示出基板110与多个凸块120。在本实施例中，凸块120配置于基板110上。在一些实施例中，凸块120可以依据要检测的点位排列，且凸块120的位置可以视为检测点p。另外，基板110适于放置于要被检测的触控板(例如电磁触控板200)上，如图1所示。在一些实施例中，要检测的触控板例如是电磁触控板200，但不以此为限。
22.基板110可以是具有支撑力的板，例如为硬质基板。凸块120可以暂时的或永久的固定于基板110上。基板110与凸块120可以包括相同材质或是不同材质。用于基板110与凸块120的材质是允许磁力线通过的材质。基板110与凸块120的材质为非导体材料，且不包括金属的材质，以免影响电磁检测的结果。在一些实施例中，基板110与凸块120可以为一体成形，且两者之间不存在结构交界。举例而言，基板110与凸块120可通过模制的方式制作而为一体成形的。在一些实施例中，凸块120可利用粘合材料贴附于基板110上。在一些实施例中，凸块120可利用锁附的方式固定于基板110上。在一些实施例中，凸块120可利用可拆卸式的固定方式配置于基板110上。
23.配置于基板110上的凸块120可具有一定的稳固性，不容易自基板110被剥除。亦即，凸块120既使采用可拆卸的方式配置于基板110上，配置于基板110上的凸块120仍可承受一定的外力不容易被剥离。另外，凸块120在基板110上的布局排列可依据设定检测点位决定。若凸块120利用可拆卸式的固定方式配置于基板110上，凸块120的布局排列可随每次检测的需求来调整。因此，检测治具100可灵活调整而适用于不同检测应用。
24.图2示意性的呈现本发明的一实施例的触控板的检测方法。图2采用图1的检测治具100对电磁触控板200进行检测且图2对应于图1中的区域e，因此图1与图2中相同的元件符号用于表示相同的构件。要检测电磁触控板200时可先将检测治具100安装至电磁触控板200上，其中检测治具100包括基板110与多个凸块120，且凸块120沿着检测轨迹tp排列。基板110可以放置于电磁触控板200上使得基板110位于电磁触控板200与凸块120之间。接着，使触控笔300在检测治具100上沿检测轨迹tp移动而通过这些凸块120。在一些实施例中，触控笔300在检测治具100上沿检测轨迹tp移动的移动速率可以由10毫米/秒至50毫米/秒，但不以此为限。经检测后，可将检测治具100自电磁触控板200移开，即完成检测作业。检测后，判定为合格的电磁触控板200可搭配显示面板作为触控显示装置，单独使用，或是整合于其他电子产品中。
25.在一些实施例中，触控笔300可具有触碰尖端302。触碰尖端302被按压的状态下可促使触控笔300发出信号，此时为检测的有效信号，而触碰尖端302未被按压的状态下触控笔300不会发出信号，此时为检测的无效信号。在另一些实施例中，触控笔300持续地发出信号，当触碰尖端302被按压的程度不同时，例如:在凸点被按压程度比较大，判断为有效信
号，而在无凸点处，被按压程度比较小或无被按压时，被判断为无效信号。此外，触控笔300可发出不同的信号。触控笔300发出的信号是可以被触控板200感应的信号，例如是电磁信号。因此，触控笔300移动的过程中，电磁触控板200可感应对应的信号而用于检测电磁触控板200的感测通道是否正常。
26.在此，将图2中两个凸块120定义出来的检测点分别标注为检测点p1与检测点p2来说明。以图2而言，触控笔300沿检测轨迹tp在检测治具100上移动时至少可以经过定义出检测点p1的凸块120以及定义出检测点p2的凸块120。在本实施例中，触控笔300沿检测轨迹tp在检测治具100上移动的过程中，触碰尖端302被按压的状态会有变化。因此，触控电磁板100所感应到的信号可用于判断检测结果。举例而言，由于凸块120是基板110上相对凸出的结构，触控笔300在检测治具100上沿检测轨迹tp移动的步骤可使得触控笔300的触碰尖端302在检测点p1与检测点p2处受到凸块120抵顶而促使触控笔300发出信号。因此，触控笔300移动至检测点p1与检测点p2时，电磁触控板200可接收到触控笔300所发出的信号。
27.本实施例的检测方法可依据电磁触控板200接收到的信号来判断电磁触控板200是否正常。举例而言，电磁触控板200的感测结果显示触控笔300移动至检测点p1与检测点p2时都有对应的信号，则表示检测点p1与检测点p2所对应的感测通道可正常感应。如果电磁触控板200的感测结果显示触控笔300移动至检测点p1与检测点p2中至少一者没有对应的信号，则表示检测点p1与检测点p2中至少一者所对应的感测通道无法正常感应。使用上述检测方法可检测电磁触控板200是否为合格品。
28.在一些实施例中，凸块120沿检测轨迹tp所测量的宽度w120可设计成确保触控笔300在凸块120上移动2毫米甚至更长距离的过程中，触碰尖端302维持被凸块120抵顶。举例而言，凸块120沿检测轨迹tp所测量的宽度w120可为2毫米，但本发明不以上述为限，宽度w120的设计在1毫米～3毫米皆为合宜的范围。另外，检测过程中，触控笔300相对的高度位置，可设置成触控笔300的触碰尖端302，在未被按压时的高度与凸块120的顶面之间的距离ds等于或大于触控笔300的触碰尖端302的可压缩距离，距离ds例如为1毫米，但不以此为限。
29.另外，在一些实施例中，触控笔300在检测治具100上沿检测轨迹tp移动的步骤使得触控笔300的触碰尖端302在远离凸块120时未受到按压。如图2所示，触控笔300位于凸块120之间的间隔区段sp时，触碰尖端302可以不接触基板110而未被按压。触控笔300位于间隔区段sp时，触控笔300不会发出信号。因此，触控笔300在检测治具100上沿检测轨迹tp移动的过程中，仅在触控笔300位于检测点p1与检测点p2时会发出信号，触控板200可依据是否检测到的信号来判断检测点p1与检测点p2所对应的感测通道是否正常。在另一实施例中，触控笔300持续发出信号，仅在触控笔300位于检测点p1与检测点p2时电磁触控板200会判断为有效信号，在沿检测轨迹tp移动的过程中，电磁触控板200会判断为无效信号，即有效信号才会用来判断感测通道是否正常。
30.在一些实施例中，触控笔300位于凸块120之间的间隔区段sp时，触碰尖端302可抵押基板110而被按压。不过，触碰尖端302在间隔区段sp处被按压的程度可比在凸块120处被按压的程度小，而使得触控笔300在间隔区段sp处与在凸块120处可发出不同的信号(例如电磁场大小不同)。由于触控笔300位于检测点p1与检测点p2的信号以及触控笔300位于间隔区段sp的信号可以区别，电磁触控板200可依据检测到的信号差异来判断检测点p1与检
测点p2所对应的感测通道是否正常。
31.在没有检测治具100时，触控笔300沿检测轨迹tp移动的过程中，触碰尖端302持续被按压，使得触控笔300位于间隔区段sp时仍会发出信号。并且，触控笔300位于不同位置时，触碰尖端302被按压的程度可能没有明显差异。如此，电磁触控板200可能无法正确区别出对应于检测点的信号，甚至误判间隔区段sp中存在有其他检测点，而导致检测结果不正确。为了解决这样的问题，需要进行额外的检测步骤，例如使用触控笔300单独按压个别检测点来确定对应的检测通道是否正常。因此，没有了检测治具100，电磁触控板200的检测方法可能需要至少沿检测轨迹tp移动触控笔300(例如画线)的连续检测步骤以及使用触控笔300单独按压个别检测点的单点检测步骤。有了检测治具100，如图2的实施例所示，可以只采用沿检测轨迹tp移动触控笔300的连续检测步骤即可得到正确的检测结果。换言之，检测治具100有助于提高电磁触控板200的检测效率。
32.图3与图4示意性的呈现电磁触控板的感测通道与检测治具100的检测点的布局关系。在一些实施例中，电磁触控板如图3与图4所示的具有n个第一感测通道x1～xn，以及m个第二感测通道y1～ym-1、ym，n与m为正整数。第一感测通道x1～xn例如各自沿第一方向d1延伸，第二感测通道y1～ym例如各自沿第二方向d2延伸，且第一方向d1与第二方向d2相交而使第一感测通道x1～xn与第二感测通道y1～ym建立感测阵列。搭配图1的检测治具100检测电磁触控板200时，检测治具100的凸块120可对应的设置于这些检测点p的位置。换言之，图3与图4的检测点p的布局可视为检测治具100的凸块120的布局的实施方式。
33.在图3中，检测点p可以设置在第一感测通道x1～xn与第二感测通道y1～ym-1、ym中最边缘的感测通道，例如沿着第一感测通道x1、第一感测通道xn、第二感测通道y1与第二感测通道ym设置。如此，检测点p可以排列成环，也就是说，对应的检测轨迹tp(图2)为环状。在图4中，第一感测通道x1～xn与第二感测通道y1～ym的数量相等，也就是n等于m，且检测点p可以排列成线。也就是说，对应的检测轨迹tp(图2)为线状，且沿对角线排列。举例而言，检测点p例如设置在(xi,yi)位置，其中i为1到n(或m)。图3与图4的检测点p布局设计可允许所有感测通道都确实被检测且检测点p的数量少于感测通道的数量，但不以此为限。
34.另外，图3与图4的检测点p布局设计可搭配图2的检测方法来进行检测。举例而言，检测点p以图3的方式设置时，电磁触控板的检测方法可以是使触控笔沿着检测点p所围出的环形轨迹移动，也就是说检测点p所围出的环形轨迹可以作为图2中的检测轨迹tp。检测点p以图4的方式设置时，电磁触控板的检测方法可以是使触控笔沿着检测点p排列出来的线性轨迹移动，也就是说图2中的检测轨迹tp可以是通过排成一线的检测点的线性轨迹。不过，图3与图4的检测点布局仅是举例说明之用，并非用于限定本发明的实施方式。
35.图5与图6示例性的呈现不同的实施例中凸块的侧视示意图，且图5与图6中的任一凸块可应用于图1的检测治具中。在图5中，凸块120沿检测轨迹tp测量的宽度w120可大于或等于2毫米，宽度w120的设计在1～3毫米皆为合宜的范围。设置于基板110上的凸块120的高度h120可沿检测轨迹tp变化，且高度h120的变化呈现沿检测轨迹tp先逐渐增加再逐渐减少。在图5中高度h120沿检测轨迹tp的变化率可以是不固定的，但不以此为限。举例而言，图5的凸块120具有半球状轮廓。
36.在图6中，设置于基板110上的凸块122的高度h122可以沿检测轨迹tp变化，且高度h122的变化呈现沿检测轨迹tp先逐渐增加再维持固定。在图6中高度h122沿检测轨迹tp增
加的变化率可以是固定的，因此凸块122具有倾斜顶面部st与平坦顶面部ft。举例而言，图6的凸块122的轮廓具有导角，但不以此为限。
37.在一些实施例中，凸块122应用于图2所示的检测方法时，触控笔300沿检测路径tp移动的过程可以先接触到倾斜顶面部st再接触平坦顶面部ft，并接着由平坦顶面部ft离开。倾斜顶面部st可使触控笔300的触碰尖端302被按压的应力独逐渐增加，使得触控笔122的移动过程平顺流畅。相似的，图5的凸块120也可提供逐渐升高的顶面，有助于让触控笔300的移动过程平顺流畅。不过，图5与图6仅用于举例说明凸块的外型，并非用于限定本发明的实施方式。
38.综上所述，本发明实施例的检测治具设置有沿着检测轨迹排列的多个凸块以定义出检测点。触控笔沿着检测轨迹移动时，可接触凸块而使触碰尖端被按压，从而产生有效信号供电磁触控板感应。在触控笔离开凸块时，触碰尖端不被按压而不产生信号或是被按压的程度较小而产生不同的信号。因此，触控笔沿着检测轨迹在凸块之间移动的过程中产生不同的信号而可提升检测正确率。同时，触控笔以滑移画线的连续检测步骤就可完成电磁触控板的检测，而可提高电磁触控板的检测效率。
39.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

技术特征：
1.一种触控板的检测治具，其特征在于，包括：基板，适于放置于所述触控板上；以及多个凸块，对应于多个触控检测点配置于所述基板上，且沿检测轨迹排列。2.根据权利要求1所述的触控板的检测治具，其特征在于，所述检测轨迹为环状或线状。3.根据权利要求1所述的触控板的检测治具，其特征在于，所述多个凸块各自的高度沿所述检测轨迹变化。4.根据权利要求3所述的触控板的检测治具，其特征在于，所述高度沿所述检测轨迹先逐渐增加再逐渐减少。5.根据权利要求3所述的触控板的检测治具，其特征在于，所述高度沿所述检测轨迹先逐渐增加再维持固定。6.根据权利要求1所述的触控板的检测治具，其特征在于，所述多个凸块各自沿所述检测轨迹测量的宽度为大于或等于1毫米且小于或等于3毫米。7.一种触控板的检测方法，包括：将检测治具安装至所述触控板上，其中所述检测治具包括：基板；以及多个凸块，对应于多个触控检测点配置于所述基板上，且沿检测轨迹排列；以及使触控笔在所述检测治具上沿所述检测轨迹移动而通过所述凸块。8.根据权利要求7所述的触控板的检测方法，其特征在于，所述触控笔在所述检测治具上沿所述检测轨迹移动的步骤使得所述触控笔的触碰尖端受到所述凸块抵顶而促使所述触控笔发出有效信号。9.根据权利要求8所述的触控板的检测方法，其特征在于，所述触控板适于感测所述触控笔发出的所述有效信号。10.根据权利要求7所述的触控板的检测方法，其特征在于，所述触控笔在所述检测治具上沿所述检测轨迹移动的移动速率由10毫米/秒至50毫米/秒。

技术总结
本发明提供一种触控板的检测治具包括：基板，适于放置于触控板上；以及多个凸块，对应于多个触控检测点配置于基板上，且沿检测轨迹排列。在此亦提出一种触控板的检测方法。列。在此亦提出一种触控板的检测方法。列。在此亦提出一种触控板的检测方法。


技术研发人员：张建兴 陈莹达 谢云南
受保护的技术使用者：川奇光电科技(扬州)有限公司
技术研发日：2022.03.17
技术公布日：2023/9/22