一种陶瓷基板加工用打磨机的制作方法

1.本发明涉及陶瓷基板生产加工技术领域，具体涉及一种陶瓷基板加工用打磨机。


背景技术：

2.陶瓷基板打磨是对陶瓷基板表面进行加工，以获得平整、光滑的表面。这在许多应用领域中是非常重要的，比如电子、光电、能源等。
3.下面是一个常见的陶瓷基板打磨过程：
4.清洗：首先，将陶瓷基板进行彻底清洗，以去除表面的污垢和杂质。可以使用去离子水、有机溶剂等进行清洗。
5.粗磨：使用研磨机械或手动操作，在陶瓷基板表面上施加力量，使用高粗砂纸或砂轮进行粗磨。这一步旨在去除表面的凹凸不平和划痕。
6.中磨：使用中等粒度的砂纸、研磨布或研磨液，对陶瓷基板进行中等程度的打磨。这有助于进一步平整表面并去除较细微的划痕。
7.细磨：使用较细的砂纸、研磨布或细砂磨液，对陶瓷基板进行精细打磨。这将使表面更光滑，减少残留的划痕和缺陷。
8.抛光：最后一步是使用抛光机械或手动操作进行抛光。这有助于进一步提高陶瓷基板的平整度和表面光亮度。
9.其中，在打磨机对陶瓷基板打磨的过程中，会出现打磨机下压施加的力过大时，会造成过度磨削导致陶瓷基板的损坏，并且当陶瓷基板损坏时无法及时的发现，使得打磨机继续对损坏的陶瓷基板打磨，会造成时间上的浪费。


技术实现要素：

10.本发明的目的就在于解决在打磨机对陶瓷基板打磨的过程中，会出现打磨机下压施加的力过大时，会造成过度磨削导致陶瓷基板的损坏，并且当陶瓷基板损坏时无法及时的发现，使得打磨机继续对损坏的陶瓷基板打磨，会造成时间上的浪费的问题，而提出一种陶瓷基板加工用打磨机。
11.本发明的目的可以通过以下技术方案实现：
12.一种陶瓷基板加工用打磨机，包括：
13.平台；
14.移动机构，设置在所述平台上；
15.架体，安装在所述移动机构上，所述移动机构可带动所述平台移动，所述架体内竖向转动连接有螺杆，所述螺杆的端部设置有驱动件所述驱动件可带动所述螺杆转动，所述架体内位于所述螺杆一旁竖向设置有滑杆，所述螺杆和滑杆上穿插有第一块体和第二块体，所述第一块体通过弹簧与所述第二块体连接，所述螺杆与第一块体螺纹连接；
16.打磨机，安装在所述第二块体上，所述打磨机的输出端安装有打磨头；
17.图像采集设备，安装在所述第一块体上，所述图像采集设备用于采集陶瓷基板的
图像特征；
18.所述第一块体内开设有通孔，所述通孔直径大于所述打磨机的直径。
19.作为本发明进一步的方案：所述滑杆底端处固定有第三块体，所述第三块体下方设置有温度探测器，所述第三块体通过连接杆与所述温度探测器连接，所述温度探测器用于探测陶瓷基板的表面温度。
20.作为本发明进一步的方案：所述图像采集设备与所述第一块体之间还设置有支架和调节板，所述调节板通过端部的轴与所述支架转动连接，所述支架与宿舍第一块体固定，所述图像采集设备与所述调节板固定。
21.作为本发明进一步的方案：所述移动机构包括x轴移动组件和y轴移动组件，所述x轴移动组件设置在所述平台上，所述y轴移动组件设置在所述x轴移动组件上，所述x轴移动组件可带动所述y轴移动组件沿x轴进行横向移动，所述y轴移动组件可带动所述架体在沿y轴进行横向移动。
22.作为本发明进一步的方案：所述平台顶部位于所述打磨头下方还设置有吸附设备，所述吸附设备用于对陶瓷基板进行吸附限位。
23.本发明的有益效果：本发明通过两个块体之间设置弹簧，由第一块体通过弹簧带动第二块体下降，使得打磨机在下压打磨的时候，会产生一定的回复性，避免了下压施加的力过大时，造成的过度磨削导致陶瓷基板的损坏，并且搭配上图像采集设备，时时采集陶瓷基板的图像进行分析处理。
附图说明
24.下面结合附图对本发明作进一步的说明。
25.图1是本发明的结构示意图；
26.图2是本发明图像采集设备和温度探测器的位置示意图；
27.图3是本发明局部的结构示意图。
28.图中：1、平台；2、x轴移动组件；3、y轴移动组件；4、架体；5、驱动件；501、螺杆；502、滑杆；601、第一块体；602、第二块体；603、第三块体；621、弹簧；7、温度探测器；8、连接杆；9、打磨机；10、打磨头；11、支架；12、调节板；13、图像采集设备；14、吸附设备。
具体实施方式
29.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
30.实施例一，请参阅图1-3所示，本发明为一种陶瓷基板加工用打磨机，包括：
31.平台1；
32.移动机构设置在所述平台1上，移动机构有x轴和y轴两个方向的移动功能；
33.架体4安装在所述移动机构上，所述移动机构可带动所述平台1移动，所述架体4内竖向转动连接有螺杆501，所述螺杆501的端部设置有驱动件5所述驱动件5可带动所述螺杆501转动，驱动件5可以是驱动电机，驱动电机与螺杆501固定，驱动电机带动螺杆501进行转
动，所述架体4内位于所述螺杆501一旁竖向设置有滑杆502，所述螺杆501和滑杆502上穿插有第一块体601和第二块体602，所述第一块体601通过弹簧621与所述第二块体602连接，所述螺杆501与第一块体601螺纹连接，第一块体601和第二块体602都可以在滑杆502上进行滑动；
34.打磨机9安装在所述第二块体602上，所述打磨机9的输出端安装有打磨头10，打磨机9用于对陶瓷基板进行打磨操作，而打磨头10可随意进行更换；
35.图像采集设备13安装在所述第一块体601上，所述图像采集设备13用于采集陶瓷基板的图像特征，图像采集设备13可以是录像机或照相机，通过拍照或录像的方式采集陶瓷基板的图像信息，并将图像传输给外置的分析处理器中，由分析处理器根据采集到的图像信息进行对比分析，可以测得陶瓷基板表面是否出现破损等情况；
36.还需要注意的是：当陶瓷基板在制造或使用过程中可能发生破损或缺陷时，图像采集设备13可以起到关键的作用。这些设备可以是录像机或照相机，它们利用光学传感器捕捉陶瓷基板的图像，通过拍照或录制视频的方式，将图像信息转化为数字信号。
37.通过这些数字信号，图像采集设备13将图像传输给外置的分析处理器。分析处理器使用图像处理算法和比较分析技术，对采集到的图像进行处理和分析。例如，它可以检测出陶瓷基板表面的裂纹、碎片或其他破损部分，甚至可以测量缺陷的尺寸和形状。
38.这种图像采集和分析技术具有很高的准确性和效率。与传统的目测或手动检查方法相比，它能够提供更精确和一致的结果，并能够实时监测和记录陶瓷基板的质量状况。
39.此外，由于采集设备的非接触性，它提供了一种非破坏性的检测方法，不会对陶瓷基板造成进一步损伤。这使得该技术在生产线上的实时监测和检测中非常有用，能够及时发现和排除生产过程中的异常，并提高产品的质量和可靠性。
40.总的来说，图像采集设备13在陶瓷基板行业扮演着重要的角色，通过采集和分析图像特征，提供了一种准确、高效和非破坏性的检测方法，可以有效改善生产过程，提高产品质量和性能。
41.所述第一块体601内开设有通孔，所述通孔直径大于所述打磨机9的直径。第一块体601是通过通孔套设在打磨机9上的。
42.实施例二，请参阅图1-3所示，本发明为一种陶瓷基板加工用打磨机，包括：
43.平台1；
44.移动机构设置在所述平台1上，移动机构有x轴和y轴两个方向的移动功能；
45.架体4安装在所述移动机构上，所述移动机构可带动所述平台1移动，所述架体4内竖向转动连接有螺杆501，所述螺杆501的端部设置有驱动件5所述驱动件5可带动所述螺杆501转动，驱动件5可以是驱动电机，驱动电机与螺杆501固定，驱动电机带动螺杆501进行转动，所述架体4内位于所述螺杆501一旁竖向设置有滑杆502，所述螺杆501和滑杆502上穿插有第一块体601和第二块体602，所述第一块体601通过弹簧621与所述第二块体602连接，所述螺杆501与第一块体601螺纹连接，第一块体601和第二块体602都可以在滑杆502上进行滑动；
46.所述滑杆502底端处固定有第三块体603，所述第三块体603下方设置有温度探测器7，所述第三块体603通过连接杆8与所述温度探测器7连接，所述温度探测器7用于探测陶瓷基板的表面温度。
47.其中，温度探测器7可用于探测和测量陶瓷基板的表面温度。这些温度探测器7可以是红外线热像仪、热电偶、红外线温度传感器等。
48.红外线热像仪是一种常用的温度探测器7，它利用红外线辐射来测量物体表面的温度。它能够将红外辐射转换为图像，通过不同颜色或灰度表达不同的温度值。热像仪可以实时监测陶瓷基板的表面温度分布，检测是否存在异常的热点或温度变化。
49.热电偶是另一种常用的温度探测器7，它基于热电效应原理工作。热电偶由两种不同材料的金属丝组成，当其中一个金属受热时，产生的温差将引起两个金属之间的电动势差。通过测量电动势差，可以计算出陶瓷基板的表面温度。
50.红外线温度传感器是一种非接触式的温度探测器7，通过测量物体表面所发射的红外线辐射来计算温度。它具有快速响应、高精度和长寿命的特点，适用于在生产线上对陶瓷基板进行连续监测。
51.通过使用这些温度探测器7，可以实时监测陶瓷基板的表面温度，以确保其在工作过程中的稳定性和安全性。温度异常或突变可能表示热损伤、过热或其他问题，及时发现并采取适当的措施，可以防止陶瓷基板在使用过程中出现损坏，并确保产品的质量和可靠性。
52.打磨机9安装在所述第二块体602上，所述打磨机9的输出端安装有打磨头10，打磨机9用于对陶瓷基板进行打磨操作，而打磨头10可随意进行更换；
53.图像采集设备13安装在所述第一块体601上，所述图像采集设备13用于采集陶瓷基板的图像特征，图像采集设备13可以是录像机或照相机，通过拍照或录像的方式采集陶瓷基板的图像信息，并将图像传输给外置的分析处理器中，由分析处理器根据采集到的图像信息进行对比分析，可以测得陶瓷基板表面是否出现破损等情况；
54.还需要注意的是：当陶瓷基板在制造或使用过程中可能发生破损或缺陷时，图像采集设备13可以起到关键的作用。这些设备可以是录像机或照相机，它们利用光学传感器捕捉陶瓷基板的图像，通过拍照或录制视频的方式，将图像信息转化为数字信号。
55.通过这些数字信号，图像采集设备13将图像传输给外置的分析处理器。分析处理器使用图像处理算法和比较分析技术，对采集到的图像进行处理和分析。例如，它可以检测出陶瓷基板表面的裂纹、碎片或其他破损部分，甚至可以测量缺陷的尺寸和形状。
56.这种图像采集和分析技术具有很高的准确性和效率。与传统的目测或手动检查方法相比，它能够提供更精确和一致的结果，并能够实时监测和记录陶瓷基板的质量状况。
57.此外，由于采集设备的非接触性，它提供了一种非破坏性的检测方法，不会对陶瓷基板造成进一步损伤。这使得该技术在生产线上的实时监测和检测中非常有用，能够及时发现和排除生产过程中的异常，并提高产品的质量和可靠性。
58.总的来说，图像采集设备13在陶瓷基板行业扮演着重要的角色，通过采集和分析图像特征，提供了一种准确、高效和非破坏性的检测方法，可以有效改善生产过程，提高产品质量和性能。
59.所述图像采集设备13与所述第一块体601之间还设置有支架11和调节板12，所述调节板12通过端部的轴与所述支架11转动连接，所述支架11与宿舍第一块体601固定，所述图像采集设备13与所述调节板12固定。
60.所述第一块体601内开设有通孔，所述通孔直径大于所述打磨机9的直径。第一块体601是通过通孔套设在打磨机9上的。
61.实施例三，在实施例一或实施例二的基础上，所述移动机构包括x轴移动组件2和y轴移动组件3，所述x轴移动组件2设置在所述平台1上，所述y轴移动组件3设置在所述x轴移动组件2上，所述x轴移动组件2可带动所述y轴移动组件3沿x轴进行横向移动，所述y轴移动组件3可带动所述架体4在沿y轴进行横向移动。
62.所述平台1顶部位于所述打磨头10下方还设置有吸附设备14，所述吸附设备14用于对陶瓷基板进行吸附限位。
63.吸附设备14在陶瓷基板生产和处理过程中，可以起到吸附和限位的作用。它可以将陶瓷基板牢固地吸附在设备上，并提供准确的位置限位，以确保在后续的加工、检测或组装过程中，陶瓷基板能够保持稳定的位置和姿态。
64.吸附设备14通常采用真空吸附技术，在设备表面建立一定的真空压力，使得陶瓷基板与设备之间产生牢固的吸附效果。这种吸附方式能够确保陶瓷基板具有足够的粘附力，防止其在处理过程中的滑动、移位或倾斜。
65.同时，吸附设备14还可以提供精确的限位功能。通过设定吸附设备14的位置和形状，可以确保陶瓷基板在吸附后处于所需的位置和角度。这对于后续工序的准确定位和操作非常重要，例如精密加工、光刻、焊接或组装等。
66.吸附设备14不仅可以在陶瓷基板生产中起到关键的作用，还可以在其他行业和应用中发挥重要作用。例如，在半导体制造、电子装配、光学器件加工等领域中，吸附设备14可以用于固定和定位工件，以保证生产过程的稳定性和精度。
67.总的来说，吸附设备14对于陶瓷基板的吸附和限位具有重要意义。它能够确保基板在后续处理过程中保持稳定的位置和姿态，从而保证产品的质量和性能。同时，吸附设备14还能提高生产效率和工艺精度，对于陶瓷基板的制造和加工具有不可或缺的作用。
68.以上对本发明的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本发明的权利要求涵盖范围之内。

技术特征：
1.一种陶瓷基板加工用打磨机，其特征在于，包括：平台(1)；移动机构，设置在所述平台(1)上；架体(4)，安装在所述移动机构上，所述移动机构可带动所述平台(1)移动，所述架体(4)内竖向转动连接有螺杆(501)，所述螺杆(501)的端部设置有驱动件(5)所述驱动件(5)可带动所述螺杆(501)转动，所述架体(4)内位于所述螺杆(501)一旁竖向设置有滑杆(502)，所述螺杆(501)和滑杆(502)上穿插有第一块体(601)和第二块体(602)，所述第一块体(601)通过弹簧(621)与所述第二块体(602)连接，所述螺杆(501)与第一块体(601)螺纹连接；打磨机(9)，安装在所述第二块体(602)上，所述打磨机(9)的输出端安装有打磨头(10)；图像采集设备(13)，安装在所述第一块体(601)上，所述图像采集设备(13)用于采集陶瓷基板的图像特征；所述第一块体(601)内开设有通孔，所述通孔直径大于所述打磨机(9)的直径。2.根据权利要求1所述的一种陶瓷基板加工用打磨机,其特征在于，所述滑杆(502)底端处固定有第三块体(603)，所述第三块体(603)下方设置有温度探测器(7)，所述第三块体(603)通过连接杆(8)与所述温度探测器(7)连接，所述温度探测器(7)用于探测陶瓷基板的表面温度。3.根据权利要求1所述的一种陶瓷基板加工用打磨机,其特征在于，所述图像采集设备(13)与所述第一块体(601)之间还设置有支架(11)和调节板(12)，所述调节板(12)通过端部的轴与所述支架(11)转动连接，所述支架(11)与宿舍第一块体(601)固定，所述图像采集设备(13)与所述调节板(12)固定。4.根据权利要求1至3任意一项所述的一种陶瓷基板加工用打磨机,其特征在于，所述移动机构包括x轴移动组件(2)和y轴移动组件(3)，所述x轴移动组件(2)设置在所述平台(1)上，所述y轴移动组件(3)设置在所述x轴移动组件(2)上，所述x轴移动组件(2)可带动所述y轴移动组件(3)沿x轴进行横向移动，所述y轴移动组件(3)可带动所述架体(4)在沿y轴进行横向移动。5.根据权利要求4所述的一种陶瓷基板加工用打磨机,其特征在于，所述平台(1)顶部位于所述打磨头(10)下方还设置有吸附设备(14)，所述吸附设备(14)用于对陶瓷基板进行吸附限位。

技术总结
本发明公开了一种陶瓷基板加工用打磨机，包括：平台；移动机构，设置在所述平台上；架体，安装在所述移动机构上，所述移动机构可带动所述平台移动，所述架体内竖向转动连接有螺杆，所述螺杆的端部设置有驱动件所述驱动件可带动所述螺杆转动，所述架体内位于所述螺杆一旁竖向设置有滑杆，所述螺杆和滑杆上穿插有第一块体和第二块体，所述第一块体通过弹簧与所述第二块体连接。本发明通过两个块体之间设置弹簧，由第一块体通过弹簧带动第二块体下降，使得打磨机在下压打磨的时候，会产生一定的回复性，避免了下压施加的力过大时，造成的过度磨削导致陶瓷基板的损坏，并且搭配上图像采集设备，时时采集陶瓷基板的图像进行分析处理。时时采集陶瓷基板的图像进行分析处理。时时采集陶瓷基板的图像进行分析处理。


技术研发人员：王永见
受保护的技术使用者：深圳市正蓝实业有限公司
技术研发日：2023.07.13
技术公布日：2023/9/20