全自动摄像精准PCBA电路板物料检测系统的制作方法

全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统
技术领域
1.本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统。


背景技术：

2.现有技术之中经常需要通过摄像pcba电路板获取图像进行物料检测，在这种电路板物料检测中关键的技术为图像处理的技术，图像处理的技术之中比较关键的为图像去噪和识别，现有技术之中图像识别技术非常多且非常成熟，图像去噪却关注较少，现有技术中在图像检测中需要对图像的噪点进行判断和去噪，在图像的噪点判断中，一般根据像素值与固定阈值来进行比较判断某个像素点是否为噪点，这种方式非常不精准，主要是因为在电路板的图像中，一般图像噪点很多，也有本质的为正确的像素点，因为像素值超过了固定阈值，可能会被误认为图像噪点，尤其在很多边界像素点之中存在很多超过了固定阈值的非噪点，边界像素点最容易被误判为图像的噪点，但是边界像素点在确定图像边界中又非常重要，所以说现有技术在对噪点处理中，因为容易将非噪点误认为噪点，尤其容易将边界点误认为噪点，就导致了后期的图像识别存在不精准的问题。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于提供一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，以解决上述背景技术中提出的问题。
4.为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，包括全自动摄像图像采集单元、图像处理单元、处理结果输出单元，其中的全自动摄像图像采集单元其用于对pcba电路板物料进行图像的采集；图像处理单元其用于获取pcba电路板物料图像并且对图像进行相对性去噪与检测识别；处理结果输出单元其用于输出检测识别的结果。
5.进一步，对图像进行相对性去噪即指根据图像的相对性特点进行去噪，包括根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪和根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪。
6.进一步，根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪包括根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪。
7.进一步，根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（xi，yi），xi为第i个像素点的横坐标，yi为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个区域性像素点及其确定的坐标位置（xj，yj）和像素值pj，xj为第j个区域性像素点的横坐标，yj为第j个区域性像素点的纵坐标，pj为第j个区域性像素点的像素值，每一个区域性像素点的坐标均满足（x
0-xj）2+（y
0-yj）2《n1，n1为第一距离常数；则目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值为q1，
q1=，m1为m的取值的最大值，j1为j取值的最大值，t为变量调整参数。
8.进一步，根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪包括根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪。
9.进一步，根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（xi，yi），xi为第i个像素点的横坐标，yi为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个整体性像素点及其确定的坐标位置（xk，yk）和像素值pk，xk为第k个整体性像素点的横坐标，yk为第k个整体性像素点的纵坐标，pk为第k个整体性像素点的像素值，每一个整体性像素点的坐标均满足n1《（x
0-xk）2+（y
0-yk）2《n2，n1为第一距离常数,n2为第二距离常数；则目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值为r1*q1+r2*q2，r1与r2均为权重值，q2=，m1为m的取值的最大值，k1为k取值的最大值，t为变量调整参数。
10.进一步，图像处理单元采用上位机。
11.进一步，上位机的功能的程序代码存储在机器可读介质，机器可读介质包括机器可读信号介质或机器可读储存介质。
12.与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：本发明对图像进行相对性去噪不同于现有技术之中“根据像素值与固定阈值来进行比较判断某个像素点是否为噪点”，具体根据图像的区域性与整体性的相对性特点进行噪点识别，能够提高识别精度，不会将非噪点误认为噪点，尤其不会将边界点误认为噪点。
附图说明
13.图1为本发明全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统组成框图。
14.图2为本发明全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统的实施过程流程图。
具体实施方式
15.下面将结合本发明实施例与附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
16.现有技术中在pcba电路板物料图像检测中需要对图像的噪点进行判断和去噪，在图像的噪点判断中，一般根据像素值与固定阈值来进行比较判断某个像素点是否为噪点，这种方式非常不精准，面对这样的问题，本发明公开了一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，如图1，包括全自动摄像图像采集单元、图像处理单元、处理结果输出单元，其
中的全自动摄像图像采集单元即全自动摄像机，其用于对pcba电路板物料进行图像的采集，对pcba电路板物料进行图像的采集一般的摄像设备均可以实现，属于现有技术不再赘述；图像处理单元采用上位机，其用于获取pcba电路板物料图像并且对图像进行相对性去噪与检测识别；对图像进行相对性去噪即指根据图像的相对性特点进行去噪，包括根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪和根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪；根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪包括根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪；根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（xi，yi），xi为第i个像素点的横坐标，yi为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个区域性像素点及其确定的坐标位置（xj，yj）和像素值pj，xj为第j个区域性像素点的横坐标，yj为第j个区域性像素点的纵坐标，pj为第j个区域性像素点的像素值，每一个区域性像素点的坐标均满足（x
0-xj）2+（y
0-yj）2《n1，n1为第一距离常数，具体为固定常数比如为4或9；则目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值为q1，q1=，m1为m的取值的最大值，j1为j取值的最大值，m与j均为中间变量，具体为变数，j用于计数区域性像素点的个数，m用于调整判别阈值的上限，即最终确定调整判别阈值的上限，一般的取值大于100，比如等于200，t用于调整像素值pj，t为变量调整参数，一般的t取值区间为-（max(pj)）到max(pj)；根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪包括根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪；根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（xi，yi），xi为第i个像素点的横坐标，yi为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个整体性像素点及其确定的坐标位置（xk，yk）和像素值pk，xk为第k个整体性像素点的横坐标，yk为第k个整体性像素点的纵坐标，pk为第k个整体性像素点的像素值，每一个整体性像素点的坐标均满足n1《（x
0-xk）2+（y
0-yk）2《n2，n1为第一距离常数，具体为固定常数比如为4或9,n2为第二距离常数，具体为固定常数比如为16或36；则目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值为r1*q1+r2*q2，r1与r2均为权重值，比如分别取值为0.7与0.3，q2=，m1为m的取值的最大值，k1为k取值的最大值，m与k均为中间变量，具体为变数，k用于计数整体性像素点的个数，m用于调整判别阈值的上限，即最终确定调整判别阈值的上限，一般的取值大于100，比如等于200，t用于调整像素值pk，t为变量调整参数，一般的t取值区间为-（max(pk)）到max(pk)；其中对于图像检测识别，现有很多图像处理算法均可以实现，属于现有技术不再赘述；处理结果输出单元采用上位机的输出设备，其用于输出检测识别的结果，比如具
体采用显示器或扬声器进行识别结果输出，也属于现有技术不再赘述。
17.如图2，本发明全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统的实施过程包括，全自动摄像图像采集单元首先对pcba电路板物料进行图像的采集，图像处理单元获取pcba电路板物料图像并且对图像进行相对性去噪与检测识别，然后处理结果输出单元输出检测识别的结果，值得注意的本发明对图像进行相对性去噪不同于现有技术之中“根据像素值与固定阈值来进行比较判断某个像素点是否为噪点”，具体根据图像的区域性与整体性的相对性特点进行噪点识别，能够提高识别精度，不会将非噪点误认为噪点，尤其不会将边界点误认为噪点。
18.本发明需要保护的实施例包括：全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，包括全自动摄像图像采集单元、图像处理单元、处理结果输出单元，其中的全自动摄像图像采集单元其用于对pcba电路板物料进行图像的采集；图像处理单元其用于获取pcba电路板物料图像并且对图像进行相对性去噪与检测识别；处理结果输出单元其用于输出检测识别的结果。
19.优选地，对图像进行相对性去噪即指根据图像的相对性特点进行去噪，包括根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪和根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪。
20.优选地，根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪包括根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪。
21.优选地，根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（xi，yi），xi为第i个像素点的横坐标，yi为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个区域性像素点及其确定的坐标位置（xj，yj）和像素值pj，xj为第j个区域性像素点的横坐标，yj为第j个区域性像素点的纵坐标，pj为第j个区域性像素点的像素值，每一个区域性像素点的坐标均满足（x
0-xj）2+（y
0-yj）2《n1，n1为第一距离常数；则目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值为q1，q1=，m1为m的取值的最大值，j1为j取值的最大值，t为变量调整参数。
22.优选地，根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪包括根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪。
23.优选地，根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（xi，yi），xi为第i个像素点的横坐标，yi为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个整体性像素点及其确定的坐标位置（xk，yk）和像素值pk，xk为第k个整体性像素点的横坐标，yk为第k个整体性像素点的纵坐标，pk为第k个整体性像素点的像素值，每一个整体性像素点的坐标均满足n1《（x
0-xk）2+（y
0-yk）2《n2，n1为第一距离常数,n2为第二距离常数；则目标像素点的整体性像素值确
定个性的判别阈值为r1*q1+r2*q2，r1与r2均为权重值，q2=，m1为m的取值的最大值，k1为k取值的最大值，t为变量调整参数。
24.优选地，图像处理单元采用上位机。
25.优选地，本发明中上位机的功能的程序代码存储在机器可读介质，机器可读介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦除可编程只读存储器(eprom或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(cd-rom)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。为了提供与用户的交互，可以在计算机上实施此处描述的上位机，该计算机具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，crt(阴极射线管)或者lcd(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给计算机。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
26.由技术常识可知，本发明可以通过其它的不脱离其精神实质或必要特征的实施方案来实现。上述公开的实施方案，就各方面而言，都只是举例说明，并不是仅有的。所有在本发明范围内或在等同于本发明的范围内的改变均被本发明包含。

技术特征：
1.一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，包括全自动摄像图像采集单元、图像处理单元、处理结果输出单元，其中的全自动摄像图像采集单元其用于对pcba电路板物料进行图像的采集；图像处理单元其用于获取pcba电路板物料图像并且对图像进行相对性去噪与检测识别；处理结果输出单元其用于输出检测识别的结果。2.根据权利要求1所述的一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，对图像进行相对性去噪即指根据图像的相对性特点进行去噪，包括根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪和根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪。3.根据权利要求2所述的一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，根据图像目标像素点的区域性相对特点去噪包括根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪。4.根据权利要求3所述的一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，根据目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（x
i
，y
i
），x
i
为第i个像素点的横坐标，y
i
为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个区域性像素点及其确定的坐标位置（x
j
，y
j
）和像素值p
j
，x
j
为第j个区域性像素点的横坐标，y
j
为第j个区域性像素点的纵坐标，p
j
为第j个区域性像素点的像素值，每一个区域性像素点的坐标均满足（x
0-x
j
）2+（y
0-y
j
）2<n1，n1为第一距离常数；则目标像素点的区域性像素值确定个性的判别阈值为q1，q1=，m1为m的取值的最大值，j1为j取值的最大值，t为变量调整参数。5.根据权利要求3所述的一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，根据图像目标像素点的整体性相对特点去噪包括根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值，以个性的判别阈值判断目标像素点是不是噪点并进行去噪。6.根据权利要求5所述的一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，根据目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值具体包括有，首先将图像处理为灰度图并获取每一个像素点的像素值，然后为整个图像划分出二维度坐标并且为每一个像素点分配确定的坐标位置（x
i
，y
i
），x
i
为第i个像素点的横坐标，y
i
为第i个像素点的纵坐标，假设目标像素点的坐标位置（x0，y0）然后获取若干个整体性像素点及其确定的坐标位置（x
k
，y
k
）和像素值p
k
，x
k
为第k个整体性像素点的横坐标，y
k
为第k个整体性像素点的纵坐标，p
k
为第k个整体性像素点的像素值，每一个整体性像素点的坐标均满足n1<（x
0-x
k
）2+（y
0-y
k
）2<n2，n1为第一距离常数,n2为第二距离常数；则目标像素点的整体性像素值确定个性的判别阈值为r1*q1+r2*q2，r1与r2均为权重值，q2=，m1为m的取值的最大值，k1为k取值的最大值，t为变量调整参数。7.根据权利要求1所述的一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，图像处理单元采用上位机。8.根据权利要求7所述的一种全自动摄像精准pcba电路板物料检测系统，其特征在于，
上位机的功能的程序代码存储在机器可读介质，机器可读介质包括机器可读信号介质或机器可读储存介质。

技术总结
本发明公开了一种全自动摄像精准PCBA电路板物料检测系统，涉及图像处理技术领域，包括全自动摄像图像采集单元、图像处理单元、处理结果输出单元，其中的全自动摄像图像采集单元其用于对PCBA电路板物料进行图像的采集；图像处理单元其用于获取PCBA电路板物料图像并且对图像进行相对性去噪与检测识别；处理结果输出单元其用于输出检测识别的结果，本发明对图像进行相对性去噪不同于现有技术之中“根据像素值与固定阈值来进行比较判断某个像素点是否为噪点”，具体根据图像的区域性与整体性的相对性特点进行噪点识别，能够提高识别精度，不会将非噪点误认为噪点，尤其不会将边界点误认为噪点。点误认为噪点。点误认为噪点。


技术研发人员：黄达林 刘胜 邓银 李跃升
受保护的技术使用者：深圳市小铭工业互联网有限公司
技术研发日：2023.08.22
技术公布日：2023/9/20