芯片测试分选一体机的制作方法

1.本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试分选一体机。


背景技术：

2.芯片，即为大规模集成电路，被应用于各种电路结构中，以简化电路规模。芯片被加工完成后，还需要经过严格的测试工序才能正式下线进入市场。
3.为保证在高温环境下使用的芯片能正常运行，需要对芯片进行高温测试，检测其目标设计性能，是否符合行业标准，测试完毕后再从测试机构中取出，并根据测试结果进行分选。


技术实现要素：

4.本发明的目的是提供一种芯片测试分选一体机，该芯片测试分选一体机可以满足不同情况下的测试需求，还可以实现对合格产品与不合格产品的快速分选，提高了装置的适用性及测试效率。
5.为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种芯片测试分选一体机，包括：设备箱、检测箱分料托盘和收集盒，所述分料托盘位于设备箱周向的侧壁上，一第一电机设置于分料托盘与设备箱之间，并且该第一电机的输出轴与分料托盘的底部套接，使得分料托盘可以左、右倾斜，所述分料托盘的两侧均设置有一滑台，当分料托盘处于倾斜状态时，所述分料托盘与其中一个滑台恰好平行，使得物料可沿滑台滑入位于设备箱两侧的收集盒内；所述检测箱的周向外壁上间隔设置有若干个支撑板将其固定安装在设备箱的顶部，一转盘设置于检测箱的底部，所述转盘与设备箱之间设置有一第二电机，使得物料可在检测箱内部沿转盘的旋转方向移动，所述检测箱相近于分料托盘的一侧开设有出料口，所述检测箱沿相反于转盘旋转方向靠近出料口的一端设置有一进料口，所述检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台，所述检测箱沿转盘旋转方向靠近出料口一端的顶部设置有一相机；所述出料口与分料托盘之间设置有一下料滑板，所述下料滑板的上方设置有一支架，该支架的顶端并且相背于分料托盘的一侧设置有一电动推杆，所述电动推杆的末端设置有一竖直向下的气缸，此气缸的活动杆末端固定连接有一推板。
6.上述技术方案中进一步改进的方案如下：1. 上述方案中，所述设备箱的顶部一侧设置有一控制电脑。
7.2. 上述方案中，所述控制电脑与相机、中温台、高温台、电动推杆、气缸第一电机和第二电机电连接。
8.3. 上述方案中，所述转盘为圆环形转盘。
9.4. 上述方案中，所述转盘的环形内壁上设置有一支架，该支架与第二电机的输出轴连接。
10.5. 上述方案中，所述相机为ccd相机。。
11.6. 上述方案中，所述设备箱的底部四个拐角处各设置有一万向轮。
12.7. 上述方案中，所述设备箱的底部四个拐角处各设置有一支撑腿。
13.8. 上述方案中，所述支撑腿的顶部与设备箱螺纹连接，底部固定连接有一橡胶垫。
14.9. 上述方案中，所述设备箱的三个侧面均设置有箱门。
15.由于上述技术方案的运用，本发明与现有技术相比具有下列优点：1、本发明芯片测试分选一体机，其设置于检测箱底部的转盘与设备箱之间设置有一第二电机，使得物料可在检测箱内部沿转盘的旋转方向移动，检测箱相近于分料托盘的一侧开设有出料口，检测箱沿相反于转盘旋转方向靠近出料口的一端设置有一进料口，检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台，通过将中温台、高温台集成在一个测试箱上，可以满足不同情况下的测试需求，还可以同时对多个芯片进行性能测试，提高了装置的适用性及测试效率。
16.2、本发明芯片测试分选一体机，其支架的顶端且相背于收集盒的一侧设置有一电动推杆，电动推杆的末端设置有一竖直向下的气缸，此气缸的活动杆末端固定连接有一推板，通过气缸与电动推杆之间的配合将物料快速转移，结构简单、可靠，有效避免抓取力度不一致造成芯片掉落损坏的情况；进一步的，其分料托盘位于设备箱周向的侧壁上，第一电机设置于分料托盘与设备箱之间，分料托盘的两侧均设置有一滑台，物料可沿滑台滑入位于设备箱两侧的收集盒内，使得物料通过下料滑板转移至分料托盘，分料托盘将物料导入相应收集盒内，从而实现对合格产品与不合格产品的快速分选，大大提高了产品的分选效率。
附图说明
17.附图1为本发明芯片测试分选一体机的整体结构示意图；附图2为本发明附图1的a处放大示意图；附图3为本发明芯片测试分选一体机的局部结构分解示意图；附图4为本发明芯片测试分选一体机的局部结构示意图；附图5为本发明芯片测试分选一体机的电气控制原理图。
18.以上附图中：1、设备箱；2、检测箱；3、分料托盘；4、第一电机；5、支撑板；6、转盘；7、第二电机；8、出料口；9、进料口；10、中温台；11、高温台；12、相机；13、下料滑板；14、支架；15、电动推杆；16、气缸；17、推板；18、滑台；19、收集盒；20、控制电脑；21、万向轮；22、支撑腿；23、箱门。
具体实施方式
19.在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限
定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。
20.下面结合实施例对本发明作进一步描述：实施例1：一种芯片测试分选一体机，包括：设备箱1、检测箱2分料托盘3和收集盒19，所述分料托盘3位于设备箱1周向的侧壁上，一第一电机4设置于分料托盘3与设备箱1之间，并且该第一电机4的输出轴与分料托盘3的底部套接，使得分料托盘3可以左、右倾斜，所述分料托盘3的两侧均设置有一滑台18，当分料托盘3处于倾斜状态时，所述分料托盘3与其中一个滑台18恰好平行，使得物料可沿滑台18滑入位于设备箱1两侧的收集盒19内；所述检测箱2的周向外壁上间隔设置有若干个支撑板5将其固定安装在设备箱1的顶部，一转盘6设置于检测箱2的底部，所述转盘6与设备箱1之间设置有一第二电机7，使得物料可在检测箱2内部沿转盘6的旋转方向移动，所述检测箱2相近于分料托盘3的一侧开设有出料口8，所述检测箱2沿相反于转盘6旋转方向靠近出料口8的一端设置有一进料口9，所述检测箱2自进料口9沿周向延伸至出料口8的顶部依次设置有中温台10、高温台11，所述检测箱2沿转盘6旋转方向靠近出料口8一端的顶部设置有一相机12；所述出料口8与分料托盘3之间设置有一下料滑板13，所述下料滑板13的上方设置有一支架14，该支架14的顶端并且相背于分料托盘3的一侧设置有一电动推杆15，所述电动推杆15的末端设置有一竖直向下的气缸16，此气缸16的活动杆末端固定连接有一推板17。
21.上述设备箱1的顶部一侧设置有一控制电脑20。
22.上述控制电脑20与相机12、中温台10、高温台11、电动推杆15、气缸16第一电机4和第二电机7电连接。
23.上述转盘6为圆环形转盘。
24.上述设备箱1的底部四个拐角处各设置有一万向轮21。
25.上述设备箱1的底部四个拐角处各设置有一支撑腿22。
26.上述支撑腿22的顶部与设备箱1螺纹连接，底部固定连接有一橡胶垫。
27.上述设备箱1的三个侧面均设置有箱门23。
28.实施例2：一种芯片测试分选一体机，包括：设备箱1、检测箱2分料托盘3和收集盒19，所述分料托盘3位于设备箱1周向的侧壁上，一第一电机4设置于分料托盘3与设备箱1之间，并且该第一电机4的输出轴与分料托盘3的底部套接，使得分料托盘3可以左、右倾斜，所述分料托盘3的两侧均设置有一滑台18，当分料托盘3处于倾斜状态时，所述分料托盘3与其中一个滑台18恰好平行，使得物料可沿滑台18滑入位于设备箱1两侧的收集盒19内；所述检测箱2的周向外壁上间隔设置有若干个支撑板5将其固定安装在设备箱1的顶部，一转盘6设置于检测箱2的底部，所述转盘6与设备箱1之间设置有一第二电机7，使得物料可在检测箱2内部沿转盘6的旋转方向移动，所述检测箱2相近于分料托盘3的一侧开设有出料口8，所述检测箱2沿相反于转盘6旋转方向靠近出料口8的一端设置有一进料口9，所述检测箱2自进料口9沿周向延伸至出料口8的顶部依次设置有中温台10、高温台11，所述检测箱2沿转盘6旋转方向靠近出料口8一端的顶部设置有一相机12；所述出料口8与分料托盘3之间设置有一下料滑板13，所述下料滑板13的上方设置
有一支架14，该支架14的顶端并且相背于分料托盘3的一侧设置有一电动推杆15，所述电动推杆15的末端设置有一竖直向下的气缸16，此气缸16的活动杆末端固定连接有一推板17。
29.上述设备箱1的顶部一侧设置有一控制电脑20。
30.上述控制电脑20与相机12、中温台10、高温台11、电动推杆15、气缸16第一电机4和第二电机7电连接。
31.上述转盘6为圆环形转盘。
32.上述转盘6的环形内壁上设置有一支架14，该支架14与第二电机7的输出轴连接。
33.上述相机12为ccd相机，提高了对产品测试结果判断分析的准确性的同时，也缩短了判断时间。
34.上述设备箱1的底部四个拐角处各设置有一万向轮21。
35.上述设备箱1的底部四个拐角处各设置有一支撑腿22。
36.采用上述芯片测试分选一体机时，工作原理为：使用时将待测试的芯片放入到转盘上，根据测试的需求（例如中温测试、高温测试、中温和高温测试），选择分别启动中温台和高温台，或者同时启动中温台、高温台，例如进行中温测试时，启动中温台对芯片进行中温测试，然后启动第一电机带动转盘转动，使得经过中温测试的芯片转动至相机的下方，并在相机对中温测试后的芯片进行拍照，拍摄的图片输送至控制电脑分析，解决了以往人工检测的不便性，减小人工检测可能出现的误差，使得对芯片的分选效率提升；若满足需求则判断为合格品，此时启动电动推杆利用推板将芯片推动至下料滑板上，并启动第二电机调动托板向一侧滑台转动，使得合格品的芯片通过滑台滑动至其中一个收集盒中；若不满足需求则判断为不合格品，此时启动电动推杆利用推板将芯片推动至滑板上，并启动微型电机调动托板向另一侧滑台转动，使得不合格品的芯片通过另一个滑台滑动至另一个收集盒中。
37.其设置于检测箱底部的转盘与设备箱之间设置有一第二电机，使得物料可在检测箱内部沿转盘的旋转方向移动，检测箱相近于分料托盘的一侧开设有出料口，检测箱沿相反于转盘旋转方向靠近出料口的一端设置有一进料口，检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台，通过将中温台、高温台集成在一个测试箱上，可以满足不同情况下的测试需求，还可以同时对多个芯片进行性能测试，提高了装置的适用性及测试效率；还有，其下料滑板的上方设置有一支架，该支架的顶端且相背于收集盒的一侧设置有一电动推杆，电动推杆的末端设置有一竖直向下的气缸，此气缸的活动杆末端固定连接有一推板，通过气缸与电动推杆之间的配合将物料转移，可以适应不同尺寸的芯片，且相比于通过抓取芯片进行转移的方式，结构简单、可靠，也有效避免抓取力度不一致造成芯片损坏的情况，提高了装置的适用性、可靠性。
38.还有，其分料托盘位于设备箱周向的侧壁上，第一电机设置于分料托盘与设备箱之间，分料托盘的两侧均设置有一滑台，物料可沿滑台滑入位于设备箱两侧的收集盒内，可以实现对合格产品与不合格产品的快速分选，从而大大提高了产品的分选效率。
39.上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明
精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

技术特征：
1.一种芯片测试分选一体机，其特征在于：包括：设备箱（1）、检测箱（2）分料托盘（3）和收集盒（19），所述分料托盘（3）位于设备箱（1）周向的侧壁上，一第一电机（4）设置于分料托盘（3）与设备箱（1）之间，并且该第一电机（4）的输出轴与分料托盘（3）的底部套接，使得分料托盘（3）可以左、右倾斜，所述分料托盘（3）的两侧均设置有一滑台（18），当分料托盘（3）处于倾斜状态时，所述分料托盘（3）与其中一个滑台（18）恰好平行，使得物料可沿滑台（18）滑入位于设备箱（1）两侧的收集盒（19）内；所述检测箱（2）的周向外壁上间隔设置有若干个支撑板（5）将其固定安装在设备箱（1）的顶部，一转盘（6）设置于检测箱（2）的底部，所述转盘（6）与设备箱（1）之间设置有一第二电机（7），使得物料可在检测箱（2）内部沿转盘（6）的旋转方向移动，所述检测箱（2）相近于分料托盘（3）的一侧开设有出料口（8），所述检测箱（2）沿相反于转盘（6）旋转方向靠近出料口（8）的一端设置有一进料口（9），所述检测箱（2）自进料口（9）沿周向延伸至出料口（8）的顶部依次设置有中温台（10）、高温台（11），所述检测箱（2）沿转盘（6）旋转方向靠近出料口（8）一端的顶部设置有一相机（12）；所述出料口（8）与分料托盘（3）之间设置有一下料滑板（13），所述下料滑板（13）的上方设置有一支架（14），该支架（14）的顶端并且相背于分料托盘（3）的一侧设置有一电动推杆（15），所述电动推杆（15）的末端设置有一竖直向下的气缸（16），此气缸（16）的活动杆末端固定连接有一推板（17）。2.根据权利要求1所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述设备箱（1）的顶部一侧设置有一控制电脑（20）。3.根据权利要求2所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述控制电脑（20）与相机（12）、中温台（10）、高温台（11）、电动推杆（15）、气缸（16）第一电机（4）和第二电机（7）电连接。4.根据权利要求1所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述转盘（6）为圆环形转盘。5.根据权利要求4所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述转盘（6）的环形内壁上设置有一支架（14），该支架（14）与第二电机（7）的输出轴连接。6.根据权利要求5所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述相机（12）为ccd相机。7.根据权利要求1所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述设备箱（1）的底部四个拐角处各设置有一万向轮（21）。8.根据权利要求1所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述设备箱（1）的底部四个拐角处各设置有一支撑腿（22）。9.根据权利要求1所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述支撑腿（22）的顶部与设备箱（1）螺纹连接，底部固定连接有一橡胶垫。10.根据权利要求1所述的芯片测试分选一体机，其特征在于：所述设备箱（1）的三个侧面均设置有箱门（23）。

技术总结
本发明公开一种芯片测试分选一体机，其分料托盘的两侧均设置有一滑台，当分料托盘处于倾斜状态时，分料托盘与其中一个滑台恰好平行，使得物料可沿滑台滑入位于设备箱两侧的收集盒内，一转盘设置于检测箱的底部，转盘与设备箱之间设置有一第二电机，检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台，检测箱沿转盘旋转方向靠近出料口一端的顶部设置有一相机，下料滑板的上方设置有一支架，该支架的顶端并且相背于分料托盘的一侧设置有一电动推杆，电动推杆的末端设置有一竖直向下的气缸，此气缸的活动杆末端固定连接有一推板。本发明可以满足不同情况下的测试需求，还可以实现对合格产品与不合格产品的快速分选。选。选。


技术研发人员：李江波 张成 姚燕杰 王丽 位贤龙
受保护的技术使用者：江苏凯尔生物识别科技有限公司
技术研发日：2022.03.09
技术公布日：2023/9/20