一种芯片检测装置的制作方法

1.本实用新型属于芯片检测技术领域，特别是涉及一种芯片检测装置。


背景技术：

2.芯片在制造加工完成后，需要进行相关的检测工作，以便及时发现芯片的瑕疵，从而提高成品质量。随着检测技术的不断发展，芯片的检测工作也主要交由专门的检测设备来完成。
3.目前市面上存在一些芯片检测设备，如中国专利网上公开了一种芯片检测装置，其公开号为cn205643637u，这种检测装置虽然可用于芯片的检测，但是存在一些缺陷和不足有待改进：(1)现有的检测设备由于结构设计的原因，难以实现芯片的连续检测，当检测完一个芯片后，需要取下检测完成的芯片，并补充下一个待检测的芯片，不仅降低了检测工作的效率，同时也增大了检测人员的工作量；(2)现有的检测设备在对芯片进行检测时，其检测组件大多位置固定，难以根据需要进行调节，只能手动调整芯片的放置位置，这个过程需要用手接触芯片，使得芯片的表面容易粘附手汗和污渍，从而影响检测的效果和芯片的成品质量。因此，针对以上问题，本实用新型提供的一种芯片检测装置具有重要意义。


技术实现要素：

4.本实用新型提供了一种芯片检测装置，解决了以上问题。
5.为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：
6.本实用新型的一种芯片检测装置，包括检测台，所述检测台的表面开设有清洁口，其底部固定连接有若干条支撑腿，且所述检测台的顶部固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈l形，其顶部开设有活动槽，所述活动槽的两侧均设置有定位块，所述定位块固定连接在检测架的顶部，其表面开设有定位槽，所述检测架上安装有检测组件，所述检测组件的下方设置有送料机构，所述检测架的两侧分别设置有导料槽和回收箱，所述导料槽的底部固定连接有支架，所述支架固定连接在检测台上，所述回收箱放置于检测台上；
7.所述检测组件包括安装板，所述安装板的底部固定安装有第一电动伸缩杆，其顶部固定连接有活动块，所述活动块的顶部固定连接有凸块，其表面开设有定位孔，所述定位孔内插入有螺杆，所述螺杆上螺纹连接有与其相配合的螺母，所述第一电动伸缩杆的输出轴底端固定连接有检测板，所述检测板的底部安装有检测探头；
8.所述送料机构包括两对辊架，两对所述辊架固定连接在检测台上，并分别位于检测架的两侧，且每对所述辊架上均固定安装有电机，所述电机的输出轴上安装有送料辊，所述送料辊位于每对辊架之间，且两个所述送料辊之间传动连接有送料带。
9.进一步地，所述检测台上固定连接有固定架，所述固定架的侧面呈n字形，并穿过送料带，且所述固定架的顶部固定连接有一对固定板，所述固定板分别位于送料带的前侧和后侧，且所述固定板上固定安装有第二电动伸缩杆，所述第二电动伸缩杆的输出轴末端固定连接有限位板。
10.进一步地，所述送料带的表面刻有人字形防滑纹，所述限位板靠近送料带一侧的侧壁表面安装有一层缓冲垫。
11.进一步地，所述活动块厚度与活动槽的槽宽相等，所述定位孔的孔径与定位槽的槽宽相等，所述凸块的宽度大于两个定位块的间距。
12.进一步地，所述检测台的底部固定连接有安装架，所述安装架位于清洁口的正下方，其侧面呈u字形，且所述安装架的底部固定安装有第三电动伸缩杆，所述第三电动伸缩杆的输出轴顶端固定连接有清洁架，所述清洁架的侧面呈u字形，其两侧均螺纹连接有螺栓，且所述清洁架上安装有清洁辊，所述清洁辊的辊身安装有一层毛刷，其两端均开设有与螺栓相配合的螺纹槽。
13.本实用新型相对于现有技术包括有以下有益效果：
14.(1)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过送料机构将多个待检测的芯片批量送至检测组件的下方进行检测，并将检测完成的芯片导入回收箱进行统一回收，从而可实现连续检测，而无需在检测完每个芯片后再重复进行取下芯片和补充芯片的操作，不仅大大提高了检测工作的效率，同时也有效减小了检测人员的工作量；
15.(2)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过活动块带动整个检测组件沿着活动槽进行滑动，以便根据需要对检测组件的位置进行调节，使其能够正对芯片，而无需手动调整芯片的放置位置，从而有效避免了用手接触芯片而使得芯片的表面粘附手汗和污渍，继而影响芯片的检测效果和成品质量；
16.(3)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过限位板对送料过程中的多块芯片进行统一限位，使其在送料过程中呈一条直线并保持平齐，从而避免芯片在送料过程中的位置发生偏移而影响后续的检测；
17.(4)本实用新型中的检测装置在使用时，可通过清洁辊表面的毛刷对送料带的表面进行刮刷清洁，以有效防止送料带在长时间使用后，其表面粘附灰尘等杂质，而造成芯片在送料过程中粘附这些灰尘杂质。
18.当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。
附图说明
19.为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
20.图1为本实用新型的一种芯片检测装置的立体结构示意图；
21.图2为本实用新型中检测架的结构俯视图；
22.图3为本实用新型中送料机构、固定架与限位板的结构俯视图；
23.图4为本实用新型中检测组件的主剖视图；
24.图5为本实用新型中安装架、清洁架与清洁辊的主剖视图。
25.附图中，各标号所代表的部件列表如下：
26.1、检测台；2、清洁口；3、支撑腿；4、检测架；5、活动槽；6、定位块；7、定位槽；8、导料槽；9、回收箱；10、支架；11、安装板；12、第一电动伸缩杆；13、活动块；14、凸块；15、定位孔；
16、螺杆；17、螺母；18、检测板；19、检测探头；20、辊架；21、电机；22、送料辊；23、送料带；24、固定架；25、固定板；26、第二电动伸缩杆；27、限位板；28、缓冲垫；29、安装架；30、第三电动伸缩杆；31、清洁架；32、螺栓；33、清洁辊；34、毛刷；35、螺纹槽。
具体实施方式
27.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
28.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“相对”、“一端”、“内部”、“横向”、“端部”、“两端”、“两侧”、“正面”、“一端面”、“另一端面”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
29.请参阅图1-5所示，本实用新型的一种芯片检测装置，包括检测台1，检测台1的表面开设有清洁口2，其底部固定连接有若干条支撑腿3，且检测台1的顶部固定连接有检测架4，检测架4的侧面呈l形，其顶部开设有活动槽5，活动槽5的两侧均设置有定位块6，定位块6固定连接在检测架4的顶部，其表面开设有定位槽7，检测架4上安装有检测组件，检测组件的下方设置有送料机构，检测架4的两侧分别设置有导料槽8和回收箱9，导料槽8的底部固定连接有支架10，支架10固定连接在检测台1上，导料槽8的槽底为倾斜端面，回收箱9放置于检测台1上；
30.检测组件包括安装板11，安装板11的底部固定安装有第一电动伸缩杆12，其顶部固定连接有活动块13，活动块13的顶部固定连接有凸块14，其表面开设有定位孔15，定位孔15内插入有螺杆16，螺杆16上螺纹连接有与其相配合的螺母17，第一电动伸缩杆12的输出轴底端固定连接有检测板18，检测板18的底部安装有检测探头19，螺杆16可分别穿过定位孔15和定位块6表面的定位槽7，此时将螺母17螺纹连接在螺杆16上，即可通过螺杆16与螺母17之间的相互配合将整个检测组件固定安装在检测架4上，以便通过检测组件中的检测探头19对芯片进行检测；
31.送料机构包括两对辊架20，两对辊架20固定连接在检测台1上，并分别位于检测架4的两侧，且每对辊架20上均固定安装有电机21，电机21的输出轴上安装有送料辊22，送料辊22位于每对辊架20之间，且两个送料辊22之间传动连接有送料带23，通过驱动电机21可带动送料辊22旋转，送料辊22转动时，可带动送料带23移动，通过导料槽8可将待检测的多个芯片批量导入至送料带23上，此时通过送料机构可将多个芯片批量送至检测组件的下方进行检测，而检测完成的芯片则通过送料带23导入至回收箱9，通过回收箱9对芯片成品进行统一回收，以便实现连续检测，而无需在检测完每个芯片后再重复进行取下芯片和补充芯片的操作，从而大大提高检测工作的效率，同时也有效减小了检测人员的工作量。
32.其中，检测台1上固定连接有固定架24，固定架24的侧面呈n字形，并穿过送料带23，且固定架24的顶部固定连接有一对固定板25，固定板25分别位于送料带23的前侧和后侧，且固定板25上固定安装有第二电动伸缩杆26，第二电动伸缩杆26的输出轴末端固定连接有限位板27，通过驱动第二电动伸缩杆26可带动限位板27移动，以调节两块限位板27之
间的距离，在芯片通过送料带23移动至检测组件的过程中，利用限位板27可对多块芯片进行统一限位，使其在送料过程中呈一条直线并保持平齐，从而避免芯片在送料过程中的位置发生偏移而影响后续的检测。
33.其中，送料带23的表面刻有人字形防滑纹，可增大芯片与送料带23之间的摩擦力，以防止芯片在送料过程中发生打滑，限位板27靠近送料带23一侧的侧壁表面安装有一层缓冲垫28，缓冲垫28为海绵材质，具有弹性，可起到缓冲保护的效果，以避免芯片与限位板27的表面直接接触而产生碰撞和磨损。
34.其中，活动块13厚度与活动槽5的槽宽相等，定位孔15的孔径与定位槽7的槽宽相等，凸块14的宽度大于两个定位块6的间距，活动块13可带动整个检测组件沿着活动槽5进行滑动，以便根据需要对检测组件的位置进行调节，使其能够正对芯片，而无需手动调整芯片的放置位置，从而有效避免了用手接触芯片而使得芯片的表面粘附手汗和污渍，继而影响芯片的检测效果和成品质量。
35.其中，检测台1的底部固定连接有安装架29，安装架29位于清洁口2的正下方，其侧面呈u字形，且安装架29的底部固定安装有第三电动伸缩杆30，第三电动伸缩杆30的输出轴顶端固定连接有清洁架31，清洁架31的侧面呈u字形，其两侧均螺纹连接有螺栓32，且清洁架31上安装有清洁辊33，清洁辊33的辊身安装有一层毛刷34，其两端均开设有与螺栓32相配合的螺纹槽35，螺栓32的末端可旋入至对应的螺纹槽35，通过螺栓32与螺纹槽35之间的相互配合可将清洁辊33固定安装在清洁架31上，通过驱动第三电动伸缩杆30可带动清洁架31连同清洁辊33上下移动，当清洁辊33穿过清洁口2并移动至送料带23的下方时，利用清洁辊33表面的毛刷34可对送料带23的表面进行刮刷清洁，以有效防止送料带23在长时间使用后，其表面粘附灰尘等杂质，而造成芯片在送料过程中粘附这些灰尘杂质。
36.本实用新型中的检测组件以及涉及的电路、电子元器件和芯片模块均为现有技术，本领域技术人员完全可以实现，无需赘言，本实用新型保护的内容也不涉及对于软件和方法的改进。
37.本实用新型的工作原理是：
38.本实用新型在使用时，首先将该检测装置中的电器元件均通过导线外接控制开关和电源，然后驱动电机21使其带动送料辊22旋转，以便带动送料带23移动，接着通过导料槽8将待检测的多个芯片批量导入至送料带23上，此时通过送料机构可将多个芯片批量送至检测组件的下方，之后驱动第一电动伸缩杆12使其带动检测板18连同检测探头19一起向下移动，即可通过检测探头19对芯片进行检测，在送料带23的移动下，检测完成的芯片可导入至回收箱9中进行统一回收，而下一个未检测的芯片则可源源不断的进行补充，从而可实现连续检测，而无需在检测完每个芯片后再重复进行取下芯片和补充芯片的操作，不仅大大提高了检测工作的效率，同时也有效减小了检测人员的工作量，检测时，通过活动块13可带动整个检测组件沿着活动槽5进行滑动，以便根据需要对检测组件的位置进行调节，使其能够正对芯片，而无需手动调整芯片的放置位置，从而有效避免了用手接触芯片而使得芯片的表面粘附手汗和污渍，继而影响芯片的检测效果和成品质量，在芯片通过送料带23移动至检测组件的过程中，可驱动第二电动伸缩杆26使其带动限位板27移动，以调节两块限位板27之间的距离，此时利用限位板27可对多块芯片进行统一限位，使其在送料过程中呈一条直线并保持平齐，从而避免芯片在送料过程中的位置发生偏移而影响后续的检测吗，当
送料带23长时间使用后，可驱动第三电动伸缩杆30使其带动清洁架31连同清洁辊33向上移动，直至清洁辊33穿过清洁口2并移动至送料带23的下方，此时利用清洁辊33表面的毛刷34可对送料带23的表面进行刮刷清洁，以有效防止送料带23在长时间使用后，其表面粘附灰尘等杂质，而造成芯片在送料过程中粘附这些灰尘杂质。
39.以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

技术特征：
1.一种芯片检测装置，其特征在于，包括检测台，所述检测台的表面开设有清洁口，其底部固定连接有若干条支撑腿，且所述检测台的顶部固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈l形，其顶部开设有活动槽，所述活动槽的两侧均设置有定位块，所述定位块固定连接在检测架的顶部，其表面开设有定位槽，所述检测架上安装有检测组件，所述检测组件的下方设置有送料机构，所述检测架的两侧分别设置有导料槽和回收箱，所述导料槽的底部固定连接有支架，所述支架固定连接在检测台上，所述回收箱放置于检测台上；所述检测组件包括安装板，所述安装板的底部固定安装有第一电动伸缩杆，其顶部固定连接有活动块，所述活动块的顶部固定连接有凸块，其表面开设有定位孔，所述定位孔内插入有螺杆，所述螺杆上螺纹连接有与其相配合的螺母，所述第一电动伸缩杆的输出轴底端固定连接有检测板，所述检测板的底部安装有检测探头；所述送料机构包括两对辊架，两对所述辊架固定连接在检测台上，并分别位于检测架的两侧，且每对所述辊架上均固定安装有电机，所述电机的输出轴上安装有送料辊，所述送料辊位于每对辊架之间，且两个所述送料辊之间传动连接有送料带。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述检测台上固定连接有固定架，所述固定架的侧面呈n字形，并穿过送料带，且所述固定架的顶部固定连接有一对固定板，所述固定板分别位于送料带的前侧和后侧，且所述固定板上固定安装有第二电动伸缩杆，所述第二电动伸缩杆的输出轴末端固定连接有限位板。3.根据权利要求2所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述送料带的表面刻有人字形防滑纹，所述限位板靠近送料带一侧的侧壁表面安装有一层缓冲垫。4.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述活动块厚度与活动槽的槽宽相等，所述定位孔的孔径与定位槽的槽宽相等，所述凸块的宽度大于两个定位块的间距。5.根据权利要求1所述的一种芯片检测装置，其特征在于，所述检测台的底部固定连接有安装架，所述安装架位于清洁口的正下方，其侧面呈u字形，且所述安装架的底部固定安装有第三电动伸缩杆，所述第三电动伸缩杆的输出轴顶端固定连接有清洁架，所述清洁架的侧面呈u字形，其两侧均螺纹连接有螺栓，且所述清洁架上安装有清洁辊，所述清洁辊的辊身安装有一层毛刷，其两端均开设有与螺栓相配合的螺纹槽。

技术总结
本实用新型公开了一种芯片检测装置，包括检测台，所述检测台的表面开设有清洁口，其底部固定连接有若干条支撑腿，且所述检测台的顶部固定连接有检测架，所述检测架的侧面呈L形，其顶部开设有活动槽，所述活动槽的两侧均设置有定位块，所述定位块固定连接在检测架的顶部，其表面开设有定位槽，所述检测架上安装有检测组件，所述检测组件的下方设置有送料机构，所述检测架的两侧分别设置有导料槽和回收箱，所述导料槽的底部固定连接有支架，所述支架固定连接在检测台上，所述回收箱放置于检测台上。本实用新型可实现连续检测，检测效率高，工作量小，并且检测组件的位置可调，无需手动调整芯片的放置位置。调整芯片的放置位置。调整芯片的放置位置。


技术研发人员：陈建新
受保护的技术使用者：上海益深电子有限公司
技术研发日：2023.03.24
技术公布日：2023/9/1