一种半导体二极管测试装置的制作方法

1.本发明涉及二极管测试技术领域，具体的说是一种半导体二极管测试装置。


背景技术：

2.半导体二极管是指利用半导体特性的两端电子器件，最常见的半导体二极管是pn结型二极管和金属半导体接触二极管，它们的共同特点是伏安特性的不对称性，即电流沿其一个方向呈现良好的导电性，而在相反方向呈现高阻特性，可用作为整流、检波、稳压、恒流、变容、开关、发光及光电转换等，在二极管测试过程中，需要使用万用表对二极管两端进行正反检测阻值，从而确定二极管的好坏和特性，以方便后续使用。
3.目前在对二极管进行检测时，通常是通过万用表的两个检测笔与二极管两个引脚抵触检测，这样检测时，稳定性差，容易造成检测笔与引脚接触不稳定，从而影响检测的质量，并且这样对多个二极管检测时，耗时耗力，操作繁琐，降低了整体的测试效率。


技术实现要素：

4.针对现有技术中的问题，本发明提供了一种半导体二极管测试装置。
5.本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种半导体二极管测试装置，包括安装块，所述安装块上安装有放置机构，所述安装块内部连接有测试机构，所述安装块内部安装有控制机构，所述测试机构上安装有抵触机构，所述安装块上安装有连接机构，所述安装块一端设有防护机构。
6.具体的，所述放置机构包括连接块，所述安装块一端连接有连接块，所述连接块内部设有放置槽，所述连接块两侧设有通槽，所述通槽与放置槽连通，所述通槽的宽度小于放置槽的宽度，所述放置槽内部设有对称的卡块，所述卡块一端通过抵触弹簧与连接块内部滑动连接，所述卡块两侧为弧形结构，所述放置槽内部安装有挡块，所述挡块通过压缩弹簧与放置槽内部滑动连接，所述挡块一端为弧形结构。
7.具体的，所述安装块内部中心处滑动连接有压杆，所述压杆延伸至连接块内部，所述压杆与连接块滑动连接，所述压杆一端贯穿于压缩弹簧与挡块连接，所述安装块另一端滑动连接有压块，所述压杆另一端与压块固定连接，所述安装块底部卡合连接有把手，所述把手为弧形结构。
8.具体的，所述测试机构包括连接座，所述安装块一侧安装有两个连接座，所述安装块一端侧壁安装有两个对称的导电块，所述连接块一侧与安装块一端中心处转动连接，所述压杆与挡块转动连接，所述连接块两侧内部滑动连接有对称的两个金属块和两个导电杆，所述金属块与导电杆之间通过连接弹簧连接，两个所述金属块一端延伸至放置槽内部，两个所述导电杆一端分别与导电块一侧抵触。
9.具体的，所述放置槽内部两侧分别安装有两组对称的导板，两组所述导板一端与放置槽内侧转动连接，所述导板一侧与放置槽内侧通过挤压弹簧连接，所述导板与放置槽侧壁之间夹角为30度。
10.具体的，所述控制机构包括活动槽，所述安装块内部中心处设有活动槽，所述压杆侧壁固定连接有金属套，所述安装块内部安装有对称的凸块，所述凸块通过伸缩弹簧与安装块内部滑动连接，两个所述凸块一端分别延伸至活动槽内部与压杆抵触，两个所述凸块一端为半球形结构。
11.具体的，所述抵触机构包括限位杆，所述连接块两侧内部分别安装有限位杆，所述限位杆通过复位弹簧与连接块内部横向滑动连接，两个所述限位杆一端延伸至连接块外侧与安装块一端侧壁内部抵触，两个所述限位杆上分别设有对称的驱动槽，所述驱动槽为梯形结构，所述连接块内部安装有对称的驱动杆，所述驱动杆通过按压弹簧与连接块内部纵向滑动连接，两个所述驱动杆两端分别转动连接有导轮，其中两个所述导轮延伸至驱动槽内部与限位杆内侧抵触，另外两个所述导轮分别与挡块侧壁内部抵触。
12.具体的，所述连接机构包括卡槽，所述把手一侧设有卡槽，所述把手顶部与安装块底部内侧卡合，所述安装块底侧内部安装有卡销，所述卡销通过驱动弹簧与安装块内部滑动连接，所述卡销为“7”字形结构，所述卡销一端延伸至卡槽内部，所述卡销另一端底部延伸至安装块外侧，所述卡销底部安装有推板，所述推板与安装块底部滑动连接，所述卡销上安装有导杆，所述导杆贯穿于驱动弹簧与安装块内部滑动连接。
13.具体的，所述防护机构包括盖板，所述连接块一端设有盖板，所述盖板一端内部设有插槽，所述插槽一端延伸至盖板外侧，所述盖板内部中心处安装有连接杆，所述连接杆一端安装有连接球，所述盖板一端侧壁安装有框形结构的橡胶垫。
14.本发明的有益效果是：
15.(1)本发明所述的一种半导体二极管测试装置，通过放置机构的作用下有利于方便快速的对二极管进行卡合放置和顶出，操作简单方便，从而方便快速的进行二极管测试工作，即：通过连接块的安装，有利于方便对二极管测试，通过放置槽的作用下方便将二极管存放，通过通槽的作用下有利于对二极管的引脚外漏滑动，方便二极管在放置槽内部放置到位，通过二极管放入放置槽内部时，二极管对两个卡块抵触，卡块在抵触弹簧的作用下具有伸缩性，从而使卡块能够收缩，方便二极管导入放置槽内部，两个卡块在抵触弹簧的作用下复位对二极管抵触，无法滑出，同时挡块在压缩弹簧的作用下对二极管抵触，使二极管在放置槽内部放置稳定，利于进行测试工作，通过二极管与挡块抵触后，挡块驱动压杆和压块滑动，使压块滑出一定位置，测试完成后，通过按压压块，压块带动压杆对挡块驱动，挡块抵触二极管与卡块抵触，从而使二极管被抵触滑出，撤去外力后，挡块和压块复位，从而后续安装测试，通过把手的安装，有利于方便手部拿持，从而更好的对安装块操作控制。
16.(2)本发明所述的一种半导体二极管测试装置，通过测试机构的作用下有利于方便与万用表连接，从而实现电路连接，迅速的对放置的二极管进行双向测试工作，即：通过二极管与放置槽内部卡合稳定后，二极管的两个引脚分别与两个金属块抵触，从而实现电性连接，通过两个连接座的作用下方便与万用表的测试笔进行插入连接，通过两个连接座与两个导电块的电性连接，使两个导电杆及两个金属块都能与万用表测试笔导通，从而有利于实现万用表对二极管的测试工作，通过转动连接块，两个导电杆在连接弹簧的作用下收缩，从而方便连接块转动顺畅，连接块转动度后，两个导电杆与两个导电块交换位置，从而实现对二极管进行反向测试工作，通过挤压弹簧的作用下使两组导板能够转动，并且与放置槽内侧之间具有一定角度，从而方便对二极管抵触导向，使二极管在放置槽内部放置
时保持在中心位置，不易发生偏移。
17.(3)本发明所述的一种半导体二极管测试装置，通过放置机构对控制机构的驱动控制，实现对测试机构的电路通断控制，通过放置机构对抵触机构驱动，方便对测试机构的转动进行控制，利于起到防护的作用，即：通过两个凸块的作用下，有利于对其中一个连接座和其中一个导电块之间电性连接控制，两个凸块与压杆侧壁抵触时，连接座与导电块无法导电，通过二极管滑入放置槽内部后，挡块和压杆被抵触滑动，压杆上的金属套在活动槽内部滑动一定位置，两个凸块被金属套抵触收缩，方便金属套在凸块上滑动，凸块在伸缩弹簧的作用下与金属套抵触紧密，从而使导电性更好，实现对二极管测试工作，通过复位弹簧的作用下使两个限位杆与安装块一端内侧抵触，从而使连接块与安装块无法转动，通过二极管插入放置槽内部后，挡块被抵触滑动，挡块对导轮抵触，导轮驱动驱动杆摆脱按压弹簧的作用下滑动，驱动杆滑动时通过另一个导轮对驱动槽内部抵触，从而使限位杆被抵触摆脱复位弹簧的作用下滑动，限位杆与安装块内部分离后，方便连接块转动控制，实现测试工作。
18.(4)本发明所述的一种半导体二极管测试装置，通过连接机构的作用下有利于方便对放置机构拆装收纳，通过防护机构与安装块的连接，方便对放置机构遮挡防护，即：通过推动推板，推板带动卡销摆脱驱动弹簧的作用下滑动，方便把手顶部与安装块底部内侧卡合，撤去外力后，卡销在驱动弹簧的作用下滑动与卡槽内部卡合，从而使把手与安装块底部连接稳定牢固，通过推动推板，卡销与卡槽分离，方便对把手与安装块分离拆装，通过插槽的开设，有利于连接块插入盖板内部进行遮挡防护，并且连接球抵触卡块延伸至放置槽内部，从而使盖板与连接块连接牢固不会松脱，在橡胶垫的作用下起到密封的作用，通过拉动盖板，连接球抵触卡块收缩，方便连接球滑槽，取出盖板。
附图说明
19.下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
20.图1为本发明提供的一种半导体二极管测试装置的一种较佳实施例的整体结构示意图；
21.图2为本发明的盖板与连接杆的连接结构示意图；
22.图3为本发明的连接块与安装块的连接结构示意图；
23.图4为图3所示的a部结构放大示意图；
24.图5为本发明的挡块与连接块的连接结构示意图；
25.图6为图5所示的b部结构放大示意图；
26.图7为本发明的压杆与安装块的连接结构示意图；
27.图8为图7所示的c部结构放大示意图；
28.图9为本发明的把手与安装块的连接结构示意图。
29.图中：1、安装块；2、放置机构；201、通槽；202、连接块；203、压块；204、把手；205、放置槽；206、卡块；207、抵触弹簧；208、挡块；209、压缩弹簧；210、压杆；3、测试机构；301、连接座；302、导板；303、金属块；304、连接弹簧；305、导电杆；306、导电块；307、挤压弹簧；4、控制机构；401、凸块；402、伸缩弹簧；403、金属套；404、活动槽；5、抵触机构；501、复位弹簧；502、驱动槽；503、限位杆；504、导轮；505、按压弹簧；506、驱动杆；6、连接机构；601、卡槽；602、卡
销；603、驱动弹簧；604、推板；605、导杆；7、防护机构；701、盖板；702、橡胶垫；703、连接球；704、连接杆；705、插槽。
具体实施方式
30.为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
31.如图1-图9所示，本发明所述的一种半导体二极管测试装置，包括安装块1，所述安装块1上安装有放置机构2，所述安装块1内部连接有测试机构3，所述安装块1内部安装有控制机构4，所述测试机构3上安装有抵触机构5，所述安装块1上安装有连接机构6，所述安装块1一端设有防护机构7。
32.具体的，所述放置机构2包括连接块202，所述安装块1一端连接有连接块202，所述连接块202内部设有放置槽205，所述连接块202两侧设有通槽201，所述通槽201与放置槽205连通，所述通槽201的宽度小于放置槽205的宽度，所述放置槽205内部设有对称的卡块206，所述卡块206一端通过抵触弹簧207与连接块202内部滑动连接，所述卡块206两侧为弧形结构，所述放置槽205内部安装有挡块208，所述挡块208通过压缩弹簧209与放置槽205内部滑动连接，所述挡块208一端为弧形结构，通过所述连接块202的安装，有利于方便对二极管测试，通过所述放置槽205的作用下方便将二极管存放，通过所述通槽201的作用下有利于对二极管的引脚外漏滑动，方便二极管在所述放置槽205内部放置到位，通过二极管放入所述放置槽205内部时，二极管对两个所述卡块206抵触，所述卡块206在所述抵触弹簧207的作用下具有伸缩性，从而使所述卡块206能够收缩，方便二极管导入所述放置槽205内部，两个所述卡块206在所述抵触弹簧207的作用下复位对二极管抵触，无法滑出，同时所述挡块208在所述压缩弹簧209的作用下对二极管抵触，使二极管在所述放置槽205内部放置稳定，利于进行测试工作。
33.具体的，所述安装块1内部中心处滑动连接有压杆210，所述压杆210延伸至连接块202内部，所述压杆210与连接块202滑动连接，所述压杆210一端贯穿于压缩弹簧209与挡块208连接，所述安装块1另一端滑动连接有压块203，所述压杆210另一端与压块203固定连接，所述安装块1底部卡合连接有把手204，所述把手204为弧形结构，通过二极管与所述挡块208抵触后，所述挡块208驱动所述压杆210和所述压块203滑动，使所述压块203滑出一定位置，测试完成后，通过按压所述压块203，所述压块203带动所述压杆210对所述挡块208驱动，所述挡块208抵触二极管与所述卡块206抵触，从而使二极管被抵触滑出，撤去外力后，所述挡块208和所述压块203复位，从而后续安装测试，通过所述把手204的安装，有利于方便手部拿持，从而更好的对所述安装块1操作控制。
34.具体的，所述测试机构3包括连接座301，所述安装块1一侧安装有两个连接座301，所述安装块1一端侧壁安装有两个对称的导电块306，所述连接块202一侧与安装块1一端中心处转动连接，所述压杆210与挡块208转动连接，所述连接块202两侧内部滑动连接有对称的两个金属块303和两个导电杆305，所述金属块303与导电杆305之间通过连接弹簧304连接，两个所述金属块303一端延伸至放置槽205内部，两个所述导电杆305一端分别与导电块306一侧抵触，通过二极管与所述放置槽205内部卡合稳定后，所述二极管的两个引脚分别与两个所述金属块303抵触，从而实现电性连接，通过两个连接座301的作用下方便与万用
表的测试笔进行插入连接，通过两个所述连接座301与两个所述导电块306的电性连接，使两个所述导电杆305及两个所述金属块303都能与万用表测试笔导通，从而有利于实现万用表对二极管的测试工作，通过转动所述连接块202，两个所述导电杆305在所述连接弹簧304的作用下收缩，从而方便所述连接块202转动顺畅，所述连接块202转动180度后，两个所述导电杆305与两个所述导电块306交换位置，从而实现对二极管进行反向测试工作。
35.具体的，所述放置槽205内部两侧分别安装有两组对称的导板302，两组所述导板302一端与放置槽205内侧转动连接，所述导板302一侧与放置槽205内侧通过挤压弹簧307连接，所述导板302与放置槽205侧壁之间夹角为30度，通过所述挤压弹簧307的作用下使两组所述导板302能够转动，并且与所述放置槽205内侧之间具有一定角度，从而方便对二极管抵触导向，使二极管在所述放置槽205内部放置时保持在中心位置，不易发生偏移。
36.具体的，所述控制机构4包括活动槽404，所述安装块1内部中心处设有活动槽404，所述压杆210侧壁固定连接有金属套403，所述安装块1内部安装有对称的凸块401，所述凸块401通过伸缩弹簧402与安装块1内部滑动连接，两个所述凸块401一端分别延伸至活动槽404内部与压杆210抵触，两个所述凸块401一端为半球形结构，通过两个所述凸块401的作用下，有利于对其中一个所述连接座301和其中一个所述导电块306之间电性连接控制，两个所述凸块401与所述压杆210侧壁抵触时，所述连接座301与所述导电块306无法导电，通过二极管滑入所述放置槽205内部后，所述挡块208和所述压杆210被抵触滑动，所述压杆210上的所述金属套403在所述活动槽404内部滑动一定位置，两个所述凸块401被所述金属套403抵触收缩，方便所述金属套403在所述凸块401上滑动，所述凸块401在所述伸缩弹簧402的作用下与所述金属套403抵触紧密，从而使导电性更好，实现对二极管测试工作。
37.具体的，所述抵触机构5包括限位杆503，所述连接块202两侧内部分别安装有限位杆503，所述限位杆503通过复位弹簧501与连接块202内部横向滑动连接，两个所述限位杆503一端延伸至连接块202外侧与安装块1一端侧壁内部抵触，两个所述限位杆503上分别设有对称的驱动槽502，所述驱动槽502为梯形结构，所述连接块202内部安装有对称的驱动杆506，所述驱动杆506通过按压弹簧505与连接块202内部纵向滑动连接，两个所述驱动杆506两端分别转动连接有导轮504，其中两个所述导轮504延伸至驱动槽502内部与限位杆503内侧抵触，另外两个所述导轮504分别与挡块208侧壁内部抵触，通过所述复位弹簧501的作用下使两个所述限位杆503与所述安装块1一端内侧抵触，从而使所述连接块202与所述安装块1无法转动，通过二极管插入所述放置槽205内部后，所述挡块208被抵触滑动，所述挡块208对所述导轮504抵触，所述导轮504驱动所述驱动杆506摆脱所述按压弹簧505的作用下滑动，所述驱动杆506滑动时通过另一个所述导轮504对所述驱动槽502内部抵触，从而使所述限位杆503被抵触摆脱所述复位弹簧501的作用下滑动，所述限位杆503与所述安装块1内部分离后，方便所述连接块202转动控制，实现测试工作。
38.具体的，所述连接机构6包括卡槽601，所述把手204一侧设有卡槽601，所述把手204顶部与安装块1底部内侧卡合，所述安装块1底侧内部安装有卡销602，所述卡销602通过驱动弹簧603与安装块1内部滑动连接，所述卡销602为“7”字形结构，所述卡销602一端延伸至卡槽601内部，所述卡销602另一端底部延伸至安装块1外侧，所述卡销602底部安装有推板604，所述推板604与安装块1底部滑动连接，所述卡销602上安装有导杆605，所述导杆605贯穿于驱动弹簧603与安装块1内部滑动连接，通过推动所述推板604，所述推板604带动所
述卡销602摆脱所述驱动弹簧603的作用下滑动，方便所述把手204顶部与所述安装块1底部内侧卡合，撤去外力后，所述卡销602在所述驱动弹簧603的作用下滑动与所述卡槽601内部卡合，从而使所述把手204与所述安装块1底部连接稳定牢固，通过推动所述推板604，所述卡销602与所述卡槽601分离，方便对所述把手204与所述安装块1分离拆装。
39.具体的，所述防护机构7包括盖板701，所述连接块202一端设有盖板701，所述盖板701一端内部设有插槽705，所述插槽705一端延伸至盖板701外侧，所述盖板701内部中心处安装有连接杆704，所述连接杆704一端安装有连接球703，所述盖板701一端侧壁安装有框形结构的橡胶垫702，通过所述插槽705的开设，有利于所述连接块202插入所述盖板701内部进行遮挡防护，并且所述连接球703抵触所述卡块206延伸至所述放置槽205内部，从而使所述盖板701与所述连接块202连接牢固不会松脱，在所述橡胶垫702的作用下起到密封的作用，通过拉动所述盖板701，所述连接球703抵触所述卡块206收缩，方便所述连接球703滑槽，取出所述盖板701。
40.本发明在使用时，首先通过连接块202的安装，有利于方便对二极管测试，通过放置槽205的作用下方便将二极管存放，通过通槽201的作用下有利于对二极管的引脚外漏滑动，方便二极管在放置槽205内部放置到位，通过二极管放入放置槽205内部时，二极管对两个卡块206抵触，卡块206在抵触弹簧207的作用下具有伸缩性，从而使卡块206能够收缩，方便二极管导入放置槽205内部，两个卡块206在抵触弹簧207的作用下复位对二极管抵触，无法滑出，同时挡块208在压缩弹簧209的作用下对二极管抵触，使二极管在放置槽205内部放置稳定，利于进行测试工作，通过二极管与挡块208抵触后，挡块208驱动压杆210和压块203滑动，使压块203滑出一定位置，测试完成后，通过按压压块203，压块203带动压杆210对挡块208驱动，挡块208抵触二极管与卡块206抵触，从而使二极管被抵触滑出，撤去外力后，挡块208和压块203复位，从而后续安装测试，通过把手204的安装，有利于方便手部拿持，从而更好的对安装块1操作控制，通过二极管与放置槽205内部卡合稳定后，二极管的两个引脚分别与两个金属块303抵触，从而实现电性连接，通过两个连接座301的作用下方便与万用表的测试笔进行插入连接，通过两个连接座301与两个导电块306的电性连接，使两个导电杆305及两个金属块303都能与万用表测试笔导通，从而有利于实现万用表对二极管的测试工作，通过转动连接块202，两个导电杆305在连接弹簧304的作用下收缩，从而方便连接块202转动顺畅，连接块202转动180度后，两个导电杆305与两个导电块306交换位置，从而实现对二极管进行反向测试工作，通过挤压弹簧307的作用下使两组导板302能够转动，并且与放置槽205内侧之间具有一定角度，从而方便对二极管抵触导向，使二极管在放置槽205内部放置时保持在中心位置，不易发生偏移，通过两个凸块401的作用下，有利于对其中一个连接座301和其中一个导电块306之间电性连接控制，两个凸块401与压杆210侧壁抵触时，连接座301与导电块306无法导电，通过二极管滑入放置槽205内部后，挡块208和压杆210被抵触滑动，压杆210上的金属套403在活动槽404内部滑动一定位置，两个凸块401被金属套403抵触收缩，方便金属套403在凸块401上滑动，凸块401在伸缩弹簧402的作用下与金属套403抵触紧密，从而使导电性更好，实现对二极管测试工作，通过复位弹簧501的作用下使两个限位杆503与安装块1一端内侧抵触，从而使连接块202与安装块1无法转动，通过二极管插入放置槽205内部后，挡块208被抵触滑动，挡块208对导轮504抵触，导轮504驱动驱动杆506摆脱按压弹簧505的作用下滑动，驱动杆506滑动时通过另一个导轮504对驱动槽
502内部抵触，从而使限位杆503被抵触摆脱复位弹簧501的作用下滑动，限位杆503与安装块1内部分离后，方便连接块202转动控制，实现测试工作，通过推动推板604，推板604带动卡销602摆脱驱动弹簧603的作用下滑动，方便把手204顶部与安装块1底部内侧卡合，撤去外力后，卡销602在驱动弹簧603的作用下滑动与卡槽601内部卡合，从而使把手204与安装块1底部连接稳定牢固，通过推动推板604，卡销602与卡槽601分离，方便对把手204与安装块1分离拆装，通过插槽705的开设，有利于连接块202插入盖板701内部进行遮挡防护，并且连接球703抵触卡块206延伸至放置槽205内部，从而使盖板701与连接块202连接牢固不会松脱，在橡胶垫702的作用下起到密封的作用，通过拉动盖板701，连接球703抵触卡块206收缩，方便连接球703滑槽，取出盖板701。
41.对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
42.此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

技术特征：
1.一种半导体二极管测试装置，其特征在于，包括安装块(1)，所述安装块(1)上安装有放置机构(2)，所述安装块(1)内部连接有测试机构(3)，所述安装块(1)内部安装有控制机构(4)，所述测试机构(3)上安装有抵触机构(5)，所述安装块(1)上安装有连接机构(6)，所述安装块(1)一端设有防护机构(7)；所述放置机构(2)包括连接块(202)，所述安装块(1)一端连接有连接块(202)，所述连接块(202)内部设有放置槽(205)，所述连接块(202)两侧设有通槽(201)，所述通槽(201)与放置槽(205)连通，所述通槽(201)的宽度小于放置槽(205)的宽度，所述放置槽(205)内部设有对称的卡块(206)，所述卡块(206)一端通过抵触弹簧(207)与连接块(202)内部滑动连接，所述卡块(206)两侧为弧形结构，所述放置槽(205)内部安装有挡块(208)，所述挡块(208)通过压缩弹簧(209)与放置槽(205)内部滑动连接，所述挡块(208)一端为弧形结构。2.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述安装块(1)内部中心处滑动连接有压杆(210)，所述压杆(210)延伸至连接块(202)内部，所述压杆(210)与连接块(202)滑动连接，所述压杆(210)一端贯穿于压缩弹簧(209)与挡块(208)连接，所述安装块(1)另一端滑动连接有压块(203)，所述压杆(210)另一端与压块(203)固定连接，所述安装块(1)底部卡合连接有把手(204)，所述把手(204)为弧形结构。3.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述测试机构(3)包括连接座(301)，所述安装块(1)一侧安装有两个连接座(301)，所述安装块(1)一端侧壁安装有两个对称的导电块(306)，所述连接块(202)一侧与安装块(1)一端中心处转动连接，所述压杆(210)与挡块(208)转动连接，所述连接块(202)两侧内部滑动连接有对称的两个金属块(303)和两个导电杆(305)，所述金属块(303)与导电杆(305)之间通过连接弹簧(304)连接，两个所述金属块(303)一端延伸至放置槽(205)内部，两个所述导电杆(305)一端分别与导电块(306)一侧抵触。4.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述放置槽(205)内部两侧分别安装有两组对称的导板(302)，两组所述导板(302)一端与放置槽(205)内侧转动连接，所述导板(302)一侧与放置槽(205)内侧通过挤压弹簧(307)连接，所述导板(302)与放置槽(205)侧壁之间夹角为30度。5.根据权利要求2所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述控制机构(4)包括活动槽(404)，所述安装块(1)内部中心处设有活动槽(404)，所述压杆(210)侧壁固定连接有金属套(403)，所述安装块(1)内部安装有对称的凸块(401)，所述凸块(401)通过伸缩弹簧(402)与安装块(1)内部滑动连接，两个所述凸块(401)一端分别延伸至活动槽(404)内部与压杆(210)抵触，两个所述凸块(401)一端为半球形结构。6.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述抵触机构(5)包括限位杆(503)，所述连接块(202)两侧内部分别安装有限位杆(503)，所述限位杆(503)通过复位弹簧(501)与连接块(202)内部横向滑动连接，两个所述限位杆(503)一端延伸至连接块(202)外侧与安装块(1)一端侧壁内部抵触，两个所述限位杆(503)上分别设有对称的驱动槽(502)，所述驱动槽(502)为梯形结构，所述连接块(202)内部安装有对称的驱动杆(506)，所述驱动杆(506)通过按压弹簧(505)与连接块(202)内部纵向滑动连接，两个所述驱动杆(506)两端分别转动连接有导轮(504)，其中两个所述导轮(504)延伸至驱动槽(502)内部与限位杆(503)内侧抵触，另外两个所述导轮(504)分别与挡块(208)侧壁内部抵触。
7.根据权利要求2所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述连接机构(6)包括卡槽(601)，所述把手(204)一侧设有卡槽(601)，所述把手(204)顶部与安装块(1)底部内侧卡合，所述安装块(1)底侧内部安装有卡销(602)，所述卡销(602)通过驱动弹簧(603)与安装块(1)内部滑动连接，所述卡销(602)为“7”字形结构，所述卡销(602)一端延伸至卡槽(601)内部，所述卡销(602)另一端底部延伸至安装块(1)外侧，所述卡销(602)底部安装有推板(604)，所述推板(604)与安装块(1)底部滑动连接，所述卡销(602)上安装有导杆(605)，所述导杆(605)贯穿于驱动弹簧(603)与安装块(1)内部滑动连接。8.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述防护机构(7)包括盖板(701)，所述连接块(202)一端设有盖板(701)，所述盖板(701)一端内部设有插槽(705)，所述插槽(705)一端延伸至盖板(701)外侧。9.根据权利要求8所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述盖板(701)内部中心处安装有连接杆(704)，所述连接杆(704)一端安装有连接球(703)，所述盖板(701)一端侧壁安装有框形结构的橡胶垫(702)。

技术总结
本发明涉及二极管测试技术领域，具体的说是一种半导体二极管测试装置，包括安装块，所述安装块上安装有放置机构，所述安装块内部连接有测试机构，所述安装块内部安装有控制机构，所述测试机构上安装有抵触机构，所述安装块上安装有连接机构，所述安装块一端设有防护机构；通过放置机构利于快速的对二极管进行卡合放置和顶出，通过测试机构利于方便与万用表连接，实现二极管进行双向测试工作，通过放置机构对控制机构的驱动控制，实现对测试机构的电路控制，通过放置机构对抵触机构驱动，方便对测试机构的转动进行控制，通过连接机构的作用下有利于方便对放置机构拆装收纳，通过防护机构与安装块的连接，方便对放置机构遮挡防护。护。护。


技术研发人员：魏兴政 李浩
受保护的技术使用者：济南兰星电子有限公司
技术研发日：2023.06.14
技术公布日：2023/8/31