一种高速传输链路检测装置的制作方法

1.本公开涉及数据传输链路测试领域，具体地，涉及一种高速传输链路检测装置。


背景技术：

2.pcie(peripheral component interconnect express，外设部件互连高速通路)，是一种高速串行计算机扩展总线标准。具备pcie标准的接口能够实现高速串行点对点双通道高带宽传输，通常运用在显卡、闪存设备和计算机集群光纤互联等pcie设备上。在对上述的pcie设备进行开发和测试的过程中，通常需要对pcie设备的母座插槽和金手指进行传输能力和故障的检测。相关技术中，以显卡检测为例，pcie设备的金手指一般都插合在主板的pcb(printed circuit board，为印制电路板)上设置的母座插槽中，检测时通常需要将检测仪器探针伸入主板内部进行点测，但是pcie金手指包含的各个导电触片之间的排列紧密，并且插合状态下会被主板上的插槽覆盖住，为点测造成很大困难。另外，针对于显卡产品的老化寿命测试或者ate(automatic test equipment，自动实验设备)测试等，在显卡和主板的pcie接口插合后，主板和显卡之间的pcie链路的高速信号接收链路和高速信号发送链路会长时间地发送或者接收数据，这对主板性能或者寿命来讲是一种损耗。另外，这种检测方式还可能为针对于显卡产品的检测引入外界干扰，例如，检测时需同时考虑显卡和主板两侧的pcie接口的性能。


技术实现要素：

3.本公开的目的在于提供一种高速传输链路检测装置，以解决现有技术中的技术问题。
4.第一方面，本公开提供一种高速传输链路检测装置，所述装置包括：
5.第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，
6.所述第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，所述高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，所述第一金手指包括多个目标线路导电触片；
7.所述检测单元，包括多个连接线，所述目标线路导电触片通过所述连接线与所述目标线路插槽连接；
8.每个所述连接线上设置有检测点。
9.可选的，所述高速信号接收插槽和所述高速信号发送插槽被设置为短接。
10.可选的，所述多个目标线路插槽，包括：主电源插槽、备用电源插槽、测试接口插槽、参考时钟信号插槽、系统管理插槽、复位插槽、接地插槽和热插拔控制插槽。
11.可选的，所述第一金手指，还包括多个高速信号线路导电触片。
12.可选的，所述第一金手指用于与第二高速传输端侧的高速传输链路插槽插合，所述第一高速传输端母座用于第一高速传输端侧的第二金手指插合。
13.可选的，第一长度大于第二长度，其中，所述第一长度为所述目标线路导电触片或
所述高速信号线路导电触片的长度，所述第二长度为所述第二金手指包含的目标线路导电触片或高速信号线路导电触片。
14.可选的，所述第一长度与所述第二长度的差值为3毫米。
15.可选的，所述检测点为铜皮开窗检测点或通孔焊盘检测点。
16.可选的，所述装置还包括：底板，所述检测单元被固定于所述底板上。
17.可选的，所述第一高速传输端母座和所述第一金手指两者分别被固定于所述底板的两侧。
18.与现有技术相比，本公开实施例提供的技术方案的有益效果为：
19.本公开所提供的高速传输链路检测装置，包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，该第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，该高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，该第一金手指包括多个目标线路导电触片；该检测单元，包括多个连接线，该目标线路导电触片通过该连接线与该目标线路插槽连接；每个该连接线上设置有检测点。能够对高速传输链路正常工作时的信号传输质量进行检测，降低点测难度，提高检测效率。
附图说明
20.附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：
21.图1是根据一示例性实施例示出的一种高速传输链路检测装置的结构示意图；
22.图2是根据图1示出的另一种高速传输链路检测装置的结构示意图。
具体实施方式
23.以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。
24.对此，本公开提出了一种高速传输链路检测装置，具体如下：
25.图1是根据一示例性实施例示出的一种高速传输链路检测装置的框图，如图1所示，该高速传输链路检测装置100包括：第一高速传输端母座110、第一金手指120和检测单元130。其中，该第一高速传输端母座100包括：多个高速信号插槽组115a、115b以及多个目标线路插槽111、112、113、114。该高速信号插槽组115a和高速信号插槽组115b包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽。该第一金手指120包括多个目标线路导电触片121、122、123、124。该检测单元130，包括多个连接线131a、131b、131c、131d。
26.示例地，该装置100可以应用于针对高速传输链路设备的传输链路检测，该高速传输链路设备可以为，例如，显卡、闪存设备和计算机集群光纤等。在本公开实施例中，仅以针对显卡的高速传输链路检测为例进行说明。在此情况下，该第一高速传输端为显卡端，下文涉及到的第二高速传输端为主板端。需要说明的是，显卡端所具备的高速信号插槽组可以为多个，例如，pcei
×
16标准的显卡的高速信号插槽组为16个，pcei
×
8标准的显卡的高速信号插槽组为8个，在本公开实施例所示的图1和图2中，仅以两个高速信号插槽组为例进行说明，其他高速信号插槽组的构造与该图1或该图2所示的构想相同。另外，上述的目标线路插槽的数量可以为大于4个，同样地。上述的目标线路导电触片的数量也可以为大于4个，本
公开的图1所示的实施例仅以4个目标线路插槽和4个目标线路导电触片为例进行说明。
27.示例地，该目标线路导电触片121通过该连接线131a与该目标线路插槽112连接；该目标线路导电触片122通过该连接线131b与该目标线路插槽113连接；该目标线路导电触片123通过该连接线131c与该目标线路插槽114连接；该目标线路导电触片124通过该连接线131d与该目标线路插槽115连接。另外，该连接线131a上设置有检测点132a；该连接线131b上设置有检测点132b；该连接线131c上设置有检测点132c；该连接线131d上设置有检测点132d。在第一高速传输端母座110与上述的显卡端元件的金手指插合，并且该第一金手指120与上述的主板端元件的传输母座插合的情况下，该目标线路导电触片121、122、123、124与该目标线路插槽112、113、114、115之间形成数据传输。此时，可以将检测仪器探头与检测点132a、132b、132c和132d点触，进行显卡端和主板端之间的高速传输链路检测。该检测仪器为用于进行信号质量检测的检测仪器，包括：用于检测灌电流和拉电流的电流检测仪、用于检测信号反射的反射检测仪、万用表或示波器等。
28.综上所述，本公开实施例提供的高速传输链路检测装置，包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，该第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，该高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，该第一金手指包括多个目标线路导电触片；该检测单元，包括多个连接线，该目标线路导电触片通过该连接线与该目标线路插槽连接；每个该连接线上设置有检测点。能够对高速传输链路正常工作时的信号传输质量进行检测，降低点测难度，提高检测效率。
29.图2是根据图1示出的另一种高速传输链路检测装置的结构示意图，如图2所示，该装置100包括：第一高速传输端母座110、第一金手指120、检测单元130和底板140。该第一高速传输端母座100包括：多个高速信号插槽组115a、115b以及多个目标线路插槽。可以理解的是，该第一金手指120用于与第二高速传输端侧的高速传输链路插槽插合，该第一高速传输端母座110用于第一高速传输端侧的第二金手指插合。该第一高速传输端可以为上述的显卡端，该第二高速传输端可以为上述的主板端。
30.示例地，上述多个目标线路插槽，包括：主电源插槽111、备用电源插槽112、测试接口插槽113、接地插槽114、参考时钟信号插槽116、系统管理插槽117、复位插槽118和热插拔控制插槽119。该第一金手指120包括多个目标线路导电触片。上述的多个目标线路导电触片，包括：主电源导电触片121、备用电源导电触片122、测试接口导电触片123、接地导电触片124、参考时钟信号导电触片125、系统管理导电触片126、复位导电触片127和热插拔控制导电触片128。
31.示例地，基于pcie标准的显卡包含pcie
×
16、pcie
×
8和pcie
×
4等多种规格。其中，pcie
×
16标准显卡包含82个功能引脚，每个传输链路对应至少一个功能引脚，其中的16个传输链路为高速信号传输链路对应于32个功能引脚，其余的50个功能引脚对应于多个普通传输链路。本公开实施例中以针对(由上述的8个传输链路插槽以及与这8个传输链路插槽对应的8个金手指组成)的普通传输链路的检测为例对该装置100进行说明。具体地，如图2所示，该主电源插槽111通过连接线与主电源导电触片121连接，两者之间的连接线上设置有检测点132a；该备用电源插槽112通过连接线与备用电源导电触片122连接，两者之间的连接线上设置有检测点132b；该测试接口插槽113通过连接线与测试接口导电触片123连接，两者之间的连接线上设置有检测点132c；该接地插槽114通过连接线与接地导电触片
124连接，两者之间的连接线上设置有检测点132d；该参考时钟信号插槽116通过连接线与参考时钟信号导电触片125连接，两者之间的连接线上设置有检测点132e；该系统管理插槽117通过连接线与系统管理导电触片126连接，两者之间的连接线上设置有检测点132f；该复位插槽118通过连接线与复位导电触片127连接，两者之间的连接线上设置有检测点132g；该热插拔控制插槽119通过连接线与热插拔控制导电触片128连接，两者之间的连接线上设置有检测点132h。其中，该检测点132a、132b、132c、132d、132e、132f、132g、132h均可以为铜皮开窗检测点或通孔焊盘检测点。
32.示例地，上述的高速信号插槽组115a，包括：高速信号接收插槽115c和高速信号发送插槽115d，该高速信号接收插槽115c和该高速信号发送插槽115d被设置为短接。上述的高速信号插槽组115b，包括：高速信号接收插槽115e和高速信号发送插槽115f，该高速信号接收插槽115e和该高速信号发送插槽115f被设置为短接。高速信号插槽组115a，包括：高速信号接收插槽115c和高速信号发送插槽115d，该高速信号接收插槽115c和该高速信号发送插槽115d被设置为短接。可以理解的是，该高速信号接收插槽1和该高速信号发送插槽被设置为短接，则该第一高速传输端和该第二高速传输端之间的高速信号传输被切断，减少了检测过程中长时间地通过高速信号传输通路进行发送和接受数据的工作，进而降低了检测过程中不断发送和接受数据对pcie设备本身的损耗。另外，需要说明的是，由于上述的高速信号插槽组115a、115b内部被设备为短接，因此在图2中示出的该第一金手指120一侧不存在与其对应的导电触片，由于在一种可能的实施方式中，该第一金手指120一侧设置有与所有高速信号插槽组对应的导电触片。
33.示例地，将该目标线路导电触片或该高速信号线路导电触片的长度作为第一长度，将该第二金手指包含的目标线路导电触片或高速信号线路导电触片的长度作为第二长度，该第一长度大于该第二长度。该长度为金手指与pcb焊接的一端到金手指另一端的长度。此描述含义为，通过该装置100使该第二金手指(即显卡侧的金手指)的长度加长，如此，在第一金手指插入主板的插槽后，还会有足够长度的导电触片露出，以便为使用检测仪器进行点测。在一种可能的实施方式中，该第一长度与该第二长度的差值可以优选为3mm(毫米)。具体地，以pcie 4.0显卡为例，其接地导电触片的长度为3.2mm，包括主电源导电触片、备用电源导电触片、测试接口导电触片、参考时钟信号导电触片、系统管理导电触片、复位导电触片、高速信号传输导电触片和热插拔控制导电触片等其他导电触片的长度均为3mm。在此基础上，在连接该装置100后，其接地导电触片的长度被拓展为6.2mm，而其他导电触片的长度均被拓展为6mm。在一种可能的实施方式中，该检测单元130可以被固定于该底板140上。该底板140可以为pcb板。该第一高速传输端母座110和该第一金手指120两者分别被固定于该底板140的两侧。
34.综上所述，本公开实施例提供的高速传输链路检测装置，包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，该第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，该高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，该第一金手指包括多个目标线路导电触片；该检测单元，包括多个连接线，该目标线路导电触片通过该连接线与该目标线路插槽连接；每个该连接线上设置有检测点。能够对高速传输链路正常工作时的信号传输质量进行检测，同时减少了检测过程中长时间地通过高速信号线进行发送和接受数据的工作，进而降低了检测过程中不断发送和接受数据对pcie设备的损
耗，在减少检测过程造成不良影响的因素的情况下，降低点测难度，提高检测效率。
35.以上结合附图详细描述了本公开的优选实施方式，但是，本公开并不限于上述实施方式中的具体细节，在本公开的技术构思范围内，可以对本公开的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本公开的保护范围。
36.另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本公开对各种可能的组合方式不再另行说明。
37.此外，本公开的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本公开的思想，其同样应当视为本公开所公开的内容。

技术特征：
1.一种高速传输链路检测装置，其特征在于，所述装置包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，所述第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，所述高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，所述第一金手指包括多个目标线路导电触片；所述检测单元，包括多个连接线，所述目标线路导电触片通过所述连接线与所述目标线路插槽连接；每个所述连接线上设置有检测点。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述高速信号接收插槽和所述高速信号发送插槽被设置为短接。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述多个目标线路插槽，包括：主电源插槽、备用电源插槽、测试接口插槽、参考时钟信号插槽、系统管理插槽、复位插槽、接地插槽和热插拔控制插槽。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第一金手指，还包括多个高速信号线路导电触片。5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述第一金手指用于与第二高速传输端侧的高速传输链路插槽插合，所述第一高速传输端母座用于第一高速传输端侧的第二金手指插合。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，第一长度大于第二长度，其中，所述第一长度为所述目标线路导电触片或所述高速信号线路导电触片的长度，所述第二长度为所述第二金手指包含的目标线路导电触片或高速信号线路导电触片。7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一长度与所述第二长度的差值为3毫米。8.根据权利要求1-7中任一项所述的装置，其特征在于，所述检测点为铜皮开窗检测点或通孔焊盘检测点。9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：底板，所述检测单元被固定于所述底板上。10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第一高速传输端母座和所述第一金手指两者分别被固定于所述底板的两侧。

技术总结
本公开涉及一种高速传输链路检测装置，该装置包括：第一高速传输端母座、第一金手指和检测单元；其中，该第一高速传输端母座包括：多个高速信号插槽组以及多个目标线路插槽，该高速信号插槽组包括高速信号接收插槽和高速信号发送插槽，该第一金手指包括多个目标线路导电触片；该检测单元，包括多个连接线，该目标线路导电触片通过该连接线与该目标线路插槽连接；每个该连接线上设置有检测点。能够对高速传输链路正常工作时的信号传输质量进行检测，降低点测难度，提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。


技术研发人员：马文龙 师佼龙
受保护的技术使用者：深圳市芯瞳半导体技术有限公司
技术研发日：2023.06.25
技术公布日：2023/8/28