一种快拆式RF测试结构的制作方法

一种快拆式rf测试结构
技术领域
1.本实用新型涉及rf测试技术领域，具体为一种快拆式rf测试结构。


背景技术：

2.rf接口是为无线电射频接口。
3.它是目前家庭有线电视采用的接口模式。rf的成像原理是将视频信号(cvbs)和音频信号(audio)相混合编码后输出，然后在显示设备内部进行一系列分离/解码的过程输出成像。
4.由于rf接口的质量直接影响到电子设备的传输功能，因此，对于rf接口的测试是至关重要的。
5.现有测试机多是人工将rf直插拔连接头手动插入到测试板上的rf接口进行测试的，因此需要手动更换rf连接头，其操作比较繁琐，导致效率较低；在插拔时很容易损坏测试板上的rf接口，严重时甚至会损坏测试板。


技术实现要素：

6.本实用新型的目的在于提供一种快拆式rf测试结构，以解决上述背景技术中提出的问题。
7.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种快拆式rf测试结构，包括：
8.测试设备本体和测试接头，所述测试设备本体与测试接头电性连接；
9.推动结构，所述测试接头安装在推动结构上，且推动结构推动测试接头移动；
10.rf接头承载板，所述rf接头承载板上开设有用于rf接头安装的安装槽，推动结构推动测试接头靠近安装槽或远离安装槽。
11.进一步地，所述测试设备本体、推动结构、rf接头承载板均安装在底板上。
12.进一步地，所述推动结构包括立板和安装在立板上的伸缩推动装置，所述伸缩推动装置的伸缩端上连接有用于测试接头安装的安装板，所述测试接头固定安装在安装板上。
13.进一步地，所述伸缩推动装置为液压缸、气缸或直线伸缩电机。
14.进一步地，所述安装板的本体上内凹形成用于测试接头安装的内沉槽，所述安装板的中部下侧向下延伸形成连接块，所述连接块与伸缩推动装置的伸缩端连接。
15.进一步地，所述安装板的下侧连接有滑杆，所述底板上开设有与滑杆滑动连接的滑槽。
16.进一步地，所述安装槽包括开设在rf接头承载板上的外卡槽、限位槽和线槽，所述外卡槽、限位槽和线槽之间依次连通。
17.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
18.1)通过机械式插拔的方式，对于被测试的rf插头及测试结构上的测试接头能够稳定的插接和松脱，避免由于倾斜等连接位置不对应的情况而造成rf插头及测试接头损坏；
19.2)能够连续工作，保证高效率测试，且一次性可以进行多个rf插头的测试，效率较高。
附图说明
20.图1为本实用新型结构示意图；
21.图2为本实用新型安装板的结构示意图；
22.图3为本实用新型rf接头承载板的俯视结构示意图。
23.图中：1底板、2测试设备本体、3测试接头、4安装板、41内沉槽、42连接块、5滑杆、6滑槽、7立板、8伸缩推动装置、9rf接头承载板、10外卡槽、11限位槽、12线槽。
具体实施方式
24.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
25.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
26.实施例：
27.请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种快拆式rf测试结构，包括：
28.测试设备本体2和测试接头3，所述测试设备本体2与测试接头3电性连接；测试设备本体2与测试接头3的连接方式为现有技术，测试接头3用于与被测试的rf接头连接，将被测试的rf接头数据信息传输至测试设备本体2，测试设备本体2判断被测试的rf接头是否存在故障，其测试方式及测试原理均采用现有技术，此处不做改进。
29.推动结构，所述测试接头3安装在推动结构上，且推动结构推动测试接头3移动；推动结构能够推动测试接头3向被测试的rf接头靠近或远离，使得测试接头3与被测试的rf接头之间连接或分离，从而对被测试的rf接头测试以及测试后的分离。
30.rf接头承载板9，所述rf接头承载板9上开设有用于rf接头安装的安装槽，推动结构推动测试接头3靠近安装槽或远离安装槽。rf接头承载板9用于被测试的rf接头安装。
31.优选的，所述测试设备本体2、推动结构、rf接头承载板9均安装在底板1上。使得整体稳定，方便整体移动。
32.优选的，所述推动结构包括立板7和安装在立板7上的伸缩推动装置8，所述伸缩推动装置8的伸缩端上连接有用于测试接头3安装的安装板4，所述测试接头3固定安装在安装板4上。
33.优选的，所述伸缩推动装置8为液压缸、气缸或直线伸缩电机。
34.优选的，所述安装板4的本体上内凹形成用于测试接头3安装的内沉槽41，所述安装板4的中部下侧向下延伸形成连接块42，所述连接块42与伸缩推动装置8的伸缩端连接。内沉槽41的形状与测试接头3相同，测试接头3能够卡入在内沉槽41内，从外部通过螺钉将
测试接头3连接固定在安装板4上。
35.优选的，所述安装板4的下侧连接有滑杆5，所述底板1上开设有与滑杆5滑动连接的滑槽6。通过滑杆5滑动与滑槽6的配合连接，使得安装板4移动较为稳定，使得安装板4在移动时不会出现晃动，整体较为稳定。
36.优选的，所述安装槽包括开设在rf接头承载板9上的外卡槽10、限位槽11和线槽12，所述外卡槽10、限位槽11和线槽12之间依次连通。如图3所示，最上侧的安装槽内安装了rf接头，rf接头的头部卡入在外卡槽10内，rf接头柄部卡入在限位槽11内，使得rf接头不会从安装槽内脱离，rf接头的导线卡入在线槽12内，避免rf接头的导线折弯损坏。
37.工作原理：使用时，根据测试接头3的数量，依次在对应安装槽内卡入数量一致的被测试rf接头，将被测试rf接头的头部卡入在外卡槽10内，被测试rf接头的柄部卡入在限位槽11内，被测试rf接头的导线从线槽12内穿出延伸至外部。
38.伸缩推动装置8推动安装板4带动测试接头3向rf接头承载板9移动，使得安装板4上的测试接头3与rf接头承载板9内对应的被测试rf接头对应连接，连接后，测试设备本体2通过测试接头3对被测试rf接头测试，判断被测试rf接头是否存在问题。
39.测试后，伸缩推动装置8拉动安装板4向左移动，使得测试接头3与被测试rf接头分离，将合格的rf接头摆放进入下一道工序，不合格的rf接头进行检修或报废。
40.以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点,对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型；因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内，不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
41.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：
1.一种快拆式rf测试结构，其特征在于，包括：测试设备本体(2)和测试接头(3)，所述测试设备本体(2)与测试接头(3)电性连接；推动结构，所述测试接头(3)安装在推动结构上，且推动结构推动测试接头(3)移动；rf接头承载板(9)，所述rf接头承载板(9)上开设有用于rf接头安装的安装槽，推动结构推动测试接头(3)靠近安装槽或远离安装槽。2.根据权利要求1所述的一种快拆式rf测试结构，其特征在于：所述测试设备本体(2)、推动结构、rf接头承载板(9)均安装在底板(1)上。3.根据权利要求2所述的一种快拆式rf测试结构，其特征在于：所述推动结构包括立板(7)和安装在立板(7)上的伸缩推动装置(8)，所述伸缩推动装置(8)的伸缩端上连接有用于测试接头(3)安装的安装板(4)，所述测试接头(3)固定安装在安装板(4)上。4.根据权利要求3所述的一种快拆式rf测试结构，其特征在于：所述伸缩推动装置(8)为液压缸、气缸或直线伸缩电机。5.根据权利要求3所述的一种快拆式rf测试结构，其特征在于：所述安装板(4)的本体上内凹形成用于测试接头(3)安装的内沉槽(41)，所述安装板(4)的中部下侧向下延伸形成连接块(42)，所述连接块(42)与伸缩推动装置(8)的伸缩端连接。6.根据权利要求3所述的一种快拆式rf测试结构，其特征在于：所述安装板(4)的下侧连接有滑杆(5)，所述底板(1)上开设有与滑杆(5)滑动连接的滑槽(6)。7.根据权利要求3所述的一种快拆式rf测试结构，其特征在于：所述安装槽包括开设在rf接头承载板(9)上的外卡槽(10)、限位槽(11)和线槽(12)，所述外卡槽(10)、限位槽(11)和线槽(12)之间依次连通。

技术总结
本实用新型属于RF测试技术领域，具体为一种快拆式RF测试结构，包括：测试设备本体和测试接头，所述测试设备本体与测试接头电性连接；推动结构，所述测试接头安装在推动结构上，且推动结构推动测试接头移动；RF接头承载板，所述RF接头承载板上开设有用于RF接头安装的安装槽，推动结构推动测试接头靠近安装槽或远离安装槽。通过机械式插拔的方式，对于被测试的RF插头及测试结构上的测试接头能够稳定的插接和松脱，避免由于倾斜等连接位置不对应的情况而造成RF插头及测试接头损坏；能够连续工作，保证高效率测试，且一次性可以进行多个RF插头的测试，效率较高。效率较高。效率较高。


技术研发人员：汪晓波 凌晨
受保护的技术使用者：博测通讯科技（上海）有限公司
技术研发日：2023.04.05
技术公布日：2023/8/26